CN113838137A - 一种基于tft-lcd获取校正标记位置的方法和系统 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种基于TFT‑LCD获取校正标记位置的方法和系统，所述方法包括以下步骤：采集预设标准面板图像，将其中的一个预设标记图像作为模板图像；获取所述预设标准面板图像上的两个预设标记图像的矩形区域粗略坐标位置；采集待测TFT‑LCD面板的图像；根据所述两个预设标记图像的矩形区域粗略坐标位置，实时获取所述待测TFT‑LCD面板的图像上的两个待测标记粗略图像；使用所述模板图像匹配所述两个待测标记粗略图像，获取两个待测标记的精确位置。本发明的有益效果：不需要显微镜或激光等辅助设备采集标记图像，节约成本。使用模板匹配，标记位置的精度可达到亚像素级别，精度高。实施方法简单，实现实时校正。

Description

一种基于TFT-LCD获取校正标记位置的方法和系统
技术领域
本发明属于计算机视觉检测技术领域，具体涉及一种基于TFT-LCD获取校正标记位置的方法和系统。
背景技术
随着科学技术的不断发展和进步，计算机视觉检测技术具有快速高效和集成性等优点，被广泛应用在自动化领域。目前光学自动检测技术在TFT-LCD检测行业广泛使用，随着制程工艺不断发展和改进，要求自动检测精度高，检测速度快，这对自动检测设备是一种挑战。检测精度不仅与光学镜头，相机成像质量，光照条件等相关，而且跟检测物体的定位精度相关。TFT-LCD检测使用标记位置校正检测物体的定位精度。普遍基于TFT-LCD面板位置校正使用显微镜或激光等高端仪器实现，校正过程复杂，硬件费用投入高。因此，需要一种新的方法加以改进完善。
现有的解决方案是使用激光片产生特征图像，获取特征点进行图像校准。例如，中国发明专利申请号CN201811032385.4公开了一种用于图像位置校准的特征点获取方法：通过激光片作用于标记物产生特殊的特征图案，该特征图案包含多个特征图形，从多个特征图像中获取多个特征点构成标记图像，为后续的校准做准备。
上述图像校准的缺点在于：第一，使用激光仪，成本相对较高。第二，获取特征点要多，如果特征点不足，易导致图像校准精度低。第三，采集稳定清晰的特征图像过程较复杂。
发明内容
为了解决以上问题，本发明采用新的解决方案。第一，不需要显微镜采集标记图像，节约硬件成本。第二，对同种类型的面板只需要设置一次模板，预设标记的矩形区域粗略位置坐标。第三，检测过程中根据给定的标记矩形区域粗略位置实时获取标记图像，将模板图像分别跟两个标记图像进行模板匹配，标记位置精度可达到亚像素，得到两个标记的精确位置，作为后续校正的基础。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的。
基于目前校正标记位置方法的缺点，本发明提出了一种基于TFT-LCD获取校正标记位置的方法。本发明首先预采图设置模板图像，其次，获取两个标记图像的矩形区域粗略坐标位置，再次，采集图像，然后根据预先获取的标记图像粗略坐标位置获取相应的标记图像，最后使用模板图像分别对获取的两个标记图像进行模板匹配，获取标记精确位置。
具体的，本发明提供了一种基于TFT-LCD获取校正标记位置的方法，包括以下步骤：
采集预设标准面板图像，将其中的一个预设标记图像作为模板图像；
获取所述预设标准面板图像上的两个预设标记图像的矩形区域粗略坐标位置；
采集待测TFT-LCD面板的图像；
根据所述两个预设标记图像的矩形区域粗略坐标位置，实时获取所述待测TFT-LCD面板的图像上的两个待测标记粗略图像；
使用所述模板图像匹配所述两个待测标记粗略图像，获取两个待测标记的精确位置。
进一步地，所述采集预设标准面板图像，将其中的一个预设标记图像作为模板图像，包括：
用一张标准TFT-LCD面板进行预采图，在靠近面板的两端位置从采集图像上找到其中一个第一标记，并将所述第一标记设为这种类型面板的模板图像。
进一步地，所述获取所述预设标准面板图像上的两个预设标记图像的矩形区域粗略坐标位置，包括：
在靠近预设标准面板两端位置从采集图像上找到两个预设标记，在预设标记的附近选择两个坐标点，分别作为两个预设标记的起始位置；
根据两个预设标记的起始位置和设计的夹持面板精度，选择两个预设标记的终止位置，根据所述起始位置和终止位置确定两个预设标记所在的矩形区域，并且确保所述矩形区域能够完整覆盖两个预设标记，并记录这两个矩形区域；
松开夹具并重新夹持该面板，验证获取采集图像中的预设标记是否在上述两个矩形区域内；经过多次松夹面板和采集图像，调整预设标记的矩形区域至合适位置。
进一步地，所述根据所述两个预设标记图像的矩形区域粗略坐标位置，实时获取所述待测TFT-LCD面板的图像上的两个待测标记粗略图像，包括：
根据记录的两个预设标记的矩形区域，实时获取待测TFT-LCD面板上两个待测标记的粗略图像。
进一步地，所述使用所述模板图像匹配所述两个待测标记粗略图像，获取两个待测标记的精确位置，包括：
使用模板图像分别对获取的两个待测标记的粗略图像进行模板匹配，得到模板图像在待测标记的粗略图像中的匹配位置，作为两个待测标记的精确位置。
进一步地，所述模板匹配的方法采用归一化的灰度互相关法，即模板图像在待测标记的粗略图像中相似度最大的地方就是模板图像在待测标记的粗略图像中的匹配位置，该位置为标记的校正位置。
根据本发明的另一个方面，本发明还提供了一种基于TFT-LCD获取校正标记位置的系统，包括：
模板设置模块，用于采集预设标准面板图像，将其中的一个预设标记图像作为模板图像；
粗略坐标模块，用于获取所述预设标准面板图像上的两个预设标记图像的矩形区域粗略坐标位置；
图像采集模块，用于采集待测TFT-LCD面板的图像；
待测标记图像模块，用于根据所述两个预设标记图像的矩形区域粗略坐标位置，实时获取所述待测TFT-LCD面板的图像上的两个待测标记粗略图像；
精准定位模块，用于使用所述模板图像匹配所述两个待测标记粗略图像，获取两个待测标记的精确位置。
根据本发明的另一个方面，本发明还提供了一种包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述的存储器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序，以实现如上所述的基于TFT-LCD获取校正标记位置的方法。
根据本发明的另一个方面，本发明还提供了一种非临时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行，以实现如上所述的基于TFT-LCD获取校正标记位置的方法。
与现有技术相比，本发明的有益效果：不需要显微镜或激光等辅助设备采集标记图像，节约成本。使用模板匹配，标记位置的精度可达到亚像素级别，精度高。实施方法简单，实现实时校正。该发明在视觉检测系统具有很好的应用，进一步的扩展，还可以在视觉检测对象识别等方面应用。
附图说明
通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：
图1为本发明的获取校正标记位置的方法实施流程图。
图2为本发明的获取校正标记位置的标记位置示意图。
图3为本发明的获取校正标记位置的方法实例。
图4为本发明的获取校正标记位置的模板图。
图5为本发明的获取校正标记位置的标记1效果图。
图6为本发明的获取校正标记位置的标记2效果图。
图7为本发明的获取校正标记位置的标记1匹配位置结果图。
图8为本发明的获取校正标记位置的标记2匹配位置结果图。
图9为本发明的获取校正标记位置的系统结构图。
具体实施方式
下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施方式。虽然附图中显示了本公开的示例性实施方式，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施方式所限制。相反，提供这些实施方式是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。
实施例1
如图1所示，本发明的目标是实现获取校正标记位置，计算过程如下：
1.预采图设置模板图像：
用一张标准TFT-LCD面板进行预采图，通过面板设计规则，在靠近面板的两端位置从采集图像上找到其中一个标记，并将标记设为这种类型面板的模板图像，如图2所示。图3为本发明的获取校正标记位置的方法实例。图4为本发明的获取校正标记位置的模板图。
2.获取预设标准面板图像上的两个预设标记图像的的矩形区域粗略坐标位置：
A)在靠近预设标准面板两端位置从采集图像上找到两个预设标记，在预设标记的附近选择两个坐标点，分别作为两个预设标记的起始位置。
B)根据两个预设标记的起始位置和设计的夹持面板精度，选择两个预设标记的终止位置，起始位置和终止位置确定两个预设标记所在的矩形区域，并且确保该矩形区域能够完整覆盖标记，并记录这两个矩形区域。
C)松开夹具并重新夹持该面板，验证获取采集图像中的预设标记是否在上述两个矩形区域内。经过多次松夹面板，调整预设标记的矩形区域至合适的位置即可。
3.采集图像：
结束上述的准备工作后，开始这种类型的待测TFT-LCD面板图像采集并检测。
4.根据所述两个预设标记图像的矩形区域粗略坐标位置，实时获取所述待测TFT-LCD面板的图像上的两个待测标记粗略图像。如图5和图6所示。
根据记录的两个预设标记的矩形区域，实时获取待测TFT-LCD面板上两个待测标记的粗略图像。
5.使用模板匹配，获取标记精确位置，如图7和图8所示。
使用模板图像分别对获取的两个待测标记的粗略图像进行模板匹配，得到模板图像在待测标记的粗略图像中的匹配位置，作为两个待测标记的精确位置。
具体的，使用模板图像分别对获取的两个粗略标记图像进行模板匹配，模板匹配的方法采用归一化的灰度互相关法，即模板图像在待匹配的标记图像中相似度最大的地方就是模板图像在待测的标记图像中的匹配位置，该位置为标记的校正位置。在图7和图8方框中标示的十字位置中心即为模板图像在待测标记图像中的匹配位置，该位置也是模板图像左下角在待测标记图像中的位置。
如此，本发明的一种获取校正标记位置的方法，不需要显微镜或激光等辅助设备采集标记图像，节约成本。使用模板匹配，标记位置的精度可达到亚像素级别，精度高。实施方法简单，实现实时校正。该发明在视觉检测系统具有很好的应用，进一步的扩展，还可以在视觉检测对象识别等方面应用。
实施例2
本实施例提供一种获取校正标记位置的系统，如图9所示，包括：
模板设置模块501，用于采集预设标准面板图像，将其中的一个预设标记图像作为模板图像；
粗略坐标模块502，用于获取所述预设标准面板图像上的两个预设标记图像的矩形区域粗略坐标位置；
图像采集模块503，用于采集待测TFT-LCD面板的图像；
待测标记图像模块504，用于根据所述两个预设标记图像的矩形区域粗略坐标位置，实时获取所述待测TFT-LCD面板的图像上的两个待测标记粗略图像；
精准定位模块505，用于使用所述模板图像匹配所述两个待测标记粗略图像，获取两个待测标记的精确位置。
如此，本发明的一种获取校正标记位置的系统，不需要显微镜或激光等辅助设备采集标记图像，节约成本。使用模板匹配，标记位置的精度可达到亚像素级别，精度高。实施方法简单，实现实时校正。该发明在视觉检测系统具有很好的应用，进一步的扩展，还可以在视觉检测对象识别等方面应用。
实施例3
本实施例提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述的存储器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序，以实现如实施1中所述的获取校正标记位置的方法。
实施例4
本实施例提供一种非临时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行，以实现如实施1中所述的获取校正标记位置的方法。
需要说明的是：
在此提供的算法和显示不与任何特定计算机、虚拟装置或者其它设备固有相关。各种通用装置也可以与基于在此的示教一起使用。根据上面的描述，构造这类装置所要求的结构是显而易见的。此外，本发明也不针对任何特定编程语言。应当明白，可以利用各种编程语言实现在此描述的本发明的内容，并且上面对特定语言所做的描述是为了披露本发明的最佳实施方式。
在此处所提供的说明书中，说明了大量具体细节。然而，能够理解，本发明的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中，并未详细示出公知的方法、结构和技术，以便不模糊对本说明书的理解。
类似地，应当理解，为了精简本公开并帮助理解各个发明方面中的一个或多个，在上面对本发明的示例性实施例的描述中，本发明的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。
本领域那些技术人员可以理解，可以对实施例中的设备中的模块进行自适应性地改变并且把它们设置在与该实施例不同的一个或多个设备中。可以把实施例中的模块或单元或组件组合成一个模块或单元或组件，以及此外可以把它们分成多个子模块或子单元或子组件。除了这样的特征和/或过程或者单元中的至少一些是相互排斥之外，可以采用任何组合对本说明书(包括伴随的摘要和附图)中公开的所有特征以及如此公开的任何方法或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另外明确陈述，本说明书(包括伴随的摘要和附图)中公开的每个特征可以由提供相同、等同或相似目的的替代特征来代替。
此外，本领域的技术人员能够理解，尽管在此所述的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。例如，所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。
本发明的各个部件实施例可以以硬件实现，或者以在一个或者多个处理器上运行的软件模块实现，或者以它们的组合实现。本领域的技术人员应当理解，可以在实践中使用微处理器或者数字信号处理器(DSP)来实现根据本发明实施例的虚拟机的创建装置中的一些或者全部部件的一些或者全部功能。本发明还可以实现为用于执行这里所描述的方法的一部分或者全部的设备或者装置程序(例如，计算机程序和计算机程序产品)。这样的实现本发明的程序可以存储在计算机可读介质上，或者可以具有一个或者多个信号的形式。这样的信号可以从因特网网站上下载得到，或者在载体信号上提供，或者以任何其他形式提供。
应该注意的是上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行限制。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换 ，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种基于TFT-LCD获取校正标记位置的方法，其特征在于，包括以下步骤：
采集预设标准面板图像，将其中的一个预设标记图像作为模板图像；
获取所述预设标准面板图像上的两个预设标记图像的矩形区域粗略坐标位置；
采集待测TFT-LCD面板的图像；
根据所述两个预设标记图像的矩形区域粗略坐标位置，实时获取所述待测TFT-LCD面板的图像上的两个待测标记粗略图像；
使用所述模板图像匹配所述两个待测标记粗略图像，获取两个待测标记的精确位置。
2.根据权利要求1所述的一种基于TFT-LCD获取校正标记位置的方法，其特征在于：
所述采集预设标准面板图像，将其中的一个预设标记图像作为模板图像，包括：
用一张标准TFT-LCD面板进行预采图，在靠近面板的两端位置从采集图像上找到其中一个第一标记，并将所述第一标记设为这种类型面板的模板图像。
3.根据权利要求1或2所述的一种基于TFT-LCD获取校正标记位置的方法，其特征在于：
所述获取所述预设标准面板图像上的两个预设标记图像的矩形区域粗略坐标位置，包括：
在靠近预设标准面板两端位置从采集图像上找到两个预设标记，在预设标记的附近选择两个坐标点，分别作为两个预设标记的起始位置；
根据两个预设标记的起始位置和设计的夹持面板精度，选择两个预设标记的终止位置，根据所述起始位置和终止位置确定两个预设标记所在的矩形区域，并且确保所述矩形区域能够完整覆盖两个预设标记，并记录这两个矩形区域；
松开夹具并重新夹持该面板，验证获取采集图像中的预设标记是否在上述两个矩形区域内；经过多次松夹面板和采集图像，调整预设标记的矩形区域至合适位置。
4.根据权利要求3所述的一种基于TFT-LCD获取校正标记位置的方法，其特征在于：
所述根据所述两个预设标记图像的矩形区域粗略坐标位置，实时获取所述待测TFT-LCD面板的图像上的两个待测标记粗略图像，包括：
根据记录的两个预设标记的矩形区域，实时获取待测TFT-LCD面板上两个待测标记的粗略图像。
5.根据权利要求4所述的一种基于TFT-LCD获取校正标记位置的方法，其特征在于：
所述使用所述模板图像匹配所述两个待测标记粗略图像，获取两个待测标记的精确位置，包括：
使用模板图像分别对获取的两个待测标记的粗略图像进行模板匹配，得到模板图像在待测标记的粗略图像中的匹配位置，作为两个待测标记的精确位置。
6.根据权利要求5所述的一种基于TFT-LCD获取校正标记位置的方法，其特征在于：
所述模板匹配的方法采用归一化的灰度互相关法，即模板图像在待测标记的粗略图像中相似度最大的地方就是模板图像在待测标记的粗略图像中的匹配位置，该位置为标记的校正位置。
7.一种基于TFT-LCD获取校正标记位置的系统，其特征在于，包括：
模板设置模块，用于采集预设标准面板图像，将其中的一个预设标记图像作为模板图像；
粗略坐标模块，用于获取所述预设标准面板图像上的两个预设标记图像的矩形区域粗略坐标位置；
图像采集模块，用于采集待测TFT-LCD面板的图像；
待测标记图像模块，用于根据所述两个预设标记图像的矩形区域粗略坐标位置，实时获取所述待测TFT-LCD面板的图像上的两个待测标记粗略图像；
精准定位模块，用于使用所述模板图像匹配所述两个待测标记粗略图像，获取两个待测标记的精确位置。
8.一种电子设备，其特征在于，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述的存储器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序，以实现如权利要求的1-6中任一所述的基于TFT-LCD获取校正标记位置的方法。
9.一种非临时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行，以实现如权利要求1-6中任一所述的基于TFT-LCD获取校正标记位置的方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115061294A (zh) * 2022-06-28 2022-09-16 Tcl华星光电技术有限公司 液晶显示面板缺陷修复方法、系统及存储介质
WO2023185932A1 (zh) * 2022-03-31 2023-10-05 上海微电子装备（集团）股份有限公司 硅片对准标记的检测定位方法、系统、电子设备及介质
CN117392225A (zh) * 2023-12-06 2024-01-12 中导光电设备股份有限公司 一种显示屏检测区域位置校正的方法和系统

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107038443A (zh) * 2017-04-28 2017-08-11 东莞市盟拓光电科技有限公司 一种在电路板上定位感兴趣区域的方法和装置
CN109685758A (zh) * 2018-10-29 2019-04-26 中国化学工程第六建设有限公司 基于多模板匹配的焊缝视觉定位方法
CN111445467A (zh) * 2020-04-08 2020-07-24 珠海格力电器股份有限公司 亮灯缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质
CN111508017A (zh) * 2020-04-08 2020-08-07 中导光电设备股份有限公司 一种弱对比度定位标记中心的方法和系统
CN112529820A (zh) * 2020-12-29 2021-03-19 广州华端科技有限公司 Cbct系统半扇束几何校正方法、装置、设备和介质

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107038443A (zh) * 2017-04-28 2017-08-11 东莞市盟拓光电科技有限公司 一种在电路板上定位感兴趣区域的方法和装置
CN109685758A (zh) * 2018-10-29 2019-04-26 中国化学工程第六建设有限公司 基于多模板匹配的焊缝视觉定位方法
CN111445467A (zh) * 2020-04-08 2020-07-24 珠海格力电器股份有限公司 亮灯缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质
CN111508017A (zh) * 2020-04-08 2020-08-07 中导光电设备股份有限公司 一种弱对比度定位标记中心的方法和系统
CN112529820A (zh) * 2020-12-29 2021-03-19 广州华端科技有限公司 Cbct系统半扇束几何校正方法、装置、设备和介质

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023185932A1 (zh) * 2022-03-31 2023-10-05 上海微电子装备（集团）股份有限公司 硅片对准标记的检测定位方法、系统、电子设备及介质
CN115061294A (zh) * 2022-06-28 2022-09-16 Tcl华星光电技术有限公司 液晶显示面板缺陷修复方法、系统及存储介质
CN117392225A (zh) * 2023-12-06 2024-01-12 中导光电设备股份有限公司 一种显示屏检测区域位置校正的方法和系统

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