CN111447104B - 一种高效的产品测试方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明实施例提供了一种高效的产品测试方法，包括：根据待测产品的测试项目，计算最小测试资源包并构建测试资源池，所述测试资源池包括至少一个最小测试资源包；根据单个待测产品的测试用时、各测试项目的仪表使用时间以及所述最小测试资源包的数量计算可支持的待测产品数量；构建待测产品的测试排序表，并按照预设的测试用例申请所述测试资源池中的资源；以及通过集成的资源交换设备，将所述测试资源池中的资源自动地动态分配给待测产品以完成所述各测试项目。本发明可以将多个测试工序合并到一个测试环境当中，而且无需反复插拔和上电操作，为待测产品动态分配测试资源，显著提供了测试效率。

Description

一种高效的产品测试方法及装置
技术领域
本发明属于产品测试技术领域，更具体地，涉及一种高效的产品测试方法及装置。
背景技术
在产品制造行业，产品出厂前都需要经过各种测试，例如需要对光接口进行测试，电接口进行测试以及对射频接口进行测试等。通常，进行这些测试都需要使用各种专用设备，配备专用测试人员。这些测试的价格通常不菲。为了提高产品测试效率，通常从测试设备使用率、测试方法和测试人员数量几个因素出发，寻求更好的测试方案。
在现有技术中，为提高产品测试效率，通常有两种做法。一种是设计多个专有测试平台，比如专门进行光测试的平台或者专门进行电测试的平台，在专有测试平台进行某一种测试。这样可以提高测试设备的使用效率，但是同一个产品完成所有测试需要多次插拔、上电及搬运，降低了测试效率。另一种是将多种专用设备集中到一个测试平台，将单个产品的测试全部在一个平台上完成，这样可以减少测试人员数量，减少插拔和上电次数，但是专用设备的使用率很低，大部分时间下，专用设备都在空闲状态。
发明内容
针对现有技术的以上缺陷和改进需求，本发明的目的在于提供一种高效的产品测试方法及装置。该方法包括：
根据待测产品的测试项目，计算最小测试资源包并构建测试资源池，所述测试资源池包括至少一个最小测试资源包；
根据单个待测产品的测试用时、各测试项目的仪表使用时间以及所述最小测试资源包的数量计算可支持的待测产品数量；
构建待测产品的测试排序表，并按照预设的测试用例申请所述测试资源池中的资源；以及
通过集成的资源交换设备，将所述测试资源池中的资源自动地动态分配给待测产品以完成所述各测试项目。
优选地，所述根据待测产品的测试项目，计算最小测试资源包包括：
根据待测产品的测试项目，确定所需测试仪表类型，所述仪表类型包括光测试仪表、电测试仪表和/或射频测试仪表；以及
将仪表使用时间最短的测试仪表的数量定为1，计算其他类型的测试仪表的数量Ni，其中Ni＝Ti/T1或Ni等于Ti与T1的商取整后加1，Ti为待计算数量的测试仪表的仪表使用时间，T1为仪表使用时间最短的测试仪表的测试时间。
优选地，所述根据单个待测产品的测试用时、各测试项目的仪表使用时间以及所述最小测试资源包的数量计算可支持的待测产品数量包括：
确定单个产品的测试用时，所述测试用时包括各测试项目的仪表使用时间总和Ta，测试操作用时Tb和上电用时Tc；
确定最短仪表使用T1和最小测试资源包数量M；以及
计算可支持的待测产品数量Ndut，其中Ndut≥(Ta+Tb+Tc)*M/T1。
优选地，所述构建待测产品的测试排序表，并按照预设的测试用例申请所述测试资源池中的资源包括：
依次设置所有测试仪表的使用优先级；
按照所述使用优先级响应所述测试用例的请求；以及
若所有测试仪表均被占用，则该待测产品进入等待队列。
优选地，所述通过集成的资源交换设备，将所述测试资源池中的资源自动地动态分配给待测产品以完成所述各测试项目包括：
将所述待测产品连接至所述集成的资源交换设备；以及
控制所述集成的资源交换设备，将所述待测产品动态地连接至所述测试资源池中的测试仪表。
优选地，所述集成的资源交换设备包括光交换模块、电交换模块和射频交换模块；
所述光交换模块连接至所述待测产品和光测试仪表；
所述电交换模块连接至所述待测产品和电测试仪表；
所述射频交换模块连接至所述待测产品和射频测试仪表。
优选地，所述光交换模块包括光开关矩阵，电交换模块包括交换机，所述射频交换模块包括射频开关矩阵。
根据本发明的另一个方面，还提供了一种高效的产品测试装置，包括控制器、集成的资源交换设备以及测试资源池；所述集成的资源交换设备用于在所述控制器的控制下将待测产品连接至所述测试资源池以对所述待测产品进行测试；所述测试装置可执行上述的测试方法。
本发明方法具有以下应用技术效果：
(1)本发明通过精确计算测试资源池和可支持的待测产品的数量，通过资源交换设备的自动切换，可显著提供仪表利用率。
(2)本发明通过资源交换设备的自动切换，可将所有测试工序在一个测试环境中完成，节约在不同测试工序之间的搬运时间，减少多工序测试中的反复插拔、上电、周转时间，可显著降低待测产品全流程总耗时。
(3)本发明可减少测试流水线长度，减少测试流水线空间占用。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的产品测试方法流程图；
图2为本发明提供的产品测试装置结构方框图；
图3为本发明提供的资源交换设备结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
如图1所示，本实施例提供了一种高效的产品测试方法，包括：
S100：根据待测产品的测试项目，计算最小测试资源包并构建测试资源池，所述测试资源池包括至少一个最小测试资源包；
S200：根据单个待测产品的测试用时、各测试项目的仪表使用时间以及所述最小测试资源包的数量计算可支持的待测产品数量；
S300：构建待测产品的测试排序表，并按照预设的测试用例申请所述测试资源池中的资源；以及
S400：通过集成的资源交换设备，将所述测试资源池中的资源自动地动态分配给待测产品以完成所述各测试项目。
具体地，对于一个待测产品来说，所需要的测试项目包括电接口测试，光接口测试和/或射频接口测试等。在所述步骤S100中，所述根据待测产品的测试项目，计算最小测试资源包包括：
S101：根据待测产品的测试项目，确定所需测试仪表类型，所述仪表类型包括光测试仪表、电测试仪表和/或射频测试仪表；以及
S102：将仪表使用时间最短的测试仪表的数量定为1，计算其他类型的测试仪表的数量Ni，其中Ni＝Ti/T1或Ni等于Ti与T1的商取整后加1，Ti为待计算数量的测试仪表的仪表使用时间，T1为仪表使用时间最短的测试仪表的测试时间。
举例来说，假设待测产品同时需要进行光接口测试、电接口测试和射频接口测试，那么最小测试资源包中则最少需要1个光测试仪表、1个电测试仪表和1个射频测试仪表。再假设，射频测试仪表的仪表使用时间最短，为T1＝2s；光测试仪表使用时间为T2＝6s；电测试仪表使用时间为T3＝12s。那么再最小测试资源包中，应该包括1个射频测试仪表，T2/T1＝3个光测试仪表，T3/T1＝6个电测试仪表。如果T2或者T3不是T1的整数倍，那么其仪表数量应该是其使用时间与T1的比值取整数之后加1。而测试资源池应该包括至少一个最小测试资源包，至于具体包括多少个最小测试资源包，应该根据资源包的可用数量和对测试时间的要求进行选择，这个选择对于本领域技术人员来说是一个常识，无需付出创造性劳动，在此不作限制。
具体地，在所述步骤S200中，所述根据单个待测产品的测试用时、各测试项目的仪表使用时间以及所述最小测试资源包的数量计算可支持的待测产品数量包括：
S201：确定单个产品的测试用时，所述测试用时包括各测试项目的仪表使用时间总和Ta，测试操作用时Tb和上电用时Tc；
S202：确定最短仪表使用T1和最小测试资源包数量M；以及
S203：计算可支持的待测产品数量Ndut，其中Ndut≥(Ta+Tb+Tc)*M/T1。
其中，假设待测产品同时需要进行光接口测试、电接口测试和射频接口测试，那么Ta＝T1+T2+T3。测试操作用时Tb包括例如将待测产品安装到测试工位上的时间，接口插拔的时间等。在本发明中，由于采用了资源交换设备，待测产品完成所有测试项目只需要一次安装和插拔，因此测试操作时间可显著降低。上电用时Tc是指给待测产品上电所需要的时间。因为在所有测试项目中，待测产品都只需要插拔一次，因此上电也只需要一次，上电时间也显著降低。
在本发明的一个实施例中，假设Ta＝20s，Tb＝4s，Tc＝6s，T1＝2s，M＝1，那么该测试方法一次可支持的待测产品数量Ndut不低于(20+4+6)*1/2＝15个。在实际测试中，可以根据需要进行调整，优先满足最贵重的仪表利用率达到100％，无需所有的仪表利用率100％。
具体地，在所述步骤S300中，所述构建待测产品的测试排序表，并按照预设的测试用例申请所述测试资源池中的资源包括：
S301：依次设置所有测试仪表的使用优先级；
S302：按照所述使用优先级响应所述测试用例的请求；以及
S303：若所有测试仪表均被占用，则该待测产品进入等待队列。
在所述资源池中，统一类型的测试仪表，例如光测试仪表或射频测试仪表，数量往往不止一个。这个时候就需要对这些同类的仪表设置优先级。当收到待测产品的测试请求时，优先安排优先级高的测试仪表响应测试。当所有测试仪表都被占用时，待测产品进入等待队列。一旦有测试资源被释放，先响应等待队列第一位的待测产品的测试请求。一旦等待队列中有待测产品，后续加入的待测产品直接进入等待队列，不再请求测试资源。
具体地，在所述步骤S400中，所述通过集成的资源交换设备，将所述测试资源池中的资源自动地动态分配给待测产品以完成所述各测试项目包括：
S401：将所述待测产品连接至所述集成的资源交换设备；以及
S402：控制所述集成的资源交换设备，将所述待测产品动态地连接至所述测试资源池中的测试仪表。
如图2和3所示，待测产品池100中的多个待测产品，例如101～104，分别连接至集成的资源交换设备200。资源交换设备200进一步连接至测试资源池400和控制器300，用于在控制器300的控制下将测试资源池400中的测试仪表，例如401～403分配给待测产品。资源交换设备200包括光交换模块201、射频交换模块202和电交换模块203，分别提供连接待测产品的光接口、射频接口和电接口。光接口可为SC/UPC接口,射频接口可为SMA接口，电接口可为RJ45和(SFP/SFP+)接口。
如图3所示，所述光交换模块201连接至所述待测产品和光测试仪表。所述电交换模块203连接至所述待测产品和电测试仪表。所述射频交换模块202连接至所述待测产品和射频测试仪表。所述光交换模块201包括光开关2011组成的光开关矩阵。在本发明的一个实施例中，光开关矩阵可以为n×m的矩阵，其中n和m可为任何不小于1的整数。矩阵大小的选择可以根据测试资源池中的可用仪表数量以及待测产品数量进行选择，在此并不限制。
所述射频交换模块202包括射频开关2021组成的射频开关矩阵。在本发明的一个实施例中，射频开关矩阵可以为n×m的矩阵，其中n和m可为任何不小于1的整数。矩阵大小的选择可以根据测试资源池中的可用仪表数量以及待测产品数量进行选择，在此并不限制。
所述电交换模块203为交换机。该交换机可以为任何现有市场上可购买得到的交换机，例如以太网交换机。该交换机作为现有技术，在此并不限制。本领域技术人员可以根据实际需要，去市面上选择一款合适的交换机。
如图2和3所示，本发明实施例还提供了一种高效的产品测试装置，包括控制器300、集成的资源交换设备200以及测试资源池400。所述集成的资源交换设备200用于在所述控制器300的控制下将待测产品池100中的待测产品连接至所述测试资源池400以对所述待测产品进行测试。所述测试装置可执行上述的测试方法。
以上所揭露的仅为本发明一种较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分流程，并依本发明权利要求所作的等同变化，仍属于发明所涵盖的范围。

Claims (6)

1.一种高效的产品测试方法，其特征在于，包括：
根据待测产品的测试项目，计算最小测试资源包并构建测试资源池，所述测试资源池包括至少一个最小测试资源包；
根据单个待测产品的测试用时、各测试项目的仪表使用时间以及所述最小测试资源包的数量计算可支持的待测产品数量；
构建待测产品的测试排序表，并按照预设的测试用例申请所述测试资源池中的资源；以及
通过集成的资源交换设备，将所述测试资源池中的资源自动地动态分配给待测产品以完成所述各测试项目；
所述根据待测产品的测试项目，计算最小测试资源包包括：
根据待测产品的测试项目，确定所需测试仪表类型，所述仪表类型包括光测试仪表、电测试仪表和/或射频测试仪表；以及
将仪表使用时间最短的测试仪表的数量定为1，计算其他类型的测试仪表的数量Ni，其中Ni＝Ti/T1或Ni等于Ti与T1的商取整后加1，Ti为待计算数量的测试仪表的仪表使用时间，T1为仪表使用时间最短的测试仪表的测试时间；
所述根据单个待测产品的测试用时、各测试项目的仪表使用时间以及所述最小测试资源包的数量计算可支持的待测产品数量包括：
确定单个产品的测试用时，所述测试用时包括各测试项目的仪表使用时间总和Ta，测试操作用时Tb和上电用时Tc；
确定最短仪表使用T1和最小测试资源包数量M；以及
计算可支持的待测产品数量Ndut，其中Ndut≥(Ta+Tb+Tc)*M/T1。
2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述构建待测产品的测试排序表，并按照预设的测试用例申请所述测试资源池中的资源包括：
依次设置所有测试仪表的使用优先级；
按照所述使用优先级响应所述测试用例的请求；以及
若所有测试仪表均被占用，则该待测产品进入等待队列。
3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述通过集成的资源交换设备，将所述测试资源池中的资源自动地动态分配给待测产品以完成所述各测试项目包括：
将所述待测产品连接至所述集成的资源交换设备；以及
控制所述集成的资源交换设备，将所述待测产品动态地连接至所述测试资源池中的测试仪表。
4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述集成的资源交换设备包括光交换模块、电交换模块和射频交换模块；
所述光交换模块连接至所述待测产品和光测试仪表；
所述电交换模块连接至所述待测产品和电测试仪表；
所述射频交换模块连接至所述待测产品和射频测试仪表。
5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述光交换模块包括光开关矩阵，电交换模块包括交换机，所述射频交换模块包括射频开关矩阵。
6.一种高效的产品测试装置，其特征在于，包括控制器、集成的资源交换设备以及测试资源池；所述集成的资源交换设备用于在所述控制器的控制下将待测产品连接至所述测试资源池以对所述待测产品进行测试；所述测试装置执行如权利要求1-5任意一项所述的测试方法。
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