CN104267203B - 一种样品的测试方法及装置 - Google Patents
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- 238000010998 test method Methods 0.000 title claims abstract description 5
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 257
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010187 selection method Methods 0.000 description 1
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Abstract
本发明公开了一种样品的测试方法及装置,通过获取放置在测试平台上至少包含待测样品的一个顶点的图像信息,确定待测样品当前放置在测试平台上的位置对应的测试坐标系,再根据预先确定的待测样品的尺寸以及需要在测试样品上进行测试的测试点,确定测试点在测试坐标系中的坐标位置,最后根据预先确定的测试内容,对待测样品进行测试。这样,根据待测样品在测试平台上的放置位置确定当前待测样品所处位置的测试坐标系,进而确定样品上测试点对应的坐标位置,相较于现有技术中在固定坐标系中确定样品上测试点的坐标位置,可以避免由于样品摆放不正或中心点与坐标原点没有对齐造成样品上测试点在坐标系中选取的位置出现偏差,进而影响样品测试的问题。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种样品的测试方法及装置。
背景技术
目前,对光学样品进行各方面性能测试之前,需要进行测试点选取,而现有技术中,光学测试平台的测试坐标系为固定坐标系,在对样品进行测试点选取时,需要操作者将样品按照测试平台上的固定坐标系放置,使测试中心点与坐标原点对齐,如图1所示,其中样品1的测试中心点与坐标原点对齐,其他测试点由测试系统根据规则自动选取,然而,这种选取方法需要操作者按照测试平台上的固定坐标系放置测试样品,使样品的中心点与坐标原点对齐,一旦中心点选取出现偏差,将导致测试系统选取其他测试点也相应出现偏差,如图1中样品2所示;并且测试系统坐标轴是固定的,如果样品摆放不正,测试系统自动选取的其他测试点也会出现偏差,如图1中样品3所示。这样,由于测试点选取有偏差,也将会对样品后期的各方面性能测试产生影响。
因此,如何实现样品自动化检测,准确选取待测样品的测试点的位置,避免出现由于中心点选择偏差或样品摆放不正对样品后期性能测试造成影响的问题,是本领域技术人员亟待解决的问题。
发明内容
本发明实施例提供了一种样品的测试方法及装置,用以解决现有技术中存在的样品测试点在测试平台上的位置选取出现偏差,进而影响样品测试的问题。
本发明实施例提供了一种样品的测试方法,包括:
获取放置在测试平台上的待测样品的图像信息,所述图像信息至少包含所述待测样品的一个顶点的图像信息;
根据获取到的所述图像信息,确定所述待测样品当前放置在所述测试平台上的位置对应的测试坐标系;
根据确定出的所述待测样品当前放置在所述测试平台上的位置对应的测试坐标系、预先确定的所述待测样品的尺寸以及需要在所述待测样品上进行测试的测试点,确定所述测试点在所述测试坐标系中的坐标位置;
根据确定出的所述测试点的坐标位置以及预先确定的测试内容,对所述待测样品进行测试。
在一种可能的实施方式中,本发明实施例提供的上述测试方法中,所述获取放置在测试平台上的待测样品的图像信息,具体包括:
以放置在所述测试平台上的所述待测样品的任意顶点为中心点,按照预先确定的扫描尺寸和扫描精度,确定扫描区域;
按照所述扫描区域获取包含所述待测样品的该顶点的图像信息。
在一种可能的实施方式中,本发明实施例提供的上述测试方法中,根据获取到的所述图像信息,确定所述待测样品当前放置在所述测试平台上的位置对应的测试坐标系,具体包括:
在所述图像信息中确定所述待测样品在所述测试平台的投影的至少两条相交的边界线;
以所述两条相交的边界线的交点为坐标原点,以所述两条相交的边界线的延长线作为坐标轴,确定所述待测样品当前放置在所述测试平台上的位置对应的测试坐标系。
在一种可能的实施方式中,本发明实施例提供的上述测试方法中,在所述图像信息中确定所述待测样品在所述测试平台的投影的至少两条相交的边界线,具体包括:
将所述图像信息中的各像素点进行二值化处理后,确定相邻像素点之间的差值是否大于预设阈值;
以差值大于预设阈值的相邻像素点为边界点,确定所述边界线。
本发明实施例提供了一种样品的测试装置,包括:获取单元、第一确定单元、第二确定单元,以及测试单元;其中,
所述获取单元,用于获取放置在所述测试平台上的所述待测样品的图像信息,所述图像信息至少包含所述待测样品的一个顶点的图像信息;
所述第一确定单元,用于根据获取到的所述图像信息,确定所述待测样品当前放置在所述测试平台上的位置对应的测试坐标系;
所述第二确定单元,用于根据确定出的所述待测样品当前放置在所述测试平台上的位置对应的测试坐标系、预先确定的所述待测样品的尺寸以及需要在所述待测样品上进行测试的测试点,确定所述测试点在所述测试坐标系中的坐标位置;
所述测试单元,用于根据确定出的所述测试点的坐标位置以及预先确定的测试内容,对所述待测样品进行测试。
在一种可能的实施方式中,本发明实施例提供的上述测试装置中,所述获取单元,具体用于:
以放置在所述测试平台上的所述待测样品的任意顶点为中心点,按照预先确定的扫描尺寸和扫描精度,确定扫描区域;
按照所述扫描区域获取包含所述待测样品的该顶点的图像信息。
在一种可能的实施方式中,本发明实施例提供的上述测试装置中,所述第一确定单元,具体用于:
在所述图像信息中确定所述待测样品在所述测试平台的投影的至少两条相交的边界线;
以所述两条相交的边界线的交点为坐标原点,以所述两条相交的边界线的延长线作为坐标轴,确定所述待测样品当前放置在所述测试平台上的位置对应的测试坐标系。
在一种可能的实施方式中,本发明实施例提供的上述测试装置中,所述第一确定单元,还用于:
将所述图像信息中的各像素点进行二值化处理后,确定相邻像素点之间的差值是否大于预设阈值;
以差值大于预设阈值的相邻像素点为边界点,确定所述边界线。
本发明实施例的有益效果包括:
本发明实施例提供了一种样品的测试方法及装置,首先获取放置在测试平台上至少包含待测样品的一个顶点的图像信息,然后根据获取到的图像信息,确定待测样品当前放置在测试平台上的位置对应的测试坐标系,再根据确定出的测试坐标系、预先确定的待测样品的尺寸以及需要在测试样品上进行测试的测试点,确定测试点在测试坐标系中的坐标位置,最后根据确定出的测试点的坐标位置以及预先确定的测试内容,对待测样品进行测试。这样,根据待测样品在测试平台上的摆放位置确定当前待测样品所处位置的测试坐标系,进而确定样品上测试点对应的坐标位置,相较于现有技术中在固定坐标系中确定样品上测试点的坐标位置,可以避免由于样品摆放不正或中心点与坐标原点没有对齐造成样品上测试点在坐标系中选取的位置出现偏差,进而影响样品测试的问题,有助于实现样品的自动化检测。
附图说明
图1为现有技术中样品的测试点的位置选取方法的示意图;
图2为本发明实施例提供的样品的测试方法的流程图;
图3为本发明实施例提供的样品的测试方法中获取图像信息的流程图;
图4为本发明实施例提供的样品的测试点的位置选取方法示意图;
图5为本发明实施例提供的样品的测试方法中确定测试坐标系的流程图;
图6为本发明实施例提供的样品的测试装置的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图,对本发明实施例提供的样品的测试方法及装置的具体实施方式进行详细地说明。
本发明实施例提供了一种样品的测试方法,如图2所示,包括以下步骤:
S101、获取放置在测试平台上的待测样品的图像信息,该图像信息至少包含待测样品的一个顶点的图像信息;
S102、根据获取到的图像信息,确定待测样品当前放置在测试平台上的位置对应的测试坐标系;
S103、根据确定出的待测样品当前放置在测试平台上的位置对应的测试坐标系、预先确定的待测样品的尺寸以及需要在待测样品上进行测试的测试点,确定测试点在测试坐标系中的坐标位置;
S104、根据确定出的测试点的坐标位置以及预先确定的测试内容,对待测样品进行测试。
本发明实施例提供的上述样品的测试方法,获取放置在测试平台上至少包含待测样品的一个顶点的图像信息,然后根据获取到的图像信息,确定待测样品当前放置在测试平台上的位置对应的测试坐标系,再根据确定出的测试坐标系、预先确定的待测样品的尺寸以及需要在测试样品上进行测试的测试点,确定测试点在测试坐标系中的坐标位置,最后根据确定出的测试点的坐标位置以及预先确定的测试内容,对待测样品进行测试。这样,根据待测样品在测试平台上的摆放位置确定当前待测样品所处位置的测试坐标系,进而确定样品上测试点对应的坐标位置,相较于现有技术中在固定坐标系中确定样品上测试点的坐标位置,可以避免由于样品摆放不正或中心点与坐标原点没有对齐造成样品上测试点在坐标系中选取的位置出现偏差,进而影响样品测试的问题,有助于实现样品的自动化检测。
在具体实施时,本发明实施例提供的上述测试方法中,在获取放置在测试平台上的待测样品的图像信息时,可以采用电荷耦合(CCD,Charge CoupledDevice)图像传感器,也可以采用普通摄像头,或其他图像信息采集设备,在此不作限定。具体地,采用上述图像信息采集设备获取图像信息的过程,可以采用本发明实施例提供的上述测试方法中步骤S100来实现,如图3所示,具体包括以下步骤:
S201、以放置在测试平台上的待测样品的任意顶点为中心点,按照预先确定的扫描尺寸和扫描精度,确定扫描区域;
具体地,可以将用于采集图像信息的摄像头或CCD图像传感器移动到测试平台上待测样品的任意一个顶点的上方,根据设定的扫描尺寸和扫描精度,确定扫描区域,如图4所示,例如扫描区域为一个边长为1cm的正方形,然后以选定的待测样品的顶点A为中心点,在确定的正方形扫描区域进行扫描。
S202、按照扫描区域获取包含待测样品的该顶点的图像信息。
具体地,在确定的扫描区域以选定的待测样品的顶点为中心点进行扫描,采集图像信息的摄像头或CCD图像传感器完成图像信息采集,获取到包含待测样品的该顶点的图像信息。
在具体实施时,本发明实施例提供的上述测试方法中,根据获取到的图像信息,确定待测样品当前放置在测试平台上的位置对应的测试坐标系,如图5所示,可以具体包括以下步骤:
S301、在图像信息中确定待测样品和测试平台之间的至少两条相交的边界线;
具体地,为了确定出待测样品放置在测试平台上的位置的测试坐标系,需要确定出测试坐标系的坐标轴,而测试坐标系的坐标轴是由待测样品在测试平台的投影的边界线确定的,因此在图像信息中确定待测样品在测试平台的投影的至少两条相交的边界线,可以具体包括以下步骤:
将图像信息中的各像素点进行二值化处理后,确定相邻像素点之间的差值是否大于预设阈值;
具体地,可以预先设定亮度阈值,由于待测样品的显示区域的亮度远高于边框或测试平台处的亮度,因此可以将扫描获取的图像信息中各像素点进行二值化处理,将相邻像素点之间的亮度差值与预设的亮度阈值进行比较。
以差值大于预设阈值的相邻像素点为边界点,确定边界线。
具体地,将相邻像素点之间的差值大于预设的亮度阈值的点确定为待测样品与测试平台之间的边界线上的边界点,将确定出的边界点拟合成直线,即为待测样品在测试平台的投影的边界线,此边界线的延长线即为待测样品当前在测试平台上的位置的测试坐标系的坐标轴。
S302、以两条相交的边界线的交点为坐标原点,以两条相交的边界线的延长线作为坐标轴,确定待测样品当前放置在测试平台上的位置对应的测试坐标系。
具体地,在确定了待测样品在测试平台的投影,如图4所示,以待测样品的一个顶点A为交点的两条边界线之后,即可确定该待测样品在测试平台上的位置对应的坐标系,其中待测样品可以如样品4也可以如样品5的放置方式放置在测试平台上,因此即使待测样品在测试平台上放置的位置不正,也可以确定待测样品在其放置位置的测试坐标系,因为本发明实施例提供的样品的测试方法中,确定出的测试坐标系是以待测样品在测试平台上的放置位置为标准确定出的,即待测样品的测试坐标系是以两条相交的边界线的交点为坐标原点,以两条相交的边界线的延长线作为坐标轴,其与待测样品放置的位置是相互对应的。
在具体实施时,在确定出了待测样品当前放置在测试平台上的位置对应的测试坐标系之后,根据确定出的待测样品当前放置在测试平台上的位置对应的测试坐标系,或与确定出的测试坐标系相互平行的坐标系,在此不作限定,以及预先确定的待测样品的尺寸和需要在待测样品上进行测试的测试点,例如图4所示,可以选取待测样品上呈阵列排布的九个测试点,确定测试点在测试坐标系中的坐标位置,再根据确定出的测试点的坐标位置以及预先确定的测试内容,例如瑕疵测试,点灯测试,光学性能测试等测试内容,在此不作限定,对待测样品进行测试。
基于同一发明构思,本发明实施例提供了一种样品的测试装置,如图6所示,可以包括:获取单元01、第一确定单元02、第二确定单元03,以及测试单元04;其中,
获取单元01用于获取放置在测试平台上的待测样品的图像信息,图像信息至少包含待测样品的一个顶点的图像信息;
第一确定单元02用于根据获取到的图像信息,确定待测样品当前放置在测试平台上的位置对应的测试坐标系;
第二确定单元03用于根据确定出的待测样品当前放置在测试平台上的位置对应的测试坐标系、预先确定的待测样品的尺寸以及需要在待测样品上进行测试的测试点,确定测试点在测试坐标系中的坐标位置;
测试单元04用于根据确定出的测试点的坐标位置以及预先确定的测试内容,对待测样品进行测试。
在具体实施时,本发明实施例提供的上述测试装置中,获取单元01,可以具体用于:以放置在测试平台上的待测样品的任意顶点为中心点,按照预先确定的扫描尺寸和扫描精度,确定扫描区域;按照扫描区域获取包含待测样品的该顶点的图像信息。
在具体实施时,本发明实施例提供的上述测试装置中,第一确定单元02,可以具体用于:在图像信息中确定待测样品在测试平台的投影的至少两条相交的边界线;以两条相交的边界线的交点为坐标原点,以两条相交的边界线的延长线作为坐标轴,确定待测样品当前放置在所述测试平台上的位置对应的测试坐标系。
在具体实施时,本发明实施例提供的上述测试装置中,第一确定单元02,还可以用于:将图像信息中的各像素点进行二值化处理后,确定相邻像素点之间的差值是否大于预设阈值;以差值大于预设阈值的相邻像素点为边界点,确定边界线。
在具体实施时,本发明实施例提供的上述测试装置中,在第一确定单元02确定出待测样品当前放置位置的测试坐标系之后,第二确定单元03根据确定出的测试坐标系确定出待测样品上需要测试的测试点在测试坐标系中的坐标位置,最后测试单元04根据测试点在测试坐标系中的坐标位置,以及需要测试的测试内容,对待测样品进行测试。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到本发明实施例可以通过硬件实现,也可以借助软件加必要的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解,本发明实施例的技术方案可以以软件产品的形式体现出来,该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-ROM,U盘,移动硬盘等)中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
本领域技术人员可以理解附图只是一个优选实施例的示意图,附图中的模块或流程并不一定是实施本发明所必须的。
本领域技术人员可以理解实施例中的装置中的模块可以按照实施例描述进行分布于实施例的装置中,也可以进行相应变化位于不同于本实施例的一个或多个装置中。上述实施例的模块可以合并为一个模块,也可以进一步拆分成多个子模块。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述,不代表实施例的优劣。
本发明实施例提供了一种样品的测试方法及装置,首先获取放置在测试平台上至少包含待测样品的一个顶点的图像信息,然后根据获取到的图像信息,确定待测样品当前放置在测试平台上的位置对应的测试坐标系,再根据确定出的测试坐标系、预先确定的待测样品的尺寸以及需要在测试样品上进行测试的测试点,确定测试点在测试坐标系中的坐标位置,最后根据确定出的测试点的坐标位置以及预先确定的测试内容,对待测样品进行测试。这样,根据待测样品在测试平台上的摆放位置确定当前待测样品所处位置的测试坐标系,进而确定样品上测试点对应的坐标位置,相较于现有技术中在固定坐标系中确定样品上测试点的坐标位置,可以避免由于样品摆放不正或中心点与坐标原点没有对齐造成样品上测试点在坐标系中选取的位置出现偏差,进而影响样品测试的问题,有助于实现样品的自动化检测。
显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (6)
1.一种样品的测试方法,其特征在于,包括:
获取放置在测试平台上的待测样品的图像信息,所述图像信息至少包含所述待测样品的一个顶点的图像信息;
在所述图像信息中确定所述待测样品在所述测试平台的投影的至少两条相交的边界线;以所述两条相交的边界线的交点为坐标原点,以所述两条相交的边界线的延长线作为坐标轴,确定所述待测样品当前放置在所述测试平台上的位置对应的测试坐标系;
根据确定出的所述待测样品当前放置在所述测试平台上的位置对应的测试坐标系、预先确定的所述待测样品的尺寸以及需要在所述待测样品上进行测试的测试点,确定所述测试点在所述测试坐标系中的坐标位置;
根据确定出的所述测试点的坐标位置以及预先确定的测试内容,对所述待测样品进行测试。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取放置在测试平台上的待测样品的图像信息,具体包括:
以放置在所述测试平台上的所述待测样品的任意顶点为中心点,按照预先确定的扫描尺寸和扫描精度,确定扫描区域;
按照所述扫描区域获取包含所述待测样品的该顶点的图像信息。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述图像信息中确定所述待测样品在所述测试平台的投影的至少两条相交的边界线,具体包括:
将所述图像信息中的各像素点进行二值化处理后,确定相邻像素点之间的差值是否大于预设阈值;
以差值大于预设阈值的相邻像素点为边界点,确定所述边界线。
4.一种样品的测试装置,其特征在于,包括:获取单元、第一确定单元、第二确定单元,以及测试单元;其中,
所述获取单元,用于获取放置在测试平台上的待测样品的图像信息,所述图像信息至少包含所述待测样品的一个顶点的图像信息;
所述第一确定单元,用于在所述图像信息中确定所述待测样品在所述测试平台的投影的至少两条相交的边界线;以所述两条相交的边界线的交点为坐标原点,以所述两条相交的边界线的延长线作为坐标轴,确定所述待测样品当前放置在所述测试平台上的位置对应的测试坐标系;
所述第二确定单元,用于根据确定出的所述待测样品当前放置在所述测试平台上的位置对应的测试坐标系、预先确定的所述待测样品的尺寸以及需要在所述待测样品上进行测试的测试点,确定所述测试点在所述测试坐标系中的坐标位置;
所述测试单元,用于根据确定出的所述测试点的坐标位置以及预先确定的测试内容,对所述待测样品进行测试。
5.如权利要求4所述的测试装置,其特征在于,所述获取单元,具体用于:
以放置在所述测试平台上的所述待测样品的任意顶点为中心点,按照预先确定的扫描尺寸和扫描精度,确定扫描区域;
按照所述扫描区域获取包含所述待测样品的该顶点的图像信息。
6.如权利要求4所述的测试装置,其特征在于,所述第一确定单元,还用于:
将所述图像信息中的各像素点进行二值化处理后,确定相邻像素点之间的差值是否大于预设阈值;
以差值大于预设阈值的相邻像素点为边界点,确定所述边界线。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201410599362.7A CN104267203B (zh) | 2014-10-30 | 2014-10-30 | 一种样品的测试方法及装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201410599362.7A CN104267203B (zh) | 2014-10-30 | 2014-10-30 | 一种样品的测试方法及装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN104267203A CN104267203A (zh) | 2015-01-07 |
CN104267203B true CN104267203B (zh) | 2016-09-07 |
Family
ID=52158744
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201410599362.7A Expired - Fee Related CN104267203B (zh) | 2014-10-30 | 2014-10-30 | 一种样品的测试方法及装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN104267203B (zh) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110346230A (zh) * | 2019-07-29 | 2019-10-18 | 江苏省沙钢钢铁研究院有限公司 | 一种不同设备间样品的原位观察及测试方法 |
CN110967350B (zh) * | 2019-11-05 | 2023-04-11 | 北京地平线机器人技术研发有限公司 | 基于图像识别的芯片测试方法、装置及电子设备 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8368017B2 (en) * | 2006-01-04 | 2013-02-05 | Jpk Instruments Ag | Method for the operation of a measurement system with a scanning probe microscope and a measurement system |
CN101384133B (zh) * | 2007-09-07 | 2011-11-16 | 富葵精密组件(深圳)有限公司 | 对位方法 |
US7869645B2 (en) * | 2008-07-22 | 2011-01-11 | Seiko Epson Corporation | Image capture and calibratiion |
CN101368974B (zh) * | 2008-09-28 | 2011-11-30 | 张德丰 | 可将缺陷信息打印在工件上的方法 |
CN101464132B (zh) * | 2008-12-31 | 2014-09-10 | 北京中星微电子有限公司 | 位置确定方法及位置确定装置 |
-
2014
- 2014-10-30 CN CN201410599362.7A patent/CN104267203B/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN104267203A (zh) | 2015-01-07 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20160907 Termination date: 20201030 |