CN111273198A - 一种sim检测卡以及检测sim卡座瞬断的方法 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种SIM检测卡以及检测SIM卡座瞬断的方法，方法包括：在SIM检测卡被放置在SIM卡座的情况下，向第一输入触点提供第一测试电压，其中，所述第一输入触点为所述SIM卡座中的触点，所述SIM卡座中的触点与所述SIM检测卡中的引脚存在一一对应关系；在第一输出触点采集第一输出电压，其中，所述第一输出触点为所述SIM卡座中的触点，所述第一输入触点经过相互连接的第一引脚和第二引脚连接所述第一输出触点；在所述第一测试电压的波形和所述第一输出电压的波形一致的情况下，确定所述第一输入触点和所述第一输出触点之间途经的触点和引脚之间不存在瞬断。上述方案能够为SIM卡座在振动环境下的可靠性评价提供可靠的数据支撑。

Description

一种SIM检测卡以及检测SIM卡座瞬断的方法

技术领域

本申请涉及SIM卡技术领域，特别涉及一种SIM检测卡以及检测SIM卡座瞬断的方法。

背景技术

移动终端需要使用运营商提供的网络时必须在移动终端中放入运营商提供的SIM(Subscriber Identity Module，客户识别模块)卡，目前，SIM卡都是通过一定的机械结构卡在移动终端的SIM卡座中，SIM卡上的引脚与SIM卡座上相应的触点连接，其电气连接稳定性相对较低，特别是移动终端具有便携性，经常处于运动当中，甚至出现跌落、碰撞等情况，很容易导致SIM卡座与SIM卡的连接出现瞬断现象，当移动终端停止运动后，SIM卡座与SIM卡的连接又恢复正常。

由于SIM卡插入SIM卡座后，所有的触点与引脚均隐藏在卡座内，人眼无法观测到触点与引脚是否发生瞬断，而且触点与引脚断开往往发生在很短时间内，目前尚没有有效的方法捕捉到这种瞬断现象下的可视化数据，无法对触点与引脚是否发生瞬断进行判断，这导致技术人员很难对SIM卡座的可靠性性能进行客观评价。

因此，亟需一种装置或方法来捕捉这种瞬断现象下的可视化数据，以帮助技术人员对SIM卡座在振动环境下的可靠性进行客观评价。

发明内容

本申请实施例提供一种检测SIM卡座瞬断的方法以及SIM检测卡，能够在SIM卡座发生瞬断的瞬间捕捉到可视化数据，能够为SIM卡座在振动环境下的可靠性评价提供可靠的数据支撑。

第一方面，本申请实施例提供一种SIM检测卡，所述SIM检测卡包括SIM卡芯片和卡托，所述SIM卡芯片固定于所述卡托中，其中，所述SIM卡芯片包括n个引脚，所述n个引脚中至少包括相互连接的第一引脚和第二引脚，n为大于或者等于2的整数。

在一种可能的实施方式中，在n≥4的情况下，所述n个引脚中还包括第三引脚和第四引脚，其中，所述第三引脚与所述第四引脚连接。

在一种可能的实施方式中，在n≥6的情况下，所述n个引脚中还包括第五引脚和第六引脚，其中，所述第五引脚与所述第六引脚连接。

在一种可能的实施方式中，在n≥4的情况下，所述n个引脚中还包括第三引脚和第四引脚，其中，所述第一引脚分别与所述第三引脚、所述第四引脚连接。

在一种可能的实施方式中，在n≥6的情况下，所述n个引脚中还包括第三引脚、第四引脚、第五引脚和第六引脚，其中，所述第一引脚还与所述第三引脚连接，所述第四引脚分别与所述第五引脚、所述第六引脚连接。

上述方案通过对引脚进行不同方式的组合连接得到SIM检测卡，将该SIM检测卡置入SIM卡座中，SIM检测卡的引脚和SIM卡座的触点能够构成串联电路或者并联电路，并向串联电路或者并联电路提供测试信号，检测电路的输出信号，通过观察输出信号的波形和测试信号的波形是否一致，对触点与引脚的通断进行判断，不仅能够为SIM卡座在振动环境下的可靠性评价提供可靠的数据支撑，还可以有效解决技术人员无法判断振动环境下的SIM卡座是否发生瞬断的问题。

第二方面，本申请实施例提供一种检测SIM卡座瞬断的方法，所述方法包括：

在如第一方面所示的SIM检测卡被放置在SIM卡座的情况下，向第一输入触点提供第一测试电压，其中，所述第一输入触点为所述SIM卡座中的触点，所述SIM卡座中的触点与所述SIM检测卡中的引脚存在一一对应关系；

在第一输出触点采集第一输出电压，其中，所述第一输出触点为所述SIM卡座中的触点，所述第一输入触点经过所述相互连接的第一引脚和第二引脚连接所述第一输出触点；

在所述第一测试电压的波形和所述第一输出电压的波形一致的情况下，确定所述第一输入触点、所述第一输出触点以及所述第一输入触点和所述第一输出触点之间途经的触点中的每个触点与每个触点对应的引脚之间不存在瞬断。

在一种可能的实施方式中，所述SIM卡座还包括第一触点以及第二触点，其中，所述第一触点为所述SIM卡座中连接所述第一引脚的触点，所述第二触点为所述SIM卡座中连接所述第二引脚的触点。

在一种可能的实施方式中，所述SIM检测卡还包括相互连接的第三引脚和第四引脚，所述SIM卡座还包括第三触点以及第四触点，其中，所述第三触点为所述SIM卡座中连接所述第三引脚的触点，所述第四触点为所述SIM卡座中连接所述第四引脚的触点，所述第二触点与所述第三触点连接。

在一种可能的实施方式中，所述第一输入触点为第一触点，所述第一输出触点为所述第四触点，其中，所述第一输入触点分别经过所述相互连接的第一引脚和第二引脚，以及，所述相互连接的第三引脚和第四引脚连接所述第一输出触点。

在一种可能的实施方式中，所述SIM检测卡还包括相互连接的第五引脚和第六引脚，所述SIM卡座还包括第五触点以及第六触点，其中，所述第五触点为所述SIM卡座中连接所述第五引脚的触点，所述第六触点为所述SIM卡座中连接所述第六引脚的触点，所述第四触点与所述第五触点连接；

所述第一输入触点为第一触点，所述第一输出触点为所述第六触点，其中，所述第一输入触点分别经过所述相互连接的第一引脚和第二引脚、所述相互连接的第三引脚和第四引脚，以及，所述相互连接的第五引脚和第六引脚连接所述第一输出触点。

在一种可能的实施方式中，所述SIM检测卡还包括第三引脚以及第四引脚，其中，所述第一引脚还分别与所述第三引脚以及所述第四引脚连接，所述SIM卡座还包括第三触点以及第四触点，其中，所述第三触点为所述SIM卡座中连接所述第三引脚的触点，所述第四触点为所述SIM卡座中连接所述第四引脚的触点；

所述第一输入触点为所述第一触点，所述第一输出触点包括所述第二触点、所述第三触点以及所述第四触点，其中，所述第一触点经过所述相互连接的第一引脚和第二引脚连接所述第二触点，所述第一触点经过所述相互连接的第一引脚和第三引脚连接所述第三触点，所述第一触点经过所述相互连接的第一引脚和第四引脚连接所述第四触点。

在一种可能的实施方式中，所述SIM检测卡还包括第三引脚、第四引脚、第五引脚和第六引脚，所述第一引脚还与所述第三引脚连接，所述第四引脚分别与所述第五引脚以及所述第六引脚连接，所述SIM卡座还包括第三触点、第四触点、第五触点以及第六触点，其中，所述第三触点为所述SIM卡座中连接所述第三引脚的触点，所述第四触点为所述SIM卡座中连接所述第四引脚的触点，所述第五触点为所述SIM卡座中连接所述第五引脚的触点，所述第六触点为所述SIM卡座中连接所述第六引脚的触点；

所述第一输入触点为所述第一触点，所述第一输出触点包括所述第二触点以及所述第三触点，其中，所述第一触点经过所述相互连接的第一引脚和第二引脚连接所述第二触点，所述第一触点经过所述相互连接的第一引脚和第三引脚连接所述第三触点；

所述方法还包括：

向第二输入触点提供第二测试电压，其中，所述第二输入触点为所述SIM卡座中的触点，所述第二输入触点为所述第四触点；

在第二输出触点采集第二输出电压，其中，所述第二输出触点为所述SIM卡座中的触点，所述第二输出触点包括所述第五触点以及所述第六触点，所述第四触点经过相互连接的所述第四引脚和所述第五引脚连接所述第五触点，所述第四触点经过相互连接的所述第四引脚和所述第六引脚连接所述第六触点；

在所述第二测试电压的波形和所述第二输出电压的波形一致的情况下，确定所述第二输入触点、所述第二输出触点以及所述第二输入触点和所述第二输出触点之间途经的触点中的每个触点与每个触点对应的引脚之间不存在瞬断。

上述方法通过将至少包括相互连接的第一引脚和第二引脚的SIM检测卡放置在SIM卡座，使SIM检测卡的引脚与SIM卡座中的触点构成串联电路或者并联电路等，将电路起始位置的触点作为输入触点，将电路结束位置的触点作为输出触点，向输入触点提供测试电压，在输出触点采集输出电压，通过观察输出信号的波形和测试信号的波形是否一致，确定输入触点、输出触点以及输入触点和输出触点之间途径的触点中的每个触点与每个触点对应的引脚之间是否存在瞬断。本申请提供的检测SIM卡座瞬断的方法，不仅能够为SIM卡座在振动环境下的可靠性评价提供可靠的数据支撑，还可以有效解决技术人员无法判断振动环境下的SIM卡座是否发生瞬断的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的一种SIM检测卡的结构示意图；

图2为本申请实施例提供的一种可能的SIM检测卡的结构示意图；

图3为本申请实施例提供的一种检测SIM卡座瞬断的方法的流程示意图；

图4为本申请实施例提供的一种可能的SIM检测卡的引脚与SIM卡座的触点的连接关系示意图；

图5为本申请实施例提供的一种可能的SIM检测卡的引脚与SIM卡座的触点的连接关系示意图；

图6为本申请实施例提供的一种可能的SIM检测卡的引脚与SIM卡座的触点的连接关系示意图；

图7为本申请实施例提供的一种可能的检测SIM卡座瞬断的方法的流程示意图；

图8为本申请实施例提供的一种可能的SIM检测卡的引脚与SIM卡座的触点的连接关系示意图；

图9为本申请实施例提供的一种可能的检测SIM卡座瞬断的方法的流程示意图；

图10为本申请实施例提供的一种可能的SIM检测卡的引脚与SIM卡座的触点的连接关系示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

应当理解，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。还应当理解，在此本申请说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本申请。如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。

还应当进一步理解，在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

接下来，首先对本申请实施例涉及的主要应用场景进行说明。

目前，现有的SIM卡都是通过一定的机械结构卡在移动终端的SIM卡座中，SIM卡上的引脚与SIM卡座上相应的触点连接，由于移动终端经常处于运动当中，甚至常常出现跌落或者碰撞，导致SIM卡上的引脚与SIM卡座上相应触点的连接出现瞬断现象，当移动终端停止运动后，引脚与触点的连接又恢复正常。

由于现有的SIM卡插入SIM卡座后，所有的触点与引脚均隐藏在卡座内，人眼无法观测到SIM卡上的引脚与SIM卡座上的触点是否断开连接，而且触点与引脚断开往往发生在很短时间内，这导致技术人员很难对SIM卡座的可靠性性能进行客观评价。

为了解决上述人眼无法观测到SIM卡上的引脚与SIM卡座上的触点是否发生瞬断的问题，本申请实施例提供一种使用SIM检测卡检测SIM卡座瞬断的方法，可以通过示波器或者MCU等设备捕捉这种瞬断情况下的可视化数据，帮助技术人员对卡座的可靠性性能进行评价。本申请实施例提供的使用SIM检测卡检测SIM卡座瞬断的方法，还可以应用在SIM卡座的来料检验中，此处不作具体限定。

接下来，首先，对本申请实施例提供的SIM检测卡进行介绍。如图1所示，图1为本申请实施例提供的一种SIM检测卡的结构示意图，该检测卡包括SIM卡芯片110和卡托120，SIM卡芯片110固定于卡托120中。其中，SIM卡芯片110包括n个引脚，n个引脚中至少包括相互连接的第一引脚111和第二引脚112，n为大于或者等于2的整数。

在本申请具体的实施例中，在n≥4的情况下，n个引脚中除了包括相互连接的第一引脚111和第二引脚112之外，还包括第三引脚和第四引脚，其中，第三引脚可以与第四引脚连接，或者第三引脚和第四引脚中的任意一个与第一引脚111连接，或者第三引脚和第四引脚均与第一引脚111连接等连接关系，此处不作具体限定。

在n≥6的情况下，n个引脚中除了包括相互连接的第一引脚111和第二引脚112之外，还包括第三引脚、第四引脚、第五引脚和第六引脚，由上述实施例可知，第三引脚可以与第四引脚连接，或者第三引脚和第四引脚中的任意一个与第一引脚111连接，或者第三引脚和第四引脚均与第一引脚111连接等。在第三引脚与第四引脚连接的情况下，第五引脚可以与第六引脚连接，或者，第五引脚和第六引脚中的任意一个与第一引脚111连接，或者第五引脚和第六引脚均与第一引脚111连接等连接关系，此处不作具体限定；在第三引脚和第四引脚中的任意一个与第一引脚111连接的情况下，此处以第三引脚与第一引脚111连接为例，第四引脚可以与第五引脚和第六引脚中的任意一个连接或者第四引脚分别与第五引脚和第六引脚连接等，此处不作具体限定；在第三引脚和第四引脚均与第一引脚111连接的情况下，第五引脚和第六引脚中的任意一个可以与第一引脚111连接，或者，第五引脚和第六引脚均与第一引脚111连接，或者第五引脚与第六引脚连接等，此处不作具体限定。现有的SIM卡通常为六引脚或者八引脚，此处以SIM检测卡为六引脚为例，对SIM检测卡引脚之间的连接关系进行说明。

如图2所示，图2为本申请实施例提供的一种可能的SIM检测卡的结构示意图。从图2中可以看出，该SIM检测卡上有6个引脚，分别是引脚F1、引脚F2、引脚F3、引脚F4、引脚F5和引脚F6，第一引脚可以为引脚F1至引脚F6中的任意一个引脚，第二引脚可以为除第一引脚之外的任意一个引脚，如，第一引脚为引脚F1，第二引脚可以为引脚F2至引脚F6中的任意一个引脚，此处不作具体限定。在图2中，引脚F1为第一引脚，引脚F2为第二引脚，引脚F1与引脚F2连接，引脚F3与引脚F4连接，引脚F5与引脚F6连接。

需要说明的是，图2仅仅是作为一种示例，在实际应用中，SIM检测卡上的引脚可以为更多或者更少，引脚之间的连接关系可以为其他，此处不作具体限定。

在本申请具体的实施例中，SIM检测卡包括的SIM卡芯片110为现有的SIM卡芯片，可以是基础运营商提供的SIM卡芯片，例如移动、联通等运营商，也可以是新兴的虚拟运营商提供的SIM卡芯片，例如腾讯、阿里等虚拟运营商。SIM卡芯片110是一个装有微处理器的芯片卡，它的内部有5个模块，并且每个模块都对应一个功能，5个模块分别为微处理器CPU、程序存储器ROM、工作存储器RAM、数据存储器EEPROM和串行通信单元。这5个模块被胶封在SIM卡铜制接口后与普通IC卡封装方式相同。通常，将上述5个模块看为一个整体，不去具体考虑其内部结构，只关注芯片的金手指，也就是引脚。

在本申请具体的实施例中，SIM检测卡可以为标准SIM卡、Micro-SIM卡或Nano-SIM卡。其中，Micro-SIM卡也称为微型SD卡或者TF卡，它的体积比标准SIM卡小很多，Nano-SIM卡的体积比Micro-SIM卡小。卡托120可以是印刷电路板(Printed Circuit Board，PCB)，也可以是普通的塑料板，其规格可以和普通的TF(Trans-FLash)卡或者SD卡规格一致，当然，也能够随着实际需要，对规格进行具体设置。引脚可以为常见的SD卡式引脚。

本申请实施例中的SIM检测卡与SIM卡座的连通方式与现有的SIM卡与SIM卡座的连通方式一样，是通过将SIM检测卡放置于对应的SIM卡座中，SIM检测卡座中的触点与SIM检测卡引脚连通，进而识别SIM检测卡。

本申请实施例通过对引脚进行不同方式的组合连接得到SIM检测卡，将该SIM检测卡置入SIM卡座中，SIM检测卡的引脚和SIM卡座的触点能够构成串联电路或者并联电路，并向串联电路或者并联电路提供测试信号，检测电路的输出信号，通过观察输出信号的波形和测试信号的波形是否一致，对触点与引脚的通断进行判断，不仅能够为SIM卡座在振动环境下的可靠性评价提供可靠的数据支撑，还可以有效解决技术人员无法判断振动环境下的SIM卡座是否发生瞬断的问题。

由上述实施例可知，本申请能够借助图1所示的至少包括相互连接的第一引脚和第二引脚的SIM检测卡检测SIM卡座是否发生瞬断，接下来，对本申请实施例提供的检测SIM卡座瞬断的方法进行介绍。如图3所示，图3为本申请实施例提供的一种检测SIM卡座瞬断的方法的流程示意图，该方法可以包括：

S101：在SIM检测卡被放置在SIM卡座的情况下，向第一输入触点提供第一测试电压，其中，第一输入触点为SIM卡座中的触点，SIM卡座中的触点与SIM检测卡中的引脚存在一一对应关系。

在实际应用中，SIM检测卡通常包括多个引脚，与SIM检测卡对应的SIM卡座包括多个触点，触点的数量与引脚的数量相同。在SIM检测卡被放置在SIM卡座的情况下，多个触点与多个引脚的位置一一对应，可以理解的，在SIM检测卡与SIM卡座连接正常的情况下，多个触点中的每个触点均与对应的引脚连接正常。

此处以SIM检测卡为六个引脚、SIM卡座为六个触点为例，如图4所示，在图4中，六个引脚分别为引脚F1、引脚F2、引脚F3、引脚F4、引脚F5和引脚F6，其中，引脚F1与引脚F2连接，六个触点分别为触点C1、触点C2、触点C3、触点C4、触点C5、触点C6，在SIM检测卡被放置在SIM卡座的情况下，引脚F1与触点C1对应连接，引脚F2与触点C2对应连接，引脚F3与触点C3对应连接…引脚F6与触点C6对应连接。

在本申请具体的实施例中，第一输入触点为SIM卡座中的触点，可以理解的，第一输入触点可以为SIM卡座中与其他触点存在连接关系的触点，如图4中的触点C1或者触点C2，此处不作具体限定。第一测试电压可以为1.8V、3V、5V等，此处不作具体限定。在实际应用中，在向第一输入触点输入第一测试电压之前，可以使用上拉电阻使第一测试电压固定在高电平，上拉电阻的阻值可以为10K欧姆，此处不作具体限定。

S102：在第一输出触点采集第一输出电压，其中，第一输出触点为SIM卡座中的触点，第一输入触点经过相互连接的第一引脚和第二引脚连接第一输出触点。

在本申请具体的实施例中，第一引脚可以为多个引脚中的任意一个引脚，第二引脚可以为多个引脚中除第一引脚之外的任意一个引脚，此处不作具体限定。

第一输入触点经过相互连接的第一引脚和第二引脚连接第一输出触点，可以为第一输入触点为第一引脚对应的触点，第一输出触点为第二引脚对应的触点，则第一输入触点直接连接第一引脚，第二引脚直接连接第一输出触点，继续以图4为例，如图4所示，第一引脚为F1，第二引脚为F2，第一输入触点为C1，第一输出触点为C2，C1经过相互连接的F1和F2连接C2。

第一输入触点经过相互连接的第一引脚和第二引脚连接第一输出触点，也可以为在第一输入触点经过相互连接的第一引脚和第二引脚之后还经过其他引脚与触点与第一输出触点连接，如图5所示，在图5中，第一引脚为F3，第二引脚为F4，第一输入触点为C3，第一输出触点为C6，C3经过相互连接的F3和F4，以及相互连接的C4和C5，以及相互连接的F5和F6连接C6。

第一输入触点经过相互连接的第一引脚和第二引脚连接第一输出触点，还可以为在第一输入触点经过相互连接的第一引脚和第二引脚之前经过其他引脚和触点，然后经过第一引脚和第二引脚与第一输出触点连接，这种情况与在第一输入触点经过相互连接的第一引脚和第二引脚之后还经过其他引脚与触点与第一输出触点连接的情况相类似，此处不再展开赘述。

第一输入触点经过相互连接的第一引脚和第二引脚连接第一输出触点，还可以为在第一输入触点经过相互连接的第一引脚和第二引脚连接第一输出触点时，第一输入触点还经过相互连接的第一引脚与其他引脚连接第一输出触点，这里，第一输出触点包括与第二引脚对应的触点，还包括与第一引脚连接的其他引脚对应的触点，此处不作具体限定。如图6所示，在图6中，第一引脚为F3，第二引脚为F4，第一输入触点为C3，第一输出触点包括C4、C5和C6，C3经过相互连接的F3和F4连接C4，C3还经过相互连接的F3和F5连接C5，C3还经过相互连接的F3和F6连接C6。

需要说明的是，图4、图5和图6仅仅作为一种示例，在实际应用中，第一输入触点和第一输出触点之间的引脚和触点的连接关系还可以为其他，此处不作具体限定。

在本申请具体的实施例中，采集到的第一输出电压可以以波形的形式显示，因此，可以使用示波器或者微控制单元(Microcontroller Unit，MCU)等装置在第一输出触点采集第一输出电压，此处不作具体限定。

S103：在第一测试电压的波形和第一输出电压的波形一致的情况下，确定第一输入触点、第一输出触点以及第一输入触点和第一输出触点之间途经的触点中的每个触点与每个触点对应的引脚之间不存在瞬断。

可以理解的，在第一测试电压的波形和第一输出电压的波形一致的情况下，表示第一测试电压提供的电流经过第一输入触点和第一输入触点对应的引脚，以及第一输入触点和第一输出触点之间途经的触点中的每个触点与每个触点对应的引脚，以及第一输出触点对应的引脚与第一输出触点，可以确定第一输入触点、第一输出触点以及第一输入触点和第一输出触点之间途经的触点中的每个触点与每个触点对应的引脚之间连接良好，即第一输入触点、第一输出触点以及第一输入触点和第一输出触点之间途经的触点中的每个触点与每个触点对应的引脚之间不存在瞬断。

接下来，以一些具体的实施例对本申请实施例提供的检测SIM卡座瞬断的方法进行详细说明。

实施例一：SIM卡座还包括第一触点以及第二触点，其中，第一触点为SIM卡座中连接第一引脚的触点，第二触点为SIM卡座中连接第二引脚的触点。这里，第一输入触点为第一触点，第一输出触点为第二触点，第一触点经过相互连接的第一引脚和第二引脚连接第二触点。

在第一输入触点为第一触点，第一输出触点为第二触点，第一触点经过相互连接的第一引脚和第二引脚连接第二触点的情况下，向第一触点提供第一测试电压，在第二触点采集第一输出电压，在第一测试电压的波形和第一输出电压的波形一致的情况下，确定第一触点与第一引脚以及第二触点与第二引脚之间不存在瞬断。

继续以图4为例，如图4所示，第一引脚为F1，第二引脚为F2，第一触点为C1，第二触点为C2，C1经过相互连接的F1和F2连接C2。向C1提供第一测试电压，在C2采集第一输出电压，在第一测试电压的波形与第一输出电压的波形一致的情况下，确定C1与F1以及C2与F2之间不存在瞬断。

实施例二：SIM检测卡除了包括相互连接的第一引脚和第二引脚之外，还包括第三引脚以及第四引脚，其中，第三引脚和第四引脚连接，SIM卡座除了包括第一触点和第二触点之外，还包括第三触点以及第四触点，其中，第三触点为SIM卡座中连接第三引脚的触点，第四触点为SIM卡座中连接第四引脚的触点，第二触点连接第三触点。这里，第一输入触点为第一触点，第一输出触点为第四触点，第一触点分别经过相互连接的第一引脚和第二引脚，以及，相互连接的第三引脚和第四引脚连接第四触点。

在第一输入触点为第一触点，第一输出触点为第四触点，第一输入触点分别经过相互连接的第一引脚和第二引脚，以及，相互连接的第三引脚和第四引脚连接第一输出触点的情况下，向第一触点提供第一测试电压，在第四触点采集第一输出电压，在第一测试电压的波形和第一输出电压的波形一致的情况下，确定第一触点与第一引脚、第四触点与第四引脚以及第一触点和第四触点之间途径的第二触点与第二引脚、第三触点与第三引脚之间不存在瞬断。

继续以图5为例，如图5所示，第一引脚为F3，第二引脚为F4，第三引脚为F5，第四引脚为F6，第一触点为C3，第二触点为C4，第三触点为C5，第四触点为C6，C3经过相互连接的F3和F4，以及相互连接的C4和C5，以及相互连接的F5和F6连接触点C6。在第一测试电压的波形与第一输出电压的波形一致的情况下，确定C3与F3、C4与F4、C5与F5以及C6与F6之间不存在瞬断。

实施例三：SIM检测卡除了包括相互连接的第一引脚和第二引脚以及相互连接的第三引脚和第四引脚之外，还包括第五引脚以及第六引脚，其中，第五引脚与第六引脚连接，SIM卡座除了包括第一触点、相互连接的第二触点和第三触点、第四触点之外，还包括第五触点以及第六触点，其中，第五触点为SIM卡座中连接第五引脚的触点，第六触点为SIM卡座中连接第六引脚的触点，第四触点连接第五触点。这里，第一输入触点为第一触点，第一输出触点为第六触点，第一触点分别经过相互连接的第一引脚和第二引脚，相互连接的第三引脚和第四引脚，以及，相互连接的第五引脚和第六引脚连接第六触点。

在第一输入触点为第一触点，第一输出触点为第六触点，第一触点分别经过相互连接的第一引脚和第二引脚，相互连接的第三引脚和第四引脚，以及，相互连接的第五引脚和第六引脚连接第六触点的情况下，向第一触点提供第一测试电压，在第六触点采集第一输出电压，在第一测试电压的波形和第一输出电压的波形一致的情况下，确定第一触点与第一引脚、第六触点与第六引脚，以及第一触点和第六触点之间途径的第二触点与第二引脚、第三触点与第三引脚、第四触点与第四引脚、第五触点与第五引脚之间不存在瞬断。

为了简便起见，实施例三与实施例二的情况相类似，此处不再举例说明。

实施例四：在SIM检测卡除了包括相互连接的第一引脚和第二引脚之外，还包括第三引脚和第四引脚的情况下，第一引脚还可以分别与第一引脚以及第四引脚连接，SIM卡座除了包括第一触点和第二触点之外，还包括第三触点和第四触点，其中，第三触点为SIM卡座中连接第三引脚的触点，第四触点为SIM卡座中连接第四引脚的触点。这里，第一输入触点为第一触点，第一输出触点包括第二触点、第三触点和第四触点，第一触点经过相互连接的第一引脚和第二引脚连接第二触点，第一触点还经过相互连接的第一引脚和第三引脚连接第三触点，第一触点还经过相互连接的第一引脚和第四引脚连接第四触点。

在第一输入触点为第一触点，第一输出触点包括第二触点、第三触点和第四触点，第一触点经过相互连接的第一引脚和第二引脚连接第二触点，第一触点还经过相互连接的第一引脚和第三引脚连接第三触点，第一触点还经过相互连接的第一引脚和第四引脚连接第四触点的情况下，向第一触点提供第一测试电压，在第二触点、第三触点和第四触点分别采集第一输出电压，在第一测试电压的波形和第一输出电压的波形一致的情况下，确定第一触点与第一引脚以及第二触点与第二引脚之间不存在瞬断，还可以确定第三触点与第三引脚以及第四触点与第四引脚之间不存在瞬断。

继续以图6为例，如图6所示，第一引脚为F3，第二引脚为F4，第三引脚为F5，第四引脚为F6，第一触点为C3，第二触点为C4，第三触点为C5，第四触点为C6，C3经过相互连接的F3和F4连接C4，C3还经过相互连接的F3和F5连接C5，C3还经过相互连接的F3和F6连接C6。在第一测试电压的波形与第一输出电压的波形一致的情况下，确定C3与F3、C4与F4、C5与F5以及C6与F6之间不存在瞬断。

在另外一种具体的实施例中，SIM检测卡除了包括相互连接的第一引脚和第二引脚之外，还包括第三引脚、第四引脚、第五引脚以及第六引脚，其中，第一引脚还与第三引脚连接，第四引脚分别与第五引脚以及第六引脚连接，SIM卡座除了包括第一触点、第二触点之外，还包括第三触点、第四触点、第五触点以及第六触点，其中，第三触点为SIM卡座中连接第三引脚的触点，第四触点为SIM卡座中连接第四引脚的触点，第五触点为SIM卡座中连接第五引脚的触点，第六触点为SIM卡座中连接第六引脚的触点。这里，第一输入触点为第一触点，第一输出触点包括第二触点以及第三触点，第一触点经过相互连接的第一引脚和第二引脚连接第二触点，第一触点经过相互连接的第一引脚和第三引脚连接第三触点。

在第一输入触点为第一触点，第一输出触点包括第二触点以及第三触点，第一触点经过相互连接的第一引脚和第二引脚连接第二触点，第一触点经过相互连接的第一引脚和第三引脚连接第三触点的情况下，向第一触点提供第一测试电压，在第二触点以及第三触点分别采集第一输出电压，在第一测试电压的波形和第一输出电压的波形一致的情况下，确定第一触点与第一引脚以及第二触点与第二引脚之间不存在瞬断，还可以确定第三触点与第三引脚之间不存在瞬断。

在本实施例中，还需要对第四触点与第四引脚、第五触点与第五引脚以及第六触点与第六引脚之间是否存在瞬断进行检测，其中，在对第四触点与第四引脚、第五触点与第五引脚以及第六触点与第六引脚之间是否存在瞬断进行检测时，可以分为第四触点与第二触点连接和第四触点不与第二触点连接两种情况。

接下来，首先对在第四触点与第二触点连接的情况下，检测第四触点与第四引脚、第五触点与第五引脚以及第六触点与第六引脚之间是否存在瞬断的方法进行说明，如图7所示，该方法可以包括：

S201：向第一输入触点第一测试电压，其中，第一输入触点为第一触点。

S202：在第一输出触点采集第一输出电压，其中，第一输出触点包括第三触点、第五触点以及第六触点，第一触点经过相互连接的第一引脚和第二引脚、相互连接的第二触点和第四触点以及相互连接的第四引脚和第五引脚连接第五触点，第一触点还经过相互连接的第一引脚和第二引脚、相互连接的第二触点和第四触点以及相互连接的第四引脚和第六引脚连接第六触点，第一触点还经过相互连接的第一引脚和第三引脚连接第三触点。

S203：在第一测试电压的波形与第一输出电压的波形一致的情况下，确定第一输入触点、第一输出触点以及第一输入触点和第一输出触点之间途径的触点中的每个触点与每个触点对应的引脚之间不存在瞬断。

可以理解的，在第一测试电压的波形与第一输出电压的波形一致的情况下，可以确定第一触点与第一引脚、第二触点与第二引脚、第四触点与第四引脚以及第五触点与第五引脚之间不存在瞬断，还可以确定第三触点与第三引脚以及第六触点与第六引脚之间不存在瞬断。

以图8为例，在图8中，第一引脚为F1，第二引脚为F2，第三引脚为F3，第四引脚为F4，第五引脚为F5，第六引脚为F6，第一触点为C1，第二触点为C2，第三触点为C3，第四触点为C4，第五触点为C5，第六触点为C6，C1经过相互连接的F1和F2、相互连接的C2与C4以及相互连接的F4与F5连接C5，C1还经过相互连接的F1和F2、相互连接的C2与C4以及相互连接的F4与F6连接C6，C1还经过相互连接的F1和F3连接C3。在第一测试电压的波形与第一输出电压的波形一致的情况下，可以确定C1与F1、C2与F2、C3与F3，C4与F4、C5与F5以及C6与F6之间不存在瞬断。

接下来，对在第四触点不与第二触点连接的情况下，检测第四触点与第四引脚、第五触点与第五引脚以及第六触点与第六引脚之间是否存在瞬断的方法进行说明，如图9所示，该方法可以包括：

S301：向第二输入触点提供第二测试电压，其中，第二输入触点为SIM卡座中的触点，第二输入触点为第四触点。

S302：在第二输出触点采集第二输出电压，其中，第二输出触点为SIM卡座中的触点，第二输出触点包括第五触点以及第六触点，第四触点经过相互连接的第四引脚和第五引脚连接第五触点，第四触点还经过相互连接的第四引脚和第六引脚连接第六触点。

S303：在第二测试电压的波形和第二输出电压的波形一致的情况下，确定第二输入触点、第二输出触点以及第二输入触点和第二输出触点之间途径的触点中的每个触点与每个触点对应的引脚之间不存在瞬断。

可以理解的，在第二测试电压的波形与第二输出电压的波形一致的情况下，可以确定第四触点与第四引脚以及第五触点与第五引脚之间不存在瞬断，还可以确定第六触点与第六引脚之间不存在瞬断。

以图10为例，在图10中，第一引脚为F1，第二引脚为F2，第三引脚为F3，第四引脚为F4，第五引脚为F5，第六引脚为F6，第一触点为C1，第二触点为C2，第三触点为C3，第四触点为C4，第五触点为C5，第六触点为C6，C1经过相互连接的F1和F2连接C2，C1还经过相互连接的F1和F3连接C3，C4经过相互连接的F4和F5连接C5，C4还经过相互连接的F4和F6连接C6。在第一测试电压的波形与第一输出电压的波形一致的情况下，可以确定C1与F1、C2与F2以及C3与F3之间不存在瞬断，在第二测试电压的波形与第二输出电压的波形一致的情况下，可以确定C4与F4、C5与F5以及C6与F6之间不存在瞬断。

由上述实施例可知，本申请提供的检测SIM卡座瞬断的方法，通过将本申请实施例提供的至少包括相互连接的第一引脚和第二引脚的SIM检测卡放置在SIM卡座，使SIM检测卡的引脚与SIM卡座中的触点构成串联电路或者并联电路等，将电路起始位置的触点作为输入触点，将电路结束位置的触点作为输出触点，向输入触点提供测试电压，在输出触点采集输出电压，通过观察输出信号的波形和测试信号的波形是否一致，确定输入触点、输出触点以及输入触点和输出触点之间途径的触点中的每个触点与每个触点对应的引脚之间是否存在瞬断。本申请提供的检测SIM卡座瞬断的方法，不仅能够为SIM卡座在振动环境下的可靠性评价提供可靠的数据支撑，还可以有效解决技术人员无法判断振动环境下的SIM卡座是否发生瞬断的问题。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。

以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (12)

1.一种SIM检测卡，其特征在于，所述SIM检测卡包括SIM卡芯片和卡托，所述SIM卡芯片固定于所述卡托中，其中，所述SIM卡芯片包括n个引脚，所述n个引脚中至少包括相互连接的第一引脚和第二引脚，n为大于或者等于2的整数。

2.根据权利要求1所述的SIM检测卡，其特征在于，在n≥4的情况下，所述n个引脚中还包括第三引脚和第四引脚，其中，所述第三引脚与所述第四引脚连接。

3.根据权利要求2所述的SIM检测卡，其特征在于，在n≥6的情况下，所述n个引脚中还包括第五引脚和第六引脚，其中，所述第五引脚与所述第六引脚连接。

4.根据权利要求1所述的SIM检测卡，其特征在于，在n≥4的情况下，所述n个引脚中还包括第三引脚和第四引脚，其中，所述第一引脚分别与所述第三引脚、所述第四引脚连接。

5.根据权利要求1所述的SIM检测卡，其特征在于，在n≥6的情况下，所述n个引脚中还包括第三引脚、第四引脚、第五引脚和第六引脚，其中，所述第一引脚还与所述第三引脚连接，所述第四引脚分别与所述第五引脚、所述第六引脚连接。

6.一种检测SIM卡座瞬断的方法，其特征在于，所述方法包括：

在如权利要求1所示的SIM检测卡被放置在SIM卡座的情况下，向第一输入触点提供第一测试电压，其中，所述第一输入触点为所述SIM卡座中的触点，所述SIM卡座中的触点与所述SIM检测卡中的引脚存在一一对应关系；

在第一输出触点采集第一输出电压，其中，所述第一输出触点为所述SIM卡座中的触点，所述第一输入触点经过所述相互连接的第一引脚和第二引脚连接所述第一输出触点；

在所述第一测试电压的波形和所述第一输出电压的波形一致的情况下，确定所述第一输入触点、所述第一输出触点以及所述第一输入触点和所述第一输出触点之间途经的触点中的每个触点与每个触点对应的引脚之间不存在瞬断。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述SIM卡座还包括第一触点以及第二触点，其中，所述第一触点为所述SIM卡座中连接所述第一引脚的触点，所述第二触点为所述SIM卡座中连接所述第二引脚的触点。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述SIM检测卡还包括相互连接的第三引脚和第四引脚，所述SIM卡座还包括第三触点以及第四触点，其中，所述第三触点为所述SIM卡座中连接所述第三引脚的触点，所述第四触点为所述SIM卡座中连接所述第四引脚的触点，所述第二触点与所述第三触点连接。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述第一输入触点为第一触点，所述第一输出触点为所述第四触点，其中，所述第一输入触点分别经过所述相互连接的第一引脚和第二引脚，以及，所述相互连接的第三引脚和第四引脚连接所述第一输出触点。

10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述SIM检测卡还包括相互连接的第五引脚和第六引脚，所述SIM卡座还包括第五触点以及第六触点，其中，所述第五触点为所述SIM卡座中连接所述第五引脚的触点，所述第六触点为所述SIM卡座中连接所述第六引脚的触点，所述第四触点与所述第五触点连接；

所述第一输入触点为第一触点，所述第一输出触点为所述第六触点，其中，所述第一输入触点分别经过所述相互连接的第一引脚和第二引脚、所述相互连接的第三引脚和第四引脚，以及，所述相互连接的第五引脚和第六引脚连接所述第一输出触点。

11.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述SIM检测卡还包括第三引脚以及第四引脚，其中，所述第一引脚还分别与所述第三引脚以及所述第四引脚连接，所述SIM卡座还包括第三触点以及第四触点，其中，所述第三触点为所述SIM卡座中连接所述第三引脚的触点，所述第四触点为所述SIM卡座中连接所述第四引脚的触点；

所述第一输入触点为所述第一触点，所述第一输出触点包括所述第二触点、所述第三触点以及所述第四触点，其中，所述第一触点经过所述相互连接的第一引脚和第二引脚连接所述第二触点，所述第一触点经过所述相互连接的第一引脚和第三引脚连接所述第三触点，所述第一触点经过所述相互连接的第一引脚和第四引脚连接所述第四触点。

12.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述SIM检测卡还包括第三引脚、第四引脚、第五引脚和第六引脚，所述第一引脚还与所述第三引脚连接，所述第四引脚分别与所述第五引脚以及所述第六引脚连接，所述SIM卡座还包括第三触点、第四触点、第五触点以及第六触点，其中，所述第三触点为所述SIM卡座中连接所述第三引脚的触点，所述第四触点为所述SIM卡座中连接所述第四引脚的触点，所述第五触点为所述SIM卡座中连接所述第五引脚的触点，所述第六触点为所述SIM卡座中连接所述第六引脚的触点；

所述第一输入触点为所述第一触点，所述第一输出触点包括所述第二触点以及所述第三触点，其中，所述第一触点经过所述相互连接的第一引脚和第二引脚连接所述第二触点，所述第一触点经过所述相互连接的第一引脚和第三引脚连接所述第三触点；

所述方法还包括：

向第二输入触点提供第二测试电压，其中，所述第二输入触点为所述SIM卡座中的触点，所述第二输入触点为所述第四触点；

在第二输出触点采集第二输出电压，其中，所述第二输出触点为所述SIM卡座中的触点，所述第二输出触点包括所述第五触点以及所述第六触点，所述第四触点经过相互连接的所述第四引脚和所述第五引脚连接所述第五触点，所述第四触点经过相互连接的所述第四引脚和所述第六引脚连接所述第六触点；

在所述第二测试电压的波形和所述第二输出电压的波形一致的情况下，确定所述第二输入触点、所述第二输出触点以及所述第二输入触点和所述第二输出触点之间途经的触点中的每个触点与每个触点对应的引脚之间不存在瞬断。

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