CN111679236A - 一种直流暂态阶跃响应延时测试方法、系统及装置 - Google Patents

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    • G01R35/02Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass of auxiliary devices, e.g. of instrument transformers according to prescribed transformation ratio, phase angle, or wattage rating

Abstract

本发明公开了一种直流暂态阶跃响应延时测试方法,包括对标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号进行采样;求取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的稳态直流分量;根据稳态直流分量,获取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的阶跃时刻;根据稳态直流分量,求取二阶阶跃振荡衰减电流信号在阶跃后至趋稳前的振荡频率;采用加窗傅立叶变换,求取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的基波相位;根据基波相位和振荡频率,求取直流暂态阶跃响应延时。同时公开了相应的系统和装置。本发明通过加窗傅立叶变换的交流相位补偿实现直流暂态阶跃响应延时计算,避免了传统方法中插值计算带来的误差。

Description

一种直流暂态阶跃响应延时测试方法、系统及装置
技术领域
本发明涉及一种直流暂态阶跃响应延时测试方法、系统及装置,属于特高压直流输电测试领域。
背景技术
随着大功率全控型电力电子器件的迅速发展以及直流电网制造水平的不断提高,基于绝缘栅双极晶闸管(IGBT)的电压源型直流输电(VSC-HVDC)受到越来越广泛的关注及应用。电压源型直流输电的出现使得直流控制保护系统对于直流测量装置的延时要求越来越高,尤其是阶跃响应延时。直流电流测量装置是数字化的输出,必然涉及到信号传变的暂态响应时间问题,而这一问题又是间隔层所有设备特别是需要实时处理的控制保护设备极为关心的核心指标之一,直流输电控制保护对实时性要求高,电子式互感器的暂态响应时间直接关系到整个系统的反应时间,直流电子式互感器暂态响应时间特性需要经过严格测试。交流电子式互感器可以通过额定工作状态下,从交流信号的相位和时间的关联性上测试绝对延时大小,而直流量在时间轴上的一根水平线并不包含相位信息,同时也“平”掉了绝对延时时差对应的信号差异。
目前直流电流暂态阶跃响应延时测试一般都是采用线性暂态阶跃源来实现标准源输出,由于测试对象负载成感性负载,所以整个测试过程的电流输出信号呈现二阶阶跃响应特性,测试波形如图1所示,其中c(t)为二阶阶跃响应函数,td为中值时间,tr为上升时间,tp为最大过冲时间,ts为趋稳时间,σp为最大过冲值,σ′p为振荡值与直流值的最大误差。
现有的直流暂态阶跃响应测试方法都是在阶跃过程中寻找标准源到达稳定值0.9倍时刻的实际时间t1以及试品到达稳定值0.9倍时刻实际时间t2。然后求取暂态过程阶跃延时ty=t2-t1。但由于目前阶跃源的上升延时一般都小于20us,而试品的采样速率一般为50kHz,试品的上升过程仅有1~2个采样点,此时很难获得试品90%时刻的精确时刻,工程一般采用线性插值或三次样条插值等办法获得试品90%时刻,由于阶跃过程是一个非线性过程,从而导致测试误差较大,不能满足工程测试的需求。
发明内容
本发明提供了一种直流暂态阶跃响应延时测试方法、系统及装置,解决了现有测试方法测试误差较大的问题。
为了解决上述技术问题,本发明所采用的技术方案是:
一种直流暂态阶跃响应延时测试方法,包括,
对标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号进行采样;
求取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的稳态直流分量;
根据稳态直流分量,获取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的阶跃时刻;
根据稳态直流分量,求取二阶阶跃振荡衰减电流信号在阶跃后至趋稳前的振荡频率;
采用加窗傅立叶变换,求取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的基波相位;
根据基波相位和振荡频率,求取直流暂态阶跃响应延时。
采用广义多项式拟合求取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的稳态直流分量。
标准源信号达到对应稳态直流分量的M倍的时刻为标准源信号的阶跃时刻;标二阶阶跃振荡衰减电流信号达到对应稳态直流分量的M倍的时刻为二阶阶跃振荡衰减电流信号的阶跃时刻;其中,M为阈值。
以稳态直流分量作为零点,采用过零点频率测定法求取振荡频率。
直流暂态阶跃响应延时的计算公式为,
Td=t2-t1-Δt
Figure BDA0002485728760000031
其中,Td为直流暂态阶跃响应延时,t2、t1分别为二阶阶跃振荡衰减电流信号和标准源信号的阶跃时刻,Δt为补偿时间,
Figure BDA0002485728760000032
分别为二阶阶跃振荡衰减电流信号和标准源信号的基波相位,f为振荡频率。
一种直流暂态阶跃响应延时测试系统,包括,
采样模块:对标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号进行采样;
稳态直流分量模块:求取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的稳态直流分量;
阶跃时刻模块:根据稳态直流分量,获取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的阶跃时刻;
振荡频率模块:根据稳态直流分量,求取二阶阶跃振荡衰减电流信号在阶跃后至趋稳前的振荡频率;
基波相位模块:采用加窗傅立叶变换,求取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的基波相位;
响应延时模块:根据基波相位和振荡频率,求取直流暂态阶跃响应延时。
一种直流暂态阶跃响应延时测试装置,包括上位机、CPU、电流源、等值电感回路和直流电流测量装置;
上位机内装载有权利要求6所述的直流暂态阶跃响应延时测试系统,上位机与CPU连接;
CPU的输出端连接电流源的输入端;
电流源内置平衡电阻,平衡电阻的两端为标准源信号输出端,连接CPU的采样端,电流源的电流阶跃信号输出端通过等值电感回路连接直流电流测量装置输入端;
直流电流测量装置的输出端连接CPU的采样端。
CPU同步采样标准源信号和直流电流测量装置输出的二阶阶跃振荡衰减电流信号。
一种存储一个或多个程序的计算机可读存储介质,所述一个或多个程序包括指令,所述指令当由计算设备执行时,使得所述计算设备执行直流暂态阶跃响应延时测试方法。
一种计算设备,包括一个或多个处理器、存储器以及一个或多个程序,其中一个或多个程序存储在所述存储器中并被配置为由所述一个或多个处理器执行,所述一个或多个程序包括用于执行直流暂态阶跃响应延时测试方法的指令。
本发明所达到的有益效果:1、本发明通过加窗傅立叶变换的交流相位补偿实现直流暂态阶跃响应延时计算,避免了传统方法中插值计算带来的误差;2、本发明利用电流源内部的平衡电阻实现标准源信号回采,利用电流源输出的电流阶跃信号通过等值电感回路形成二阶阶跃振荡衰减电流信号,简化了测试回路。
附图说明
图1为本发明方法的流程图;
图2为装置的结构框图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案,而不能以此来限制本发明的保护范围。
如图1所示,一种直流暂态阶跃响应延时测试方法,包括以下步骤:
步骤1,对标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号进行录波采样并进行预处理。
采用突变量录波采样,突变算法如下:
Δi=|[i(t)-i(t-T)]-[i(t-T)-i(t-2T)]|
其中,i为电流瞬时值,t为当前时刻,T为一个工频周波,当Δi大于预设启动定制,则启动录波采样。
步骤2,采用广义多项式拟合求取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的稳态直流分量,消除掉谐波信号及噪声等影响;其中直流分量的提取取10ms时间窗数据。
广义多项式拟合使数据拟合为由下列等式表示的多项式函数:
Figure BDA0002485728760000051
其中,fi′为最佳多项式拟合输出序列的第i′个元素,xi′是输入序列的第i′个元素,aj是多项式系数,m是多项式阶数。
选择最小二乘法,依据下列等式最小化残差,查找多项式模型的多项式系数:
Figure BDA0002485728760000061
其中,N是Y的长度,wi′是权重的第i′个元素yi′是Y的第i′个元素,Y是指多个yi′组成的序列。
对fi′进行FFT变换获得稳态直流分量I0,当稳态直流分量值I0变化小于阈值(一般为0.5%)时,则稳态直流分量求取成功。
步骤3,根据稳态直流分量,获取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的阶跃时刻。
标准源信号达到对应稳态直流分量的M倍的时刻为标准源信号的阶跃时刻;标二阶阶跃振荡衰减电流信号达到对应稳态直流分量的M倍的时刻为二阶阶跃振荡衰减电流信号的阶跃时刻;其中,M为阈值,M一般为90%。
步骤4,以稳态直流分量作为零点,采用过零点频率测定法求取二阶阶跃振荡衰减电流信号在阶跃后至趋稳前的振荡频率。
步骤5,采用加窗傅立叶变换,求取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的基波相位。
由于信号源是一个震荡衰减波形,为了获得精确的相位,采用动态加窗,以越变时刻作为窗起始,经过Hanning窗傅氏滤波,分别获取标准源信号t1时刻和二阶阶跃振荡衰减电流信号t2时刻的基波相位。
基波相位
Figure BDA0002485728760000062
电流i的实部
Figure BDA0002485728760000063
电流i的虚部
Figure BDA0002485728760000064
其中,N1为时间窗内的样本总数,x(i″)为数据窗内电流的离散采样值。
步骤6,根据基波相位和振荡频率,求取直流暂态阶跃响应延时。
利用基波相位差和基波相位,求取补偿时间:
Figure BDA0002485728760000071
最总的直流暂态阶跃响应延时为:
Td=t2-t1-Δt
其中,Td为直流暂态阶跃响应延时,t2、t1分别为二阶阶跃振荡衰减电流信号和标准源信号的阶跃时刻,Δt为补偿时间,
Figure BDA0002485728760000072
分别为二阶阶跃振荡衰减电流信号和标准源信号的基波相位,f为振荡频率。
一种直流暂态阶跃响应延时测试系统,为上述方法对应的软件系统,具体包括:
采样模块:对标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号进行采样。
稳态直流分量模块:求取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的稳态直流分量。
阶跃时刻模块:根据稳态直流分量,获取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的阶跃时刻。
振荡频率模块:根据稳态直流分量,求取二阶阶跃振荡衰减电流信号在阶跃后至趋稳前的振荡频率。
基波相位模块:采用加窗傅立叶变换,求取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的基波相位。
响应延时模块:根据基波相位和振荡频率,求取直流暂态阶跃响应延时。
如图2所示,一种直流暂态阶跃响应延时测试装置,包括上位机、CPU、电流源、等值电感回路和直流电流测量装置。
上位机内装载有直流暂态阶跃响应延时测试系统,上位机与CPU连接;CPU的输出端通过D/A转换器连接电流源的输入端;电流源内置平衡电阻(即图中的箔电阻),平衡电阻的两端为标准源信号输出端,通过A/D转换器连接CPU的采样端,电流源的电流阶跃信号输出端通过等值电感回路连接直流电流测量装置输入端;直流电流测量装置的输出端连接CPU的采样端。
上位机一般采用电脑,用以设定阶跃目标值,并将其下发至CPU;接收CPU回采的标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号,进行直流暂态阶跃响应延时计算。
CPU采用ARM+FPGA结构,向D/A转换器下发阶跃信号;同步采样标准源信号和直流电流测量装置输出的二阶阶跃振荡衰减电流信号。同步精度可小于50ns,采样速率达到500kHz,消除由于离散采集采样速率不够带来的计算误差。
D/A转换器将阶跃信号进行数模转换下发给电流源。
电流源包括高精度稳压电源和大功率线性电源,线性功率放大器采用推挽式电路,最大输出电流可达600A,稳态输出精度优于0.2%。功率放大器以高精度功率模块配合大功率低干扰线性电源实现,输入端采用复杂平衡输入线路,减小功率放大器在电力系统强干扰环境下共模噪声影响,中间级使用超低零漂,超低温漂运放保证直流精度,输出级采用MOS功率器件配合高精度低温漂无感检流电阻完成大电流转换,并设计多级热保护、过载保护保证系统安全。
A/D转换器将标准源信号进行模数转换。
电流源输出的电流阶跃信号通过等值电感回路形成二阶阶跃振荡衰减电流信号,实现时域到频域的变换。
在求取振荡频率时,由于等值电感回路使得整个电流源输出波形呈现欠阻尼二阶系统,其阻尼振荡角频率为
Figure BDA0002485728760000091
其中ωn自然振荡频率,ζ为阻尼比,这两个参数均由系统结构参数决定,所以阻尼振荡角频率是一个与测试回路结构有关的参数,电流源系统参数是一个固定参数,振荡频率只与导线的等值电感来决定,但在一次测试过程中,其震荡频率保持不变。
本发明通过加窗傅立叶变换的交流相位补偿实现直流暂态阶跃响应延时计算,避免了传统方法中插值计算带来的误差;本发明利用电流源内部的平衡电阻实现标准源信号回采,利用电流源输出的电流阶跃信号通过等值电感回路形成二阶阶跃振荡衰减电流信号,简化了测试回路。
一种存储一个或多个程序的计算机可读存储介质,所述一个或多个程序包括指令,所述指令当由计算设备执行时,使得所述计算设备执行直流暂态阶跃响应延时测试方法。
一种计算设备,包括一个或多个处理器、存储器以及一个或多个程序,其中一个或多个程序存储在所述存储器中并被配置为由所述一个或多个处理器执行,所述一个或多个程序包括用于执行直流暂态阶跃响应延时测试方法的指令。
本领域内的技术人员应明白,本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此,本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
以上仅为本发明的实施例而已,并不用于限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均包含在申请待批的本发明的权利要求范围之内。

Claims (10)

1.一种直流暂态阶跃响应延时测试方法,其特征在于:包括,
对标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号进行采样;
求取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的稳态直流分量;
根据稳态直流分量,获取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的阶跃时刻;
根据稳态直流分量,求取二阶阶跃振荡衰减电流信号在阶跃后至趋稳前的振荡频率;
采用加窗傅立叶变换,求取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的基波相位;
根据基波相位和振荡频率,求取直流暂态阶跃响应延时。
2.根据权利要求1所述的一种直流暂态阶跃响应延时测试方法,其特征在于:采用广义多项式拟合求取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的稳态直流分量。
3.根据权利要求1所述的一种直流暂态阶跃响应延时测试方法,其特征在于:标准源信号达到对应稳态直流分量的M倍的时刻为标准源信号的阶跃时刻;标二阶阶跃振荡衰减电流信号达到对应稳态直流分量的M倍的时刻为二阶阶跃振荡衰减电流信号的阶跃时刻;其中,M为阈值。
4.根据权利要求1所述的一种直流暂态阶跃响应延时测试方法,其特征在于:以稳态直流分量作为零点,采用过零点频率测定法求取振荡频率。
5.根据权利要求1所述的一种直流暂态阶跃响应延时测试方法,其特征在于:直流暂态阶跃响应延时的计算公式为,
Td=t2-t1-Δt
Figure FDA0002485728750000021
其中,Td为直流暂态阶跃响应延时,t2、t1分别为二阶阶跃振荡衰减电流信号和标准源信号的阶跃时刻,Δt为补偿时间,
Figure FDA0002485728750000022
分别为二阶阶跃振荡衰减电流信号和标准源信号的基波相位,f为振荡频率。
6.一种直流暂态阶跃响应延时测试系统,其特征在于:包括,
采样模块:对标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号进行采样;
稳态直流分量模块:求取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的稳态直流分量;
阶跃时刻模块:根据稳态直流分量,获取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的阶跃时刻;
振荡频率模块:根据稳态直流分量,求取二阶阶跃振荡衰减电流信号在阶跃后至趋稳前的振荡频率;
基波相位模块:采用加窗傅立叶变换,求取标准源信号和二阶阶跃振荡衰减电流信号的基波相位;
响应延时模块:根据基波相位和振荡频率,求取直流暂态阶跃响应延时。
7.一种直流暂态阶跃响应延时测试装置,其特征在于:包括上位机、CPU、电流源、等值电感回路和直流电流测量装置;
上位机内装载有权利要求6所述的直流暂态阶跃响应延时测试系统,上位机与CPU连接;
CPU的输出端连接电流源的输入端;
电流源内置平衡电阻,平衡电阻的两端为标准源信号输出端,连接CPU的采样端,电流源的电流阶跃信号输出端通过等值电感回路连接直流电流测量装置输入端;
直流电流测量装置的输出端连接CPU的采样端。
8.根据权利要求7所述的一种直流暂态阶跃响应延时测试装置,其特征在于:CPU同步采样标准源信号和直流电流测量装置输出的二阶阶跃振荡衰减电流信号。
9.一种存储一个或多个程序的计算机可读存储介质,其特征在于:所述一个或多个程序包括指令,所述指令当由计算设备执行时,使得所述计算设备执行根据权利要求1至5所述的方法中的任一方法。
10.一种计算设备,其特征在于:包括,
一个或多个处理器、存储器以及一个或多个程序,其中一个或多个程序存储在所述存储器中并被配置为由所述一个或多个处理器执行,所述一个或多个程序包括用于执行根据权利要求1至5所述的方法中的任一方法的指令。
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