CN108828343A - 一种检测接插件有无瞬断现象的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种检测接插件有无瞬断现象的方法,涉及电子元件检测技术领域,包括搭建检测回路,捕捉瞬断波形以及瞬断检测步骤,搭建回路时利用了成本低的电子元件来搭建,降低了成本;检测回路搭建完成后设定回路电流,让回路电流为插接件的试验电流,这样,插接件发生瞬断现象时的表现,可通过检测元件两端的电压波形变化体现出来,上述电压波形则利用示波器来捕捉;那么将检测回路和示波器固定于测试环境中后,接通检测回路,在试验检测时间内,就可通过观察示波器所捕捉的电压波形,来方便、快捷、直观以及准确的判断出,插接件是否发生瞬断现象。
Description
技术领域
本发明涉及电子元件检测技术领域,尤其涉及一种检测接插件有无瞬断现象的方法。
背景技术
目前,许多智能产品上使用了大量的接插件,使插接件连接的可靠性,对智能产品的性能具有至关重要的影响。为了提高产品的性能,对插接件的抗振性和可靠性等提出了新的要求,因为一旦插接件发生瞬断现象,就会给产品带来不良后果。
为了防止插接件在使用过程中发生瞬断现象,在生产阶段就对插接件进行检测。检测方式主要是:检测插接件在振动或冲击等环境下,在试验检测时间内,是否发生瞬断现象。
但是现有的检测方式存在以下缺点:因接插件发生瞬断的时间比较短,例如1us,若采用普通的方式去检测,比如用电流表去检测时,在如此短的时间内,电流表根本检测不到瞬断现象;若采购瞬断仪等专门仪器来检测,则增加了生产成本。
发明内容
针对上述不足,本发明的目的是提供一种检测接插件有无瞬断现象的方法,该方法简单,成本低,操作方便快捷,易于实现。
为解决上述技术问题,本发明的技术方案是:
一种检测接插件有无瞬断现象的方法,包括以下步骤:
S1、搭建检测回路,选取检测元件和电源,串接所述检测元件、所述电源和所述待测插接件形成检测回路,所述检测元件两端的电压随所述检测回路的回路电流线性变化,且所述回路电流设置为所述待测插接件的试验电流;
S2、捕捉瞬断波形,选用示波器捕捉瞬断波形;将所述示波器的输入端并接在所述检测元件的两端;调整所述示波器的工作模式使其可捕捉发生瞬断现象时所述检测元件两端的电压瞬断波形;
S3、瞬断检测,将所述检测回路和所述示波器固定于测试环境中,让所述待测插接件置于所述测试环境下;接通所述检测回路,在试验检测时间内,所述示波器捕捉所述检测元件两端的电压波形;分析所述电压波形,可判断得出所述插接件是否发生瞬断现象。
优选方式为,在所述步骤S3中,所述检测回路和所述示波器固定于振动或冲击试验台上。
优选方式为,所述电源为直流电源,所述直流电源输出的电压根据所述试验电流设定。
优选方式为,所述检测元件为线性电阻,所述线性电阻的阻值根据所述试验电流选定。
优选方式为,所述示波器的工作模式为single模式、边沿触发,所述边沿触发的脉宽小于所述试验检测时间。
优选方式为,在所述步骤S3中,固定所述检测回路和所述示波器时避免压线。
优选方式为,所述试验电流小于所述待测插接件的耐受电流。
采用上述技术方案后,本发明的有益效果是:
由于本发明的检测接插件有无瞬断现象的方法,包括搭建检测回路,捕捉瞬断波形以及瞬断检测步骤;在搭建检测回路时,利用成本低的电子元件来搭建,降低了成本;捕捉瞬断波形时,利用检测回路中的回路电流,具体是设计回路电流为待测插接件的试验电流,这样,插接件发生瞬断现象的表现,可由检测元件两端电压波形的变化来体现;而电压波形则利用示波器来捕捉,通过调整示波器的工作模式后,使插接件发生瞬断现实时,检测元件两端电压的瞬断波形能被准确的捕捉到;那么,将插接件置于测试环境下,接通检测回路后,可通过分析示波器所捕捉的电压波形,来判断插接件在试验检测时间内,是否发生瞬断现象。可见,本发明检测接插件有无瞬断现象的方法,具有步骤简单,成本低,操作方便快捷,易于实现的优点,无需利用高成本的瞬断仪等专门仪器来测试。
由于检测元件为线性电阻,该线性电阻的阻值根据试验电流选定;采用线性电阻进一步降低了成本低,也使测试结果更加准确。
由于在步骤S3中,固定检测回路和示波器时避免压线;防止压线影响测试结果。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
一种检测接插件有无瞬断现象的方法,包括以下步骤:
S1、搭建检测回路,选用检测元件和电源,串接检测元件、电源和待测插接件形成检测回路,其中检测元件两端的电压随检测回路的回路电流线性变化,回路电流设定为待测插接件的试验电流;因回路电流流过回路中的所有元件,那么当插接件发生瞬断现象时,回路电流瞬间为零,当回路电流为零的瞬间,检测元件两端的电压也瞬间为零,在电压波形上的体现则是电压波形出现波谷或低电平。本实施例中,检测元件为线性电阻,线性电阻的阻值根据试验电流选定。进一步的,试验电流小于待测插接件的耐受电流,从而使插接件的试验结果准确。
S2、捕捉瞬断波形,利用示波器捕捉电压波形,示波器的输入端并接在检测元件的两端;调整示波器的工作模式,使示波器可捕捉到发生瞬断现象时检测元件两端电压的瞬断波形;本例中示波器的工作模式设定为single模式、边沿触发,且边沿触发的脉宽小于试验检测时间,脉宽是指高电平持续的时间。
S3、瞬断检测,将检测回路和示波器固定于测试环境中,让待测插接件置于测试环境下;接通检测回路,在试验检测时间内,示波器捕捉检测元件两端的电压波形;分析电压波形,可判断得出插接件是否发生瞬断现象。本实施例中,检测回路和示波器固定在振动或冲击试验台上,利用振动或冲击试验台所产生的振动或冲击,使插接件工作与振动或冲击环境下,此时插接件是否发生瞬断的现象得到了检测。当然,测试环境不限上述所列举的。
本实施例中,电源选用直流电源,直流电源的输出电压根据试验电流设定。
另外,在步骤S3中,固定检测回路和示波器时避免压线,从而避免了压线影响测试结果。
本发明的检测回路中,还可以方便的串入其他电子元件或电子仪器,获取所需的数据,完成其他检测。
下面举例说明本发明具体采用的方法:
所测试的接插件可为相互插接的公头与母头,试验检测时间可为1us,即检测的条件为:插接件在1us内是否有无断开现象。
检测回路由串接的插接件、电阻和直流电源搭建而成,试验电流设定为0.1A,根据试验电流值,选定电阻的阻值为8Ω,设定直流电源输出的电压为1V,此时,回路电流为0.1A;将示波器的输入端并联到8Ω电阻的两端。设定直流电源时,先用万用表测量一下从直流电源正极到直流电源的负极电阻,比如测得阻值为10Ω时,试验要求试验电流不大于0.1A时,这时可以设置直流电源的输出电压为1V。
调整示波器的工作模式为边沿(edge)—边沿触发,脉宽(pulse with)要小于试验要求的试验检测时间,例如试验检测时间为1us,若要检测在1us内插接件有无瞬断现象,那么示波器的脉宽设置小于1us,可以设置为100ns,调节触发电平(电压)小于8Ω电阻两端的电压;同时选择single模式,这样,只要试验过程中插接件出现瞬断现象,示波器上就会显示出瞬断波形。
具体检测时,将检测回路和示波器固定在冲击或振动台上,按照上述设置完毕后,接通检测回路开始试验,此时电阻两端内的电压可被示波器捕捉到电压波形,一旦,插接件发生瞬断现象,电压波形就会出现变化,因此,通过观察示波器上的波形变化,就可方便的准确的得出检测结果。若插接件会发生瞬断现象,可在生产阶段排除,避免对智能产品的性能造成影响。
综上所述,本发明检测接插件有无瞬断现象的方法,具有简单,成本低,操作方便快捷,易于实现的优点,无需利用高成本的瞬断仪等专门仪器来测试;非常适合生产线上使用。
以上所述本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同一种检测接插件有无瞬断现象的方法结构的改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种检测接插件有无瞬断现象的方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、搭建检测回路,选取检测元件和电源,串接所述检测元件、所述电源和所述待测插接件形成检测回路,所述检测元件两端的电压随所述检测回路的回路电流线性变化,且所述回路电流设置为所述待测插接件的试验电流;
S2、捕捉瞬断波形,选用示波器捕捉瞬断波形;将所述示波器的输入端并接在所述检测元件的两端;调整所述示波器的工作模式使其可捕捉发生瞬断现象时所述检测元件两端的电压瞬断波形;
S3、瞬断检测,将所述检测回路和所述示波器固定于测试环境中,让所述待测插接件置于所述测试环境下;接通所述检测回路,在试验检测时间内,所述示波器捕捉所述检测元件两端的电压波形;分析所述电压波形,可判断得出所述插接件是否发生瞬断现象。
2.根据权利要求1所述的检测接插件有无瞬断现象的方法,其特征在于,在所述步骤S3中,所述检测回路和所述示波器固定于振动或冲击试验台上。
3.根据权利要求1所述的检测接插件有无瞬断现象的方法,其特征在于,所述电源为直流电源,所述直流电源输出的电压根据所述试验电流设定。
4.根据权利要求3所述的检测接插件有无瞬断现象的方法,其特征在于,所述检测元件为线性电阻,所述线性电阻的阻值根据所述试验电流选定。
5.根据权利要求1所述的检测接插件有无瞬断现象的方法,其特征在于,所述示波器的工作模式为single模式、边沿触发,所述边沿触发的脉宽小于所述试验检测时间。
6.根据权利要求1或2所述的检测接插件有无瞬断现象的方法,其特征在于,在所述步骤S3中,固定所述检测回路和所述示波器时避免压线。
7.根据权利要求1所述的检测接插件有无瞬断现象的方法,其特征在于,所述试验电流小于所述待测插接件的耐受电流。
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