CN116237276A - 芯片测试方法、系统、装置及电子设备 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种芯片测试方法、系统、装置及非易失性存储介质。其中，该方法包括：确定多个测试机中的每个测试机对应的测试程序和分选机，其中，每个测试机唯一对应一个分选机，每个测试机和对应的分选机之间通过地址信息建立通信关系，多个测试机用于对同一待测试芯片集合进行测试；发送每个测试机加载的测试程序至对应的分选机，其中，分选机用于指示芯片抓取设备从待测试芯片集合中抓取与测试程序对应的待测试芯片，并将待测试芯片放置到分选机中；控制多个测试机依据测试程序对待测试芯片集合中的待测试芯片并行测试。本申请解决了由于分选机的工位数量有限，以及芯片测试程序开发困难，造成的芯片测试效率不高、测试复杂度低的技术问题。

Description

芯片测试方法、系统、装置及电子设备

技术领域

本申请涉及半导体测试技术领域，具体而言，涉及一种芯片测试方法、系统、装置及电子设备。

背景技术

生产过程中，在进行芯片的测试时，需要将待测试芯片放置在分选机(Handler)的机台上进行测试，每颗芯片的位置对应着分选机上的一个工位(site)，每一个工位都需要一片放置芯片的空间以及对应的硬件链路，因此，一台分选机的测试工位的数量总是有限的。

同时，芯片的测试是基于测试机(Tester)上加载的测试程序来进行的，一颗芯片的测试标准和结果依赖于一个测试程序的开发，而测试程序在开发的过程中一个测试程序(flow)一般是由一个工程师维护，因此，将多个flow组成一个更庞大的测试程序十分困难，这就造成了芯片凭一套测试程序的复杂度不会太高，无法实现对高复杂度芯片的高质量复杂测试。

综上，由于分选机的工位数量有限，以及芯片测试程序开发困难，造成芯片测试效率不高、测试复杂度低的技术问题。

针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

申请内容

本申请实施例提供了一种芯片测试方法、系统、装置及电子设备，以至少解决由于分选机的工位数量有限，以及芯片测试程序开发困难，造成的芯片测试效率不高、测试复杂度低的技术问题。

根据本申请实施例的一个方面，提供了一种芯片测试方法，包括：确定多个测试机中的每个测试机对应的测试程序和分选机，其中，每个测试机唯一对应一个分选机，每个测试机和对应的分选机之间通过地址信息建立通信关系，多个测试机用于对同一待测试芯片集合进行测试；发送每个测试机加载的测试程序至对应的分选机，其中，分选机用于指示芯片抓取设备从待测试芯片集合中抓取与测试程序对应的待测试芯片，并将待测试芯片放置到分选机中；控制多个测试机依据测试程序对待测试芯片集合中的待测试芯片并行测试。

可选地，每个测试机和对应的分选机之间的通信过程的管理方式包括以下至少之一：指针群，数组或容器。

可选地，指针群中包括每个测试机对应的指针，在管理方式为指针群的情况下，确定多个测试机中的每个测试机对应的测试程序和分选机的步骤之后，芯片测试方法还包括：建立每个测试机对应的指针，其中，指针用于管理每个测试机与对应的分选机之间的通信过程；确定每个测试机的地址信息，以及对应的分选机的地址信息，其中，地址信息的信息类型包括以下至少之一：端口信息，通信地址；依据每个测试机的地址信息和对应的分选机的地址信息，确定每个测试机和对应的分选机之间的映射关系。

可选地，发送每个测试机加载的测试程序至对应的分选机的步骤，包括：确定每个测试机对应的测试程序；控制每个测试机对应的指针将测试程序的标识信息发送至对应的分选机。

可选地，控制多个测试机依据测试程序对待测试芯片集合中的待测试芯片进行测试的步骤，包括：判断指针是否获取到分选机生成的测试启动信号；若是，则控制指针从分选机中获取测试位置信息，其中，测试位置信息包括待测试芯片所在的测试工位的位置信息；控制指针发送测试位置信息至测试机，并指示测试机对待测试芯片执行待测试程序；在测试机执行完成待测试程序后，通过指针获取测试机执行完成待测试程序后生成的测试结果，并通过指针将测试结果发送至分选机中。

可选地，控制多个测试机依据测试程序对待测试芯片集合中的待测试芯片进行测试的步骤之后，还包括：确定目标测试程序，其中，目标测试程序为未对待测试芯片集合中的全部待测试芯片执行的测试程序；通过指针指示目标测试机依据目标测试程序对目标待测试芯片测试，其中，目标待测试芯片为待测试芯片集合中未被按照目标测试程序测试的待测试芯片；目标测试机为执行完对应的测试程序后，处于空闲状态下的测试机。

可选地，确定目标测试程序的步骤包括：确定测试机对应的测试流程，其中，测试流程中包括测试机对应的全部测试程序的标识信息，以及全部测试程序的排列顺序；依据测试流程，确定目标测试程序。

根据本申请实施例的另一个方面，还提供了一种芯片测试系统，包括：多个测试机、多个分选机、芯片抓取设备及服务器，其中，服务器用于确定多个测试机中的每个测试机对应的测试程序和分选机，其中，每个测试机唯一对应一个分选机，每个测试机和对应的分选机之间通过地址信息建立通信关系，多个测试机用于对同一待测试芯片集合进行测试；发送每个测试机加载的测试程序至对应的分选机，其中，分选机用于指示芯片抓取设备从待测试芯片集合中抓取与测试程序对应的待测试芯片，并将待测试芯片放置到分选机中；控制多个测试机依据测试程序对待测试芯片集合中的待测试芯片并行测试；芯片抓取设备，用于依据多个分选机中的每个分选机的指示信息抓取待测试芯片，并将待测试芯片放置到分选机的测试区域中。

根据本申请实施例的又一个方面，还提供了一种芯片测试装置，包括：配置模块，用于确定多个测试机中的每个测试机对应的测试程序和分选机，其中，每个测试机唯一对应一个分选机，每个测试机和对应的分选机之间通过地址信息建立通信关系，多个测试机用于对同一待测试芯片集合进行测试；通信模块，用于发送每个测试机加载的测试程序至对应的分选机，其中，分选机用于指示芯片抓取设备从待测试芯片集合中抓取与测试程序对应的待测试芯片，并将待测试芯片放置到分选机中；处理模块，用于控制多个测试机依据测试程序对待测试芯片集合中的待测试芯片并行测试。

根据本申请实施例的再一方面，还提供了一种电子设备，电子设备包括存储器和处理器，处理器用于运行存储在存储器中的程序，其中，程序运行时执行芯片测试方法。

根据本申请实施例的再一方面，还提供了一种非易失性存储介质，非易失性存储介质包括存储的计算机程序，其中，非易失性存储介质所在设备通过运行计算机程序执行芯片测试方法。

在本申请实施例中，采用确定多个测试机中的每个测试机对应的测试程序和分选机，其中，每个测试机唯一对应一个分选机，每个测试机和对应的分选机之间通过地址信息建立通信关系，多个测试机用于对同一待测试芯片集合进行测试；发送每个测试机加载的测试程序至对应的分选机，其中，分选机用于指示芯片抓取设备从待测试芯片集合中抓取与测试程序对应的待测试芯片，并将待测试芯片放置到分选机中；控制多个测试机依据测试程序对待测试芯片集合中的待测试芯片并行测试的方式，通过堆叠的方式，将多个测试机和一套分选机配合使用，并基于此采用一种多测试机与一套分选机进行分Bin通信的算法，达到了提高测试效率，以及支持搞复杂度测试要求的目的，进而解决了由于分选机的工位数量有限，以及芯片测试程序开发困难，造成的芯片测试效率不高、测试复杂度低技术问题。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1是根据本申请实施例提供的一种用于实现芯片测试的方法的计算机终端(或电子设备)的硬件结构框图；

图2是根据本申请实施例提供的一种芯片测试方法的流程示意图；

图3是根据本申请实施例提供的一种测试机芯片测试流程的示意图；

图4是根据本申请实施例提供的另一种芯片测试流程的流程示意图；

图5是根据本申请实施例提供的一种芯片测试装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。

为了方便本领域技术人员更好地理解本申请实施例，现将本申请实施例涉及的部分技术术语或者名词解释如下：

通用接口总线(General-Purpose Interface Bus，GPIB)：是一种设备和计算机连接的总线。大多数台式仪器是通过GPIB线以及GPIB接口与电脑相连。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

在实际生产过程中，为了实现芯片的自动化测试，整个测试系统一般由两个部分构成：测试机(Tester)和分选机(Handler)，芯片由Handler从料盘中取出放置在控制台上，Tester收到Handler的可以测试的信号会开启测试，测试完成之后将测试结果发送给Handler，Handler基于这个结果将芯片分料和封装，相关技术中，Tester和Handler需要进行信息交互且一般一台Tester与一台Handler配合使用。

现有技术在进行芯片测试时，技术方案一般包括如下步骤：

步骤1，连接测试机(Tester)和分选机(Handler)机台，其中，连接所用通信线包括但不局限于GPIB线、串口线、网线等。

步骤2，响应目标对象的操作，打开测试机(Tester)和分选机(Handler)各自的UI界面(用户界面)，Tester加载测试程序，Handler准备一个批次待测试的芯片。

步骤3，批次开启(Start Lot)；具体地，Tester等待Handler芯片已放置完成的指令信息，待Handler机械手抓取芯片并将芯片压入控制台(即芯片放置完成)后给Tester发送SOT(Start of Test，开始测试)信号。

步骤4，Tester接收到SOT信号后，询问Handler当前需测试的测试工位(site，一个site放置一颗芯片)，Handler回复site信息后，Tester按照选择的测试程序(flow)开始测试芯片。

步骤5，测试完成后，Tester根据此次的测试生成每个site的芯片一个测试结果(BIN)，并将BIN发送给Handler，Handler收到BIN后将芯片取出并分放到不同的料盒中，重复步骤3，直到该批次的芯片全部测完成后转入步骤6。

步骤6，结批(EndLot)。Tester和Handler各自生成测试报表，测试流程结束。

上述相关技术的芯片测试方法往往存在由于分选机的工位数量有限，以及芯片测试程序开发困难，造成芯片测试效率不高、测试复杂度低、无法实现对芯片的高质量复杂测试等问题。

为了解决上述问题，本申请采用堆叠的方式，将多个分选机集成在一起，并与多个测试机配合使用。通过将多个分选机集成在一起，并共用一套芯片抓取设备，可以提高芯片测试过程的空间利用率，并且当需要对一批芯片进行多项测试时，可以便捷地将完成了某一项测试流程的测试芯片转移到另一测试流程对应的测试位置中，从而极大提高了测试效率。

另外，根据本申请实施例，提供了一种芯片测试方法的方法实施例，需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

本申请实施例所提供的方法实施例可以在移动终端、计算机终端或者类似的运算装置中执行。如图1所示，计算机终端20(或移动设备20)可以包括一个或多个(图中采用202a、202b，……，202n来示出)处理器202(处理器202可以包括但不限于微处理器MCU或可编程逻辑器件FPGA等的处理装置)、用于存储数据的存储器204、以及用于通信功能的传输模块206。除此以外，还可以包括：显示器、输入/输出接口(I/O接口)、通用串行总线(USB)端口(可以作为BUS总线的端口中的一个端口被包括)、网络接口、电源和/或相机。本领域普通技术人员可以理解，图1所示的结构仅为示意，其并不对上述电子装置的结构造成限定。

应当注意到的是上述一个或多个处理器102和/或其他数据处理电路在本文中通常可以被称为“数据处理电路”。该数据处理电路可以全部或部分的体现为软件、硬件、固件或其他任意组合。此外，数据处理电路可为单个独立的处理模块，或全部或部分的结合到计算机终端20(或移动设备)中的其他元件中的任意一个内。如本申请实施例中所涉及到的，该数据处理电路作为一种处理器控制(例如与接口连接的可变电阻终端路径的选择)。

存储器204可用于存储应用软件的软件程序以及模块，如本申请实施例中的芯片测试方法对应的程序指令/数据存储装置，处理器202通过运行存储在存储器204内的软件程序以及模块，从而执行各种功能应用以及数据处理，即实现上述的应用程序的芯片测试方法。存储器204可包括高速随机存储器，还可包括非易失性存储器，如一个或者多个磁性存储装置、闪存、或者其他非易失性固态存储器。在一些实例中，存储器204可进一步包括相对于处理器202远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至计算机终端20。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

传输装置206用于经由一个网络接收或者发送数据。上述的网络具体实例可包括计算机终端20的通信供应商提供的无线网络。在一个实例中，传输装置206包括一个网络适配器(Network Interface Controller，NIC)，其可通过基站与其他网络设备相连从而可与互联网进行通讯。在一个实例中，传输装置106可以为射频(Radio Frequency，RF)模块，其用于通过无线方式与互联网进行通讯。

显示器可以例如触摸屏式的液晶显示器(LCD)，该液晶显示器可使得用户能够与计算机终端20(或移动设备)的用户界面进行交互。

需要注意的是，本申请中所提供的芯片测试方法可以由一个计算机设备执行，也可以由多台计算机设备执行。具体而言，在建立了每台测试机和分选机之间的通信关系后，可以由一台计算机设备同时管理所有测试机和分选机之间的通信，也可以由多台计算机设备分别管理不同的测试机和分选机之间的通信。

图2是根据本申请实施例提供的一种芯片测试的方法流程的示意图，如图2所示，该方法包括如下步骤：

步骤S302，确定多个测试机中的每个测试机对应的测试程序和分选机，其中，每个测试机唯一对应一个分选机，每个测试机和对应的分选机之间通过地址信息建立通信关系，多个测试机用于对同一待测试芯片集合进行测试。

需要说明的是，上述通信关系的管理方式包括以下至少之一：指针群管理，数组管理，容器管理。为每个测试机建立对应的指针，来管理该测试机与分选机之间的通信过程。通过数组管理指的是为每个测试机建立对应的数组来管理该测试机与分选机之间的通信。同样的，通过容器管理指的是为每个测试机建立对应的容器来管理该测试机与分选机之间的通信。

具体来说，通过指针管理指的是将测试机和分选机各自的地址信息存放到指针所指向的内存地址中，通过数组管理指的是将测试机和分选机各自的地址信息存放到数组中，通过容器管理指的是将测试机和分选机各自的地址信息存放到容器中。由于各种通信管理方式仅在保存地址信息的方式上有差异，所以在本申请实施例中，以指针群为例对本申请进行详细说明。

具体地，上述指针群中可以包括每个测试机对应的指针，多个指针之间独立存在，均有对应的存储空间，互不影响。在确定多个测试机中的每个测试机对应的测试程序和分选机后，还需要为建立每个测试机对应的指针，其中，指针用于管理每个测试机与对应的分选机之间的通信过程；建立指针后，还需要确定每个测试机和分选机各自对应的地址信息，并将测试机的地址信息和分选机的地址信息存放到对应的指针所指向的内存地址中，从而实现了依据每个测试机的地址信息和对应的分选机的地址信息之间的映射关系，进而实现了各个测试机和对应的分选机之间根据协议独立通信。上述地址信息的信息类型包括端口信息或通信地址信息，其中，端口信息或通信地址是对外的区分，与指针ip分配相关，指针是对内代码处理的手段，对外不可见。将地址信息存放到指针所指向的内存地址指的是将对外的端口或通信地址转成对内的指针进行代码处理。独立通信指的是每个指针只能控制自己所对应的测试机和分选机之间的通信流程，而不能影响其他测试机与分选机之间的测试流程。

作为示例，指针也可以是指针编号，指针编号对应测试机的编号和分选机编号，譬如，指针1管理测试机1和分选机1，指针2管理测试机2和分选机2等等。

步骤S304，发送每个测试机加载的测试程序至对应的分选机，其中，分选机用于指示芯片抓取设备从待测试芯片集合中抓取与测试程序对应的待测试芯片，并将待测试芯片放置到分选机中。

在步骤S304所提供的技术方案中，发送每个测试机加载的测试程序至对应的分选机包括以下步骤：

步骤S3041，确定每个测试机对应的测试程序；

步骤S3042，控制每个测试机对应的指针将测试程序的标识信息发送至对应的分选机。

在本申请的一些实施例中，每个测试机内可以预先存储多种类型的测试程序，如测试程序FlowA、FlowB、FlowC等等，并且每个测试程序均唯一对应一个标识信息，即为前文的A，B，C等等，这样便于工作人员或测试机快速确定需要执行的测试程序；每个测试机根据从上位机软件获取的待测芯片型号信息调配测试程序，需要说明的是，每一次测试只配置一种类型的测试程序，譬如FlowA，且上位机软件将测试机加载的测试程序经由指针管理pi告知分选机，分选机收到加载的测试程序信息配置给芯片抓取设备，从而确定对待测芯片的分选机抓取顺序；譬如，测试机1和分选机1存在一一对应的映射关系，测试机2和分选机2存在一一对应的映射关系，测试机1加载FlowA，测试机2加载FlowB，待测芯片将要执行测试程序的顺序为FlowA、FlowB。

进一步地，芯片测试过程如下：控制芯片抓取设备将待测芯片抓取放置于分选机1上，控制测试机1执行FlowA测试待测芯片，再控制芯片抓取设备将性能通过的剩余待测芯片直接放置于分选机2上，控制测试机2执行FlowB测试剩余待测芯片，完成串行测试。此过程中，在FlowA测试完成后，无需控制分选机进行换料、出料，直接控制测试机2进行测试即可，节省测试时间，能够支持高复杂度的测试过程。

每个Tester每次负责处理一个测试程序，每个Tester测试时只会存在一个测试程序，因此，在加载测试程序时，Tester会同步绑定它对应的测试程序，并赋予独立的内存，每个测试程序均在对应的独立空间内执行，可以不受干扰的记录测试流程，实现多个Tester执行测试程序时相互独立、互不干扰，从而提高芯片测试效率，保证芯片测试的正常运行，是完成高复杂度测试需求的重要前提。

作为示例，芯片抓取设备包括但不限于机械手、机械臂等等。

步骤S306，控制多个测试机依据测试程序对待测试芯片集合中的待测试芯片并行测试，对待测试芯片进行测试的流程如图3所示，包括以下步骤：

步骤S3061，判断指针是否获取到分选机生成的测试启动信号；

步骤S3062，若是，则控制指针从分选机中获取测试位置信息，其中，测试位置信息包括待测试芯片所在的测试工位的位置信息；

步骤S3063，控制指针发送测试位置信息至测试机，并指示测试机对待测试芯片执行待测试程序；

步骤S3064，在测试机执行完成待测试程序后，通过指针获取测试机执行完成待测试程序后生成的测试结果，并通过指针将测试结果发送至分选机中。

步骤S3065，若否，则判断指针是否接收到结批信号，并在接收到结批信号的情况下，确认是否所有测试机均结批(EndLot)，其中，结批信号说明测试机完成了本批次的测试流程；

步骤S3066，确定未结批的测试机所执行的测试程序，并指示处于结批状态的测试机执行未结批的测试程序。

具体地，在步骤S3066所提供的技术方案中，控制多个测试机依据测试程序对待测试芯片集合中的待测试芯片进行测试的步骤包括：

步骤S3066a，确定目标测试程序，其中，目标测试程序为未对待测试芯片集合中的全部待测试芯片执行的测试程序；

步骤S3066b，通过指针指示目标测试机依据目标测试程序对目标待测试芯片测试，其中，目标待测试芯片为待测试芯片集合中未被按照目标测试程序测试的待测试芯片；目标测试机为执行完对应的测试程序后，处于空闲状态下的测试机。在一个实施例中，在步骤3061之前，还包括：判断所有tester是否结批，若是，则测试结束；若否，则控制每一tester测试开始，并通过指针pi管理测试机和对应分选机。

在一个实施例中，步骤S306：控制所述多个测试机依据所述测试程序对所述待测试芯片集合中的待测试芯片进行测试的步骤之后，还包括如下步骤：

步骤S308：确定目标测试程序，其中，所述目标测试程序为未对所述待测试芯片集合中的全部待测试芯片执行的测试程序；

步骤S310：通过所述指针指示目标测试机依据所述目标测试程序对目标待测试芯片测试，其中，所述目标待测试芯片为所述待测试芯片集合中未被按照所述目标测试程序测试的待测试芯片；所述目标测试机为执行完对应的所述测试程序后，处于空闲状态下的测试机。

在本实施例中，确定目标测试程序时，可以由目标用户自行设定，或者根据提前为每个测试机设定的测试程序列表来确定目标测试机和目标测试程序。具体地，在测试开始前，可以为每个测试机设定要执行的至少一个测试程序(包括但不限定于手动设置或者载入配置好的文件自动设置)，也可以在测试过程中依据实际需求切换新的测试程序。

为了使芯片测试有序高效进行，步骤S308：确定目标测试程序的步骤包括如下步骤：

步骤S3081：确定测试机对应的测试流程，其中，测试流程中包括测试机对应的全部测试程序的标识信息，以及全部测试程序的排列顺序；

步骤S3082：依据测试流程，确定目标测试程序。

作为一种可选的实施例，测试流程中决定测试程序(Flow)的测试顺序的方式可以包括以下至少之一：以数字、字母、符号等作为测试程序执行顺序的区分。

为了增强芯片测试流程的灵活性，确定目标测试程序的步骤还包括：响应目标对象的测试程序配置指令，确定目标测试程序，其中，测试程序配置指令中包括目标测试程序的标识信息。在本申请实施例中，各个测试程序均唯一对应一个标识信息，这样便于工作人员或设备快速从多个测试程序中选择出实际需要的测试程序。通过在测试程序配置指令中添加目标测试程序的标识信息，可以便捷地配置测试机执行工作人员希望测试机执行的测试程序。

作为一种可选的实施方式，也可以由设备自行确定执行目标测试程序的目标测试机。具体地，可以从已经完成对应测试程序的分选机中按照预设挑选规则来挑选出目标测试机。例如预设规则可以是按照测试机对应的测试位置与目标测试程序对应的测试位置之间的距离来筛选。

为方便理解本申请芯片测试方法，其中，控制多个测试机依据测试程序对待测试芯片集合中的待测试芯片进行测试的步骤包括：

步骤S402，在待测试芯片放置到第一分选机后，指示第一分选机对应的第一测试机依据第一测试程序测试待测试芯片，其中，第一测试机为多个测试机中的任意测试机，第一测试机上加载配置有第一测试程序；

步骤S404，在第一测试机测试完成待测试芯片之后，在多个待测试机中存在第二测试机的情况下，指示芯片抓取设备将待测试芯片放置到第二分选机中，第二分选机对应第二测试机，其中，第二测试机为多个测试机中除第一测试机之外，并且未对待测试芯片进行测试的测试机；

步骤S406，指示第二测试机依据第二测试程序测试待测试芯片，其中，第二测试程序为第二测试机对应的测试程序。需要说明的是，当第二测试机测试待测试芯片时，第一测试机此时处于闲置状态，可用于测试其他待测试芯片，提高测试效率。

举例说明，Tester1+Handler1、Tester2+Handler2和Tester3+Handler3测试FlowA，Tester4+Handler4测试FlowB，即机械手先将芯片取给Tester1+Handler1、Tester2+Handler2和Tester3+Handler3，等依次测试完成后，再传递给Tester4+Handler4进行测试。

为了增强测试过程中的可控性，控制多个测试机依据测试程序对待测试芯片集合中的待测试芯片进行测试的步骤包括：步骤S408a，响应目标对象的第一操作指令，指示测试机在测试完成待测试芯片后，停止对其余待测试芯片进行测试；步骤S408b，响应目标对象的第二操作指令，指示测试机在测试完成待测试芯片后，对待测试芯片重复测试。

在本实施例中，测试过程中用户可以点击暂停(Pause)(即上述第一操作指令)，在接收到暂停指令后，Tester在本颗芯片测试完之后告知Handler暂停，Handler进入到暂停模式，包括但不局限于关闭超时报警、保持芯片再Handler的状态不变等。此时的Tester可以响应第二操作指令对本颗芯片进行复测等操作。

在Pause模式下，由用户点击继续测试(Resume)切换到自动化模式。Tester向Handler发送继续测试的信号，并将测试结果(BIN)发送给Handler。

下面对本申请实施例的步骤S302至步骤S306中芯片测试方法进一步进行介绍。

图4是根据本申请实施例提供的一种多个Tester和一套Handler芯片测试方法的流程示意图，如图4所示，该方法包括如下步骤：

步骤S502，创建指针(或容器、数组等)来管理Tester和对应的Handler之间的通信连接；

具体地，创建指针建立连接。每个测试机(Tester)和一个分选机(Handler)建立通信，对应着由一个指针管理，指针的数量可依据实际需求进行设置，没有限制。

具体地，根据tester数量创建多个Server指针pi，等待Handler接入。每一个Tester和Handler由一个指针管理，多个Tester之间的测试流程会不影响，实现了测试效率的最大化。

步骤S504，配置测试程序，确定测试程序的执行过程；

具体地，Tester配置加载测试程序的(Flow)信息并发送至Handler，Handler接收后依据测试程序(Flow)的信息配置给机械手，确定Handler内部抓取的顺序以及测试程序的执行顺序。

具体地，根据生产需求给每个tester配置flow，通过pi将flow编号告知handler。

举例说明，Tester1+Handler1、Tester2+Handler2和Tester3+Handler3测试FlowA，Tester4+Handler4测试FlowB，即机械手先将芯片取给Tester1+Handler1、Tester2+Handler2和Tester3+Handler3，等测完完成后，再传递给Tester4+Handler4进行测试。

步骤S506，等待开始测试信号SOT(Start of Test)，获取工位(site)情况；

具体地，每个tester的测试开始，用指针pi进行管理，Tester等待Handle的SOT信号，在接收到SOT信号后，获取Handle中测试的工位(site)情况，进而开始测试当前的flow。

步骤S508，依据测试程序，进行芯片测试；

作为一种可选的实施方式，在芯片测试过程中，用户可依据实际需求进行暂停、继续测试、重复测试等操作。

具体地，测试过程中用户可以点击暂停(Pause)，在接收到暂停指令后，Tester在本颗芯片测试完之后告知Handler暂停，Handler进入到暂停模式，暂停模式包括但不局限于关闭超时报警、保持芯片在Handler的状态不变等。当前Tester可以对本颗芯片进行复测等操作。

作为示例，在Pause暂停模式下，由用户点击继续测试(Resume)切换到自动化模式。Tester向Handler发送继续测试的信号，并将测试结果(BIN)发送给Handler。

步骤S510，生成当前芯片测试结果，进入下一颗芯片的测试流程；

具体地，获取测试结果，指针pi将BIN发给handler。

在本实施例中，Flow A下测完的芯片由机械手放置于Flow B对应的Handler下，再按照步骤S506的顺序与Tester进入测试流程。在Flow A对应的Tester和Handler空闲后，Tester切换至测试程序Flow B，将原先Flow B未测完的芯片取出一部分进行测试，重复步骤S306。

步骤S512，在所有芯片均完成测试的情况下，结束测试。

在整批次的芯片测试完成后，Tester和Handler生成各自的结批报表，准备开启下一批次的测试，重复步骤S304。

需要说明的是，基于本实施例提供的指针管理方式，所以上述的每个步骤都能做到互不影响，独立运作。

依据本实施例提供的芯片测试方法，可以提高芯片量产测试效率，同时，支持高复杂度的测试要求。

具体地，假设一个handler最多可以测试M个Site，那么在相关技术下，测试一组芯片最多可以测试N颗。换言之如果一批芯片有N颗，每颗测试需要t时间，那么这一整批芯片测完需要花费的时间T如下式所示：

按照本申请中的测试方法重新计算测试时间，假设有X台Tester，那么测试完一整批芯片要花费的时间T如下式所示：

从上述两个公式可以看出，对于同一批芯片的测试时间，本申请方法相比相关技术的方法能提高X倍，X的数量越大效果越明显。在芯片测试领域，效率往往是决定性和最具竞争性的指标。且完成测试的Tester和Handler还可以分担未测试完的芯片，充分利用了所有的设备资源，缩短量产时间，提高量产效率。

另一方面，本申请解决了对芯片需要高复杂度的测试标准的问题。本申请方法中用户只需配置每个Tester要测试的Flow，自动化测试流程即可以按照配置好的顺序完成所有功能的测试。

通过上述步骤，通过堆叠的方式，将多个Tester和一套Handler配合使用，并基于此采用一种芯片测试方法，提供多tester与一套handler进行分Bin通信的算法方案，达到了提高测试效率，以及支持搞复杂度测试要求的目的，进而解决了由于分选机的工位数量有限，以及芯片测试程序开发困难，造成的芯片测试效率不高、测试复杂度低技术问题。

根据本申请实施例，还提供了一种芯片测试系统的实施例，包括：多个测试机，多个分选机，芯片抓取设备，服务器，其中，

服务器，用于确定多个测试机中的每个测试机对应的测试程序和分选机，其中，每个测试机唯一对应一个分选机，每个测试机和对应的分选机之间通过一个独立的通信程序通信，多个测试机用于对同一待测试芯片集合进行测试；发送测试程序至分选机，其中，分选机用于指示芯片抓取设备从待测试芯片集合中抓取与测试程序对应的待测试芯片，并将待测试芯片放置到分选机中；指示多个测试机依据测试程序对待测试芯片集合中的待测试芯片进行测试；

芯片抓取设备，用于依据多个分选机中的每个分选机的指示信息抓取待测试芯片，并将待测试芯片放置到分选机的测试区域中。

需要说明的是，本实施例中所提供的芯片测试装置可用于执行图2所示的芯片测试方法，因此，对上述芯片测试方法的相关解释说明也适用于本申请实施例中，在此不再赘述。

根据本申请实施例，还提供了一种芯片测试装置的实施例。图5是根据本申请实施例提供的一种芯片测试装置的结构示意图。如图5所示，该装置包括：

配置模块60，用于确定多个测试机中的每个测试机对应的测试程序和分选机，其中，每个测试机唯一对应一个分选机，每个测试机和对应的分选机之间通过地址信息建立通信关系，多个测试机用于对同一待测试芯片集合进行测试；

通信模块62，用于发送每个测试机加载的测试程序至对应的分选机，其中，分选机用于指示芯片抓取设备从待测试芯片集合中抓取与测试程序对应的待测试芯片，并将待测试芯片放置到分选机中；

处理模块64，用于控制所述多个测试机依据所述测试程序对所述待测试芯片集合中的待测试芯片并行测试。

需要说明的是，上述芯片测试装置中的各个模块可以是程序模块(例如是实现某种特定功能的程序指令集合)，也可以是硬件模块，对于后者，其可以表现为以下形式，但不限于此：上述各个模块的表现形式均为一个处理器，或者，上述各个模块的功能通过一个处理器实现。

需要说明的是，本实施例中所提供的芯片测试装置可用于执行图2所示的芯片测试方法，因此，对上述芯片测试方法的相关解释说明也适用于本申请实施例中，在此不再赘述。

根据本申请实施例，提供了一种芯片测试系统，包括：多个测试机、多个分选机、芯片抓取设备及服务器，其中，服务器用于确定多个测试机中的每个测试机对应的测试程序和分选机，其中，每个测试机唯一对应一个分选机，每个测试机和对应的分选机之间通过地址信息建立通信关系，多个测试机用于对同一待测试芯片集合进行测试；发送每个测试机加载的测试程序至对应的分选机，其中，分选机用于指示芯片抓取设备从待测试芯片集合中抓取与测试程序对应的待测试芯片，并将待测试芯片放置到分选机中；控制多个测试机依据测试程序对待测试芯片集合中的待测试芯片并行测试；芯片抓取设备，用于依据多个分选机中的每个分选机的指示信息抓取待测试芯片，并将待测试芯片放置到分选机的测试区域中。

需要说明的是，本实施例中所提供的芯片测试系统可用于执行图2所示的芯片测试方法，因此，对上述芯片测试方法的相关解释说明也适用于本申请实施例中，在此不再赘述。

根据本申请实施例，还提供了一种非易失性存储介质，非易失性存储介质包括存储的计算机程序，其中，非易失性存储介质所在设备通过运行计算机程序执行以下芯片测试方法：确定多个测试机中的每个测试机对应的测试程序和分选机，其中，每个测试机唯一对应一个分选机，每个测试机和对应的分选机之间通过地址信息建立通信关系，多个测试机用于对同一待测试芯片集合进行测试；发送每个测试机加载的测试程序至对应的分选机，其中，分选机用于指示芯片抓取设备从待测试芯片集合中抓取与测试程序对应的待测试芯片，并将待测试芯片放置到分选机中；控制多个测试机依据测试程序对待测试芯片集合中的待测试芯片并行测试。

根据本申请实施例，还提供了一种电子设备，电子设备包括处理器和存储器，处理器用于运行存储在存储器中的程序，其中，程序运行时执行如下芯片测试方法：确定多个测试机中的每个测试机对应的测试程序和分选机，其中，每个测试机唯一对应一个分选机，每个测试机和对应的分选机之间通过地址信息建立通信关系，多个测试机用于对同一待测试芯片集合进行测试；发送每个测试机加载的测试程序至对应的分选机，其中，分选机用于指示芯片抓取设备从待测试芯片集合中抓取与测试程序对应的待测试芯片，并将待测试芯片放置到分选机中；控制多个测试机依据测试程序对待测试芯片集合中的待测试芯片并行测试。

上述本申请实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

在本申请的上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的技术内容，可通过其它的方式实现。其中，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如所述单元的划分，可以为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，单元或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述仅是本申请的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本申请的保护范围。

Claims (10)

1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：

确定多个测试机中的每个测试机对应的测试程序和分选机，其中，所述每个测试机唯一对应一个所述分选机，所述每个测试机和对应的所述分选机之间通过地址信息建立通信关系，所述多个测试机用于对同一待测试芯片集合进行测试；

发送所述每个测试机加载的所述测试程序至对应的所述分选机，其中，所述分选机用于指示芯片抓取设备从所述待测试芯片集合中抓取与所述测试程序对应的待测试芯片，并将所述待测试芯片放置到所述分选机中；

控制所述多个测试机依据所述测试程序对所述待测试芯片集合中的待测试芯片并行测试。

2.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述每个测试机和对应的所述分选机之间的通信过程的管理方式包括以下至少之一：指针群，数组或容器。

3.根据权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，所述指针群中包括所述每个测试机对应的指针，在所述管理方式为指针群的情况下，所述确定多个测试机中的每个测试机对应的测试程序和分选机的步骤之后，所述芯片测试方法还包括：

建立每个测试机对应的指针，其中，所述指针用于管理所述每个测试机与对应的所述分选机之间的通信过程；

确定所述每个测试机的地址信息，以及对应的所述分选机的地址信息，其中，所述地址信息的信息类型包括以下至少之一：端口信息，通信地址；

依据所述每个测试机的地址信息和对应的所述分选机的地址信息，确定所述每个测试机和对应的所述分选机之间的映射关系。

4.根据权利要求3所述的芯片测试方法，其特征在于，所述发送所述每个测试机加载的所述测试程序至对应的所述分选机的步骤，包括：

确定所述每个测试机对应的所述测试程序；

控制所述每个测试机对应的指针将所述测试程序的标识信息发送至对应的所述分选机。

5.根据权利要求3所述的芯片测试方法，其特征在于，所述控制所述多个测试机依据所述测试程序对所述待测试芯片集合中的待测试芯片进行测试的步骤，包括：

判断所述指针是否获取到所述分选机生成的测试启动信号；

若是，则控制所述指针从所述分选机中获取测试位置信息，其中，所述测试位置信息包括所述待测试芯片所在的测试工位的位置信息；

控制所述指针发送所述测试位置信息至所述测试机，并指示所述测试机对所述待测试芯片执行所述待测试程序；

在所述测试机执行完成所述待测试程序后，通过所述指针获取所述测试机执行完成所述待测试程序后生成的测试结果，并通过所述指针将所述测试结果发送至所述分选机中。

6.根据权利要求3所述的芯片测试方法，其特征在于，所述控制所述多个测试机依据所述测试程序对所述待测试芯片集合中的待测试芯片进行测试的步骤之后，还包括：

确定目标测试程序，其中，所述目标测试程序为未对所述待测试芯片集合中的全部待测试芯片执行的测试程序；

通过所述指针指示目标测试机依据所述目标测试程序对目标待测试芯片测试，其中，所述目标待测试芯片为所述待测试芯片集合中未被按照所述目标测试程序测试的待测试芯片；所述目标测试机为执行完对应的所述测试程序后，处于空闲状态下的测试机。

7.根据权利要求6所述的芯片测试方法，其特征在于，所述确定目标测试程序的步骤包括：

确定所述测试机对应的测试流程，其中，所述测试流程中包括所述测试机对应的全部测试程序的标识信息，以及所述全部测试程序的排列顺序；

依据所述测试流程，确定所述目标测试程序。

8.一种芯片测试系统，其特征在于，包括多个测试机、多个分选机、芯片抓取设备及服务器，其中，

所述服务器用于确定多个测试机中的每个测试机对应的测试程序和分选机，其中，所述每个测试机唯一对应一个所述分选机，所述每个测试机和对应的所述分选机之间通过地址信息建立通信关系，所述多个测试机用于对同一待测试芯片集合进行测试；发送所述每个测试机加载的所述测试程序至对应的所述分选机，其中，所述分选机用于指示芯片抓取设备从所述待测试芯片集合中抓取与所述测试程序对应的待测试芯片，并将所述待测试芯片放置到所述分选机中；控制所述多个测试机依据所述测试程序对所述待测试芯片集合中的待测试芯片并行测试；

所述芯片抓取设备，用于依据所述多个分选机中的每个分选机的指示信息抓取所述待测试芯片，并将所述待测试芯片放置到所述分选机的测试区域中。

9.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：

配置模块，用于确定多个测试机中的每个测试机对应的测试程序和分选机，其中，所述每个测试机唯一对应一个所述分选机，所述每个测试机和对应的所述分选机之间通过地址信息建立通信关系，所述多个测试机用于对同一待测试芯片集合进行测试；

通信模块，用于发送所述每个测试机加载的所述测试程序至对应的所述分选机，其中，所述分选机用于指示芯片抓取设备从所述待测试芯片集合中抓取与所述测试程序对应的待测试芯片，并将所述待测试芯片放置到所述分选机中；

处理模块，用于控制所述多个测试机依据所述测试程序对所述待测试芯片集合中的待测试芯片并行测试。

10.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器和处理器，所述处理器用于运行存储在所述存储器中的程序，其中，所述程序运行时执行权利要求1至7中任意一项所述的芯片测试方法。

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