CN108710100B - 一种计度器电能表的校表方法 - Google Patents

一种计度器电能表的校表方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供了一种计度器电能表的校表方法，包括以下步骤：第一步，安装计度器电能表；第二步，校表芯片获取光电采样精度；第三步，判断增益1.0是否合格，若不合格，则进入第四步，若合格，则进入第五步；第四步，校表芯片找出异常电压点位x，异常电流点位y，人工对x、y调试；第五步，判断0.5L角差是否合格，若不合格，则进入第六步，若合格，则进入第七步；第六步，校表芯片找出异常角差点位m，人工对m调试；第七步，判断小电流偏置是否合格，若不合格，则进入第八步，若合格，则进入第九步；第八步，校表芯片找出异常偏置点位n，人工对n调试；第九步，校表完成。本发明校表步骤较少，大大降低了校表难度、提高了校表效率。

Description

一种计度器电能表的校表方法
技术领域
本发明涉及电能表的校表技术领域，尤其涉及一种计度器电能表的校表方法。
背景技术
现有的计度器电能表中设有计量芯片和各种电气元件，由于其结构简单，在对其进行校表时，只能人工逐个检测各个点位。如图1所示，现有的计度器电能表的校表方法为：首先，将计度器电能表安装在校表台体上，并启动校表台体，其次检测1.0增益是否合格，此时需要逐个检测3个电压点位1、电压点位2、电压点位3是否合格，然后再逐个检测3个电流点位1、电流点位2和电流点位3；再者检测0.5L角差是否合格，需要逐个检测角差点位1、角差点位2、角差点位3；最后检测小电流偏置是否合格，需要逐个检测偏置点位1、偏置点位2和偏置点位3是否合格，校表完成。上述校表过程需要检测的点位众多，整个校表方法复杂、检测效率低，因此需要提出一种更为简单的校表方法。
发明内容
本发明提供了一种计度器电能表的校表方法，该校表方法可以直接找到异常点位，校表方法简单、检测效率高。
本发明所采用的技术方案是，一种计度器电能表的校表方法，其特征在于，包括以下步骤：
第一步，开始，将计度器电能表安装在校表台上；
第二步，上电初始化校表台，校表台上的校表芯片通过校表台上的光电采样器获取计度器电能表的光电采样精度；
第三步，校表芯片判断增益1.0是否合格，若增益1.0不合格，则进入第四步，若增益1.0合格，则进入第五步；
第四步，校表芯片找出异常电压点位x，异常电流点位y，对异常电压点位x，异常电流点位y分别进行调试；
第五步，校表芯片判断0.5L角差是否合格，若0.5L角差不合格，则进入第六步，若0.5L角差合格，则进入第七步；
第六步，校表芯片找出异常角差点位m，对异常角差点位m进行调试；
第七步，校表芯片判断小电流偏置是否合格，若小电流偏置不合格，则进入第八步，若小电流偏置合格，则进入第九步；
第八步，校表芯片找出异常偏置点位n，对异常偏置点位n进行调试；
第九步，校表完成，断电拆卸计度器电能表。
采用以上技术方案后，本发明与现有技术相比具有以下优点：
校表步骤较少，校表芯片可以自动找出异常电压点位，异常电流点位、异常角差点位、异常偏置点位等，且快速准确，无需人工手动逐个点位进行试验性判断，只需根据台提提示对异常点位进行调试即可，大大降低了校表难度和大幅度提高了校表效率。
作为改进，分别对所述的异常电压点位x、异常电流点位y、异常角差点位m、异常偏置点位n进行短接调试，短接一般采用焊接形式，焊接线路较为稳定。
作为改进，所述的校表芯片通过多次获取计度器电能表上的光电采样精度分别得到增益1.0所对应的第一光电采样精度、0.5L角差所对应的第二光电采样精度和小电流偏置所对应的第三光电采样精度，然后将第一光电采样精度、第二光电采样精度和第三光电采样精度分别与校表芯片中设置的第一光电采样精度的判断范围、第二光电采样精度的判断范围和第三光电采样精度的判断范围进行比对，分别判断增益1.0、0.5L角差和小电流偏置是否合格，校表芯片自动判断，判断智能化、准确。
作为改进，所述的第一光电采样精度的判断范围为0.4≤|第一光电采样精度|≤10；所述的第二光电采样精度的判断范围为0.4≤|第二光电采样精度|≤1；所述的第三光电采样精度的判断范围为0.4≤|第三光电采样精度|≤2，每种光电采样精度对应不同的范围，便于依次分别对计度器电能表进行校准。
作为改进，在对异常电压点位x，异常电流点位y分别进行调试后需要再将第一光电采样精度的绝对值与标准光电采样精度的绝对值进行对比；对异常角差点位m进行调试后需要再将第二光电采样精度的绝对值与标准光电采样精度的绝对值进行对比；在对异常偏置点位n进行调试后需要再将第三光电采样精度的绝对值与标准光电采样精度的绝对值进行对比；所述的标准光电采样精度的绝对值为0.4，进一步便于校表。
作为改进，所述的第一光电采样精度、第二光电采样精度和第三光电采样精度依次分别等于计度器电能表在增益1.0、0.5L角差和小电流偏置三种校表状态下的脉冲频率，便于检测。
作为改进，所述的校表芯片在获取第一光电采样精度、第二光电采样精度和第三光电采样精度前延迟5S-15S后再获取，延迟一定时间便于使校表台运行更加稳定。
作为改进，所述的校表芯片延迟10S后再分别获取第一光电采样精度、第二光电采样精度和第三光电采样精度，时间较短，同时也能保证校表台运行稳定，保证校表时间较短，提高校表效率。
附图说明
图1为现有的校表方法流程图
图2为本发明中的校表方法简易流程图
图3为本发明中的校表方法具体流程图
具体实施方式
如图2所示，一种计度器电能表的校表方法，包括以下步骤：
第一步，开始，将计度器电能表安装在校表台上；
第二步，上电初始化校表台，校表台上的校表芯片通过校表台上的光电采样器获取计度器电能表的光电采样精度；
第三步，校表芯片判断增益1.0是否合格，若增益1.0不合格，则进入第四步，若增益1.0合格，则进入第五步；
第四步，校表芯片找出异常电压点位x，异常电流点位y，对异常电压点位x，异常电流点位y分别进行调试；
第五步，校表芯片判断0.5L角差是否合格，若0.5L角差不合格，则进入第六步，若0.5L角差合格，则进入第七步；
第六步，校表芯片找出异常角差点位m，对异常角差点位m进行调试；
第七步，校表芯片判断小电流偏置是否合格，若小电流偏置不合格，则进入第八步，若小电流偏置合格，则进入第九步；
第八步，校表芯片找出异常偏置点位n，对异常偏置点位n进行调试；
第九步，校表完成，断电拆卸计度器电能表。
上述步骤中，分别对异常电压点位x、异常电流点位y、异常角差点位m、异常偏置点位n进行的调试为短接调试，短接调试即焊接短路。
校表芯片的的型号可以选用ATMEL 9260的，校表芯片的判断方法为：校表芯片通过多次获取计度器电能表上的光电采样精度分别得到增益1.0所对应的第一光电采样精度、0.5L角差所对应的第二光电采样精度和小电流偏置所对应的第三光电采样精度，然后将第一光电采样精度、第二光电采样精度和第三光电采样精度分别与校表芯片中设置的第一光电采样精度的判断范围、第二光电采样精度的判断范围和第三光电采样精度的判断范围进行比对，光电采样精度在对应的判断范围内则为合格，否则为不合格，校表芯片分别自动判断增益1.0、0.5L角差和小电流偏置是否合格，设置在校表芯片中的第一光电采样精度的判断范围为0.4≤|第一光电采样精度|≤10；第二光电采样精度的判断范围为0.4≤|第二光电采样精度|≤1；第三光电采样精度的判断范围为0.4≤|第三光电采样精度|≤2；
Figure BDA0001701050720000041
因此会出现正负值的情况，正负号用于表示采样值的偏向，正偏或者反偏，所以在判断具体范围时以绝对值判断更加准确及方便。
在对异常电压点位x，异常电流点位y分别进行调试后需要再将第一光电采样精度的绝对值与标准光电采样精度的绝对值进行对比；对异常角差点位m进行调试后需要再将第二光电采样精度的绝对值与标准光电采样精度的绝对值进行对比；在对异常偏置点位n进行调试后需要再将第三光电采样精度的绝对值与标准光电采样精度的绝对值进行对比；标准光电采样精度的绝对值为0.4；只有当调试后的光电采样精度的(包括第一光电采样精度、第二光电采样精度和第三光电采样精度)的绝对值小于等于标准光电采样精度的绝对值0.4时才可以进行下一步调试，当调试后的光电采样精度的绝对值大于0.4时，此时代表计度器电能表中的硬件存在异常不合格，需要结束校表。
第一光电采样精度、第二光电采样精度和第三光电采样精度依次分别等于计度器电能表在增益1.0、0.5L角差和小电流偏置三种校表状态下的脉冲频率，在计度器电能表上设有脉冲灯，校表台上设有用于测量光电采样信号的光电采样器，光电采样器根据脉冲灯的闪烁频率获取光电采样精度。校表芯片在获取第一光电采样精度、第二光电采样精度和第三光电采样精度前延迟5S-15S后再获取，最小为5S，最大为15S，最佳为10s，延迟一段时间可以使的校表台运行的更较稳定，数据测量更准确。
如图3所示，图中±表示正偏或者反偏，本发明的校表方法为，开始，将待测的计度器电能表安装在校表台上并初始化校表台，校表芯片读取预设的脚本文件，在该脚本文件中存有待测计度器电能表的电压、电流、精度范围的标准值；然后对计度器电能表发送上电命令，给其加Un、Ib、1.0用于判断增益1.0是否合格，上电延迟10S后读取第一光电采样精度，若第一光电采样精度的绝对值大于10，则计度器电能表的硬件存在问题，结束校表；若第一光电采样精度的绝对值小于10，则继续校表，判断第一光电采样精度的绝对值是否在0.4～10的范围内，若在0.4～10的范围内，则证明X1、Y1点位存在异常，则短接X1和Y1点位，若第一光电采样精度的绝对值不在0.4～10的范围内，则判断第一光电采样精度的绝对值是否在1～4的范围内，若在则短接X2和Y2点位，若不在继续判断第一光电采样精度的绝对值是否在0.1～1的范围内，若在则短接X3和Y3点位，若不在则判断第一光电采样精度的绝对值是否小于等于0.4，若小于等于标准光电采样精度的绝对值0.4，则证明增益1.0已校准合格；接下来校准0.5L角差，首先发送上电命令，加Un、Ib、0.5L，延迟10S后读取第二光电采样精度，首先判断第二光电采样精度的绝对值是否大于1，若大于1计度器电能表硬件异常，结束校表；若小于1，则继续校表，判断第二光电采样精度的绝度值是否在0.4～1的范围内，若在则短接X4和Y4点位，若不在则继续判断第二光电采样精度的绝度值是否小于等于0.4，若大于0.4则结束校表，若小于等于0.4则证明0.5L角差已校准合格；最后对小电流偏置进行校准，发送上电命令，加Un、0.05Ib、1.0；延迟10S后，读取第三光电采样精度，判断第三光电采样精度是否大于2，若大于2则结束校表，若小于2则继续判读第三光电采样精度是都在0.4～2的范围内，若在则短接X5和Y5，若不在则继续判断第三光电采样精度是否小于等于0.4，若大于0.4则表示计度器电能表硬件存在异常，结束校表，若小于等于0.4则证明第三光电采样精度也已校准合格，校准芯片提示校表合格并保存数据，整个计度器电能表的校表过程结束，此时计度器电能表为已校准合格的电能表。
以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制。尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解，其依然可以对前述的实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中各部分技术特征进行等同替换，而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明实施例技术方案的范围。

Claims (5)

1.一种计度器电能表的校表方法，其特征在于，包括以下步骤：
第一步，开始，将计度器电能表安装在校表台上；
第二步，上电初始化校表台，所述的校表芯片通过多次获取计度器电能表上的光电采样精度分别得到增益1.0所对应的第一光电采样精度、0.5L角差所对应的第二光电采样精度和小电流偏置所对应的第三光电采样精度，然后将第一光电采样精度、第二光电采样精度和第三光电采样精度分别与校表芯片中设置的第一光电采样精度的判断范围、第二光电采样精度的判断范围和第三光电采样精度的判断范围进行比对，分别判断增益1.0、0.5L角差和小电流偏置是否合格；
所述的第一光电采样精度的判断范围为0.4≤|第一光电采样精度|≤10；所述的第二光电采样精度的判断范围为0.4≤|第二光电采样精度|≤1；所述的第三光电采样精度的判断范围为0.4≤|第三光电采样精度|≤2；
第三步，校表芯片判断增益1.0是否合格，若增益1.0不合格，则进入第四步，若增益1.0合格，则进入第五步；
第四步，校表芯片找出异常电压点位x，异常电流点位y，对异常电压点位x，异常电流点位y分别进行调试，具体是将待测的计度器电能表安装在校表台上并初始化校表台，校表芯片读取预设的脚本文件，在该脚本文件中存有待测计度器电能表的电压、电流、精度范围的标准值；然后对计度器电能表发送上电命令，给其加Un、Ib、1.0用于判断增益1.0是否合格，上电延迟10S后读取第一光电采样精度，若第一光电采样精度的绝对值大于10，则计度器电能表的硬件存在问题，结束校表；若第一光电采样精度的绝对值小于10，则继续校表，判断第一光电采样精度的绝对值是否在4～10的范围内，若在4～10的范围内，则证明X1、Y1点位存在异常，则短接X1和Y1点位，若第一光电采样精度的绝对值不在4～10的范围内，则判断第一光电采样精度的绝对值是否在1～4的范围内，若在则短接X2和Y2点位，若不在继续判断第一光电采样精度的绝对值是否在0.4～1的范围内，若在则短接X3和Y3点位，若不在则判断第一光电采样精度的绝对值是否小于等于0.4，若小于等于标准光电采样精度的绝对值0.4，则证明增益1.0已校准合格；
第五步，校表芯片判断0.5L角差是否合格，若0.5L角差不合格，则进入第六步，若0.5L角差合格，则进入第七步；
第六步，校表芯片找出异常角差点位m，对异常角差点位m进行调试，具体是首先发送上电命令，加Un、Ib、0.5L，延迟10S后读取第二光电采样精度，首先判断第二光电采样精度的绝对值是否大于1，若大于1计度器电能表硬件异常，结束校表；若小于1，则继续校表，判断第二光电采样精度的绝度值是否在0.4～1的范围内，若在则短接X4和Y4点位，若不在则继续判断第二光电采样精度的绝度值是否小于等于0.4，若大于0.4则结束校表，若小于等于0.4则证明0.5L角差已校准合格；
第七步，校表芯片判断小电流偏置是否合格，若小电流偏置不合格，则进入第八步，若小电流偏置合格，则进入第九步；
第八步，校表芯片找出异常偏置点位n，对异常偏置点位n进行调试，具体是发送上电命令，加Un、0.05Ib、1.0；延迟10S后，读取第三光电采样精度，判断第三光电采样精度是否大于2，若大于2则结束校表，若小于2则继续判读第三光电采样精度是都在0.4～2的范围内，若在则短接X5和Y5，若不在则继续判断第三光电采样精度是否小于等于0.4，若大于0.4则表示计度器电能表硬件存在异常，结束校表，若小于等于0.4则证明第三光电采样精度也已校准合格；
第九步，校表完成，断电拆卸计度器电能表；
其中，分别对所述的异常电压点位x、异常电流点位y、异常角差点位m、异常偏置点位n进行短接调试。
2.根据权利要求1所述的一种计度器电能表的校表方法，其特征在于，在对异常电压点位x，异常电流点位y分别进行调试后需要再将第一光电采样精度的绝对值与标准光电采样精度的绝对值进行对比；对异常角差点位m进行调试后需要再将第二光电采样精度的绝对值与标准光电采样精度的绝对值进行对比；在对异常偏置点位n进行调试后需要再将第三光电采样精度的绝对值与标准光电采样精度的绝对值进行对比；所述的标准光电采样精度的绝对值为0.4。
3.根据权利要求1所述的一种计度器电能表的校表方法，其特征在于，所述的第一光电采样精度、第二光电采样精度和第三光电采样精度依次分别等于计度器电能表在增益1.0、0.5L角差和小电流偏置三种校表状态下的脉冲频率。
4.根据权利要求1所述的一种计度器电能表的校表方法，其特征在于，所述的校表芯片在获取第一光电采样精度、第二光电采样精度和第三光电采样精度前延迟5S-15S后再获取。
5.根据权利要求1所述的一种计度器电能表的校表方法，其特征在于，所述的校表芯片延迟10S后再分别获取第一光电采样精度、第二光电采样精度和第三光电采样精度。
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