CN111445467A - 亮灯缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

亮灯缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 Download PDF

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谭龙田
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Abstract

本发明涉及一种亮灯缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：获取包括多个待测显示灯的待测面板图像，按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在待测面板图像中确定相应的待测像素区域，将待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与预设模板图像进行匹配，计算匹配到的匹配度最高的亮灯区域图像和预设模板图像之间的相关系数，若相关系数小于预设相关度阈值，则确定亮灯区域图像中的待测显示灯存在亮灯缺陷。本发明实施例将待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与预设模板图像进行匹配，能够减少检测时间，提高检测效率，而且最终得到的仅是某个亮灯区域图像中的待测显示灯存在亮灯缺陷，准确度较高。

Description

亮灯缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质
技术领域
本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种亮灯缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。
背景技术
为了便于用户了解空调使用情况，一般会在空调面板下方设置LED灯，通过控制LED灯的亮灭使LED灯透过面板形成指定的亮灯图案，为了保证新设计的空调面板显示灯的亮灯质量，需要对亮灯区域进行显示完整或缺失的缺陷检测。现有技术中，该检测工作是通过人的眼睛去监视亮灯的情况。而随着检测时间的积累、检测点的增多、检测对象各异等因素，人的视觉疲劳会导致漏检或误检。为此，需要采用将标准模板图和整张面板的待测图进行匹配的检测方法，这样整张面板的待测图中的每个像素点位置都要匹配，会消耗大量时间；而且由于整张面板下一般设置多个LED灯，最终得到的检测结果是整个面板的待测图与标准模板图之间的相似度，一次性匹配难以辨别哪个有缺陷，会造成部分有缺陷的总体相似度也较高，检测效果很差。
发明内容
为了解决现有技术中存在的将整张面板的待测图与标准模板图匹配导致消耗大量时间及检测效果差的技术问题，本发明提供了一种亮灯缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。
第一方面，本发明提供了一种亮灯缺陷检测方法，包括：
获取包括多个待测显示灯的待测面板图像；
按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在所述待测面板图像中确定相应的待测像素区域；
将所述待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与所述预设模板图像进行匹配；
计算匹配到的匹配度最高的亮灯区域图像和所述预设模板图像之间的相关系数；
若所述相关系数小于预设相关度阈值，则确定所述亮灯区域图像中的待测显示灯存在亮灯缺陷。
可选地，按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在所述待测面板图像中确定相应的待测像素区域的步骤，包括：
获取所述预设模板图像的参考坐标点在所述预设标准面板图像中的像素坐标和所述待测面板放置位置的最大偏移量；
根据所述参考坐标点的像素坐标和所述最大偏移量计算所述待测像素区域在所述待测面板图像中的待测区域信息；
将所述待测面板图像中与所述待测区域信息对应的区域确定为待测像素区域。
可选地，所述参考坐标点包括：位于同一对角线上的第一对角点和第二对角点，根据所述参考坐标点的像素坐标和所述最大偏移量计算所述待测像素区域在所述待测面板图像中的待测区域信息的步骤，包括：
计算所述第一对角点的像素坐标与所述最大偏移量的差，得到所述待测像素区域的第一待测点的像素坐标；
计算所述第二对角点的像素坐标与所述最大偏移量的和，得到所述待测像素区域的第二待测点的像素坐标。
可选地，计算所述第一对角点的像素坐标与所述最大偏移量的差，得到所述待测像素区域的第一待测点的像素坐标的步骤，包括：
计算所述第一对角点的X坐标与所述最大偏移量的差值，若所述差值大于0，将所述待测像素区域的第一待测点的X坐标确定为所述差值，否则，将所述待测像素区域的第一待测点的X坐标确定为0；
计算所述第一对角点的Y坐标与所述最大偏移量的差值，若所述差值大于0，将所述待测像素区域的第一待测点的Y坐标确定为所述差值，否则，将所述待测像素区域的第一待测点的Y坐标确定为0。
可选地，计算第二参考坐标点的像素坐标与所述最大偏移量的和，得到所述待测像素区域的第二待测点的像素坐标的步骤，包括：
计算所述第二对角点的X坐标与所述最大偏移量的和，若所述和小于所述待测面板图像的宽，将所述和确定为所述待测像素区域的第二待测点的X坐标，否则，将所述待测像素区域的第二待测点的X坐标确定为所述待测面板图像的宽；
计算所述第二对角点的Y坐标与所述最大偏移量的和，若所述和大于所述待测面板图像的高，将所述和确定为所述待测像素区域的第二待测点的Y坐标，否则，将所述待测像素区域的第二待测点的Y坐标确定为所述待测面板图像的高。
可选地，将所述待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与所述预设模板图像进行匹配的步骤，包括：
按照所述预设模板图像在所述预设标准面板图像中的大小确定截取框；
移动所述截取框，在所述待测像素区域内截取多个不同的亮灯区域图像；
将所述预设模板图像分别与截取到的多个所述亮灯区域图像进行匹配。
可选地，计算匹配到的匹配度最高的亮灯区域图像和所述预设模板图像之间的相关系数的步骤，包括：
对所述预设模板图像和所述预设模板图像进行互相关操作，得到输出结果；
将所述输出结果进行归一化处理，得到所述亮灯区域图像和所述预设模板图像之间的相关系数。
第二方面，本发明提供了一种亮灯缺陷检测装置，包括：
获取模块，用于获取包括多个待测显示灯的待测面板图像；
第一确定模块，用于按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在所述待测面板图像中确定相应的待测像素区域；
匹配模块，用于将所述待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与所述预设模板图像进行匹配；
计算模块，用于计算匹配到的匹配度最高的亮灯区域图像和所述预设模板图像之间的相关系数；
第二确定模块，用于若所述相关系数小于预设相关度阈值，则确定所述亮灯区域图像中的待测显示灯存在亮灯缺陷。
第三方面，本发明提供了一种电子设备，包括：处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器、通信接口和存储器通过通信总线完成相互间的通信；所述存储器中存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述第一方面任一项所述的方法的步骤。
第四方面，本发明提供了一种具有处理器可执行的非易失的程序代码的计算机可读介质，所述程序代码使所述处理器执行第一方面任一所述的方法。
本发明实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：
本发明实施例通过获取包括多个待测显示灯的待测面板图像，按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在所述待测面板图像中确定相应的待测像素区域，将所述待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与所述预设模板图像进行匹配，计算匹配到的匹配度最高的亮灯区域图像和所述预设模板图像之间的相关系数，若所述相关系数小于预设相关度阈值，则确定所述亮灯区域图像中的待测显示灯存在亮灯缺陷。
本发明实施例通过对按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在待测面板图像中确定相应的待测像素区域，并且只将待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与所述预设模板图像进行匹配，无需将整个待测面板图像中的每个像素点进行检测，所以能够减少检测时间，提高检测效率，而且最终得到的仅是某个亮灯区域图像中的待测显示灯存在亮灯缺陷，相较于整个待测面板图像的检测结果，准确度较高。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明一个实施例提供的一种亮灯缺陷检测方法的流程示意图；
图2为图1中步骤S102的流程图；
图3为图1中步骤S102的流程图；
图4为本发明又一实施例提供的一种亮灯缺陷检测装置的结构图；
图5为本发明又一实施例提供的一种电子设备的结构图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
由于采用将标准模板图和整张面板的待测图进行匹配的检测方法，这样整张面板的待测图中的每个像素点位置都要匹配，会消耗大量时间；而且由于整张面板下一般设置多个LED灯，最终得到的检测结果是整个面板的待测图与标准模板图之间的相似度，一次性匹配难以辨别哪个有缺陷，会造成部分有缺陷的总体相似度也较高，检测效果很差。为此，本发明实施例提供的一种亮灯缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法可以应用于计算机等电子设备内，如图1所示，所述亮灯缺陷检测方法可以包括以下步骤：
步骤S101，获取包括多个待测显示灯的待测面板图像；
在本发明实施例中，待测面板可以指空调面板，待测显示灯可以指空调面板中用于显示空调工作状态信息的LED灯，待测显示灯中可以部分处于点亮状态，部分处于熄灭状态，待测面板图像可以指将待测面板放置于预设位置后，图像采集装置利用预设的图像采集参数(如：焦距、光圈等参数)对待测面板进行图像采集，得到的待测面板图像。
步骤S102，按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在所述待测面板图像中确定相应的待测像素区域；
在本发明实施例中，可以预先采集标准面板图像，可以将标准面板放置于预设位置，利用图像采集装置预设的图像采集参数对标准面板进行图像采集，得到预设标准面板图像，在预设标准面板图像中可以预先划分出预设模板图像，预设模板图像可以为矩形，预设模板图像中包括LED等的图形，并且记录每个预设模板图像的位置信息，示例性的，位置信息可以包括：一个对角点的X坐标和Y坐标，及另一个坐标点的X坐标和Y坐标等。
在该步骤中，可以首先获取预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，然后在待测面板图像中查找位置与位置信息相应的待测像素区域，示例性的，可以根据预设模板图像的位置信息在待测面板图像中确定一个基本区域，以基本区域为中心向四周分别扩大最大偏移量，得到待测像素区域等。
由于在实际应用中，虽然已经保证将待测面板放置于与预设标准面板图像相同的预设位置，而且图像采集装置始终使用相同的预设图像采集参数，但是仍然无法避免因为摆放角度、热胀冷缩等等因素导致的误差，所以，最大偏移量可以根据待测面板图像相对于预设标准面板图像的偏移量进行设置，以期尽量减少误差影响。
步骤S103，将所述待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与所述预设模板图像进行匹配；
在该步骤中，可以在待测像素区域内不断的截取与预设模板图像大小相同的亮灯区域图像，或者与预设模板图像大小不同的亮灯区域图像，将截取的不同的亮灯区域图像分别与所述预设模板图像进行匹配，得到匹配度。
步骤S104，计算匹配到的匹配度最高的亮灯区域图像和所述预设模板图像之间的相关系数；
在该步骤中，可以将不同的亮灯区域图像分别与所述预设模板图像匹配，得到的若干个匹配度进行比较，进而查找与预设模板图像匹配度最高的亮灯区域图像，对该亮灯区域图像和所述预设模板图像之间进行互相关操作处理，得到相关系数。
步骤S105，若所述相关系数小于预设相关度阈值，则确定所述亮灯区域图像中的待测显示灯存在亮灯缺陷。
在该步骤中，可以将互相关操作得到的相关系数与预设相关度阈值进行比较，若相关系数小于预设相关度阈值，则可以确定亮灯区域图像中的待测显示灯存在亮灯缺陷。
本发明实施例通过获取包括多个待测显示灯的待测面板图像，按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在所述待测面板图像中确定相应的待测像素区域，将所述待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与所述预设模板图像进行匹配，计算匹配到的匹配度最高的亮灯区域图像和所述预设模板图像之间的相关系数，若所述相关系数小于预设相关度阈值，则确定所述亮灯区域图像中的待测显示灯存在亮灯缺陷。
本发明实施例通过对按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在待测面板图像中确定相应的待测像素区域，并且只将待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与所述预设模板图像进行匹配，无需将整个待测面板图像中的每个像素点进行检测，所以能够减少检测时间，提高检测效率，而且最终得到的仅是某个亮灯区域图像中的待测显示灯存在亮灯缺陷，相较于整个待测面板图像的检测结果，准确度较高。
基于前述实施例中，在本发明的又一实施例中，如图2所示，所述步骤S102可以包括：
步骤S201，获取所述预设模板图像的参考坐标点在所述预设标准面板图像中的像素坐标和所述待测面板放置位置的最大偏移量；
在本发明实施例中，所述参考坐标点包括：位于同一对角线上的第一对角点和第二对角点。
步骤S202，根据所述参考坐标点的像素坐标和所述最大偏移量计算所述待测像素区域在所述待测面板图像中的待测区域信息；
在该步骤中，可以计算所述第一对角点的像素坐标与所述最大偏移量的差，得到所述待测像素区域的第一待测点的像素坐标；并且，计算所述第二对角点的像素坐标与所述最大偏移量的和，得到所述待测像素区域的第二待测点的像素坐标。
在本发明实施例中，计算所述第一对角点的像素坐标与所述最大偏移量的差，得到所述待测像素区域的第一待测点的像素坐标的步骤，包括：
计算所述第一对角点的X坐标与所述最大偏移量的差值，若所述差值大于0，将所述待测像素区域的第一待测点的X坐标确定为所述差值，否则，将所述待测像素区域的第一待测点的X坐标确定为0；
计算所述第一对角点的Y坐标与所述最大偏移量的差值，若所述差值大于0，将所述待测像素区域的第一待测点的Y坐标确定为所述差值，否则，将所述待测像素区域的第一待测点的Y坐标确定为0。
在本发明实施例中，计算第二参考坐标点的像素坐标与所述最大偏移量的和，得到所述待测像素区域的第二待测点的像素坐标的步骤，包括：
计算所述第二对角点的X坐标与所述最大偏移量的和，若所述和小于所述待测面板图像的宽，将所述和确定为所述待测像素区域的第二待测点的X坐标，否则，将所述待测像素区域的第二待测点的X坐标确定为所述待测面板图像的宽；
计算所述第二对角点的Y坐标与所述最大偏移量的和，若所述和大于所述待测面板图像的高，将所述和确定为所述待测像素区域的第二待测点的Y坐标，否则，将所述待测像素区域的第二待测点的Y坐标确定为所述待测面板图像的高。
步骤S203，将所述待测面板图像中与所述待测区域信息对应的区域确定为待测像素区域。
本发明实施例获取所述预设模板图像的参考坐标点在所述预设标准面板图像中的像素坐标和所述待测面板放置位置的最大偏移量，根据所述参考坐标点的像素坐标和所述最大偏移量计算所述待测像素区域在所述待测面板图像中的待测区域信息，可以将所述待测面板图像中与所述待测区域信息对应的区域确定为待测像素区域。
本发明实施例能够基于最大偏移量计算待测像素区域，使用最大偏移量减少实际测量误差，保证检测结果的准确性。
在本发明的又一实施例中，如图3所示，步骤S103可以包括以下步骤：
步骤S301，按照所述预设模板图像在所述预设标准面板图像中的大小确定截取框；
在该步骤中，可以基于位于同一对角线上的第一对角点和第二对角点的像素坐标确定截取框。
步骤S302，移动所述截取框，在所述待测像素区域内截取多个不同的亮灯区域图像；
在本发明实施例中，每次移动截取框的距离可以预先设定，例如，1个像素距离、2个像素距离、5个像素距离、10个像素距离或者50个像素距离等等，具体可以根据实际需要进行设定。
在该步骤中，在每次移动截取框后，在待测像素区域内截取亮灯区域图像，多次移动截取框，得到多个不同的亮灯区域图像。
步骤S303，将所述预设模板图像分别与截取到的多个所述亮灯区域图像进行匹配。
本发明实施例通过按照所述预设模板图像在所述预设标准面板图像中的大小确定截取框，可以便于与预设模板图像匹配，本发明实施例按照预设模板图像在所述预设标准面板图像中的大小确定截取框，以便按照截取框的大小截取出与预设模板图像同样大小的亮灯区域图像。
在本发明的又一实施例中，计算匹配到的匹配度最高的亮灯区域图像和所述预设模板图像之间的相关系数的步骤，包括：
对所述预设模板图像和所述预设模板图像进行互相关操作，得到输出结果；
在本发明实施例，互相关操作可以指采用归一化互相关(Normalized CrossCorrelation，NCC)，利用NCC对预设模板图像和预设模板图像进行处理，得到输出结果。
将所述输出结果进行归一化处理，得到所述亮灯区域图像和所述预设模板图像之间的相关系数。
本发明实施例通过使用互相关操作，可以快速确定亮灯区域图像和预设模板图像之间的相关系数，提高检测效率。
在本发明的又一实施例中，还提供一种亮灯缺陷检测装置，如图4所示，所述装置包括：
获取模块11，用于获取包括多个待测显示灯的待测面板图像；
第一确定模块12，用于按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在所述待测面板图像中确定相应的待测像素区域；
匹配模块13，用于将所述待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与所述预设模板图像进行匹配；
计算模块14，用于计算匹配到的匹配度最高的亮灯区域图像和所述预设模板图像之间的相关系数；
第二确定模块15，用于若所述相关系数小于预设相关度阈值，则确定所述亮灯区域图像中的待测显示灯存在亮灯缺陷。
在本发明的又一实施例中，还提供一种电子设备，包括：处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器、通信接口和存储器通过通信总线完成相互间的通信；所述存储器中存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法实施例所述的方法的步骤。
本发明实施例提供的电子设备，处理器通过执行存储器上所存放的程序实现了本发明实施例通过获取包括多个待测显示灯的待测面板图像，按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在所述待测面板图像中确定相应的待测像素区域，将所述待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与所述预设模板图像进行匹配，计算匹配到的匹配度最高的亮灯区域图像和所述预设模板图像之间的相关系数，若所述相关系数小于预设相关度阈值，则确定所述亮灯区域图像中的待测显示灯存在亮灯缺陷。通过对按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在待测面板图像中确定相应的待测像素区域，并且只将待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与所述预设模板图像进行匹配，实现无需将整个待测面板图像中的每个像素点进行检测，所以能够减少检测时间，提高检测效率，而且最终得到的仅是某个亮灯区域图像中的待测显示灯存在亮灯缺陷，相较于整个待测面板图像的检测结果，准确度较高。
上述电子设备提到的通信总线1140可以是外设部件互连标准(PeripheralComponentInterconnect，简称PCI)总线或扩展工业标准结构(ExtendedIndustryStandardArchitecture，简称EISA)总线等。该通信总线1140可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图5中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。
通信接口1120用于上述电子设备与其他设备之间的通信。
存储器1130可以包括随机存取存储器(RandomAccessMemory，简称RAM)，也可以包括非易失性存储器(non-volatilememory)，例如至少一个磁盘存储器。可选的，存储器还可以是至少一个位于远离前述处理器的存储装置。
上述的处理器1110可以是通用处理器，包括中央处理器(CentralProcessingUnit，简称CPU)、网络处理器(NetworkProcessor，简称NP)等；还可以是数字信号处理器(DigitalSignalProcessing，简称DSP)、专用集成电路(ApplicationSpecificIntegratedCircuit，简称ASIC)、现场可编程门阵列(Field-ProgrammableGateArray，简称FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。
在本发明的又一实施例中，还提供一种具有处理器可执行的非易失的程序代码的计算机可读介质，所述程序代码使所述处理器执行所述前述方法实施例所述的方法。
在上述实施例中，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时，可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行计算机程序指令时，全部或部分地产生按照本发明实施例的流程或功能。计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、数字用户线(DSL))或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。可用介质可以是磁性介质，(例如，软盘、硬盘、磁带)、光介质(例如，DVD)、或者半导体介质(例如固态硬盘SolidStateDisk(SSD))等。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上所述仅是本发明的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种亮灯缺陷检测方法，其特征在于，包括：
获取包括多个待测显示灯的待测面板图像；
按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在所述待测面板图像中确定相应的待测像素区域；
将所述待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与所述预设模板图像进行匹配；
计算匹配到的匹配度最高的亮灯区域图像和所述预设模板图像之间的相关系数；
若所述相关系数小于预设相关度阈值，则确定所述亮灯区域图像中的待测显示灯存在亮灯缺陷。
2.根据权利要求1所述的亮灯缺陷检测方法，其特征在于，按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在所述待测面板图像中确定相应的待测像素区域的步骤，包括：
获取所述预设模板图像的参考坐标点在所述预设标准面板图像中的像素坐标和所述待测面板放置位置的最大偏移量；
根据所述参考坐标点的像素坐标和所述最大偏移量计算所述待测像素区域在所述待测面板图像中的待测区域信息；
将所述待测面板图像中与所述待测区域信息对应的区域确定为待测像素区域。
3.根据权利要求2所述的亮灯缺陷检测方法，其特征在于，所述参考坐标点包括：位于同一对角线上的第一对角点和第二对角点，根据所述参考坐标点的像素坐标和所述最大偏移量计算所述待测像素区域在所述待测面板图像中的待测区域信息的步骤，包括：
计算所述第一对角点的像素坐标与所述最大偏移量的差，得到所述待测像素区域的第一待测点的像素坐标；
计算所述第二对角点的像素坐标与所述最大偏移量的和，得到所述待测像素区域的第二待测点的像素坐标。
4.根据权利要求3所述的亮灯缺陷检测方法，其特征在于，计算所述第一对角点的像素坐标与所述最大偏移量的差，得到所述待测像素区域的第一待测点的像素坐标的步骤，包括：
计算所述第一对角点的X坐标与所述最大偏移量的差值，若所述差值大于0，将所述待测像素区域的第一待测点的X坐标确定为所述差值，否则，将所述待测像素区域的第一待测点的X坐标确定为0；
计算所述第一对角点的Y坐标与所述最大偏移量的差值，若所述差值大于0，将所述待测像素区域的第一待测点的Y坐标确定为所述差值，否则，将所述待测像素区域的第一待测点的Y坐标确定为0。
5.根据权利要求3所述的亮灯缺陷检测方法，其特征在于，计算第二参考坐标点的像素坐标与所述最大偏移量的和，得到所述待测像素区域的第二待测点的像素坐标的步骤，包括：
计算所述第二对角点的X坐标与所述最大偏移量的和，若所述和小于所述待测面板图像的宽，将所述和确定为所述待测像素区域的第二待测点的X坐标，否则，将所述待测像素区域的第二待测点的X坐标确定为所述待测面板图像的宽；
计算所述第二对角点的Y坐标与所述最大偏移量的和，若所述和大于所述待测面板图像的高，将所述和确定为所述待测像素区域的第二待测点的Y坐标，否则，将所述待测像素区域的第二待测点的Y坐标确定为所述待测面板图像的高。
6.根据权利要求1所述的亮灯缺陷检测方法，其特征在于，将所述待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与所述预设模板图像进行匹配的步骤，包括：
按照所述预设模板图像在所述预设标准面板图像中的大小确定截取框；
移动所述截取框，在所述待测像素区域内截取多个不同的亮灯区域图像；
将所述预设模板图像分别与截取到的多个所述亮灯区域图像进行匹配。
7.根据权利要求1所述的亮灯缺陷检测方法，其特征在于，计算匹配到的匹配度最高的亮灯区域图像和所述预设模板图像之间的相关系数的步骤，包括：
对所述预设模板图像和所述预设模板图像进行互相关操作，得到输出结果；
将所述输出结果进行归一化处理，得到所述亮灯区域图像和所述预设模板图像之间的相关系数。
8.一种亮灯缺陷检测装置，其特征在于，包括：
获取模块，用于获取包括多个待测显示灯的待测面板图像；
第一确定模块，用于按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在所述待测面板图像中确定相应的待测像素区域；
匹配模块，用于将所述待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与所述预设模板图像进行匹配；
计算模块，用于计算匹配到的匹配度最高的亮灯区域图像和所述预设模板图像之间的相关系数；
第二确定模块，用于若所述相关系数小于预设相关度阈值，则确定所述亮灯区域图像中的待测显示灯存在亮灯缺陷。
9.一种电子设备，包括：处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器、通信接口和存储器通过通信总线完成相互间的通信；所述存储器中存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述权利要求1至7任一项所述的方法的步骤。
10.一种具有处理器可执行的非易失的程序代码的计算机可读介质，其特征在于，所述程序代码使所述处理器执行所述权利要求1-7任一所述方法。
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