CN111400667B - 一种基于变公差带约束的航空叶片型面检测方法和系统 - Google Patents

一种基于变公差带约束的航空叶片型面检测方法和系统 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种基于变公差带约束的航空叶片型面检测方法和系统,属于航空叶片检测领域,其中方法包括:对航空叶片的叶型轮廓测点集中所有点进行曲率估计,基于曲率分布在叶型轮廓测点集中进行降采样,利用采样叶型轮廓测点随机进行拟合圆,实现叶型轮廓分割,得到前缘点集、后缘点集、叶盆点集和叶背点集;分别为前缘点集、后缘点集、叶盆点集和叶背点集设置公差带范围和线性约束,构建目标匹配函数,求解目标匹配函数,得到最优位姿;利用最优位姿对航空叶片进行刚体变换,将刚体变换后的航空叶片与设计叶片进行比较,判断航空叶片叶型是否合格。本发明航空叶片与设计叶片的匹配结果更真实,进而提高叶片检测的准确率。

Description

一种基于变公差带约束的航空叶片型面检测方法和系统
技术领域
本发明属于航空叶片检测领域,更具体地,涉及一种基于变公差带约束的航空叶片型面检测方法和系统。
背景技术
航空发动机作为世界公认的结构最复杂,技术门槛最高的工业产品,一直被誉为工业皇冠上的明珠,而航空叶片作为航空发动机的核心部件,其直接影响航空发动机的气动性能,因此对其进行精确的型面质量控制尤为重要。目前,在航空叶片的叶型检测中,多是基于等公差带约束的匹配方法,即叶型轮廓测点与叶型轮廓设计模型进行匹配,然后判断各点误差值是否超差,超差则航空叶片叶型不合格,否则合格。这种方法难以对叶片叶型前缘、后缘、叶盆及叶背进行不同的精度控制,且由于叶型前缘、后缘、叶盆及叶背的测点密度不均,在等公差约束下的匹配常常会导致匹配结果失真,即向叶盆及叶背方向滑移,进而导致叶型前缘后缘超过公差,误报叶型不合格。
由此可见,现有技术存在匹配结果失真、误报叶型不合格的技术问题。
发明内容
针对现有技术的以上缺陷或改进需求,本发明提供了一种基于变公差带约束的航空叶片型面检测方法和系统,由此解决现有技术存在匹配结果失真、误报叶型不合格的技术问题。
为实现上述目的,按照本发明的一个方面,提供了一种基于变公差带约束的航空叶片型面检测方法,包括如下步骤:
(1)对航空叶片的叶型轮廓测点集中所有点进行曲率估计,得到曲率分布,基于曲率分布在叶型轮廓测点集中进行降采样,得到采样叶型轮廓测点;
(2)利用采样叶型轮廓测点随机进行拟合圆,实现叶型轮廓分割,得到前缘点集、后缘点集、叶盆点集和叶背点集;
(3)在设计叶片的轮廓测点集中搜索叶型轮廓测点集中每个点的最近点,组成最近点集,利用叶型轮廓测点集和最近点集进行无约束匹配,得到初始位姿,分别为前缘点集、后缘点集、叶盆点集和叶背点集设置公差带范围和线性约束,构建目标匹配函数,将初始位姿作为初始值,求解目标匹配函数,得到最优位姿;
(4)利用最优位姿对航空叶片进行刚体变换,将刚体变换后的航空叶片与设计叶片进行比较,判断航空叶片叶型是否合格。
进一步地,曲率估计的具体实现方式为:
对航空叶片的叶型轮廓测点集中点pi,利用pi及其相邻两点pi-1、pi+1拟合二次曲线,计算二次曲线在pi处的一阶导数y′及二阶导数y″,进而求得pi的曲率
Figure GDA0003236277890000021
进一步地,降采样的具体实现方式为:
计算叶型轮廓测点集中离散点间的曲率和,使得相邻采样间隔k1和k2满足关系
Figure GDA0003236277890000022
κi表示叶型轮廓测点集中第i个点的曲率。
进一步地,步骤(2)包括:
(21)设置最大拟合次数kmax,从采样叶型轮廓测点中随机抽取3个点最小二乘拟合圆,随后将其余点代入判断是否位于该圆内,并记录在该圆上的点数量ni,重复进行kmax次拟合,选择其中规模最大的两个圆,即为拟合得到的前缘和后缘,得到前缘的圆心(x,yl)及半径rl,后缘的圆心(xt,yt)及半径rt
(22)利用前缘的圆心及半径在叶型轮廓测点集中搜索前缘点集,利用后缘的圆心及半径在叶型轮廓测点集中搜索后缘点集,进而得到叶盆点集和叶背点集。
进一步地,前缘点集和后缘点集的搜索方法相同,所述搜索方法为:基于前缘的圆心(xl,yl)、半径rl及给定半径误差阈值δr,在叶型轮廓测点集中搜索所有满足rl-δr≤|d|≤rl+δr的点,得到前缘点集,d为前缘的圆心与叶型轮廓测点集中点的距离。
进一步地,目标匹配函数的具体构建方式为:
分别为前缘点集、后缘点集、叶盆点集和叶背点集设置公差带上限
Figure GDA0003236277890000031
与下限
Figure GDA0003236277890000032
j=1、2、3、4,1代表前缘点集,2代表后缘点集,3代表叶盆点集,4代表叶背点集,引入4个范围取值在0-1的变量η1,η2,η3,η4将分段约束转换为线性约束,即
Figure GDA0003236277890000033
Figure GDA0003236277890000034
i=ηjsj,sj为分割叶型轮廓的四个分界点的序号,对于序号为(s1,s2)之间的点,i=η1s12s2,且η12=1,其他分界点之间i的计算方法与之一致,R是旋转矩阵,t是平移矩阵,pi是叶型轮廓测点,qi是pi在设计叶片的轮廓测点集中的最近点,进而构建目标匹配函数
Figure GDA0003236277890000035
其中,n为叶型轮廓测点集中点的总数,λ1为第一线性约束g1(R,t)的拉格朗日乘子,λ2是第二线性约束g2(R,t)的拉格朗日乘子。
按照本发明的另一方面,提供了一种基于变公差带约束的航空叶片型面检测系统,包括:
预处理模块,用于对航空叶片的叶型轮廓测点集中所有点进行曲率估计,得到曲率分布,基于曲率分布在叶型轮廓测点集中进行降采样,得到采样叶型轮廓测点;
分割模块,用于利用采样叶型轮廓测点随机进行拟合圆,实现叶型轮廓分割,得到前缘点集、后缘点集、叶盆点集和叶背点集;
函数构建模块,用于在设计叶片的轮廓测点集中搜索叶型轮廓测点集中每个点的最近点,组成最近点集,利用叶型轮廓测点集和最近点集进行无约束匹配,得到初始位姿,分别为前缘点集、后缘点集、叶盆点集和叶背点集设置公差带范围和线性约束,构建目标匹配函数,将初始位姿作为初始值,求解目标匹配函数,得到最优位姿;
检测模块,用于利用最优位姿对航空叶片进行刚体变换,将刚体变换后的航空叶片与设计叶片进行比较,判断航空叶片叶型是否合格。
进一步地,预处理模块包括:
曲率估计模块,用于对航空叶片的叶型轮廓测点集中点pi,利用pi及其相邻两点pi-1、pi+1拟合二次曲线,计算二次曲线在pi处的一阶导数y′及二阶导数y″,进而求得pi的曲率
Figure GDA0003236277890000041
降采样模块,用于计算叶型轮廓测点集中离散点间的曲率和,使得相邻采样间隔k1和k2满足关系
Figure GDA0003236277890000042
κi表示叶型轮廓测点集中第i个点的曲率。
进一步地,分割模块包括:
拟合模块,用于设置最大拟合次数kmax,从采样叶型轮廓测点中随机抽取3个点最小二乘拟合圆,随后将其余点代入判断是否位于该圆内,并记录在该圆上的点数量ni,重复进行kmax次拟合,选择其中规模最大的两个圆,即为拟合得到的前缘和后缘,得到前缘的圆心(x,yl)及半径rl,后缘的圆心(xt,yt)及半径rt
搜索模块,用于利用前缘的圆心及半径在叶型轮廓测点集中搜索前缘点集,利用后缘的圆心及半径在叶型轮廓测点集中搜索后缘点集,进而得到叶盆点集和叶背点集。
进一步地,函数构建模块中目标匹配函数的具体构建方式为:
分别为前缘点集、后缘点集、叶盆点集和叶背点集设置公差带上限
Figure GDA0003236277890000043
与下限
Figure GDA0003236277890000051
j=1、2、3、4,1代表前缘点集,2代表后缘点集,3代表叶盆点集,4代表叶背点集,引入4个范围取值在0-1的变量η1,η2,η3,η4将分段约束转换为线性约束,即
Figure GDA0003236277890000052
Figure GDA0003236277890000053
i=ηjsj,sj为分割叶型轮廓的四个分界点的序号,对于序号为(s1,s2)之间的点,i=η1s12s2,且η12=1,其他分界点之间i的计算方法与之一致,R是旋转矩阵,t是平移矩阵,pi是叶型轮廓测点,qi是pi在设计叶片的轮廓测点集中的最近点,进而构建目标匹配函数
Figure GDA0003236277890000054
其中,n为叶型轮廓测点集中点的总数,λ1为第一线性约束g1(R,t)的拉格朗日乘子,λ2是第二线性约束g2(R,t)的拉格朗日乘子。
总体而言,通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比,能够取得下列有益效果:
(1)本发明对叶型轮廓测点进行曲率估计,对叶型轮廓进行曲率采样,结合叶片叶型前缘及后缘曲率进行随机一致性拟合圆,得到前缘、后缘,并分割叶型轮廓,由此分割的结果较为准确,建立叶型轮廓测点的最近点集,对叶型轮廓测点与设计轮廓测点进行无约束匹配,获得初始位姿,构建基于变公差带约束的目标匹配函数;以无约束匹配中获取的位姿作为初值,求解变公差带约束的叶型匹配最优位姿,由此求解的最优位姿较准确,使得后续航空叶片与设计叶片的匹配结果更真实,进而提高叶片检测的准确率。
(2)本发明分别为前缘点集、后缘点集、叶盆点集和叶背点集设置公差带范围和线性约束,构建目标匹配函数,基于变公差约束的叶型匹配方法,可以针对叶片叶型前缘、后缘、叶盆及叶背的不同要求,进行精确控制,同时也能有效改善等公差约束匹配中存在的滑移等失真问题,提高叶片检测的准确率。
(3)本发明在采样时,计算叶型轮廓测点集中离散点间的曲率和,使得相邻采样间隔k1和k2满足一定关系,进而实现在高曲率区域多采样,低曲率区少采样。
附图说明
图1是本发明实施例提供的一种基于变公差带约束的航空叶片型面检测方法的流程图;
图2是本发明实施例提供的航空叶片叶型曲率分布图;
图3是本发明实施例提供的曲率采样示意图;
图4是本发明实施例提供的拟合后缘的圆。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。此外,下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
如图1所示,一种基于变公差带约束的航空叶片型面检测方法,包括如下步骤:
(1)对航空叶片的叶型轮廓测点集中所有点进行曲率估计,得到曲率分布,基于曲率分布在叶型轮廓测点集中进行降采样,得到采样叶型轮廓测点;
(2)利用采样叶型轮廓测点随机进行拟合圆,实现叶型轮廓分割,得到前缘点集、后缘点集、叶盆点集和叶背点集;
(3)在设计叶片的轮廓测点集中搜索叶型轮廓测点集中每个点的最近点,组成最近点集,利用叶型轮廓测点集和最近点集进行无约束匹配,得到初始位姿,分别为前缘点集、后缘点集、叶盆点集和叶背点集设置公差带范围和线性约束,构建目标匹配函数,将初始位姿作为初始值,求解目标匹配函数,得到最优位姿;
(4)利用最优位姿对航空叶片进行刚体变换,将刚体变换后的航空叶片与设计叶片进行比较,判断航空叶片叶型是否合格。
本发明实例中,航空叶片叶型轮廓测点由包括但不限于三坐标测量机、点激光位移传感器及面阵扫描仪采集,设计叶片的轮廓测点由点、线段、圆弧及样条曲线的坐标信息或控制参数给出。
进一步地,曲率估计的具体实现方式为:
对航空叶片的叶型轮廓测点集中点pi,利用pi及其相邻两点pi-1、pi+1拟合二次曲线,计算二次曲线在pi处的一阶导数y′及二阶导数y″,进而求得pi的曲率
Figure GDA0003236277890000071
取pi-1(xi-1,yi-1),pi(xi,yi),pi+1(xi+1,yi+1)三点拟合二次曲线y=ax2+bx+c,则通过求解矩阵方程AC=y即可求解参数a、b、c,其中
Figure GDA0003236277890000072
随后计算二次曲线在pi处的一阶导数y′=2axi+b及二阶导数y″=2a,进而求得该点的曲率
Figure GDA0003236277890000073
叶片叶型的曲率分布如图2。
进一步地,降采样的具体实现方式为:
计算叶型轮廓测点集中离散点间的曲率和,使得相邻采样间隔k1和k2满足关系
Figure GDA0003236277890000074
κi表示叶型轮廓测点集中第i个点的曲率。如图3所示,pi至pi+k1之间的曲率和与pi+k1至pi+k2之间的曲率和相等。
进一步地,步骤(2)包括:
(21)设置最大拟合次数
Figure GDA0003236277890000075
其中,
Figure GDA0003236277890000076
为组合数,n为采样后轮廓测点的规模,如图4所示,从采样叶型轮廓测点中随机抽取3个点最小二乘拟合圆,随后将其余点代入判断是否位于该圆内,并记录在该圆上的点数量ni,重复进行kmax次拟合,选择其中规模最大的两个圆,即为拟合得到的前缘和后缘,得到前缘的圆心(x,yl)及半径rl,后缘的圆心(xt,yt)及半径rt
(22)利用前缘的圆心及半径在叶型轮廓测点集中搜索前缘点集,利用后缘的圆心及半径在叶型轮廓测点集中搜索后缘点集,进而得到叶盆点集和叶背点集。
进一步地,前缘点集和后缘点集的搜索方法相同,所述搜索方法为:基于前缘的圆心(xl,yl)、半径rl及给定半径误差阈值δr,δr=0.05rl,在叶型轮廓测点集中搜索所有满足rl-δr≤|d|≤rl+δr的点,得到前缘点集,d为前缘的圆心与叶型轮廓测点集中点的距离。
在对设计叶片的轮廓曲线进行均匀离散得到离散点集Q,随后在点集Q上建立kdTree TQ,搜索叶型轮廓测点pi对应的最近点qi,进而得到叶型轮廓测点最近点集Qnear
建立无约束目标匹配函数
Figure GDA0003236277890000081
其中di=Rpi+t-qi是叶型轮廓测点pi到其最近点qi的距离,R是旋转矩阵,t是平移矩阵,对目标匹配函数E(R,t)进行变换可得E(R,t)=mintrace(RC),其中
Figure GDA0003236277890000082
是叶型轮廓测点中心,
Figure GDA0003236277890000083
是最近点集Qnear的中心,对C进行SVD分解,可以求得初始位姿,即无约束匹配的旋转矩阵R0及平移矩阵t0
建立带约束的目标匹配函数
Figure GDA0003236277890000084
Figure GDA0003236277890000085
分别为前缘点集、后缘点集、叶盆点集和叶背点集设置公差带上限
Figure GDA0003236277890000086
与下限
Figure GDA0003236277890000087
j=1、2、3、4,1代表前缘点集,2代表后缘点集,3代表叶盆点集,4代表叶背点集,引入4个范围取值在0-1的变量η1,η2,η3,η4将分段约束转换为线性约束,即
Figure GDA0003236277890000088
Figure GDA0003236277890000089
i=ηjsj,sj为分割叶型轮廓的四个分界点的序号,对于序号为(s1,s2)之间的点,i=η1s12s2,且η12=1,其他分界点之间i的计算方法与之一致,R是旋转矩阵,t是平移矩阵,pi是叶型轮廓测点,qi是pi在设计叶片的轮廓测点集中的最近点,随后基于拉格朗日乘子法,将其转换为无约束的目标匹配函数
Figure GDA0003236277890000091
其中,n为叶型轮廓测点集中点的总数,λ1为第一线性约束g1(R,t)的拉格朗日乘子,λ2是第二线性约束g2(R,t)的拉格朗日乘子。将初始位姿作为无约束的目标匹配函数的初始值,最后求解可得到最优位姿,即最优的刚体平移矩阵R*及t*
本发明方法适用于各种形式的航空叶片叶型的轮廓匹配。
本领域的技术人员容易理解,以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种基于变公差带约束的航空叶片型面检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)对航空叶片的叶型轮廓测点集中所有点进行曲率估计,得到曲率分布,基于曲率分布在叶型轮廓测点集中进行降采样,得到采样叶型轮廓测点;
(2)利用采样叶型轮廓测点随机进行拟合圆,实现叶型轮廓分割,得到前缘点集、后缘点集、叶盆点集和叶背点集;
(3)在设计叶片的轮廓测点集中搜索叶型轮廓测点集中每个点的最近点,组成最近点集,利用叶型轮廓测点集和最近点集进行无约束匹配,得到初始位姿,分别为前缘点集、后缘点集、叶盆点集和叶背点集设置公差带范围和线性约束,构建目标匹配函数,将初始位姿作为初始值,求解目标匹配函数,得到最优位姿;
(4)利用最优位姿对航空叶片进行刚体变换,将刚体变换后的航空叶片与设计叶片进行比较,判断航空叶片叶型是否合格。
2.如权利要求1所述的一种基于变公差带约束的航空叶片型面检测方法,其特征在于,所述曲率估计的具体实现方式为:
对航空叶片的叶型轮廓测点集中点pi,利用pi及其相邻两点pi-1、pi+1拟合二次曲线,计算二次曲线在pi处的一阶导数y′及二阶导数y″,进而求得pi的曲率
Figure FDA0002433506540000011
3.如权利要求1或2所述的一种基于变公差带约束的航空叶片型面检测方法,其特征在于,所述降采样的具体实现方式为:
计算叶型轮廓测点集中离散点间的曲率和,使得相邻采样间隔k1和k2满足关系
Figure FDA0002433506540000012
Ki表示叶型轮廓测点集中第i个点的曲率。
4.如权利要求1或2所述的一种基于变公差带约束的航空叶片型面检测方法,其特征在于,所述步骤(2)包括:
(21)设置最大拟合次数kmax,从采样叶型轮廓测点中随机抽取3个点最小二乘拟合圆,随后将其余点代入判断是否位于该圆内,并记录在该圆上的点数量ni,重复进行kmax次拟合,选择其中规模最大的两个圆,即为拟合得到的前缘和后缘,得到前缘的圆心(xl,yl)及半径rl,后缘的圆心(xt,yt)及半径rt
(22)利用前缘的圆心及半径在叶型轮廓测点集中搜索前缘点集,利用后缘的圆心及半径在叶型轮廓测点集中搜索后缘点集,进而得到叶盆点集和叶背点集。
5.如权利要求4所述的一种基于变公差带约束的航空叶片型面检测方法,其特征在于,所述前缘点集和后缘点集的搜索方法相同,所述搜索方法为:基于前缘的圆心(xl,yl)、半径rl及给定半径误差阈值δr,在叶型轮廓测点集中搜索所有满足rl-δr≤|d|≤rl+δr的点,得到前缘点集,d为前缘的圆心与叶型轮廓测点集中点的距离。
6.如权利要求1或2所述的一种基于变公差带约束的航空叶片型面检测方法,其特征在于,所述目标匹配函数的具体构建方式为:
分别为前缘点集、后缘点集、叶盆点集和叶背点集设置公差带上限
Figure FDA0002433506540000021
与下限
Figure FDA0002433506540000022
1代表前缘点集,2代表后缘点集,3代表叶盆点集,4代表叶背点集,引入4个范围取值在0-1的变量η1,η2,η3,η4将分段约束转换为线性约束,即
Figure FDA0002433506540000023
Figure FDA0002433506540000024
i=ηjsj,sj为分割叶型轮廓的四个分界点的序号,对于序号为(s1,s2)之间的点,i=η1s12s2,且η12=1,其他分界点之间i的计算方法与之一致,R是旋转矩阵,t是平移矩阵,pi是叶型轮廓测点,qi是pi在设计叶片的轮廓测点集中的最近点,进而构建目标匹配函数
Figure FDA0002433506540000031
其中,n为叶型轮廓测点集中点的总数,λ1为第一线性约束g1(R,t)的拉格朗日乘子,λ2是第二线性约束g2(R,t)的拉格朗日乘子。
7.一种基于变公差带约束的航空叶片型面检测系统,其特征在于,包括:
预处理模块,用于对航空叶片的叶型轮廓测点集中所有点进行曲率估计,得到曲率分布,基于曲率分布在叶型轮廓测点集中进行降采样,得到采样叶型轮廓测点;
分割模块,用于利用采样叶型轮廓测点随机进行拟合圆,实现叶型轮廓分割,得到前缘点集、后缘点集、叶盆点集和叶背点集;
函数构建模块,用于在设计叶片的轮廓测点集中搜索叶型轮廓测点集中每个点的最近点,组成最近点集,利用叶型轮廓测点集和最近点集进行无约束匹配,得到初始位姿,分别为前缘点集、后缘点集、叶盆点集和叶背点集设置公差带范围和线性约束,构建目标匹配函数,将初始位姿作为初始值,求解目标匹配函数,得到最优位姿;
检测模块,用于利用最优位姿对航空叶片进行刚体变换,将刚体变换后的航空叶片与设计叶片进行比较,判断航空叶片叶型是否合格。
8.如权利要求7所述的一种基于变公差带约束的航空叶片型面检测系统,其特征在于,所述预处理模块包括:
曲率估计模块,用于对航空叶片的叶型轮廓测点集中点pi,利用pi及其相邻两点pi-1、pi+1拟合二次曲线,计算二次曲线在pi处的一阶导数y′及二阶导数y″,进而求得pi的曲率
Figure FDA0002433506540000032
降采样模块,用于计算叶型轮廓测点集中离散点间的曲率和,使得相邻采样间隔k1和k2满足关系
Figure FDA0002433506540000033
κi表示叶型轮廓测点集中第i个点的曲率。
9.如权利要求7或8所述的一种基于变公差带约束的航空叶片型面检测系统,其特征在于,所述分割模块包括:
拟合模块,用于设置最大拟合次数kmax,从采样叶型轮廓测点中随机抽取3个点最小二乘拟合圆,随后将其余点代入判断是否位于该圆内,并记录在该圆上的点数量ni,重复进行kmax次拟合,选择其中规模最大的两个圆,即为拟合得到的前缘和后缘,得到前缘的圆心(xl,yl)及半径rl,后缘的圆心(xt,yt)及半径rt
搜索模块,用于利用前缘的圆心及半径在叶型轮廓测点集中搜索前缘点集,利用后缘的圆心及半径在叶型轮廓测点集中搜索后缘点集,进而得到叶盆点集和叶背点集。
10.如权利要求7或8所述的一种基于变公差带约束的航空叶片型面检测系统,其特征在于,所述函数构建模块中目标匹配函数的具体构建方式为:
分别为前缘点集、后缘点集、叶盆点集和叶背点集设置公差带上限
Figure FDA0002433506540000041
与下限
Figure FDA0002433506540000042
1代表前缘点集,2代表后缘点集,3代表叶盆点集,4代表叶背点集,引入4个范围取值在0-1的变量η1,η2,η3,η4将分段约束转换为线性约束,即
Figure FDA0002433506540000043
Figure FDA0002433506540000044
i=ηjsj,sj为分割叶型轮廓的四个分界点的序号,对于序号为(s1,s2)之间的点,i=η1s12s2,且η12=1,其他分界点之间i的计算方法与之一致,R是旋转矩阵,t是平移矩阵,pi是叶型轮廓测点,qi是pi在设计叶片的轮廓测点集中的最近点,进而构建目标匹配函数
Figure FDA0002433506540000045
其中,n为叶型轮廓测点集中点的总数,λ1为第一线性约束g1(R,t)的拉格朗日乘子,λ2是第二线性约束g2(R,t)的拉格朗日乘子。
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Granted publication date: 20211102

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