CN111375558B - 一种耐压测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种耐压测试装置,包括均倾斜设置的放料单元、集料单元、初测单元和收料架,所述放料单元用于对产品计数,并将产品输送至集料单元,所述集料单元用于对产品收集和计数,并将产品输送至初测单元,所述初测单元用于对产品检测,并将检测合格的产品输送至收料架。本发明采用机械代替人工,提高效率,减少漏测误测风险,提高产品质量。
Description
技术领域
本发明涉及耐压机领域,具体地说涉及一种耐压测试装置。
背景技术
现有技术中,只有耐压测试机(仪)手动测试或程序控制对扁平式半导体器件进行耐压测试,没有对该产品量身定做机械自动化测试流水线机台。
中国专利授权公告号CN205229397U公开了一种桥堆产品耐压绝缘测试机,包括测试机壳体,所述高压测试机的右侧通过导线连接有高压测试台,所述高压测试台包括高压测试区,所述高压测试区内卡接有定位盘,且定位盘上安装有桥堆整流器,所述桥堆整流器上方通过第一连接座连接有测试针,且第一连接座通过对称耐压绝缘测试机通过用导线连接高压测试机和高压测试台,使得桥堆产品可以在高压测试机和高压测试台的共同作用下得到桥堆产品的耐压和绝缘的参数,实现对桥堆产品的耐压和绝缘的测试。
但是该专利在使用过程中仍然存在缺陷:(1)需要工人手动测试,不仅效率低,并且还有漏测;(2)人工手动放置产品存在安全风险,测试采用测试针使用寿命低,易磨损造成接触不良、测试数据不真实。
发明内容
本发明的目的在于解决现有技术中存在的上述问题,提供一种耐压测试装置。本发明采用机械代替人工,提高效率,减少漏测误测风险,提高产品质量。
为实现上述目的,本发明采用的技术方案如下:
一种耐压测试装置,其特征在于:包括均倾斜设置的放料单元、集料单元、初测单元和收料单元,所述放料单元用于对产品计数,并将产品输送至集料单元,所述集料单元用于对产品收集和计数,并将产品输送至初测单元,所述初测单元用于对产品检测,并将检测合格的产品输送至收料单元。
所述初测单元包括倾斜设置的测试轨道、测试机构一和测试机构二,所述测试轨道的进料端与集料单元的出料端连接,测试轨道的出料端与收料单元连接,所述测试机构一固定在测试轨道上方,所述测试机构二固定在测试机构一侧,所述测试耐压机构一与测试耐压机构二配合测试产品。
所述测试机构一包括测试气缸、测试块和测试装板,所述测试气缸固定在测试轨道的上方,所述测试装板上端与测试气缸的活塞杆固定连接,测试装板的下端与测试块固定连接,所述测试块与耐压测试机连接;所述测试机构二包括气缸、连接块、测试弹片和压紧条,所述连接块设置在测试机构一侧,所述连接块的顶面和底面均固定有用于测试产品的测试弹片,所述测试弹片的上下两侧均设置压紧条,所述压紧条用于带动测试弹片压紧产品引脚,所述压紧条两端均与气缸固定连接;所述测试块和测试弹片配合测试产品。
所述测试块包括上连接块、下导电块和绝缘快,所述上连接块一侧通过导向杆与测试装板固定连接,上连接块另一侧通过绝缘块与下导电块固定连接,所述下导电块与耐压测试机连接。
所述测试轨道上设置有定位机构,所述定位机构固定在测试轨道的出料端。
所述定位机构包括定位孔和定位气缸,所述定位孔开设在测试轨道上,所述测试轨道下表面固定连接定位气缸,所述定位气缸与定位孔配合对产品定位。
所述放料单元包括倾斜设置的分料轨道、倾斜设置的放料架和分料机构,所述分料轨道的进料端与放料架的出料口连接,分料轨道的出料端与集料单元的进料端连接,所述分料轨道的上端和下端均设置有分料机构,所述的两个分料机构配合控制产品数量。
所述分料机构包括分料传感器、分料气缸和上分料孔,所述分料传感器设置一组,分别位于分料轨道的两侧,所述分料孔设置在分料轨道上,所述分料气缸固定在分料轨道上,且分料气缸的活塞杆在分料孔内伸缩。
所述放料架包括夹持件和用于放置产品的料管,所述夹持件对称设置两根,所述料管放置在对称设置的夹持件之间。
所述放料单元还包括退料机构。
所述退料机构包括退料气缸、滑块、退料杆和滑轨,所述退料气缸与退料杆的中部固定连接,所述退料杆的两端通过滑块与滑轨固定连接,所述退料杆设置在放料架的底部且位于滑轨上方用于推送最底层的料管。
所述集料单元包括倾斜设置的旋转轨道、倾斜设置的集料轨道和集料机构,所述旋转轨道的进料端与分料轨道的出料端连接,旋转轨道的出料端与集料轨道的进料端连接,所述集料轨道的出料端与测试单元的进料端连接,所述集料轨道的上端和下端均固定连接集料机构,所述的两个集料机构配合控制产品数量。
所述集料机构包括集料传感器、集料气缸和集料孔,所述集料传感器设置一组,分别位于集料轨道的两侧,所述集料孔设置在集料轨道上,所述集料气缸与集料轨道固定,且所述上集料气缸的活塞杆在上集料孔内伸缩。
所述的耐压测试装置还包括均倾斜设置的复测单元、单只收料单元、收料轨道和单只分料轨道,所述单只分料轨道的进料端用于接收初测单元测试不合格的产品,并将单只产品输送至复测单元,所述复测单元对单只产品测试,并将产品输送至收料轨道,所述收料轨道将合格的产品输送至单只收料单元。
所述收料轨道的进料端与复测单元的出料端连接,所述收料轨道的出料端与单只收料单元连接,所述收料轨道的中部的一侧开设有废品出口,另一侧对应废品出口设置有推料气缸。
所述的多耐压测试机还包括分离轨道,所述分离轨道滑动设置,初始位置时,所述分离轨道的进料端与测试轨道的出料端连接,分离轨道的出料端与收料单元连接;多只产品检测不合格时,分离轨道出料端与单只测试线连接。
采用本发明的优点在于:
一、本发明采用机械代替人工,提高效率,减少漏测误测风险,提高产品质量。
二、本发明中的放料单元、集料单元、初测单元和收料单元均采用倾斜设置,这样能够保证产品在自身重力的作用下滑动。
二、本发明中,设置退料机构能够自动将无料的料管自动推出放料架,不仅退料效率高,而且还节约人工,降低了生产成本。
三、本发明中设置旋转轨道间产品的方向转动180度,既保证了产品能够进行测试,同时也保证了测试完成后进入料管的产品符合正反装管的标准。
四、本发明中设置的初测单元实现了产品的自动检测,达到了快速测试产品的效果,且不会出现漏测和错测的现象,提高了测试效率。
五、本发明中设置的分离轨道,在初测单元检测产品合格时将产品输送至收料单元,不合格时将产品输送至复测单元,实现了产品不合格的复测,增加了产品的合格率。
六、本发明中设置的绝缘块,绝缘块起到隔绝下导电块的作用,提高了测试单元的安全性。
七、本发明设置定位机构且定位机构固定在测试轨道的进料端,能够对进入测试轨道的产品起到定位的作用,使上导电块和测试弹片能够精准的对产品进行测试,同时避免未经测试的产品滑出测试轨道。
附图说明
图1为本发明的平面示意图;
图2为本发明的正视图;
图3为本发明第一部分平面示意图;
图4为本发明第二部分平面示意图;
图5为本发明第三部分平面示意图;
图6为测试单元的机构示意图;
图7为图6的正视图;
图8为图6的右视图;
图中标号为:1、放料架,2、滑轨,3、滑块,4、退料气缸,5、推杆,6、料管一,7、分料传感器,8、分料气缸,9、分料轨道,10、旋转电机,11、旋转轨道,12、集料轨道,13、集料传感器,14、集料气缸,15、测试轨道,16、气缸,17、连接块,18、测试弹片,19、压紧条,20、分离轨道,21、分离气缸,22、单只分料轨道,23、推料气缸,24、收料轨道,25、废品框,26、料管盒,27、单只收料单元,28、测试气缸,29、测试装板,30、产品, 31、合格产品料管盒,32、放料单元,33、集料单元,34、初测单元,35、收料单元,36、绝缘块,37、上连接块,38、下导电块,39、气缸连接块, 40、导向轴,41、气缸固定板,42、连接板,43、滑动板一,44、滑动板二。
具体实施方式
实施例1
一种耐压测试装置,包括均倾斜设置的放料单元32、集料单元33、初测单元34和收料单元35,所述放料单元32用于对产品30计数,并将产品30输送至集料单元33,所述集料单元33用于对产品30收集和计数,并将产品30输送至初测单元34,所述初测单元34用于对产品30检测,并将检测合格的产品30输送至收料单元35。
所述初测单元34包括倾斜设置的测试轨道15、测试机构一和测试机构二,所述测试轨道15的进料端与集料单元33的出料端连接,测试轨道15的出料端与收料单元35连接,所述测试机构一固定在测试轨道15上方,所述测试机构二固定在测试轨道15一侧,所述测试耐压机构一与测试耐压机构二配合测试产品30。
所述测试机构一包括测试气缸28、测试块、测试装板29和绝缘快,所述测试气缸28固定在测试轨道15的上方,所述测试装板29上端与测试气缸28的活塞杆固定连接,测试装板29的下端与测试块固定连接,所述测试块与耐压测试机连接;所述测试机构二包括气缸16、连接块17、测试弹片18和压紧条19,所述连接块17设置在测试轨道15一侧,所述连接块17的顶面和底面均固定有用于测试产品30的测试弹片18,所述测试弹片18的上下两侧均设置压紧条19,所述压紧条19用于带动测试弹片18压紧产品30引脚,所述压紧条19两端均与气缸16固定连接;所述测试块和测试弹片18配合测试产品30。
所述的气缸16为手指气缸。
所述测试块包括上连接块37、下导电块38和绝缘快,所述上连接块37一侧通过导向杆与测试装板29固定连接,上连接块37另一侧通过绝缘块3636与下导电块38固定连接,所述下导电块38与耐压测试机连接。
所述测试轨道15上设置有定位机构,所述定位机构固定在测试轨道15的进料端。
所述定位机构包括定位孔和定位气缸,所述定位孔开设在测试轨道15上,所述测试轨道15下表面固定连接定位气缸,所述定位气缸与定位孔配合对产品定位。
所述放料单元32包括倾斜设置的分料轨道9、倾斜设置的放料架1和分料机构,所述分料轨道9的进料端与放料架1的出料口连接,分料轨道9的出料端与集料单元33的进料端连接,所述分料轨道9的上端和下端均设置有分料机构,所述的两个分料机构配合控制产品30数量。
所述分料机构包括分料传感器7、分料气缸8和上分料孔,所述分料传感器7设置一组,分别位于分料轨道9的两侧,所述分料孔设置在分料轨道9上,所述分料气缸8固定在分料轨道9上,且分料气缸8的活塞杆在分料孔内伸缩。
所述放料架1包括夹持件和用于放置产品30的料管,所述夹持件对称设置两根,所述料管放置在对称设置的夹持件之间。
所述放料单元32还包括退料机构。
所述退料机构包括退料气缸4、滑块3、退料杆和滑轨2,所述退料气缸4与退料杆的中部固定连接,所述退料杆的两端通过滑块3与滑轨2固定连接,所述退料杆设置在放料架1的底部且位于滑轨2上方用于推送最底层的料管。
所述集料单元33包括倾斜设置的旋转轨道11、倾斜设置的集料轨道12和集料机构,所述旋转轨道11的进料端与分料轨道9的出料端连接,旋转轨道11的出料端与集料轨道12的进料端连接,所述集料轨道12的出料端与测试单元的进料端连接,所述集料轨道12的上端和下端均固定连接集料机构,所述的两个集料机构配合控制产品30数量。
所述集料机构包括集料传感器13、集料气缸14和集料孔,所述集料传感器13设置一组,分别位于集料轨道12的两侧,所述集料孔设置在集料轨道12上,所述集料气缸14与集料轨道12固定,且所述上集料气缸14的活塞杆在上集料孔内伸缩。
实施例2
一种耐压测试装置,其特征在于包括均倾斜设置的放料单元32、集料单元33、初测单元34和收料单元35,所述放料单元32用于对产品30计数,并将产品30输送至集料单元33,所述集料单元33用于对产品30收集和计数,并将产品30输送至初测单元34,所述初测单元34用于对产品30检测,并将检测合格的产品30输送至收料单元35。
所述初测单元34包括倾斜设置的测试轨道15、测试机构一和测试机构二测试轨道15的出料端与收料单元35连接,所述测试轨道15一和测试轨道15二均与耐压测试机连接,所述测试机构一固定在测试轨道15上方,所述测试机构二固定在测试轨道15一侧,所述测试耐压机构一与测试耐压机构二配合测试产品30。
所述测试机构一包括测试气缸28、测试块、测试装板29和绝缘快,所述测试气缸28固定在测试轨道15的上方,所述测试装板29上端与测试气缸28的活塞杆固定连接,测试装板29的下端与测试块固定连接,所述测试块与耐压测试机连接;所述测试机构二包括气缸16、连接块17、测试弹片18和压紧条19,所述连接块17设置在测试轨道15一侧,所述连接块17的顶面和底面均固定有用于测试产品30的测试弹片18,所述测试弹片18的上下两侧均设置压紧条19,所述压紧条19用于带动测试弹片18压紧产品30引脚,所述压紧条19两端均与气缸16固定连接;所述测试块和测试弹片18配合测试产品30。
所述测试块包括上连接块37、下导电块38和绝缘快,所述上连接块37一侧通过导向杆与测试装板29固定连接,上连接块37另一侧通过绝缘块3636与下导电块38固定连接,所述下导电块38与耐压测试机连接。
所述初测单元34至少设置两个测试块,所述复测单元设置一个测试块。
所述测试轨道15上设置有定位机构,所述定位机构固定在测试轨道15的进料端。
所述定位机构包括定位孔和定位气缸,所述定位孔开设在测试轨道15上,所述测试轨道15下表面固定连接定位气缸,所述定位气缸与定位孔配合对产品定位。
所述放料单元32包括倾斜设置的分料轨道9、倾斜设置的放料架1和分料机构,所述分料轨道9的进料端与放料架1的出料口连接,分料轨道9的出料端与集料单元33的进料端连接,所述分料轨道9的上端和下端均设置有分料机构,所述的两个分料机构配合控制产品30数量。
所述分料机构包括分料传感器7、分料气缸8和上分料孔,所述分料传感器7设置一组,分别位于分料轨道9的两侧,所述分料孔设置在分料轨道9上,所述分料气缸8固定在分料轨道9上,且分料气缸8的活塞杆在分料孔内伸缩。
所述放料架1包括夹持件和用于放置产品30的料管,所述夹持件对称设置两根,所述料管放置在对称设置的夹持件之间。
所述放料单元32还包括退料机构。
所述退料机构包括退料气缸4、滑块3、退料杆和滑轨2,所述退料气缸4与退料杆的中部固定连接,所述退料杆的两端通过滑块3与滑轨2固定连接,所述退料杆设置在放料架1的底部且位于滑轨2上方用于推送最底层的料管。
所述集料单元33包括倾斜设置的旋转轨道11、倾斜设置的集料轨道12和集料机构,所述旋转轨道11的进料端与分料轨道9的出料端连接,旋转轨道11的出料端与集料轨道12的进料端连接,所述集料轨道12的出料端与测试单元的进料端连接,所述集料轨道12的上端和下端均固定连接集料机构,所述的两个集料机构配合控制产品30数量。
所述集料机构包括集料传感器13、集料气缸14和集料孔,所述集料传感器13设置一组,分别位于集料轨道12的两侧,所述集料孔设置在集料轨道12上,所述集料气缸14与集料轨道12固定,且所述上集料气缸14的活塞杆在上集料孔内伸缩。
所述的耐压测试装置还包括均倾斜设置的复测单元、单只收料单元27、收料轨道24和单只分料轨道22,所述单只分料轨道22的进料端用于接收初测单元34测试不合格的产品30,并将单只产品30输送至复测单元,所述复测单元对单只产品30测试,并将产品30输送至收料轨道24,所述收料轨道24将合格的产品30输送至单只收料单元27。
所述收料轨道24的进料端与复测单元的出料端连接,所述收料轨道24的出料端与单只收料单元连接,所述收料轨道24的中部的一侧开设有废品出口,另一侧对应废品出口设置有推料气缸23。
所述的多耐压测试机还包括分离轨道20,所述分离轨道20滑动设置,初始位置时,所述分离轨道20的进料端与测试轨道15的出料端连接,分离轨道20的出料端与收料单元35连接;多只产品30检测不合格时,分离轨道20出料端与单只测试线连接。
所述复测单元与初测单元结构相同,所述测试块设置一个,且使用单独的测试耐压机。
实施例3
一种耐压测试装置,包括机体,所述机体内设置PLC控制器,PLC控制器可以为三菱FX3U-64MT AC220V,所述机体上设置倾斜的台面,所述倾斜台面上从上到下依次设置有放料单元32、集料单元33、初测单元34和收料单元35,所述放料单元32用于对产品30计数,并将产品30输送至集料单元33,所述集料单元33用于对产品30收集和计数,并将产品30输送至初测单元34,所述初测单元34用于对产品30检测,并将检测合格的产品30输送至收料单元35。
所述初测单元34包括倾斜设置的测试轨道15、测试机构一和测试机构二,所述测试轨道15的进料端与集料单元33的出料端连接,测试轨道15的出料端与收料单元35连接,所述耐压测试机固定在机体的一侧,测试耐压机与PLC控制器连接,所述测试机构一固定在测试轨道15上方,所述测试机构二固定在测试轨道15一侧,所述测试耐压机构一与测试耐压机构二配合测试产品30。
所述测试机构一包括测试气缸28、测试块和测试装板29,所述测试轨道15的一侧固定连接气缸固定板41,所述气缸固定板41固定在机体上,所述测试气缸28固定在气缸固定板41上,所述气缸固定板41上设置有连接板42,所述连接板42上设置有导槽,所述连接板42上固定连接有滑动板一43,所述滑动板一43上设置有滑动连接条,所述滑动连接条滑动设置在导槽内,所述滑动板一43固定连接滑动板二44,所述滑动板二44固定连接测试装板29,所述测试气缸28固定连接气缸连接块39,所述气缸连接块39固定连接测试装板29,所述测试装板29的通过导向轴40与测试块固定连接,所述测试块与耐压测试机连接;所述测试机构二包括气缸16、连接块17、测试弹片18和压紧条19,所述连接块17设置在测试轨道15一侧,所述连接块17的顶面和底面均固定有用于测试产品30的测试弹片18,所述测试弹片18的上下两侧均设置压紧条19,所述压紧条19用于带动测试弹片18压紧产品30引脚,所述压紧条19两端均与气缸16固定连接;所述测试块和测试弹片18均与测试耐压机连接,测试耐压机连接PLC控制器,所述测试耐压机通过测试块和测试弹片18配合测试产品30,测试块与测试弹片18对产品30同时进行正负极测试,测试耐压机将测试结果传递给PLC控制器。
所述耐压测试机的型号为凯牌9850A。
所述测试块包括上连接块37、下导电块38和绝缘快,所述上连接块37一侧通过导向杆与测试装板29固定连接,上连接块37另一侧通过绝缘块36与下导电块38固定连接,所述下导电块38与耐压测试机连接。
所述的上连接块37和下导电块38均为L型,产品到达测试站后,PLC控制器驱动手指气缸带动压紧条19压缩测试弹片18夹住产品引脚,PLC控制器在驱动手指气缸时同时驱动测试气缸28带动测试装板29和测试块下压压住产品进行测试。
所述测试块设置6个,均固定连接在测试装扮上,所述下导电快之间电性连接。
所述测试轨道15上设置有定位机构,所述定位机构固定在测试轨道15的进料端。
所述定位机构包括定位孔和定位气缸,所述定位孔开设在测试轨道15上,所述测试轨道15下表面固定连接定位气缸,所述定位气缸与定位孔配合对产品定位。
所述放料单元32包括倾斜设置的分料轨道9、倾斜设置的放料架1和分料机构,所述分料轨道9的进料端与放料架1的出料口连接,分料轨道9的出料端与集料单元33的进料端连接,所述分料轨道9的上端和下端均设置有分料机构,所述的两个分料机构配合控制产品30数量。
所述分料机构包括分料传感器7、分料气缸8和上分料孔,所述分料传感器7设置一组,分别位于分料轨道9的两侧,所述分料孔设置在分料轨道9上,所述分料气缸8固定在分料轨道9上,且分料气缸8的活塞杆在分料孔内伸缩,所述分料传感器7、分料气缸8均与PLC控制器连接。
所述的两个分料机构的分料孔的距离等于2个产品30直线排列的长度总和。
所述放料架1包括夹持件和用于放置产品30的料管,所述夹持件对称设置两根,所述料管放置在对称设置的夹持件之间。
所述放料单元32还包括退料机构。
所述退料机构包括退料气缸4、滑块3、退料杆和滑轨2,所述退料气缸4与退料杆的中部固定连接,所述退料杆的两端通过滑块3与滑轨2固定连接,所述退料杆设置在放料架1的底部且位于滑轨2上方用于推送最底层的料管。
所述放料架1的一侧还设置有料管盒26,退料机构将无料的料管推出放料架1,无料的料管落入料管盒26内。
所述集料单元33包括倾斜设置的旋转轨道11、倾斜设置的集料轨道12和集料机构,所述旋转轨道11的进料端与分料轨道9的出料端连接,旋转轨道11的出料端与集料轨道12的进料端连接,所述集料轨道12的出料端与测试单元的进料端连接,所述集料轨道12的上端和下端均固定连接集料机构,所述的两个集料机构配合控制产品30数量。
所述集料机构包括集料传感器13、集料气缸14和集料孔,所述集料传感器13设置一组,分别位于集料轨道12的两侧,所述集料孔设置在集料轨道12上,所述集料气缸14与集料轨道12固定,且所述上集料气缸14的活塞杆在上集料孔内伸缩,所述集料传感器13和集料气缸14均与PLC控制器连接。
所述的两个集料孔之间的距离等于6个产品30直线排列的的长度总和。
所述的耐压测试装置还包括均倾斜设置的复测单元、单只收料单元27、收料轨道24和单只分料轨道22,所述单只分料轨道22的进料端用于接收初测单元34测试不合格的产品30,并将单只产品30输送至复测单元,所述复测单元对单只产品30测试,并将产品30输送至收料轨道24,所述收料轨道24将合格的产品30输送至单只收料单元27。
所述收料单元35和单只收料单元27均包括收料架,所述收料架包括夹持件和用于收集合格产品30产品30的料管,所述夹持件对称固定在在机体上,所述料管放置在对称固定设置的夹持件之间。
所述的夹持件中间设置有用于夹持料管的凹槽,位于出料端的夹持件上设置有出料口。
所述收料单元35和单只收料单元27还包括退料机构。
所述退料机构包括退料气缸4、滑块3、退料杆和滑轨2,所述退料气缸4与退料杆的中部固定连接,所述退料杆的两端通过滑块3与滑轨2固定连接,所述退料杆设置在放料架1的底部且位于滑轨2上方用于推送最底层的料管。
所述夹持件的底部还设置有料管出口,所述退料机构的退料杆将料管从料管出料口推出。
所述收料架的一侧还设置有合格产品料管盒 31,,退料机构将无料的料管推出放料架1,无料的料管落入料管盒26内。
所述收料轨道24的进料端与复测单元的出料端连接,所述收料轨道24的出料端与单只收料单元连接,所述收料轨道24的中部的一侧开设有废品出口,另一侧对应废品出口设置有推料气缸23。
所述废品出口设置有废品框25,复测单元测试单只产品30不和格时耐压测试将信号传递给PLC控制器,PLC控制器控制推料气缸23推出不合格产品30。
所述复测单元与初测单元34的结构相同,复测单元一次只测试一个产品30,复测单元只连接一个测试块。
所述的多耐压测试机还包括分离轨道20,所述分离轨道20滑动设置,初始位置时,所述分离轨道20的进料端与测试轨道15的出料端连接,分离轨道20的出料端与收料单元35连接;多只产品30检测不合格时,分离轨道20出料端与单只测试线连接。
所述机体上设置轨道,所述分离轨道20通过滑动块连接在机体上,所述轨道和滑动块的共同作用下能够对分离轨道20起到导向定位的作用。
所述分离轨道20连接分离气缸21。
所述退料气缸4、分料气缸8、旋转电机10、集料气缸14、气缸16、分离气缸21、推料气缸23、测试气缸28均由PLC控制器控制。
所述分料传感器7、集料传感器13均与PLC控制器电性连接。
具体实施过程:
(1)人工将装满产品30的料管放置在放料架1上,产品30滑至分料轨道9;
(2)分料轨道9上的分料传感器7检测到信号将信号传递给PLC控制器,PLC控制器控制分料气缸8,控制每组产品30数量为2个;
(3)每2个产品30滑至旋转轨道11,旋转轨道11在旋转气缸16的作用下旋转180º,旋转轨道11上的产品30滑至集料轨道12,旋转轨道11的另一端同时接收分料轨道9上滑下的产品30;
(4)集料轨道12上的集料传感器13检测到信号将信号传递给PLC控制器,PLC控制器控制集料气缸14,控制每组产品30数量为6个;
(6)每6个产品30滑至初测单元34,定位气缸活塞杆伸长挡住6个产品30,PLC控制器驱动测试气缸28带动测试装板29和测试块向下移动压紧产品30;PLC控制器驱动手指气缸动作带动压紧条19,压紧条19压紧测试弹片18上下夹住产品30引脚,与测试块形成正负极测试回路,同时PLC控制器反馈信号给耐压测试机开始测试;
(7)测试完成后测试耐压机反馈信号给PLC控制器,PLC控制器控制测试气缸28和气缸16复位,定位气缸复位:
若产品30测试合格,分离轨道20不动作,合格的产品30通过分离轨道20进入收料架内的料管;
若产品30不合格,PLC控制器控制分离气缸21带动分离轨道20运动,分离轨道20的出料端与单只分料轨道22连接,产品30进入单只分离轨道20;
(8)单只分离轨道20将产品30的数量控制为1个;
(9)复测单元单只检测产品30;
(10)单只检测合格的产品30通过收料轨道24滑至单只收料单元27;
单只检测不合格的产品30滑至收料轨道24,PLC控制器控制推料气缸23将不合格产品30推出。
实施例4
在实施例3的基础上,设置了两组放料单元32、集料单元33、初测单元34和收料单元35,该两组单元在机体上对称设置,且两组单元的初测单元34的出料端均通过分离轨道20与单只分离轨道20连接。同时进行多只产品30测试,能够增加测试效率,提高复测单元的使用率。
实施例5
一种耐压测试装置,其特征在于包括均倾斜设置的放料单元32、集料单元33、初测单元34和收料单元35,所述放料单元32用于对扁平式半导体器件计数,并将扁平式半导体器件输送至集料单元33,所述集料单元33用于对扁平式半导体器件收集和计数,并将扁平式半导体器件输送至初测单元34,所述初测单元34用于对扁平式半导体器件检测,并将检测合格的扁平式半导体器件输送至收料单元35。
所述初测单元34包括倾斜设置的测试轨道15、测试机构一和测试机构二测试轨道15的出料端与收料单元35连接,所述测试轨道15一和测试轨道15二均与耐压测试机连接,所述测试机构一固定在测试轨道15上方,所述测试机构二固定在测试轨道15一侧,所述测试耐压机构一与测试耐压机构二配合测试扁平式半导体器件。
所述测试机构一包括测试气缸28、测试块、测试装板29和绝缘快,所述测试气缸28固定在测试轨道15的上方,所述测试装板29上端与测试气缸28的活塞杆固定连接,测试装板29的下端与测试块固定连接,所述测试块与耐压测试机连接;所述测试机构二包括气缸16、连接块17、测试弹片18和压紧条19,所述连接块17设置在测试轨道15一侧,所述连接块17的顶面和底面均固定有用于测试扁平式半导体器件的测试弹片18,所述测试弹片18的上下两侧均设置压紧条19,所述压紧条19用于带动测试弹片18压紧扁平式半导体器件引脚,所述压紧条19两端均与气缸16固定连接;所述测试块和测试弹片18配合测试扁平式半导体器件。
所述测试块包括上连接块37、下导电块38和绝缘快,所述上连接块37一侧通过导向杆与测试装板29固定连接,上连接块37另一侧通过绝缘块3636与下导电块38固定连接,所述下导电块38与耐压测试机连接。
所述初测单元34至少设置两个测试块,所述复测单元设置一个测试块。
所述测试轨道15上设置有定位机构,所述定位机构固定在测试轨道15的进料端。
所述定位机构包括定位孔和定位气缸,所述定位孔开设在测试轨道15上,所述测试轨道15下表面固定连接定位气缸,所述定位气缸与定位孔配合对产品定位。
所述放料单元32包括倾斜设置的分料轨道9、倾斜设置的放料架1和分料机构,所述分料轨道9的进料端与放料架1的出料口连接,分料轨道9的出料端与集料单元33的进料端连接,所述分料轨道9的上端和下端均设置有分料机构,所述的两个分料机构配合控制扁平式半导体器件数量。
所述分料机构包括分料传感器7、分料气缸8和上分料孔,所述分料传感器7设置一组,分别位于分料轨道9的两侧,所述分料孔设置在分料轨道9上,所述分料气缸8固定在分料轨道9上,且分料气缸8的活塞杆在分料孔内伸缩。
所述放料架1包括夹持件和用于放置扁平式半导体器件的料管,所述夹持件对称设置两根,所述料管放置在对称设置的夹持件之间。
所述放料单元32还包括退料机构。
所述退料机构包括退料气缸4、滑块3、退料杆和滑轨2,所述退料气缸4与退料杆的中部固定连接,所述退料杆的两端通过滑块3与滑轨2固定连接,所述退料杆设置在放料架1的底部且位于滑轨2上方用于推送最底层的料管。
所述集料单元33包括倾斜设置的旋转轨道11、倾斜设置的集料轨道12和集料机构,所述旋转轨道11的进料端与分料轨道9的出料端连接,旋转轨道11的出料端与集料轨道12的进料端连接,所述集料轨道12的出料端与测试单元的进料端连接,所述集料轨道12的上端和下端均固定连接集料机构,所述的两个集料机构配合控制扁平式半导体器件数量。
所述集料机构包括集料传感器13、集料气缸14和集料孔,所述集料传感器13设置一组,分别位于集料轨道12的两侧,所述集料孔设置在集料轨道12上,所述集料气缸14与集料轨道12固定,且所述上集料气缸14的活塞杆在上集料孔内伸缩。
所述的耐压测试装置还包括均倾斜设置的复测单元、单只收料单元27、收料轨道24和单只分料轨道22,所述单只分料轨道22的进料端用于接收初测单元34测试不合格的扁平式半导体器件,并将单只扁平式半导体器件输送至复测单元,所述复测单元对单只扁平式半导体器件测试,并将扁平式半导体器件输送至收料轨道24,所述收料轨道24将合格的扁平式半导体器件输送至单只收料单元27。
所述收料轨道24的进料端与复测单元的出料端连接,所述收料轨道24的出料端与单只收料单元连接,所述收料轨道24的中部的一侧开设有废品出口,另一侧对应废品出口设置有推料气缸23。
所述的多耐压测试机还包括分离轨道20,所述分离轨道20滑动设置,初始位置时,所述分离轨道20的进料端与测试轨道15的出料端连接,分离轨道20的出料端与收料单元35连接;多只扁平式半导体器件检测不合格时,分离轨道20出料端与单只测试线连接。
所述复测单元与初测单元结构相同,所述测试块设置一个,且使用单独的测试耐压机。
Claims (5)
1.一种耐压测试装置,其特征在于:包括均倾斜设置的放料单元(32)、集料单元(33)、初测单元(34)和收料架,所述放料单元(32)用于对产品(30)计数,并将产品(30)输送至集料单元(33),所述集料单元(33)用于对产品(30)收集和计数,并将产品(30)输送至初测单元(34),所述初测单元(34)用于对产品(30)检测,并将检测合格的产品(30)输送至收料架;
所述放料单元(32)包括倾斜设置的分料轨道(9)、倾斜设置的放料架(1)和分料机构,所述分料轨道(9)的进料端与放料架(1)的出料口连接,分料轨道(9)的出料端与集料单元(33)的进料端连接,所述分料轨道(9)的上端和下端均设置有分料机构,两个所述的分料机构配合控制产品数量;
所述集料单元(33)包括倾斜设置的旋转轨道(11)、倾斜设置的集料轨道(12)和集料机构,所述旋转轨道(11)的进料端与分料轨道(9)的出料端连接,旋转轨道(11)的出料端与集料轨道(12)的进料端连接,所述集料轨道(12)的出料端与初测单元(34)的进料端连接,所述集料轨道(12)的上端和下端均固定连接集料机构,两个所述的集料机构配合控制产品数量;
所述的耐压测试装置还包括均倾斜设置的复测单元、单只收料单元(27)、收料轨道(24)和单只分料轨道(22),所述单只分料轨道(22)的进料端用于接收初测单元(34)测试不合格的产品(30),并将单只产品(30)输送至复测单元,所述复测单元对单只产品(30)测试,并将复测后的产品(30)输送至收料轨道(24),所述收料轨道(24)将复测后合格的产品(30)输送至单只收料单元(27);
所述初测单元(34)包括倾斜设置的测试轨道(15)、测试机构一和测试机构二,所述测试轨道(15)的进料端与集料单元(33)的出料端连接,测试轨道(15)的出料端与收料架连接,所述测试机构一固定在测试轨道(15)上方,所述测试机构二固定在测试轨道(15)的水平方向一侧,所述测试机构一与测试机构二配合测试产品(30);
所述测试机构一包括测试气缸(28)、测试块和测试装板(29),所述测试气缸(28)固定在测试轨道(15)的上方,所述测试装板(29)上端与测试气缸(28)的活塞杆固定连接,测试装板(29)的下端与测试块固定连接;所述测试块用于测试产品(30),包括上连接块(37)、下导电块(38)和绝缘块,所述上连接块(37)的一侧通过导向杆与测试装板(29)固定连接,上连接块(37)的另一侧通过绝缘块与下导电块(38)固定连接,所述下导电块(38)与耐压测试机连接;所述测试机构二包括气缸(16)、连接块(17)、测试弹片(18)和压紧条(19),所述连接块(17)设置在测试轨道(15)一侧,所述连接块(17)的顶面和底面均固定有用于测试产品(30)的测试弹片(18),所述测试弹片(18)的上下两侧均设置压紧条(19),所述压紧条(19)用于带动测试弹片(18)压紧产品(30)引脚,所述压紧条(19)两端均与气缸(16)固定连接;所述测试块和测试弹片(18)配合测试产品(30)。
2.如权利要求1所述的一种耐压测试装置,其特征在于:所述集料机构包括集料传感器(13)、集料气缸(14)和集料孔,所述集料传感器(13)设置一组,分别位于集料轨道(12)的两侧,所述集料孔设置在集料轨道(12)上,所述集料气缸(14)固定在集料轨道(12)上,且集料气缸(14)的活塞杆在集料孔内伸缩。
3.如权利要求1所述的一种耐压测试装置,其特征在于:所述放料架(1)包括夹持件和用于放置产品(30)的料管,所述夹持件对称设置两根,所述料管放置在对称设置的夹持件之间。
4.如权利要求1所述的一种耐压测试装置,其特征在于:所述放料单元(32)还包括退料机构。
5.如权利要求1所述的一种耐压测试装置,其特征在于:所述收料轨道(24)的进料端与复测单元的出料端连接,所述收料轨道(24)的出料端与单只收料单元(27)连接,所述收料轨道(24)的中部的一侧开设有废品出口,另一侧对应废品出口设置有推料气缸(23)。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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