CN111479195A - 半导体装置以及声音输出装置 - Google Patents

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CN111479195A CN201911147130.7A CN201911147130A CN111479195A CN 111479195 A CN111479195 A CN 111479195A CN 201911147130 A CN201911147130 A CN 201911147130A CN 111479195 A CN111479195 A CN 111479195A
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Abstract

本发明提供能够进行更详细的故障的检测的半导体装置以及声音输出装置。半导体装置18具备波形偏差检测部20A，包含进行分别包含于从增幅基准值信号13的AMP14输出的输出信号15与基准值信号13的DC偏移成分的除去的DC偏移除去部22；进行通过时序调整部24使除去DC偏移成分后的基准值信号13A以及输出信号15A的相位配合来使基准值信号3B与输出信号15B的增益配合的修正的增益修正部26，通过波形比较部28比较基准值信号13C的波形与输出信号15C的波形。半导体装置18具备增益偏差检测部60，检测向增益修正部26输入的基准值信号13B的增益、与向增益修正部26输入的输出信号15B的增益的偏差。

Description

半导体装置以及声音输出装置
技术领域
本发明涉及半导体装置以及声音输出装置。
背景技术
一般来说，公知有被称为所谓的“功能安全”的想法。在该被称为功能安全的想法中，为了将风险减少至能够允许的范围，例如，根据向装置、包含于装置的各部分输入的输入信号；与从该装置、该各部分输出的输出信号，而进行该装置的故障的检测。
作为关于功能安全的技术之一，公知有在通过扬声器播放从音源输出的人声信号的声音输出装置中，根据从音源输出的人声信号、与向扬声器输入的信号而检测声音输出装置的故障的被称为所谓播放声音检查的技术。
例如，在专利文献1中，公开了作为检测具备：产生警报音的警报音产生机构、将用于使警报音产生的警报信号向警报音产生机构发送的警报信号发送机构、以及增幅警报信号的放大器的警报器中的放大器的异常的故障检测装置，根据从放大器的正极输出端子输出的第一检测信号的波形、与从放大器的负极输出端子输出的第二检测信号的波形，来判定放大器的异常的故障检测装置。
专利文献1：日本特开2014-230016号公报
作为如上述那样根据信号的波形来进行故障的检测的技术，存在以使DC偏移以及振幅一致后的状态来对输入信号以及输出信号等信号彼此比较波形的偏差，根据比较结果，来判定故障的有无的技术。另一方面，近来，期望着故障的更详细的检测。
发明内容
本公开以提供能够进行更详细的故障的检测的半导体装置以及声音输出装置为目的。
为了实现上述目的，本公开的半导体装置具备：第1检测部，包含进行从增幅输入信号的增幅部输出的输出信号和前述输入信号所分别包含的DC偏移成分的除去的除去部、以及进行使除去前述DC偏移成分后的前述输入信号以及前述输出信号的相位配合并且使前述输入信号与前述输出信号的增益配合的修正的修正部，比较前述输入信号的波形与前述输出信号的波形；以及第2检测部，检测向前述除去部输入的前述输入信号所包含的DC偏移成分、与向前述除去部输入的前述输出信号所包含的DC偏移成分的偏差。
另外，为了实现上述目的，本公开的半导体装置具备：第1检测部，包含进行从增幅输入信号的增幅部输出的输出信号和前述输入信号所分别包含的DC偏移成分的除去的除去部、以及进行使除去前述DC偏移成分后的前述输入信号以及前述输出信号的相位配合并且使前述输入信号与前述输出信号的增益配合的修正的修正部，比较前述输入信号的波形与前述输出信号的波形；以及第2检测部，检测向前述修正部输入的前述输入信号的增益、与向前述修正部输入的前述输出信号的增益的偏差。
另外，为了实现上述目的，本公开的声音输出装置具备：音源，输出声音信号；根据权利要求1～6中任一项所述的半导体装置，前述声音信号作为输入信号被输入；扬声器，输出与从前述半导体装置输出的输出信号对应的声音。
根据本公开，起到能够进行更详细的故障的检测这一效果。
附图说明
图1是表示第1实施方式的声音输出装置的结构的一个例子的框图。
图2是表示第1实施方式的波形偏差检测部的结构的一个例子的框图。
图3是表示第1实施方式的DC偏移除去部以及DC偏移偏差检测部的结构的一个例子的框图。
图4是表示第1实施方式的增益修正部以及增益偏差检测部的结构的一个例子的框图。
图5是表示第1实施方式的半导体装置中执行的偏差信息的检测处理的一个例子的流程图。
图6是表示第2实施方式的声音输出装置的结构的一个例子的框图。
图7是表示第2实施方式的波形偏差检测部、DC偏移偏差检测部、以及增益偏差检测部的结构的一个例子的框图。
附图标记说明：
1...控制装置；10...声音输出装置；12...音源；13、13A、13B、13C...基准值信号；14...AMP；15、15A、15B、15C...输出信号；16...扬声器；18...半导体装置；20...故障检测部；20A...波形偏差检测部；24...时序调整部；26...增益修正部；28...波形比较部；40...DC偏移偏差检测部；44，62...比较部；60...增益偏差检测部
具体实施方式
以下，参照附图对本发明的实施方式详细地进行说明。应予说明，以下的实施方式不限定本发明。应予说明，在以下的实施方式中，作为一个例子对将本公开的技术应用于将通过放大器增幅从音源输入的人声信号后的人声信号向扬声器输出的人声输出装置的形态进行说明。
[第1实施方式]
首先，对本实施方式的声音输出装置的结构的一个例子进行说明。在图1中，示出了表示本实施方式的声音输出装置10的结构的一个例子的框图。
如图1所示，本实施方式的声音输出装置10具备：输出人声信号的音源12、增幅从音源12输出的人声信号的半导体装置18、以及输出与增幅后的人声信号对应的人声的扬声器16。应予说明，本实施方式的人声信号是本公开的声音信号的一个例子。
音源12只要具有将人声信号向半导体装置18输出的功能即可，不特别地限定。例如，音源12也可以是具备存储从外部的输入的人声信号的存储部，输出存储部中具备的人声的形态，也可以是生成而输出人声信号的形态。另外，在本实施方式中，对于音源12所输出的声音，设为了“人声”，但不言而喻，音源12所输出的声音不限定于人所产生的人声，也可以是其他的“声音”。
从音源12输出的人声信号经由省略图示的接口向半导体装置18输入。半导体装置18具备AMP(Amplifier，放大器)14以及故障检测部20。AMP14具有增幅从音源12输入的人声信号，而将增幅后的人声信号向扬声器16输出的功能。在以下，将从音源12输入的人声信号称为“基准值信号”(基准值信号13)，将通过AMP14增幅后的基准值信号13称为“输出信号”(输出信号15)。应予说明，本实施方式的基准值信号13是本公开的输入信号的一个例子，本实施方式的AMP14是本公开的增幅部的一个例子。
故障检测部20具有检测基准值信号13与输出信号15的偏差，例如基准值信号13与输出信号15的差分的功能。如图1所示，本实施方式的故障检测部20具备波形偏差检测部20A、DC(Direct Current，直流)偏移偏差检测部40、以及增益偏差检测部60。作为一个例子，在本实施方式的故障检测部20中，在波形偏差检测部20A包含有DC偏移偏差检测部40以及增益偏差检测部60(参照图2等，详细内容在后叙述)。
虽然任意一个的详细内容都在后叙述，但波形偏差检测部20A具有将基准值信号13的波形与输出信号15的波形的相位差、输出信号15的形变等作为波形的偏差检测，将表示波形彼此的偏差的信息作为波形偏差信息29输出的功能。另外，DC偏移偏差检测部40具有将表示包含于基准值信号13的DC偏移成分、与包含于输出信号15的DC偏移成分的差分的信息作为DC偏移偏差信息23输出的功能。另外，增益偏差检测部60具有将表示基准值信号13(13B)与输出信号15(15B)的增益(振幅)的差分的信息作为增益偏差信息27输出的功能。
DC偏移偏差信息23、增益偏差信息27、以及波形偏差信息29作为偏差信息21，经由省略图示的接口向半导体装置18的外部的控制装置1输出。在控制装置1中，具有根据输入的偏差信息21，判断半导体装置18是否故障的功能。具体而言，控制装置1具有在从音源12输出的人声信号亦即基准值信号13、与向扬声器16输入的信号亦即输出信号15的差异相对较大的情况下，判定为半导体装置18故障的功能。作为这样的控制装置1，例如，举出MCU(Micro Controller Unit，微控制单元)等。
参照图2，对波形偏差检测部20A的详细内容进行说明。在图2中，示出了表示波形偏差检测部20A的结构的一个例子的框图。如图2所示，本实施方式的波形偏差检测部20A具备DC偏移除去部22、时序调整部24、增益修正部26、以及波形比较部28。应予说明，本实施方式的波形偏差检测部20A是本公开的第1检测部的一个例子。
向DC偏移除去部22输入从音源12输入的基准值信号13。另外，向DC偏移除去部22输入从AMP14输出而反馈的输出信号15。本实施方式的DC偏移除去部22包含DC偏移偏差检测部40。
在图3中，示出了表示本实施方式的DC偏移除去部22以及DC偏移偏差检测部40的结构的一个例子的框图。如图3所示，本实施方式的DC偏移除去部22包含DC偏移检测部32、差分电路34、DC偏移检测部36、以及差分电路38。应予说明，本实施方式的DC偏移偏差检测部40是本公开的第2检测部的一个例子，另外，是第3检测部的一个例子。
向DC偏移检测部32输入基准值信号13。DC偏移检测部32检测包含于基准值信号13的DC偏移成分，输出表示检测到的DC偏移成分的DC偏移成分信号33。向差分电路34输入基准值信号13、与DC偏移成分信号33。差分电路34输出基准值信号13与DC偏移成分信号33的差分亦即基准值信号13A。换言之，差分电路34输出从基准值信号13除去DC偏移成分后的基准值信号13A。
另一方面，向DC偏移检测部36输入输出信号15。DC偏移检测部36检测包含于输出信号15的DC偏移成分，输出表示检测到的DC偏移成分的DC偏移成分信号37。向差分电路38输入输出信号15、与DC偏移成分信号37。差分电路38输出输出信号15与DC偏移成分信号37的差分亦即输出信号15A。换言之，差分电路38输出从输出信号15除去DC偏移成分后的输出信号15A。
另一方面，DC偏移偏差检测部40包含差分电路42。向差分电路42输入从DC偏移检测部32输出的DC偏移成分信号33、与从DC偏移检测部36输出的DC偏移成分信号37。差分电路42将DC偏移成分信号33与DC偏移成分信号37的差作为DC偏移偏差信息23输出。
存在由于在半导体装置18产生故障等，而不包含于基准值信号13的DC偏移因某些影响而多余地叠加于输出信号15的情况。在DC偏移偏差信息23所输入向的控制装置1，能够通过DC偏移偏差信息23把握输出信号15中的多余的DC偏移的重叠量。作为一个例子，在本实施方式的控制装置1中，在根据DC偏移偏差信息23，多余地叠加于输出信号15的DC偏移的量较大的情况，换言之，包含于输出信号15的DC偏移成分的量、与包含于基准值信号13的DC偏移成分的量大幅度地不同的情况下，判定为产生故障(错误)。
另外，向时序调整部24输入从DC偏移除去部22输出的基准值信号13A以及输出信号15A。时序调整部24调整基准值信号13A与输出信号15A的时序，输出调整时序后的基准值信号13B以及输出信号15B。具体而言，时序调整部24通过使基准值信号13A与输出信号15A的相位配合来调整时序。
另外，向增益修正部26输入从时序调整部24输出的基准值信号13B以及输出信号15B。本实施方式的增益修正部26包含增益偏差检测部60。
在图4中，示出了表示本实施方式的增益修正部26以及增益偏差检测部60的结构的一个例子的框图。如图4所示，本实施方式的增益修正部26包含差分电路52、LPF(LowPass Filter，低通滤波器)54、以及积分器56。应予说明，本实施方式的增益偏差检测部60是本公开的第3检测部的一个例子，另外，是第2检测部的一个例子。
向差分电路52输入从时序调整部24输出的基准值信号13B、与输出信号15B。差分电路52输出表示基准值信号13B与输出信号15B的差分的差分信号53。具体而言，差分电路52将基准值信号13B与输出信号15B的振幅的差作为差分信号53输出。向LPF54输入差分信号53。LPF54输出将差分信号53平滑化后的差分平滑化信号55。通过由LPF54将差分信号53平滑化，从差分平滑化信号55除去噪声。
向积分器56输入差分平滑化信号55。积分器56对输入的差分平滑化信号55做积分。换言之，积分器56通过将差分平滑化信号55反馈而相加，来输出表示用于使基准值信号13B输出信号15B的振幅配合的修正量的增益修正信号57。
增益修正部26通过由从积分器56输出的增益修正信号57，来将输出信号15B的增益通过省略图示的修正电路修正，从而使基准值信号13B的振幅与输出信号15B的振幅配合。增益修正部26输出振幅一致后的状态的基准值信号13C、与输出信号15C。
另一方面，增益偏差检测部60将差分平滑化信号55作为增益偏差信息27输出。存在由于在半导体装置18产生故障等，而基准值信号13(13B)的增益与输出信号15(15B)的增益因某些影响而大幅度地不同(偏差)的情况。在增益偏差信息27所输入向的控制装置1，能够通过增益偏差信息27把握基准值信号13的增益与输出信号15的增益的偏差量。作为一个例子，在本实施方式的控制装置1中，在根据增益偏差信息27，在基准值信号13的增益与输出信号15的增益之间增益的偏差量较大的情况下，判定为产生故障(错误)。
另外，向波形比较部28输入从增益修正部26输出的基准值信号13C以及输出信号15C。波形比较部28比较基准值信号13C的波形与输出信号15C的波形，作为比较结果，输出将输出信号15C的波形的形变等作为输出信号15C的波形的相对于基准值信号13C的波形的偏差表示的波形偏差信息29。
像这样，在本实施方式的波形偏差检测部20A中，以已除去基准值信号13以及输出信号15各自的DC偏移偏差，并进一步使时序与振幅配合的状态，检测基准值信号13(13C)的波形、与输出信号15(15C)的波形的偏差。
存在由于在半导体装置18产生故障等，而因输出信号15的波形变形等而输出信号15的波形与基准值信号13的波形偏离的情况。在波形偏差信息29所输入向的控制装置1，能够通过波形偏差信息29把握输出信号15的波形与基准值信号13的波形的偏差。作为一个例子，在本实施方式的控制装置1中，在根据波形偏差信息29，输出信号15的波形与基准值信号13的波形的偏差较大的情况下，判定为产生故障(错误)。
接下来，对本实施方式的半导体装置18的作用进行说明。在图5中，示出了表示半导体装置18中执行的偏差信息21的检测处理的一个例子的流程图。另外，在本实施方式中作为一个例子，若向半导体装置18接通电源则执行图5所示的检测处理。
在步骤S100中故障检测部20判断是否是检测偏差信息21的时刻。检测偏差信息21的时刻不特别地限定，例如，也可以是每个预先决定的间隔，也可以是随时，另外，也可以是与从音源12输入人声信号(基准值信号13)的时刻对应的时刻。
到检测偏差信息21的时刻为止步骤S100的判定为否定判定。另一方面，在是检测偏差信息21的时刻的情况下，步骤S100的判定为肯定判定，移至步骤S102。
在步骤S102中DC偏移偏差检测部40如上述的那样输出DC偏移偏差信息23。从DC偏移偏差检测部40输出的DC偏移偏差信息23作为偏差信息21向控制装置1输出。
在接下来的步骤S104中增益偏差检测部60如上述的那样输出增益偏差信息27。从增益偏差检测部60输出的增益偏差信息27作为偏差信息21向控制装置1输出。
在接下来的步骤S106中波形偏差检测部20A如上述的那样输出波形偏差信息29。从波形偏差检测部20A输出的波形偏差信息29作为偏差信息21向控制装置1输出。
在接下来的步骤S108中故障检测部20判定是否结束检测处理。作为一个例子，在本实施方式的半导体装置18中，到电源切断为止步骤S108的判定为否定判定，返回步骤S100，重复检测处理。另一方面，在半导体装置18的电源已切断的情况下，步骤S108的判定为肯定判定，结束本检测处理。
像这样，在本实施方式的声音输出装置10的故障检测部20中，DC偏移偏差信息23、增益偏差信息27、以及波形偏差信息29以该顺序依次输出，向控制装置1依次输入。因此，根据控制装置1，能够依次判定针对DC偏移是否产生故障(错误)、针对增益是否产生故障(错误)、以及针对波形是否产生故障(错误)。
[第2实施方式]
参照附图，对本实施方式的声音输出装置10进行说明。应予说明，本实施方式的声音输出装置10由于包含与第1实施方式的声音输出装置10(图1参照)相同的结构，因此对于相同的结构记载其主旨，而省略详细的说明。
在图6中，示出了表示本实施方式的声音输出装置10的结构的一个例子的框图。如图6所示，对于声音输出装置10整体的结构、半导体装置18中的故障检测部20以外的结构，与第1实施方式相同。
另外，如图6所示，与第1实施方式的波形偏差检测部20A相同地，从本实施方式的故障检测部20的波形偏差检测部20A输出波形偏差信息29，经由省略图示的接口向控制装置1输入。
另一方面，如图6所示，对本实施方式的DC偏移偏差检测部40而言，就从控制装置1输出的故障检测用阈值3经由省略图示的接口向本实施方式的DC偏移偏差检测部40输入这点与第1实施方式的DC偏移偏差检测部40不同。另外，对于DC偏移偏差检测部40而言，就从DC偏移偏差检测部40代替DC偏移偏差信息23而输出表示针对DC偏移产生故障(错误)的故障信息45，经由省略图示的接口向控制装置1输入这点，与第1实施方式的DC偏移偏差检测部40不同。DC偏移偏差检测部40使用故障检测用阈值3针对DC偏移判定故障的有无，将其判定结果作为故障信息45输出。
另外，如图6所示，对于本实施方式的增益偏差检测部60而言，就从控制装置1输出的故障检测用阈值5经由省略图示的接口向本实施方式的增益偏差检测部60输入这点与第1实施方式的增益偏差检测部60不同。另外，对于增益偏差检测部60而言，就从增益偏差检测部60代替增益偏差信息27而输出表示针对增益产生故障(错误)的故障信息63，经由省略图示的接口向控制装置1输入这点，与第1实施方式的增益偏差检测部60不同。增益偏差检测部60使用故障检测用阈值5针对DC增益判定故障的有无，将其判定结果作为故障信息63输出。
在图7中，示出了表示波形偏差检测部20A、DC偏移偏差检测部40、以及增益偏差检测部60的结构的一个例子的框图。
如图7所示，本实施方式的DC偏移偏差检测部40具备比较部44。本实施方式的比较部44是本公开的第2检测部用的比较部的一个例子，另外，是第3检测部用的比较部的一个例子。应予说明，在图7中，对于DC偏移偏差检测部40的结构中，包含于上述的DC偏移除去部22的用于输出DC偏移偏差信息23的结构省略记载。
向比较部44输入DC偏移偏差信息23以及故障检测用阈值3。存在即使在基于基准值信号13的DC偏移成分信号33、与基于输出信号15的DC偏移成分信号37产生差分，作为声音输出装置10也在允许范围内的情况。因此，在本实施方式的声音输出装置10中，将作为声音输出装置10不能够允许的差分的值设定为故障检测用阈值3。而且，在DC偏移成分信号33、与DC偏移成分信号37的差分超过故障检测用阈值3的情况下，设为针对DC偏移产生故障(错误)。
比较部44在由DC偏移偏差信息23表示的DC偏移的偏差量超过故障检测用阈值3的情况下，输出故障信息45。因此，在控制装置1中，在有故障信息45输入的情况下，能够判定为针对DC偏移产生故障(错误)。
另外，如图7所示，本实施方式的增益偏差检测部60具备比较部62。本实施方式的比较部62是本公开的第3检测部用的比较部的一个例子，另外，是第2检测部用的比较部的一个例子。应予说明，在图7中，对于增益偏差检测部60的结构中，包含于上述的增益修正部26的用于输出增益偏差信息27的结构省略记载。
向比较部62输入增益偏差信息27以及故障检测用阈值5。存在即使在基准值信号13B的增益、与输出信号15B的增益产生差分，作为声音输出装置10也在允许范围内的情况。因此，在本实施方式的声音输出装置10中，将作为声音输出装置10不能够允许的差分的值设定为故障检测用阈值5。而且，在基准值信号13B的增益、与输出信号15B的增益的差分超过故障检测用阈值5的情况下，设为针对增益产生故障(错误)。
比较部62在由增益偏差信息27表示的增益的差分量超过故障检测用阈值5的情况下，输出故障信息63。因此，在控制装置1中，在有故障信息63输入的情况下，能够判定为针对增益产生故障(错误)。
像这样，在本实施方式的半导体装置18中，由于代替DC偏移偏差信息23输出故障信息45，因此能够向控制装置1通知针对DC偏移是否产生故障(错误)，而不是针对DC偏移。另外，在本实施方式的半导体装置18中，由于代替增益偏差信息27输出故障信息63，因此能够向控制装置1通知针对增益是否产生故障(错误)，而不是针对增益的偏差量(差分)。
如以上说明的那样，上述各实施方式的半导体装置18具备波形偏差检测部20A，包含进行分别包含于从增幅基准值信号13的AMP14输出的输出信号15与基准值信号13的DC偏移成分的除去的DC偏移除去部22；进行通过时序调整部24使除去DC偏移成分后的基准值信号13A以及输出信号15A的相位配合来使基准值信号3B与输出信号15B的增益配合的修正的增益修正部26，通过波形比较部28比较基准值信号13C的波形与输出信号15C的波形。另外，上述各实施方式的半导体装置18具备DC偏移偏差检测部40，检测包含于向DC偏移除去部22输入的基准值信号13的DC偏移成分、与包含于向DC偏移除去部22输入的输出信号15的DC偏移成分的偏差。另外，上述各实施方式的半导体装置18具备增益偏差检测部60，检测向增益修正部26输入的基准值信号13B的增益、与向增益修正部26输入的输出信号15B的增益的偏差。
像这样，在上述各实施方式的半导体装置18中，除了基准值信号13的波形与输出信号15的波形的偏差以外，DC偏移偏差检测部40还检测包含于基准值信号13的DC偏移成分与包含于输出信号15的DC偏移成分的差分。因此，根据本实施方式的半导体装置18，通过表示检测到的DC偏移的差分的DC偏移偏差信息23，可知DC偏移中是否产生故障(错误)。控制装置1由于能够通过比波形偏差信息29先输出的DC偏移偏差信息23，进行故障(错误)的有无的判定，因此与通过波形偏差信息29判定故障(错误)的有无的情况相比，能够更早地判定故障(错误)的有无。
另外，在上述各实施方式的半导体装置18中，除了基准值信号13的波形与输出信号15的波形的偏差以外，增益偏差检测部60还检测基准值信号13的增益与输出信号15的增益的差分。因此，根据本实施方式的半导体装置18，通过表示检测到的增益的差分的增益偏差信息27，可知增益中是否产生故障(错误)。控制装置1由于能够通过比波形偏差信息29先输出的增益偏差信息27，进行故障(错误)的有无的判定，因此与通过波形偏差信息29判定故障(错误)的有无的情况相比，能够更早地判定故障(错误)的有无。
因此根据上述各实施方式的半导体装置18，能够进行更详细的故障的检测。
应予说明，在上述各实施方式中，对将本公开的技术应用于播放声音检查，即声音输出装置10的例子进行了说明，但本公开的技术不限定于声音输出装置10，只要是检测2个信号的差异的系统就能够应用。
应予说明，波形偏差检测部20A具有以已除去分别包含于从增幅基准值信号13的AMP14输出的输出信号15与基准值信号13的DC偏移成分，使相位配合，然后使增益配合的状态来比较波形的功能即可。在上述各实施方式中，对半导体装置18的波形偏差检测部20A将各个DC偏移除去部22、时序调整部24、增益修正部26、以及波形比较部28作为电路模块而具备的形态进行了说明，但也可以各部分的功能不作为电路模块而实现。
应予说明，在上述各实施方式中，对控制装置1具有判定半导体装置18是否故障的功能的形态进行了说明，但也可以成为声音输出装置10具备该功能的一部分或者全部的形态。另外，在上述各实施方式中，对声音输出装置10具备DC偏移偏差检测部40以及增益偏差检测部60的形态进行了说明，但不言而喻，也可以成为具备任意一方的形态。
另外，上述各实施方式中的半导体装置18的具体的硬件结构不特别地限定。例如，也可以成为故障检测部20由一个芯片构成的形态，也可以成为组合多个芯片而形成的形态。
另外，在上述各实施方式中说明的声音输出装置10以及半导体装置18等的结构以及动作等是一个例子，不言而喻，能够在不脱离本发明的主旨的范围内根据状况变更。

Claims (7)

1.一种半导体装置，其中，具备：
第1检测部，包括进行从增幅输入信号的增幅部输出的输出信号和前述输入信号所分别包含的DC偏移成分的除去的除去部、以及进行使除去前述DC偏移成分后的前述输入信号以及前述输出信号的相位配合并且使前述输入信号与前述输出信号的增益配合的修正的修正部，比较前述输入信号的波形与前述输出信号的波形；以及
第2检测部，检测向前述除去部输入的前述输入信号所包含的DC偏移成分、与向前述除去部输入的前述输出信号所包含的DC偏移成分的偏差。
2.根据权利要求1所述的半导体装置，其中，进一步具备
第3检测部，检测向前述修正部输入的前述输入信号的增益、与向前述修正部输入的前述输出信号的增益的偏差。
3.一种半导体装置，其中，具备：
第1检测部，包括进行从增幅输入信号的增幅部输出的输出信号和前述输入信号所分别包含的DC偏移成分的除去的除去部、以及进行使除去前述DC偏移成分后的前述输入信号以及前述输出信号的相位配合并且使前述输入信号与前述输出信号的增益配合的修正的修正部，比较前述输入信号的波形与前述输出信号的波形；以及
第2检测部，检测向前述修正部输入的前述输入信号的增益、与向前述修正部输入的前述输出信号的增益的偏差。
4.根据权利要求3所述的半导体装置，其中，进一步具备
第3检测部，检测向前述除去部输入的前述输入信号所包含的DC偏移成分、与向前述除去部输入的前述输出信号所包含的DC偏移成分的偏差。
5.根据权利要求2或4所述的半导体装置，其中，进一步具备
第3检测部用比较部，比较通过前述第3检测部检测到的前述偏差的量、与预先决定的故障检测用阈值。
6.根据权利要求1～5中任一项所述的半导体装置，其中，进一步具备
第2检测部用比较部，比较通过前述第2检测部检测到的前述偏差的量、与预先决定的故障检测用阈值。
7.一种声音输出装置，其中，具备：
音源，输出声音信号；
根据权利要求1～6中任一项所述的半导体装置，前述声音信号作为输入信号被输入；以及
扬声器，输出与从前述半导体装置输出的输出信号对应的声音。
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