CN101364198A - 读卡接口的测试治具及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种读卡界面的测试治具及其测试方法，应用于包括多种记忆卡的读卡接口并将这些记忆卡接口整合于一记忆卡插槽中。其中，该读卡接口电性连接至笔记本计算机。该测试治具中包括：记忆卡、切换单元、连结部与连接电路。该切换单元连接至读卡接口，用于接收切换指令，并根据切换指令选择相应记忆卡。该连结部电性连结于记忆卡插槽与切换单元间。该连接电路连接于切换单元与记忆卡之间，该连接电路传递检测数据至笔记本计算机。该笔记本计算机检测存取前的检测数据与存取后的检测数据。本发明不仅可以判断记忆卡插槽是否正常运作，还可以减少对记忆卡插槽的插拔次数。

Description

读卡接口的测试治具及其测试方法

技术领域

本发明涉及一种读卡接口的测试治具及其测试方法，特别是一种用以测试具有多种记忆卡接口的读卡接口的测试治具及其测试方法。

背景技术

随着记忆卡种类的多样化，使用者必须要购买其对应的读卡接口，以存取记忆卡中的数据。例如，使用者若要使用CF记忆卡，则需另外购买CF读卡接口。使用者如果需要存取SD记忆卡的数据时，则需另外购买SD读卡接口，每一种规格的记忆卡都需要其所对应的读卡接口，这就给使用者造成了许多的不便。为了解决多种读卡接口的问题，有的厂商把多种规格的读卡接口整合在一体。这种多合一的读卡接口110将各类记忆卡接口设置在同一记忆卡插槽111中，通过不同的记忆卡外型依序设置在记忆卡插槽111中。

请参考图1所示，此为具有多记忆卡接口的记忆卡插槽与记忆卡连结的示意图。使用者只需要找到该记忆卡插槽111中对应的记忆卡位置即可使用。例如在图1中，CF记忆卡插槽被设置在记忆卡插槽111的上方，而SD记忆卡插槽与MS记忆卡插槽则是被设置在记忆卡插槽111的下方，如此一来，在记忆卡插槽111中就可以对应设置不同记忆卡接口的脚位。这样一来，除了可以整合多种记忆卡于一个读卡接口110中，还可以节省读卡接口110的体积。为了扩充笔记本计算机的连结功能，许多笔记本计算机上开始设置有上述的多合一读卡接口110。使得使用者在外出时就不需额外携带读卡接口110，从而减少了使用者的负担。

厂商为了对这种多合一读卡接口110进行测试，通常都采用如下列步骤所示的测试方法，请参考图2所示：选择一记忆卡(S210)。将选择的记忆卡插入其对应的记忆卡插槽中(S220)。由笔记本计算机提供测试信号至记忆卡(S230)。笔记本计算机检测发送前与接收到的测试信号(S240)。若比对后无误，则重复步骤S210直至所有的记忆卡都完成检测。这样的测试方式都需要进行抽卡换卡的操作，以N合一的读卡接口110为例，需要进行N次的插拔及测试。对于读卡接口110与测试用的记忆卡来说，插卡拔卡的动作或多或少都会造成设备的损伤。

特别的，对于记忆卡而言，因为要测试多台笔记本计算机，所以插拔的次数更多、更容易被磨损。如此一来，厂商需要经常购入新的记忆卡进行测试。这对于厂商而言，毫无疑问的会造成一种测试成本的浪费。

发明内容

本发明的主要目的在于，提供一种读卡接口的测试治具，用以连结至笔记本计算机中的一读卡接口。该读卡接口设置一记忆卡插槽，在记忆卡插槽中具有多种规格的记忆卡接口。

为了实现上述目的，本发明公开了一种读卡接口的测试治具，笔记本计算机提供记忆卡插槽，记忆卡插槽至少包括一个以上的记忆卡接口，测试治具电性连结至记忆卡插槽，测试治具中包括：记忆卡、切换单元、连结部与连接电路。

在测试治具中，提供多种接口规格的记忆卡。该切换单元电性连接至笔记本计算机，并用以接收笔记本计算机所发送的切换指令。切换单元根据所接收的切换指令用以选择对应的记忆卡。该连结部用以电性连结于记忆卡插槽与切换单元之间。该连接电路电性连接于切换单元与记忆卡之间，用以传递检测数据，使得笔记本计算机用以检测存取前的检测数据与存取后的检测数据，从而判断记忆卡插槽是否正常运作。

为了实现上述目的，本发明还提出了一种读卡接口的测试方法。测试方法包括下列步骤：

整合多个记忆卡于一测试治具中。将测试治具与记忆卡插槽中所具有的记忆卡接口电性连接。从多个记忆卡中选定一待测的记忆卡，并使被选定的记忆卡通过测试治具与记忆卡插槽中的相应的记忆卡接口建立通信关系。发送一检测数据至被选定的记忆卡，再从被选定的记忆卡读取发送的检测数据，并对发送的检测数据及读取的数据进行比较，以判断记忆卡插槽中对应的记忆卡接口是否发生错误。

本发明提供的一种读卡接口的测试治具，用以连结具有多种规格记忆卡接口的读卡接口，可以降低对读卡接口插槽的插拔次数。并且可以通过笔记型计算机发送切换指令，以选择所希望测试的记忆卡接口。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1为具有多记忆卡接口的记忆卡插槽与记忆卡连结的示意图；

图2为现有技术的测试流程图；

图3为本发明与笔记本计算机连结的示意图；

图4为利用本发明的测试流程图；

图5为本发明中记忆卡的连接示意图。

其中，附图标记：

110—读卡接口

111—记忆卡插槽

300—测试装置

310—连结部

320—记忆卡

330—切换单元

340—连接电路

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明提供了一种读卡接口110的测试治具300。笔记本计算机提供记忆卡插槽，记忆卡插槽中可以是但不限于为CF(Compact Flash)接口、SD(SecureDigital)接口、MS(Memory Stick)接口、SM(Smart Media)接口、XD接口或MMC(Multimedia Card)接口的记忆卡、MSP接口的记忆卡(Memory StickPro Card)。在测试治具300中包括：连结部310、记忆卡320、切换单元330与连接电路340。

请参考图3所示，此为本发明与笔记本计算机连结的示意图。在测试治具300中设置有多种不同规格的记忆卡320，并将其整合在一电路板上。连结部310用以电性连结于读卡接口110中的记忆卡插槽111与切换单元330之间。为能减少对记忆卡插槽111的插拔，所以连结部310的外观设计成与记忆卡插槽111相符合，并且对应记忆卡插槽111中具有的记忆卡接口。因此，在测试治具300中同时包括了多种规格接口的记忆卡320，例如，CF记忆卡、SD记忆卡、MS记忆卡、SM记忆卡、XD记忆卡或MMC记忆卡、MS Pro记忆卡(Memory Stick Pro Card)。当连结部310置入于记忆卡插槽111时，测试治具300与记忆卡插槽111中所具有的记忆卡接口电性连接。

切换单元330电性连接至笔记本计算机，切换单元330用以接收笔记本计算机所发送的切换指令。切换单元330根据所接收的切换指令用以选择对应的记忆卡320。切换指令为序列外围接口(Serial Peripheral Interface，SPI)命令。序列外围接口为微处理器和接口设备的一种同步的串行数据协议，序列外围接口用以提供CPU与周边组件之间高频宽的网络连结。

连接电路340电性连接于切换单元330与记忆卡320之间，连接电路340用以传递检测数据至记忆卡320，使得笔记本计算机用以检测存取前的检测数据与存取后的检测数据，从而判断记忆卡插槽111是否正常运作。笔记本计算机发送序列外围接口命令用以触发该记忆卡320中的芯片选择脚位。

本发明的测试治具的运作流程，其测试方法包括下列步骤，请同时参考图4所示：整合多个记忆卡于一测试治具中(步骤S410)。将测试治具与记忆卡插槽中所具有的记忆卡接口电性连接(步骤S420)。从多个记忆卡中选定一待测的记忆卡，并使被选定的记忆卡通过测试治具与记忆卡插槽中的相应的记忆卡接口建立通信关系(步骤S430)。发送一检测数据至被选定的记忆卡，再从被选定的记忆卡读取发送的检测数据，并对发送的检测数据及读取的数据进行比较，以判断记忆卡插槽中对应的记忆卡接口是否发生错误(步骤S440)。并重复步骤S430选择其它记忆卡，直至所有的记忆卡接口被测试完成为止。

为更清楚解释本发明的详细的运作流程，以下利用SD、Mini SD与MMC三种记忆卡作为本发明的流程介绍，若读卡接口110中具有更多不同规格的记忆卡320，也可使用这一方法进行切换。

请参考图5所示，此为本发明中记忆卡的连接示意图。假设SD卡为第一个测试记忆卡以及SD的芯片选择脚位为低电位时为有效动作，而高电位时则是对选择的记忆卡320发出禁能指示。当测试治具300置入读卡接口110时，测试治具300会接收到笔记本计算机所发出的切换指令，从而触发SD卡中的芯片选择脚位(降低电位使其有效)，使SD卡被选择作为检测用的该记忆卡320。当SD卡测试完毕后，笔记本计算机再发送一次切换指令，并拉高对SD卡的芯片选择脚位的电位，使SD卡禁能。接着，测试治具300中的切换单元330侦测到这一变化后，测试治具300将SD卡切换成SPI模式。于此同时，笔记本计算机与SD卡则是保持为SPI通信模式。笔记本计算机继续选择下一个欲测试的记忆卡320并重复上述的切换、测试、通信及选择的步骤，直至所有的记忆卡320都被测试完成为止。

本发明提供的一种读卡接口110的测试治具300，用以连结具有多规格记忆卡接口的读卡接口插槽，可以降低对读卡接口插槽的插拔次数。并且通过笔记本计算机发送切换指令，从而选择所欲测试的记忆卡接口。

当然，本发明还可有其他多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (8)

1.一种读卡接口的测试治具，应用于一包括多种记忆卡接口的读卡接口且将该记忆卡接口整合于该读卡接口的一记忆卡插槽中，该读卡接口电性连接至一笔记本计算机，其特征在于，该测试治具中包括：

多种记忆卡；

一切换单元，电性连接至该笔记本计算机，该切换单元用以接收该笔记本计算机所发送的一切换指令，该切换单元根据所接收的该切换指令用以选择对应的该记忆卡；

一连结部，用以电性连结于该记忆卡插槽与该切换单元之间；以及

一连接电路，电性连接于该切换单元与该记忆卡之间，该连接电路用以传递多个检测数据，使得该笔记本计算机用以检测存取前的检测数据与存取后的检测资料，从而判断该记忆卡插槽是否正常运作。

2.如权利要求1所述的读卡接口的测试治具，其特征在于，其中该记忆卡插槽至少包括一CF接口、一SD接口、一MS接口、一SM接口、一XD接口或一MMC接口、一MS Pro接口。

3.如权利要求1所述的读卡接口的测试治具，其特征在于，其中该记忆卡为一CF记忆卡、一SD记忆卡、一MS记忆卡、一SM记忆卡、一XD记忆卡或一MMC记忆卡、一MS Pro记忆卡。

4.如权利要求1所述的读卡接口的测试治具，其特征在于，其中该切换指令为一序列外围接口命令，该序列外围接口命令用以触发该记忆卡中的一芯片选择脚位，使其被选择作为检测用的该记忆卡。

5.一种读卡界面的测试方法，应用于包括多种记忆卡接口的一读卡接口且将该记忆卡接口整合于一记忆卡插槽中，其特征在于，该测试方法包括下列步骤：

整合多个记忆卡于一测试治具中；

将该测试治具与该记忆卡插槽中所具有的该记忆卡接口电性连接；

从该记忆卡中选定一待测的记忆卡，并使该被选定的记忆卡通过该测试治具与该记忆卡插槽中的相应的记忆卡接口建立通信关系；以及

发送一检测数据至被选定的该记忆卡，再从该被选定的记忆卡读取该发送的检测数据，并对该发送的检测数据及该读取的数据进行比较，以判断该记忆卡插槽中对应的该记忆卡接口是否发生错误。

6.如权利要求5所述的读卡接口的测试方法，其特征在于，其中该记忆卡插槽中至少具有一CF接口、一SD接口、一MS接口、一SM接口、一XD接口或一MMC接口、一MS Pro接口。

7.如权利要求5所述的读卡接口的测试方法，其特征在于，其中该记忆卡为一CF记忆卡、一SD记忆卡、一MS记忆卡、一SM记忆卡、一XD记忆卡或一MMC记忆卡、一MS Pro记忆卡。

8.如权利要求5所述的读卡接口的测试方法，其特征在于，其中该切换方法还包括下列步骤：提供一序列外围接口命令，用以触发该记忆卡中的一芯片选择脚位，使其被选择作为检测用的该记忆卡。

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