CN111579775B - 一种目标试纸层析完全的判断方法、装置及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请提供的一种目标试纸层析完全的判断方法、装置及存储介质，涉及荧光免疫层析技术领域。采集获取目标试纸上的荧光曲线，目标试纸上滴有待测样品液；取荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置；根据层析上升沿位置和层析下降沿位置，计算层析上升沿位置以及层析下降沿位置之间的层析距离差；根据层析距离差与目标试纸所在卡的槽的上升沿和下降沿之间的距离差，判断目标试纸是否层析完全。避免了简单通过时间判断目标试纸是否层析完全时，一些干扰因素对目标试纸的影响，进而造成的对实验结果的影响，提高了实验结果的准确性。

Description

一种目标试纸层析完全的判断方法、装置及存储介质

技术领域

本申请涉及荧光免疫层析技术领域，具体而言，涉及一种目标试纸层析完全的判断方法、装置及存储介质。

背景技术

荧光免疫层析技术是将免疫学方法(抗原抗体特异结合)与荧光标记技术结合起来，利用层析技术体外检测特异蛋白抗原的方法。目前通常是通过检测线(T线)荧光信号的强弱定性或定量检测样品中的待测抗原的浓度，但该检测方法存在前提条件：样品液必须完全层析，全部通过样品垫，标记条，T线和C线，并最终被吸水纸吸收。

而现有技术方案均为在加入样品液等待一个固定的层析时间，如10分钟，再进行荧光检测。层析时间为荧光免疫层析试纸生产厂家根据工艺和实测数据给出的，即此时间达到则判断加样后的样品液完全层析。

但是，现有技术中通过时间确定目标试纸层析完全的方法会受到众多不确定因素的影响，如果直接使用上述目标试纸进行浓度测试，实验结果准确性不高。

发明内容

为了解决现有技术中存在的问题，本申请提供了一种目标试纸层析完全的判断方法、装置及存储介质。

为实现上述目的，本申请采用的技术方案为：

本申请第一方面提供一种目标试纸层析完全的判断方法，包括：

采集获取目标试纸上的荧光曲线，所述目标试纸上滴有待测样品液；

获取所述荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置；

根据所述层析上升沿位置和所述层析下降沿位置，计算所述层析上升沿位置以及所述层析下降沿位置之间的层析距离差；

根据所述层析距离差与所述目标试纸所在卡的槽上升沿和下降沿之间的距离差，判断所述目标试纸是否层析完全。

可选地，所述获取所述荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置，包括：

对所述荧光曲线进行一阶求导，得到一阶导曲线图；

根据所述一阶导曲线图，确定所述荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置。

可选地，所述根据所述一阶导曲线图，确定所述荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置，包括：

沿所述荧光曲线的开始方向处取N个点作为前基线，在所述荧光曲线的结束方向取N个点作为后基线，其中N为大于0的整数；

在所述荧光曲线上从前向后取荧光值首次连续大于所述前基线且所述荧光值对应的一阶导曲线图的一阶导数为正的位置为所述层析上升沿位置，从后向前取所述荧光曲线上的荧光值首次连续大于所述后基线且所述荧光值对应的一阶导曲线图的一阶导数为负的位置为所述层析下降沿位置。

可选地，所述采集获取目标试纸上的荧光曲线，包括：

以固定速率扫描所述目标试纸，获取所述目标试纸上的荧光值；

将所述荧光值作为纵坐标，将荧光值对应的位置作为横坐标绘制所述荧光曲线。

可选地，所述根据所述层析距离差与所述目标试纸所在卡的槽上升沿和下降沿之间的距离差，判断所述目标试纸是否层析完全，包括：

获取所述层析上升沿位置、所述层析下降沿位置在所述荧光曲线上对应的横坐标之差为所述层析距离差；

当所述层析距离差与槽上升沿和下降沿之间的距离差相等时，确定所述目标试纸层析完全。

可选地，所述确定所述目标试纸层析完全之后，还包括：

根据所述荧光曲线，计算获取所述待测样品液的浓度。

本申请第二方面提供一种目标试纸层析完全的判断装置，包括：采集单元、计算单元以及判断单元；

所述采集单元，用于采集获取目标试纸上的荧光曲线，所述目标试纸上滴有待测样品液；

所述计算单元，用于计算所述荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置，根据所述层析上升沿位置和所述层析下降沿位置，计算所述层析上升沿位置以及所述层析下降沿位置之间的层析距离差；

所述判断单元，用于根据所述层析距离差与所述目标试纸所在卡的槽上升沿和下降沿之间的距离差，判断所述目标试纸是否层析完全。

可选地，所述计算单元，用于对所述荧光曲线进行一阶求导，得到一阶导曲线图；根据所述一阶导曲线图，确定所述荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置。

可选地，所述计算单元，用于沿所述荧光曲线的开始方向处取N个点作为前基线，在所述荧光曲线的结束方向取N个点作为后基线，其中N为大于0的整数；在所述荧光曲线上从前向后取荧光值首次连续大于所述前基线且所述荧光值对应的一阶导曲线图的一阶导数为正的位置为所述层析上升沿位置，从后向前取所述荧光曲线上的荧光值首次连续大于所述后基线且所述荧光值对应的一阶导曲线图的一阶导数为负的位置为所述层析下降沿位置。

可选地，所述采集单元，用于以固定速率扫描所述目标试纸，获取所述目标试纸上的荧光值；将所述荧光值作为纵坐标，将荧光值对应的位置作为横坐标绘制所述荧光曲线。

可选地，所述判断单元，用于获取所述层析上升沿位置、所述层析下降沿位置在所述荧光曲线上对应的横坐标之差为所述层析距离差；当所述层析距离差与槽上升沿和下降沿之间的距离差相等时，确定所述目标试纸层析完全。

可选地，所述计算单元，用于根据所述荧光曲线，计算获取所述待测样品液的浓度。

本申请第三方面提供了一种目标试纸层析完全的判断装置，包括：处理器、存储介质和总线，所述存储介质存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当所述装置运行时，所述处理器与所述存储介质之间通过总线通信，所述处理器执行所述机器可读指令，以执行上述第一方面提供的方法。

本申请第四方面提供了一种存储介质，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行如第一方面提供的方法。

本申请提供的目标试纸层析完全的判断方法、装置及存储介质，采集获取目标试纸上的荧光曲线，所述目标试纸上滴有待测样品液；取所述荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置；根据所述层析上升沿位置和所述层析下降沿位置，计算所述层析上升沿位置以及所述层析下降沿位置之间的层析距离差；根据所述层析距离差与所述目标试纸所在卡的槽上升沿和下降沿之间的距离差，判断所述目标试纸是否层析完全。避免了简单通过时间判断目标试纸是否层析完全时，一些干扰因素对目标试纸的影响，进而造成的对实验结果的影响，提高了实验结果的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本申请一实施例提供的目标试纸条的结构图；

图2为本申请一实施例提供的目标试纸条安装在单卡上的实物图；

图3为本申请一实施例提供的目标试纸层析完全的判断方法的流程示意图；

图4为本申请一实施例提供的目标试纸层析检测的光学检测系统的结构示意图；

图5为本申请一实施例提供的目标试纸层析不完全时的荧光曲线图；

图6为本申请一实施例提供的目标试纸层析完全时的荧光曲线示意图；

图7为本申请一实施例提供的荧光曲线的一阶导曲线图；

图8为本申请另一实施例提供的目标试纸层析完全的判断方法的流程示意图；

图9为本申请另一实施例提供的目标试纸条扫描位置示意图；

图10为本申请一实施例提供的目标试纸层析完全的判断装置示意图；

图11为本申请另一实施例提供的目标试纸层析完全的判断装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

此外，若出现术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例中的特征可以相互结合。

荧光免疫层析技术是将免疫学方法(抗原抗体特异结合)与荧光标记技术结合起来，利用层析技术体外检测特异蛋白抗原的方法。图1为本申请实施例提供的目标试纸条的结构图。如图1所示，目标试纸包括：样本垫1、标记条2、硝酸纤维素膜NC膜3、T线4、C线5、吸水纸6、底板7；其中，样本垫1用于加入待测样品液，标记条2上含有荧光微球标记的抗体1，T线4上含有抗体2、C线5上含有抗体3，T线4和C线5都包含在NC膜3范围内。

图2为本申请实施例提供的目标试纸条安装在单卡上的实物图。如图2所示，该单卡包括槽10，加样孔0，该槽10上包括有槽的上升沿9和下降沿8，字母T和C分别表示T线和C线，T线和C线在槽10的固定位置处；加样孔0处用于滴入待测样品液。

荧光免疫层析技术，通常分为夹心法和竞争法，夹心法又分为双抗原夹心法和双抗体夹心法。以双抗体夹心法为例，首先，待测样品液经离心稀释后加到样品垫1上，并向如图1所示的右侧层析进入标记条2。待测样品液中的抗原与标记条2上荧光微球标记的抗体1发生特异性结合形成“抗原-抗体1-荧光微球”结构，并继续向右层析至NC膜3上。NC膜3自左向右预先包被有2条宽度为1mm的抗体线，对应于图1中的T线4和C线5，T线4上抗体2可与待测样品液中的抗原特异性结合形成“抗体2-抗原-抗体1-荧光微球”的双抗体夹心结构，其中，T线4也称为检测线；C线5上抗体3可与标记条上的抗体1发生结合，形成“抗体3-抗体1-荧光微球”的二抗结构，其中，C线5也称为质控线。当与标记条反应后的样品液层析通过2条抗体线(T线、C线)后，会与2条抗体线发生结合并被捕获。由于标记条2上的抗体1标记有荧光微球，因此抗体线会在特定波长激发光激发下产生荧光。当待测样品液中存在待测抗原时，T线会出现荧光信号，且待测抗原越多荧光信号越强。而不论样品液中是否存在待测抗原，待测样品液层析通过C线后均会在C线位置出现荧光信号。C线出现荧光信号表示待测样品液层析正常、抗体1与荧光微球标记正常。待测样品液通过上述2条抗体线后，未发生反应的成分和未被结合的“抗体1-荧光微球”结构还会向右侧层析，直到全部被吸水纸6吸收。因此整个免疫层析的检测过程中，所有加入的样品液均应依次层析通过样品垫1，标记条2，T线3和C线5，最终被吸水纸6吸收。通常这个过程根据荧光免疫层析试纸条的不同层析时间一般也会有所差异。示例性地，层析完成时间可以在5～30分钟范围内。

荧光免疫层析技术可通过T线荧光信号的强弱定性或定量检测样品中的待测抗原的浓度，但有以下前提条件：样品液必须完全层析，全部通过样品垫，标记条，T线和C线，并最终被吸水纸吸收。这样才能保证样品中的抗原全部与T线4上包被的抗体2结合。完全层析后进行荧光信号检测才有意义，否则检测的T线不能反映样品液中抗原的真实浓度。

而现有技术方案均为加入样品液后等待一个固定的层析时间，如10分钟，再进行荧光检测。层析时间为荧光免疫层析试纸生产商根据工艺和大量实验数据给出的，即层析时间达到，则假定加样后的样品液完全层析。

而实际情况中层析不完全的情况时有发生，其中有如下原因可能造成这种情况：

A.试纸条生产工艺不良；

B.试纸条在储运过程中受潮；

C.样品液前处理不当，或样品液中有杂质影响液体流动性；

D.操作者未在要求的层析时间检测。

现有技术并没有对层析完全进行判断，一旦发生层析不完全会导致：T线荧光值存在错误，因此直接采用T线荧光值通过定标参数转换为样品浓度，可能导致计算出的待测样品液的待测抗原浓度错误。

本申请实施例提供了一种目标试纸层析完全的判断方法，用于解决上述技术问题。图3为本申请一实施例提供的目标试纸层析完全的判断方法的流程示意图。如图3所示，该方法包括：

S301、采集获取目标试纸上的荧光曲线，目标试纸上滴有待测样品液。

需要说明的是，在本申请实施例中，目标试纸可以是荧光免疫层析试纸。该荧光免疫层析试纸具体的结构示意图，参见图1。具体地，待测样品液加在样本垫1位置处。

光学检测系统用于获取并生成荧光曲线，图4为本申请实施例提供的目标试纸层析检测的光学检测系统的结构示意图，请参照图4，该系统包括：两个凸透面相对设置的第一凸透镜14和第二凸透镜15、第一滤光片12、第二滤光片13、二向色镜16、光电传感器17、光源11；其中，第一滤光片12设置于第一凸透镜14和第二凸透镜15之间，第二滤光片13设置于第一凸透镜14和第二凸透镜15的一侧、一个二向色镜16，该二向色镜16设置于第一凸透镜14、第二滤光片13、第一滤光片12之间，光源11可以通过第二滤光片13入射至二向色镜16，第二凸透镜15的平透面侧还设置有光电传感器17，第一凸透镜14的平透面还设置有试纸条18，该试纸条18可以是设置于单卡中的试纸条。

需要说明的是，光源11可以发出高能量的短波光信号，通过第二滤光片13后照射在二向色镜16上，二向色镜16不能使短波光信号穿过，当短波光信号照在二向色镜16后，会被反射至第一凸透镜14，经第一凸透镜14聚焦在试纸条18上，当试纸条受到短波光信号照射后，会产生荧光效应，激发产生长波光信号，长波光信号经二向色镜16透射，二向色镜16可以使长波光信号穿过，当长波光信号穿过二向色镜16后可以通过第一滤光片12滤波，经第二凸透镜15聚焦在光电传感器17上，光电传感器17把光信号转换为电信号，电路系统把电信号进行AD采样，从而将该电信号的模拟量转化为相应的数字量，进而根据这些数字量生成对应的荧光曲线，该荧光曲线即是可以反映试纸条上每个位置荧光值大小的曲线。

可选地，第一滤光片12可以用于选取符合长波光信号辐射波段的光信号，第二滤光片13可以用于选取符合短波光信号辐射波段的光信号；第一凸透镜14和第二凸透镜15用于汇聚光线。

S302、获取荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置。

在本申请实施例中，参见图2，试纸条槽对应的位置均为NC膜，荧光微球随样品液在NC膜上层析，即便完全层析之后，NC膜上依然会残留有少量游离的荧光微球。刚开始时，试纸条上的荧光值较小，当扫描到NC膜上荧光微球时，荧光值有一个逐渐变大的上升沿。同样的道理，如果整个槽都进行了层析，整个NC膜上均有荧光微球的分布，则在NC膜到槽的下降沿的位置，荧光值有一个逐渐变小的下降沿。但若未层析完全，在NC膜上从有荧光微球分布到没有荧光微球的分布的位置会有一个逐渐变小的下降沿，如图5所示，即为待测样品液未完全层析时的荧光曲线图。

如果待测样品液中含有待测抗原，T线上的抗体2结合了抗原抗体结合物(抗原-抗体1-荧光微球)，抗原越多，T线处荧光微球浓度越大，荧光值越高。C线抗体3结合了去除结合待测抗原后游离的抗体1，因此抗原越多，游离的结合荧光微球的抗体1越少，荧光值越低，但必须高于最低限制水平，以保证样品液中抗原反应的充分性。

本申请实施例中，通过获取的荧光曲线来确定目标试纸的层析上升沿以及层析下降沿的位置。图6为本申请实施例提供的目标试纸层析完全时得到的荧光曲线示意图。一般来说，当目标试纸层析完全时，荧光曲线上会存在两个峰值，这两个峰值对应着T峰和C峰的位置；层析上升沿和层析下降沿的位置分别存在于T峰和C峰的两边。

S303、根据层析上升沿位置和层析下降沿位置，计算层析上升沿位置以及层析下降沿位置之间的层析距离差。

具体地，在本申请实施例中，荧光曲线的纵坐标对应着NC膜上的荧光值的大小，横坐标表示获取到的荧光值在目标试纸上所对应的位置。当确定出层析上升沿位置以及层析下降沿位置之后，将层析上升沿位置以及层析下降沿位置对应到荧光曲线上，即可以得到层析距离差。

S304、根据层析距离差与目标试纸所在卡的槽的上升沿和下降沿之间的距离差，判断目标试纸是否层析完全。

在本申请实施例中，单卡的具体实物图如图2所示，通过单卡上的槽的上升沿和下降沿位置，计算出槽的上升沿和下降沿之间的距离差。示例性地，在本申请实施例中，槽的上升沿和下降沿之间的距离差可以是14mm，但不以此为限。将上述距离差与通过荧光曲线上的层析上升沿和层析下降沿计算出的层析距离差作对比，当层析距离差与卡上的槽的上升沿和下降沿之间的距离差相等时，则表明目标试纸已经层析完全。

具体地，在本申请实施例中，当判断出目标试纸已经层析完全之后，才进行后续浓度的计算过程；当判断目标试纸未层析完全，则不进行后续浓度的计算。

本申请提供的目标试纸层析完全的判断方法，采集获取目标试纸上的荧光曲线，目标试纸上滴有待测样品液；取荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置；根据层析上升沿位置和层析下降沿位置，计算层析上升沿位置以及层析下降沿位置之间的层析距离差；根据层析距离差与目标试纸所在卡的槽的上升沿和下降沿之间的距离差，判断目标试纸是否层析完全。避免了简单通过时间判断目标试纸是否层析完全时，一些干扰因素对目标试纸的影响，进而造成的对实验结果的影响，提高了实验结果的准确性。

需要说明的是，在本申请实施例中，获取荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置，即步骤S302，具体还包括：对荧光曲线进行一阶求导，得到一阶导曲线图；根据一阶导曲线图，确定荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置。

一阶求导即是对荧光曲线上的每个位置点求取其一阶导数，一阶导数可以反映荧光曲线上的每个位置点附近的变化率。图7为本申请实施例提供的荧光曲线的一阶导曲线图。在本申请一些实施例中，可以根据一阶导曲线图，确定荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置。

可选地，在本申请实施例中，根据一阶导曲线图，确定荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置，包括：

沿荧光曲线的开始方向处取N个点作为前基线，在荧光曲线的结束方向取N个点作为后基线，其中N为大于0的整数；在所述荧光曲线上从前向后取荧光值首次连续大于前基线且荧光值对应的一阶导曲线图的一阶导数为正的位置为层析上升沿位置，从后向前取荧光曲线上的荧光值首次连续大于后基线且荧光值对应的一阶导曲线图的一阶导数为负的位置为层析下降沿位置。

示例性地，如图6所示，取荧光曲线横坐标在0位置处的N个点作为前基线，取荧光曲线横坐标在1701位置处的N个点作为后基线，在荧光曲线上从前向后取荧光值首次连续大于前基线的位置，如601位置处，且对应到图7上的一阶导曲线图上其一阶导数为正，则该位置为层析上升沿位置；在荧光曲线上从后往前取荧光值首次连续大于后基线位置处，如1417位置处，且对应到图7上的一阶导曲线图上其一阶导数为负，则该位置为层析下降沿位置。

图8为本申请另一实施例提供的目标试纸层析完全的判断方法的流程示意图。如图8所示，步骤S301具体可以包括：

S501、以固定速率扫描目标试纸，获取目标试纸上的荧光值。

在本申请实施例中，通过电机拖动光学检测设备，来完成对目标试纸上荧光值的扫描获取。具体地，所述光学检测设备具体包括图4中的第一滤光片12、第二滤光片13、第一凸透镜14、第二凸透镜15、二向色镜16、光源11以及光电传感器17。需要说明的是，由于电机的速率是固定的，因此电机拖动图4提供的光学检测设备扫描目标试纸条固定的扫描范围后，可以得到一定数量的荧光值，完成目标试纸上荧光值的获取。

S502、将荧光值作为纵坐标，将荧光值对应的位置作为横坐标绘制荧光曲线。

以固定速率扫描目标试纸上的荧光点并获得荧光值后，将获取到的荧光值对应到每个荧光值所在的目标试纸的位置上，结合目标试纸的位置以及荧光值大小，绘制目标试纸的荧光曲线。

可以理解的是，荧光曲线上的横坐标表示目标试纸上位置信息，荧光曲线的纵坐标表示对应在目标试纸不同位置处的荧光值的大小。

在本申请一些实施例中，根据层析距离差与目标试纸所在卡的槽的上升沿和下降沿之间的距离差，判断目标试纸是否层析完全，包括：

获取层析上升沿位置、层析下降沿位置在荧光曲线上对应的横坐标之差为层析距离差；当层析距离差与槽的上升沿和下降沿之间的距离差相等时，确定目标试纸层析完全。

在本申请实施例中，目标试纸条的扫描位置示意图参见图9。如图9所示，卡31是四联卡，在一些实施方式中，卡31也可以是单卡(参见图2)，或者双联卡。将4个试纸条分别装入四联卡31中，四联卡31嵌入卡托，卡托由抽屉30承托，抽屉30可以左右移动执行出入舱，入舱即四联卡31和卡托载入扫描范围进行光学检测，其中，扫描开始位置位于四联卡31的试纸槽左侧，扫描结束位置位于四联卡31的试纸槽右侧。

可选地，确定目标试纸层析完全之后，该方法还包括：根据荧光曲线定性或定量项目，计算获取待测样品液的浓度。

在本申请实施例中，如定量项目，通过如下公式1-1进行待测样品液浓度的计算：

其中，y表示T线上的荧光值的大小；x为待测样品液的浓度，具体也可以是待测样品液中待测抗原浓度；A、B、C、D为常数，即为已知量。

需要说明的是，在本申请实施例中，常数的获取过程如下：首先会配备抗原浓度已知的样品液，通过荧光免疫层析技术，通过多次实验获取到A、B、C、D与待测样品液的浓度x以及T线上的荧光值y的关系，通过拟合最终得到A、B、C、D的值。

本申请实施例提供一种目标试纸层析完全的判断装置，用于执行前述目标试纸层析完全的判断方法。图10为本申请实施例提供的一种目标试纸层析完全的判断装置示意图，如图10所示，该目标试纸层析完全的判断装置包括：采集单元501、计算单元502以及判断单元503。

采集单元501，用于采集获取目标试纸上的荧光曲线，目标试纸上滴有待测样品液；

计算单元502，用于获取荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置，根据层析上升沿位置和层析下降沿位置，计算层析上升沿位置以及层析下降沿位置之间的层析距离差；

判断单元503，用于根据层析距离差与目标试纸所在卡的槽的上升沿和下降沿之间的距离差，判断目标试纸是否层析完全。

可选地，计算单元502，用于对荧光曲线进行一阶求导，得到一阶导曲线图；根据一阶导曲线图，确定荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置。

可选地，计算单元502，用于沿荧光曲线的开始方向处取N个点作为前基线，在荧光曲线的结束方向取N个点作为后基线，其中N为大于0的整数；在所述荧光曲线上从前向后取荧光值首次连续大于前基线且荧光值对应的一阶导曲线图的一阶导数为正的位置为层析上升沿位置，从后向前取荧光曲线上的荧光值首次连续大于后基线且荧光值对应的一阶导曲线图的一阶导数为负的位置为层析下降沿位置。

可选地，采集单元501，用于以固定速率扫描目标试纸，获取目标试纸上的荧光值；将荧光值作为纵坐标，将荧光值对应的位置作为横坐标绘制荧光曲线。

可选地，判断单元503，用于获取层析上升沿位置、层析下降沿位置在荧光曲线上对应的横坐标之差为层析距离差；当层析距离差与槽的上升沿和下降沿之间的距离差相等时，确定目标试纸层析完全。

可选地，计算单元502，用于根据荧光曲线，计算获取待测样品液的浓度。

图11为本申请实施例提供的一种目标试纸层析完全的判断装置的结构示意图，对应于一种目标试纸层析完全的判断方法；该目标试纸层析完全的判断装置可以包括：处理器710、存储介质720和总线730，存储介质720存储有处理器710可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，处理器710与存储介质720之间通过总线730通信，处理器710执行机器可读指令，以执行上述方法实施例的步骤。具体实现方式和技术效果类似，这里不再赘述。

本申请实施例提供了一种存储介质，该存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行上述方法。

以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (6)

1.一种目标试纸层析完全的判断方法，其特征在于，包括：

采集获取目标试纸上的荧光曲线，所述目标试纸上滴有待测样品液；

获取所述荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置；

根据所述层析上升沿位置和所述层析下降沿位置，计算所述层析上升沿位置以及所述层析下降沿位置之间的层析距离差；

根据所述层析距离差与所述目标试纸所在卡的槽上升沿和下降沿之间的距离差，判断所述目标试纸是否层析完全；

其中，所述获取所述荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置，包括：

对所述荧光曲线进行一阶求导，得到一阶导曲线图；

根据所述一阶导曲线图，确定所述荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置；

其中，所述根据所述一阶导曲线图，确定所述荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置，包括：

沿所述荧光曲线的开始方向处取N个点作为前基线，在所述荧光曲线的结束方向取N个点作为后基线，其中N为大于0的整数；

在所述荧光曲线上从前向后取荧光值首次连续大于所述前基线且所述荧光值对应的一阶导曲线图的一阶导数为正的位置为所述层析上升沿位置，从后向前取所述荧光曲线上的荧光值首次连续大于所述后基线且所述荧光值对应的一阶导曲线图的一阶导数为负的位置为所述层析下降沿位置；

其中，所述根据所述层析距离差与所述目标试纸所在卡的槽上升沿和下降沿之间的距离差，判断所述目标试纸是否层析完全，包括：

获取所述层析上升沿位置、所述层析下降沿位置在所述荧光曲线上对应的横坐标之差为所述层析距离差；

当所述层析距离差与槽的上升沿和下降沿之间的距离差相等时，确定所述目标试纸层析完全。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采集获取目标试纸上的荧光曲线，包括：

以固定速率扫描所述目标试纸，获取所述目标试纸上的荧光值；

将所述荧光值作为纵坐标，将荧光值对应的位置作为横坐标绘制所述荧光曲线。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述目标试纸层析完全之后，还包括：

根据所述荧光曲线，计算获取所述待测样品液的浓度。

4.一种目标试纸层析完全的判断装置，其特征在于，包括：采集单元、计算单元以及判断单元；

所述采集单元，用于采集获取目标试纸上的荧光曲线，所述目标试纸上滴有待测样品液；

所述计算单元，用于获取所述荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置，根据所述层析上升沿位置和所述层析下降沿位置，计算所述层析上升沿位置以及所述层析下降沿位置之间的层析距离差；

所述判断单元，用于根据所述层析距离差与所述目标试纸所在卡的槽上升沿和下降沿之间的距离差，判断所述目标试纸是否层析完全；

其中，所述计算单元，用于对所述荧光曲线进行一阶求导，得到一阶导曲线图；

根据所述一阶导曲线图，确定所述荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置；

其中，所述计算单元具体用于：

沿所述荧光曲线的开始方向处取N个点作为前基线，在所述荧光曲线的结束方向取N个点作为后基线，其中N为大于0的整数；

在所述荧光曲线上从前向后取荧光值首次连续大于所述前基线且所述荧光值对应的一阶导曲线图的一阶导数为正的位置为所述层析上升沿位置，从后向前取所述荧光曲线上的荧光值首次连续大于所述后基线且所述荧光值对应的一阶导曲线图的一阶导数为负的位置为所述层析下降沿位置；

其中，所述判断单元具体用于：

获取所述层析上升沿位置、所述层析下降沿位置在所述荧光曲线上对应的横坐标之差为所述层析距离差；

当所述层析距离差与槽的上升沿和下降沿之间的距离差相等时，确定所述目标试纸层析完全。

5.一种目标试纸层析完全的判断装置，其特征在于，包括：处理器、存储介质和总线，所述存储介质存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当所述装置运行时，所述处理器与所述存储介质之间通过总线通信，所述处理器执行所述机器可读指令，以执行如权利要求1-3任一项所述方法的步骤。

6.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行如权利要求1-3任一项所述方法的步骤。

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