CN111223429A - 裂纹检测电路、显示面板及裂纹检测方法 - Google Patents

裂纹检测电路、显示面板及裂纹检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN111223429A
CN111223429A CN202010070443.3A CN202010070443A CN111223429A CN 111223429 A CN111223429 A CN 111223429A CN 202010070443 A CN202010070443 A CN 202010070443A CN 111223429 A CN111223429 A CN 111223429A
Authority
CN
China
Prior art keywords
detection
resistor
unit
crack
detection unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202010070443.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111223429B (zh
Inventor
左堃
毕鑫
杨志
陶宇飞
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOE Technology Group Co Ltd
Chengdu BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
BOE Technology Group Co Ltd
Chengdu BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BOE Technology Group Co Ltd, Chengdu BOE Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical BOE Technology Group Co Ltd
Priority to CN202010070443.3A priority Critical patent/CN111223429B/zh
Publication of CN111223429A publication Critical patent/CN111223429A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111223429B publication Critical patent/CN111223429B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/549—Organic PV cells

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Abstract

一种裂纹检测电路，包括：依次连接的N个检测单元、N‑1个桥接电阻、以及至少四个检测点；任一检测单元包括两个检测电阻；第i个桥接电阻串接在第i个检测单元内的两个检测电阻之间，并串接在第i+1个检测单元内的两个检测电阻之间；四个检测点分别与第一个检测单元内的两个检测电阻和第N个检测单元内的两个检测电阻一一对应连接，且任一检测点与对应的检测电阻未连接有桥接电阻的一端连接；其中，N为大于1的整数，i为大于0且小于或等于N‑1的整数。

Description

裂纹检测电路、显示面板及裂纹检测方法
技术领域
本文涉及但不限于显示技术领域，尤指一种裂纹检测电路、显示面板及裂纹检测方法。
背景技术
有机电致发光(Organic Light-Emitting Diode，OLED)显示面板，相对于传统的液晶(Liquid Crystal Display，LCD)显示面板而言，能够实现柔性显示。对于柔性OELD显示面板而言，由于其具有可弯折和窄边框的特点，显示面板的边缘区域容易在运输和激光切割等过程中出现裂纹(Crack)，该裂纹会导致边缘走线受损，甚至断裂。
发明内容
本申请提供了一种裂纹检测电路、显示面板及裂纹检测方法，用于检测显示面板的边缘区域的裂纹。
一方面，本申请提供了一种裂纹检测电路，包括：依次连接的N个检测单元、N-1个桥接电阻、以及至少四个检测点；任一检测单元包括两个检测电阻；第i个桥接电阻串接在第i个检测单元内的两个检测电阻之间，并串接在第i+1个检测单元内的两个检测电阻之间；所述四个检测点分别与第一个检测单元内的两个检测电阻和第N个检测单元内的两个检测电阻一一对应连接，且任一检测点与对应的检测电阻未连接有桥接电阻的一端连接；其中，N为大于1的整数，i为大于0且小于或等于N-1的整数。
另一方面，本申请提供一种显示面板，包括：检测控制模组以及如上所述的裂纹检测电路；所述检测控制模组分别与所述裂纹检测电路的四个检测点连接；所述裂纹检测电路设置在围绕显示区域的边框区域内。
另一方面，本申请提供一种裂纹检测方法，应用于如上所述的显示面板，所述裂纹检测方法包括：检测控制模组将裂纹检测电路的四个检测点中的任两个检测点作为一个测试组，依次对六个测试组进行阻值测量，得到每个测试组的测量阻值；所述检测控制模组根据六个测试组的测量阻值与理论阻值的比较结果，确定所述裂纹检测电路所在的边框区域是否存在裂纹，并定位所述裂纹所在的位置。
本申请提供的裂纹检测电路是一种特殊设计的电阻网络。基于本申请提供的裂纹检测电路进行阻值测量，并根据测量阻值和理论阻值的比较结果，可以支持判断出裂纹检测电路所在的区域是否出现裂纹，并可以定位出裂纹所在位置，从而给显示面板的不良分析和工艺改良提供有效帮助。
本申请的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本申请而了解。本申请的其他优点可通过在说明书以及附图中所描述的方案来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本申请技术方案的理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本申请的技术方案，并不构成对本申请技术方案的限制。附图中各部件的形状和大小不反映真实比例，目的只是示意说明本申请内容。
图1为本申请实施例提供的裂纹检测电路的一种示例图；
图2为本申请实施例提供的裂纹检测电路的另一种示例图；
图3为本申请实施例提供的裂纹检测电路的另一种示例图；
图4为本申请实施例提供的裂纹检测电路的另一种示例图；
图5为本申请实施例提供的显示面板的一种示例图；
图6为本申请实施例提供的显示面板的另一种示例图；
图7为本申请实施例提供的裂纹检测方法的流程图。
具体实施方式
本申请描述了多个实施例，但是该描述是示例性的，而不是限制性的，并且对于本领域的普通技术人员来说显而易见的是，在本申请所描述的实施例包含的范围内可以有更多的实施例和实现方案。尽管在附图中示出了许多可能的特征组合，并在实施方式中进行了讨论，但是所公开的特征的许多其它组合方式也是可能的。除非特意加以限制的情况以外，任何实施例的任何特征或元件可以与任何其它实施例中的任何其他特征或元件结合使用，或可以替代任何其它实施例中的任何其他特征或元件。
本申请包括并设想了与本领域普通技术人员已知的特征和元件的组合。本申请已经公开的实施例、特征和元件也可以与任何常规特征或元件组合，以形成由权利要求限定的独特的发明方案。任何实施例的任何特征或元件也可以与来自其它发明方案的特征或元件组合，以形成另一个由权利要求限定的独特的发明方案。因此，应当理解，在本申请中示出和/或讨论的任何特征可以单独地或以任何适当的组合来实现。因此，除了根据所附权利要求及其等同替换所做的限制以外，实施例不受其它限制。此外，可以在所附权利要求的保护范围内进行各种修改和改变。
此外，在描述具有代表性的实施例时，说明书可能已经将方法和/或过程呈现为特定的步骤序列。然而，在该方法或过程不依赖于本文所述步骤的特定顺序的程度上，该方法或过程不应限于所述的特定顺序的步骤。如本领域普通技术人员将理解的，其它的步骤顺序也是可能的。因此，说明书中阐述的步骤的特定顺序不应被解释为对权利要求的限制。此外，针对该方法和/或过程的权利要求不应限于按照所写顺序执行它们的步骤，本领域技术人员可以容易地理解，这些顺序可以变化，并且仍然保持在本申请实施例的精神和范围内。
在附图中，有时为了明确起见，夸大表示了各构成要素的大小、层的厚度或区域。因此，本申请的一个方式并不一定限定于该尺寸，附图中各部件的形状和大小不反映真实比例。此外，附图示意性地示出了理想的例子，本申请的一个方式不局限于附图所示的形状或数值等。
本说明书中的“第一”、“第二”、“第三”等序数词是为了避免构成要素的混同而设置，而不是为了在数量方面上进行限定的。
在本说明书中，“平行”可以是指两条直线形成的角度为-10°以上且10°以下的状态，因此，也包括该角度为-5°以上且5°以下的状态。另外，“垂直”可以是指两条直线形成的角度为80°以上且100°以下的状态，因此，也包括85°以上且95°以下的角度的状态。
本申请实施例提供一种裂纹检测电路、显示面板及裂纹检测方法，用于检测显示面板的边缘区域是否存在裂纹，并定位出裂纹所在的位置，从而给显示面板的不良解析和工艺改善提供有效帮助。
本申请实施例提供一种裂纹检测电路，包括：依次连接的N个检测单元、N-1个桥接电阻、以及至少四个检测点；任一检测单元包括两个检测电阻；第i个桥接电阻串接在第i个检测单元内的两个连接电阻之间，并串接在第i+1个检测单元内的两个检测电阻之间；四个检测点分别与第一个检测单元内的两个检测电阻和第N个检测单元内的两个检测电阻一一对应连接，且任一检测点与对应的检测电阻未连接有桥接电阻的一端连接；其中，N为大于1的整数，i为大于0且小于或等于N-1的整数。
本实施例提供的裂纹检测电路设置在显示面板的边框区域，用于检测裂纹检测电路所对应位置处是否存在裂纹，以及支持定位出裂纹所在位置。
在一示例性实施方式中，N个检测单元包括N1个第一类型的检测单元和N2个第二类型的检测单元；第一类型的检测单元内的两个检测电阻的延伸方向均平行于第一方向，第二类型的检测单元内的两个检测电阻的延伸方向均平行于第二方向；第一方向和第二方向位于同一平面内且相互垂直；其中，N1和N2均为大于或等于0且小于或等于N的整数，且N1和N2之和为N。在一示例中，第一方向可以为显示面板的长度方向，第二方向可以为显示面板的宽度方向；或者，第一方向可以为显示面板的宽度方向，第二方向可以为显示面板的长度方向。然而，本申请对此并不限定。
在一示例性实施方式中，第一类型的检测单元内的检测电阻的阻值相同；第二类型的检测单元内的检测电阻的阻值相同；第一类型的检测单元内的检测电阻的阻值不同于第二类型的检测单元内的检测电阻的阻值。然而，本申请对此并不限定。比如，在其他实现方式中，同一检测单元内的两个检测电阻的阻值可以不同。
在一示例性实施方式中，连接在两个相邻的第一类型的检测单元之间的桥接电阻的延伸方向平行于第二方向，连接在相邻两个第二类型的检测单元之间的桥接电阻的延伸方向平行于第一方向，连接在相邻的第一类型的检测单元和第二类型的检测单元之间的桥接电阻的延伸方向平行于第一方向或第二方向。然而，本申请对此并不限定。比如，在其他实现方式中，桥接电阻的延伸方向可以与第一方向或第二方向形成一定夹角。
在一示例性实施方式中，延伸方向平行于第一方向的桥接电阻的阻值与延伸方向平行于第一方向的检测电阻的阻值相同，延伸方向平行于第二方向的桥接电阻的阻值与延伸方向平行于第二方向的检测电阻的阻值相同。然而，本申请对此并不限定。比如，在其他实现方式中，桥接电阻的阻值可以不同于检测电阻的阻值。
下面通过多个示例对本申请实施例提供的裂纹检测电路进行举例说明。
图1为本申请实施例提供的裂纹检测电路的一种示例图。如图1所示，本示例性实施例提供的裂纹检测电路包括：第一个检测单元U1、第二个检测单元U2、桥接电阻R01以及四个检测点T1、T2、T3和T4。换言之，在本示例中，N的取值为2。
如图1所示，第一个检测单元U1包括两个检测电阻R11和R12，第二个检测单元U2包括两个检测单元R21和R22。桥接电阻R01串接在第一个检测单元U1的检测电阻R11和R12之间，并串接在第二个检测单元U2的检测电阻R21和R22之间。四个检测点T1、T2、T3和T4分别与第一个检测单元U1内的两个检测电阻R11和R12和第二个检测单元U2内的两个检测电阻R21和R22一一对应连接，且任一检测点与对应的检测电阻未连接有桥接电阻的一端连接。
具体而言，桥接电阻R01的第一端分别与检测电阻R11的第一端和检测电阻R21的第一端连接，桥接电阻R01的第二端分别与检测电阻R12的第一端和检测电阻R22的第一端连接；检测电阻R11的第二端与检测点T1连接，检测电阻R12的第二端与检测点T2连接，检测电阻R22的第二端与检测点T3连接，检测电阻R21的第二端与检测点T4连接。
在本示例中，第一个检测单元U1内的两个检测电阻R11和R12并排设置，且两个检测电阻R11和R12的延伸方向相互平行；第二个检测单元U2内的两个检测电阻R21和R22并排设置，且两个检测电阻R21和R22的延伸方向相互平行；且第一个检测单元U1内的检测电阻的延伸方向平行于第二个检测单元U2内的检测电阻的延伸方向。然而，本申请对此并不限定。比如，第一个检测单元内的检测电阻的延伸方向可以垂直于第二个检测单元内的检测电阻的延伸方向。
在本示例中，桥接电阻R01的延伸方向与检测电阻的延伸方向平行。然而，本申请对此并不限定。比如，桥接电阻R01的延伸方向可以与检测电阻的延伸方向相互垂直。
在本示例中，裂纹检测电路设置在围绕显示面板的显示区域的边框区域内。例如，第一个检测单元U1位于左侧边框区域，第二个检测单元U2位于右侧边框区域，桥接电阻R01位于上边框区域；通过桥接电阻R01将裂纹检测电路所在的边框区域划分为两个子区域，其中，第一个检测单元U1对应第一个子区域，第一个子区域包括左侧边框区域和上边框区域的左侧部分，第二个检测单元U2对应第二个子区域，第二个子区域包括右侧边框区域和上边框区域的右侧部分。通过调整桥接电阻R01的位置可以调整两个子区域的范围。
本示例中，根据四个检测点T1、T2、T3和T4中任两个检测点之间的阻值变化，可以判断显示面板的边框区域是否存在裂纹，并定位裂纹所在位置，例如判断出裂纹出现在第一个子区域或者第二个子区域。
在本示例中，四个检测点T1、T2、T3和T4可以两两组合得到六个测试组。六个测试组在不同情况下的理论阻值可以参照表1所示。
表1
Figure BDA0002377155630000061
Figure BDA0002377155630000071
在表1中，R11表示检测电阻R11的阻值，R12表示检测电阻R12的阻值，R21表示检测电阻R21的阻值，R22表示检测电阻R22的阻值，R01表示桥接电阻R01的阻值。在一示例中，多个检测电阻的阻值均相同，且桥接电阻的阻值与检测电阻相同。然而，本申请对此并不限定。比如，检测电阻的阻值与桥接电阻的阻值不相同。
在表1中，区域1可以为边框区域内由第一个检测单元U1对应的第一个子区域，例如包括左侧边框区域和上边框区域的左侧部分；区域2可以为边框区域内由第二个检测单元U2对应的第二个子区域，例如包括右侧边框区域和上边框区域的右侧部分。区域1和区域2之间通过桥接电阻R01划分。
表1中分别示意了显示面板在以下多种情况下不同测试组的理论阻值情况：边缘无裂纹、区域1存在裂纹、区域2存在裂纹、区域1和区域2均存在裂纹。其中，“↑”表示某一测试组在相应情况下得到的测量阻值相较于边缘无裂纹情况下的理论阻值的上升幅度大于第一阈值。其中，第一阈值的设定可以根据实际需求确定。然而，本申请对此并不限定。
在本示例中，当裂纹检测电路所在的边缘区域出现裂纹时，相应检测单元内的检测电阻的阻值会大于正常情况下的阻值，当边缘区域断裂时，相应检测单元内的检测电阻的阻值为无穷大。如此一来，通过对检测点进行组合，并进行阻值测量，然后通过阻值变化情况，可以判断出边缘区域是否存在裂纹，以及定位裂纹所在的位置。
图2为本申请实施例提供的裂纹检测电路的另一种示例图。相较于图1所示的裂纹检测电路，本示例性实施例提供的裂纹检测电路增加了一个检测单元和一个桥接电阻。换言之，在本示例中，N的取值为3。
如图2所示，本示例性实施例提供的裂纹检测电路包括：第一个检测单元U1、第二个检测单元U2、第三个检测单元U3、第一个桥接电阻R01、第二个桥接电阻R02以及四个检测点T1、T2、T3和T4。
其中，第一个检测单元U1包括两个检测电阻R11和R12，第二个检测单元U2包括两个检测电阻R21和R22，第三个检测单元U3包括两个检测电阻R31和R32。第一个桥接电阻R01串接在第一个检测单元U1的检测电阻R11和R12之间，并串接在第二个检测单元U2的检测电阻R21和R22之间；第二个桥接电阻R02串接在第二个检测单元U2的检测电阻R21和R22之间，并串接在第三个检测单元U3的检测电阻R31和R32之间。四个检测点T1、T2、T3和T4分别与第一个检测单元U1内的两个检测电阻R11和R12和第三个检测单元U3内的两个检测电阻R31和R32一一对应连接，且任一检测点与对应的检测电阻未连接有桥接电阻的一端连接。
如图2所示，桥接电阻R01的第一端分别与检测电阻R11的第一端和检测电阻R21的第一端连接，桥接电阻R01的第二端分别与检测电阻R12的第一端和检测电阻R22的第一端连接；桥接电阻R02的第一端分别与检测电阻R21的第二端和检测电阻R31的第一端连接，桥接电阻R02的第二端分别与检测电阻R22的第二端和检测电阻R32的第一端连接。检测电阻R11的第二端与检测点T1连接，检测电阻R12的第二端与检测点T2连接，检测电阻R32的第二端与检测点T3连接，检测电阻R31的第二端与检测点T4连接。
换言之，第一个检测单元U1内的第一个检测电阻R11的两端分别与第一个桥接电阻R01的第一端和第一个检测点T1连接，第一个检测单元U1内的第二个检测电阻R12的两端分别与第一个桥接电阻R01的第二端和第二个检测点T2连接；第二个检测单元U2内的第一个检测电阻R21的两端分别与第一个桥接电阻R01的第一端和第二个桥接电阻R02的第一端连接，第二个检测单元U2内的第二个检测电阻R22的两端分别与第一个桥接电阻R01的第二端和第二个桥接电阻R02的第二端连接；第三个检测单元U3内的第一个检测电阻R31的两端分别与第二个桥接电阻R02的第一端和第四个检测点T4连接，第三个检测单元U3内的第二个检测电阻R32的两端分别与第二个桥接电阻的第二端R02和第三个检测点T3连接。
在本示例中，三个检测单元内包括两种类型的检测单元，第一个检测单元U1和第三个检测单元U3为第一类型的检测单元，第二个检测单元U2为第二类型的检测单元。其中，第一个检测单元U1和第三个检测单元U3内的检测电阻并排设置，且延伸方向均平行于第一方向，比如图2中的Y方向，第二个检测单元U2内的检测电阻并排设置，且延伸方向均平行于第二方向，比如，图2中的X方向。其中，第一方向和第二方向位于同一平面内且相互垂直；比如，第一方向可以为显示面板的长度方向，第二方向可以为显示面板的宽度方向。
在本示例中，两个桥接电阻R01和R02的延伸方向均平行于第二方向。然而，本申请对此并不限定。比如，两个桥接电阻的延伸方向可以均平行于第一方向，或者，一个桥接电阻的延伸方向平行于第一方向，另一个桥接电阻的延伸方向平行于第二方向。
在本示例中，裂纹检测电路设置在围绕显示面板的显示区域的边框区域内。例如，第一个检测单元U1位于左侧边框区域，第二个检测单元U2位于上边框区域，第三个检测单元U3位于右侧边框区域；桥接电阻R01用于指示上边框区域和左侧边框区域的分界，桥接电阻R02用于指示上边框区域和右侧边框区域的分界。换言之，通过两个桥接电阻R01和R02将裂纹检测电路所在的边框区域划分为三个子区域；其中，第一个检测单元U1对应第一个子区域，比如包括左侧边框区域，第二个检测单元U2对应第二个子区域，比如包括上边框区域，第三个检测单元U3对应第三个子区域，比如包括右侧边框区域。通过调整桥接电阻R01和R02的位置可以调整三个子区域的范围。
在本示例中，第一个检测单元U1和第三个检测单元U3内的检测电阻的阻值相同，第二个检测单元U2内的检测电阻的阻值相同，且第一个检测单元U1内的检测电阻的阻值不同于第二个检测单元U2内的检测电阻的阻值；两个桥接电阻的阻值与第二个检测单元U2内的检测电阻的阻值相同。然而，本申请对此并不限定。
在本示例中，四个检测点T1、T2、T3和T4可以两两组合得到六个测试组。六个测试组在不同情况下的理论阻值可以参照表2所示。在表2中，以第一个检测单元U1和第三个检测单元U3内的任一检测电阻的阻值为RL、第二个检测单元U2内的任一检测电阻的阻值为RB、且两个桥接电阻的阻值分别为RB为例计算不同情况下的理论阻值。
表2
Figure BDA0002377155630000101
在表2中，区域1为边框区域内由第一个检测单元U1对应的第一个子区域，例如包括左侧边框区域；区域2为边框区域内由第二个检测单元U2对应的第二个子区域，例如包括上边框区域；区域3为边框区域内由第三个检测单元U3对应的第三个子区域，例如包括右侧边框区域。区域1、区域2和区域3之间通过两个桥接电阻R01和R02划分。
表2中分别示意了显示面板在以下多种情况下不同测试组的理论阻值情况：边缘无裂纹、区域1存在裂纹、区域2存在裂纹、区域1和区域2均存在裂纹、区域1和3均存在裂纹、区域2和3均存在裂纹、区域1、2和3均存在裂纹。其中，第一个测试组(T1-T2)和第六个测试组(T3-T4)两列中的“↑”表示测试组得到的测量阻值与边缘无裂纹情况下的理论阻值的上升幅度大于第一阈值，且测量阻值与用于表征裂纹区域的理论阻值的差值绝对值大于第二阈值；其余四个测试组对应列中的“↑”表示某一测试组在相应情况下得到的测量阻值相较于边缘无裂纹情况下的理论阻值的上升幅度大于第一阈值。其中，第一阈值大于第二阈值；第一阈值用于识别测量阻值明显增加的情况，第二阈值用于识别由于误差导致的测量阻值不同于理论阻值的情况。第一阈值和第二阈值的设定可以根据实际需求确定。然而，本申请对此并不限定。
图3为本申请实施例提供的裂纹检测电路的另一示例图。相较于图2所示的裂纹检测电路，本示例性实施例提供的裂纹检测电路增加了两个检测单元和两个桥接电阻。换言之，在本示例中，N的取值为5。
如图3所示，本示例性实施例提供的裂纹检测电路包括：第一个检测单元U1、第二个检测单元U2、第三个检测单元U3、第四个检测单元U4、第五个检测单元U5、第一个桥接电阻R01、第二个桥接电阻R02、第三个桥接电阻R03、第四个桥接电阻R04以及四个检测点T1、T2、T3和T4。其中，第一个检测单元U1包括两个检测电阻R11和R12，第二个检测单元U2包括两个检测电阻R21和R22，第三个检测单元U3包括两个检测电阻R31和R32，第四个检测单元U4包括两个检测电阻R41和R42，第五个检测单元U5包括两个检测电阻R51和R52。第一个桥接电阻R01串接在第一个检测单元U1的检测电阻R11和R12之间，并串接在第二个检测单元U2的检测电阻R21和R22之间；第二个桥接电阻R02串接在第二个检测单元U2的检测电阻R21和R22之间，并串接在第三个检测单元U3的检测电阻R31和R32之间；第三个桥接电阻R03串接在第三个检测单元U3的检测电阻R31和R32之间，并串接在第四个检测单元U4的检测电阻R41和R42之间；第四个桥接电阻R04串接在第四个检测单元U4的检测电阻R41和R42之间，并串接在第五个检测单元U5的检测电阻R51和R52之间。四个检测点T1、T2、T3和T4分别与第一个检测单元U1内的两个检测电阻R11和R12和第五个检测单元U5内的两个检测电阻R51和R52一一对应连接，且任一检测点与对应的检测电阻未连接有桥接电阻的一端连接。
如图3所示，桥接电阻R01的第一端分别与检测电阻R11的第一端和检测电阻R21的第一端连接，桥接电阻R01的第二端分别与检测电阻R12的第一端和检测电阻R22的第一端连接；桥接电阻R02的第一端分别与检测电阻R21的第二端和检测电阻R31的第一端连接，桥接电阻R02的第二端分别与检测电阻R22的第二端和检测电阻R32的第一端连接；桥接电阻R03的第一端分别与检测电阻R31的第二端和检测电阻R41的第一端连接，桥接电阻R03的第二端分别与检测电阻R32的第二端和检测电阻R42的第一端连接；桥接电阻R04的第一端分别与检测电阻R41的第二端和检测电阻R51的第一端连接，桥接电阻R04的第二端分别与检测电阻R42的第二端和检测电阻R52的第一端连接。检测电阻R11的第二端与检测点T1连接，检测电阻R12的第二端与检测点T2连接，检测电阻R52的第二端与检测点T3连接，检测电阻R51的第二端与检测点T4连接。
换言之，第一个检测单元U1内的第一个检测电阻R11的两端分别与第一个桥接电阻R01的第一端和第一个检测点T1连接，第一个检测单元U1内的第二个检测电阻R12的两端分别与第一个桥接电阻R12的第二端和第二个检测点T2连接；第二个检测单元U2内的第一个检测电阻R21的两端分别与第一个桥接电阻R01的第一端和第二个桥接电阻R02的第一端连接，第二个检测单元U2内的第二个检测电阻R22的两端分别与第一个桥接电阻R01的第二端和第二个桥接电阻R02的第二端连接；第三个检测单元U3内的第一个检测电阻R31的两端分别与第二个桥接电阻R02的第一端和第三个桥接电阻R03的第一端连接，第三个检测单元U3内的第二个检测电阻R32的两端分别与第二个桥接电阻R02的第二端和第三个桥接电阻R03的第二端连接；第四个检测单元U4内的第一个检测电阻R41的两端分别与第三个桥接电阻R03的第一端和第四个桥接电阻R04的第一端连接，第四个检测单元U4内的第二个检测电阻R42的两端分别与第三个桥接电阻R03的第二端和第四个桥接电阻R04的第二端连接；第五个检测单元U5内的第一个检测电阻R51的两端分别与第四个桥接电阻R04的第一端和第四个检测点T4连接，第五个检测单元U5内的第二个检测电阻R52的两端分别与第四个桥接电阻R04的第二端和第三个检测点T3连接。
在本示例中，五个检测单元内包括两种类型的检测单元，第一个检测单元U1、第二个检测单元U2、第四个检测单元U4及第五个检测单元U5为第一类型的检测单元，第三个检测单元U3为第二类型的检测单元。其中，第一个检测单元U1、第二个检测单元U2、第四个检测单元U4及第五个检测单元U5内的检测电阻分别并排设置，且延伸方向均平行于第一方向；第三个检测单元U3内的检测电阻并排设置，且延伸方向均平行于第二方向。其中，第一方向和第二方向位于同一平面内且相互垂直；比如，第一方向可以为显示面板的长度方向，第二方向可以为显示面板的宽度方向。
在本示例中，四个桥接电阻R01、R02、R03和R04的延伸方向均平行于第二方向。然而，本申请对此并不限定。比如，桥接电阻R02和R03的延伸方向可以平行于第一方向。
在本示例中，延伸方向平行于第一方向的检测电阻的阻值相同，延伸方向平行于第二方向的检测电阻的阻值相同；桥接电阻的阻值与其延伸方向一致的检测电阻的阻值相同。然而，本申请对此并不限定。
在本示例中，裂纹检测电路设置在围绕显示面板的显示区域的边框区域内。例如，第一个检测单元U1和第二个检测单元U2位于左侧边框区域，第三个检测单元U3位于上边框区域，第四个检测单元U4和第五个检测单元U5位于右侧边框区域；桥接电阻R02用于指示上边框区域和左侧边框区域的分界，桥接电阻R03用于指示上边框区域和右侧边框区域的分界；桥接电阻R01用于指示左侧边框区域内上下两部分的分界，桥接电阻R04用于指示右侧边框区域内上下两部分的分界。相较于图2所示的裂纹检测电路，本示例提供的裂纹检测电路对左侧边框区域和右侧边框区域进行了进一步划分。在其他实现方式中，可以沿第一方向新增桥接电阻和第一类型的检测单元，以将左侧边框区域或右侧边框区域划分为更多个子区域。
图4为本申请实施例提供的裂纹检测电路的另一示例图。相较于图2所示的裂纹检测电路，本示例性实施例提供的裂纹检测电路增加了一个检测单元和一个桥接电阻。换言之，在本示例中，N的取值为4。
如图4所示，本示例性实施例提供的裂纹检测电路包括：第一个检测单元U1、第二个检测单元U2、第三个检测单元U3、第四个检测单元U4、第一个桥接电阻R01、第二个桥接电阻R02、第三个桥接电阻R03以及四个检测点T1、T2、T3和T4。其中，第一个检测单元U1包括两个检测电阻R11和R12，第二个检测单元U2包括两个检测电阻R21和R22，第三个检测单元U3包括两个检测电阻R31和R32，第四个检测单元U4包括两个检测电阻R41和R42。第一个桥接电阻R01串接在第一个检测单元U1的检测电阻R11和R12之间，并串接在第二个检测单元U2的检测电阻R21和R22之间；第二个桥接电阻R02串接在第二个检测单元U2的检测电阻R21和R22之间，并串接在第三个检测单元U3的检测电阻R31和R32之间；第三个桥接电阻R03串接在第三个检测单元U3的检测电阻R31和R32之间，并串接在第四个检测单元U4的检测电阻R41和R42之间。四个检测点T1、T2、T3和T4分别与第一个检测单元U1内的两个检测电阻R11和R12和第四个检测单元U4内的两个检测电阻R41和R42一一对应连接，且任一检测点与对应的检测电阻未连接有桥接电阻的一端连接。
如图4所示，桥接电阻R01的第一端分别与检测电阻R11的第一端和检测电阻R21的第一端连接，桥接电阻R01的第二端分别与检测电阻R12的第一端和检测电阻R22的第一端连接；桥接电阻R02的第一端分别与检测电阻R21的第二端和检测电阻R31的第一端连接，桥接电阻R02的第二端分别与检测电阻R22的第二端和检测电阻R32的第一端连接；桥接电阻R03的第一端分别与检测电阻R31的第二端和检测电阻R41的第一端连接，桥接电阻R03的第二端分别与检测电阻R32的第二端和检测电阻R42的第一端连接。检测电阻R11的第二端与检测点T1连接，检测电阻R12的第二端与检测点T2连接，检测电阻R42的第二端与检测点T3连接，检测电阻R41的第二端与检测点T4连接。
换言之，第一个检测单元U1内的第一个检测电阻R11的两端分别与第一个桥接电阻R01的第一端和第一个检测点T1连接，第一个检测单元U1内的第二个检测电阻R12的两端分别与第一个桥接电阻R01的第二端和第二个检测点T2连接；第二个检测单元U2内的第一个检测电阻R21的两端分别与第一个桥接电阻R01的第一端和第二个桥接电阻R02的第一端连接，第二个检测单元U2内的第二个检测电阻R22的两端分别与第一个桥接电阻R01的第二端和第二个桥接电阻R02的第二端连接；第三个检测单元U3内的第一个检测电阻R31的两端分别与第二个桥接电阻R02的第一端和第三个桥接电阻R03的第一端连接，第三个检测单元U3内的第二个检测电阻R32的两端分别与第二个桥接电阻R02的第二端和第三个桥接电阻R03的第二端连接；第四个检测单元U4内的第一个检测电阻R41的两端分别与第三个桥接电阻R03的第一端和第四个检测点T4连接，第四个检测单元U4内的第二个检测电阻R42的两端分别与第三个桥接电阻R03的第二端和第三个检测点T3连接。
在本示例中，五个检测单元内包括两种类型的检测单元，第一个检测单元U1、第四个检测单元U4为第一类型的检测单元，第二个检测单元U2和第三个检测单元U3为第二类型的检测单元。其中，第一个检测单元U1、第四个检测单元U4内的检测电阻分别并排设置，且延伸方向均平行于第一方向；第二个检测单元U2和第三个检测单元U3内的检测电阻并排设置，且延伸方向均平行于第二方向。其中，第一方向和第二方向位于同一平面内且相互垂直；比如，第一方向可以为显示面板的长度方向，第二方向可以为显示面板的宽度方向。
在本示例中，桥接电阻R01和R03的延伸方向均平行于第二方向；桥接电阻R02的延伸方向平行于第一方向。然而，本申请对此并不限定。比如，桥接电阻R01和R03的延伸方向可以平行于第一方向。
在本示例中，延伸方向平行于第一方向的检测电阻的阻值相同，延伸方向平行于第二方向的检测电阻的阻值相同；桥接电阻的阻值与其延伸方向一致的检测电阻的阻值相同。然而，本申请对此并不限定。
在本示例中，裂纹检测电路设置在围绕显示面板的显示区域的边框区域内。例如，第一个检测单元U1位于左侧边框区域，第二个检测单元U2和第三个检测单元U3位于上边框区域，第四个检测单元U4位于右侧边框区域；桥接电阻R01用于指示上边框区域和左侧边框区域的分界，桥接电阻R03用于指示上边框区域和右侧边框区域的分界；桥接电阻R02用于指示上边框区域内左右两部分的分界。相较于图2所示的裂纹检测电路，本示例提供的裂纹检测电路对上边框区域进行了进一步划分。在其他实现方式中，可以沿第二方向新增桥接电阻和第二类型的检测单元，以将上边框区域划分为更多个子区域。
在其他实现方式中，可以沿第二方向新增桥接电阻和第二类型的检测单元，同时沿第一方向新增桥接电阻和第一类型的检测单元，以便将裂纹检测电路所对应的边框区域划分为更多个子区域，以支持实现对裂纹所在位置的准确定位。
本申请实施例还提供一种显示面板，包括：检测控制模组和裂纹检测电路；检测控制模组分别与裂纹检测电路的四个检测点连接；裂纹检测电路设置在围绕显示区域的边框区域内。裂纹检测电路的说明可以参照上述实施例的描述。
图5为本申请实施例提供的显示面板的一种示例图。如图5所示，显示面板包括显示区域AA和围绕显示区域AA的边框区域；裂纹检测电路位于边框区域内，裂纹检测电路的四个检测点T1、T2、T3和T4分别与检测控制模组连接。
在本示例中，裂纹检测电路的结构如图2所示，故于此不再赘述。裂纹检测电路内的三个桥接电阻将边框区域划分为三个子区域D1、D2和D3，每个子区域内设置有一个检测单元。
在本示例中，检测控制模组用于将裂纹检测电路的四个检测点中的任两个检测点作为一个测试组，依次对六个测试组进行阻值测量，得到每个测试组的测量阻值，并根据六个测试组的测量阻值与理论阻值的比较结果，确定显示面板的边框区域是否存在裂纹，并定位裂纹所在的位置。
在本示例中，基于图2所示实施例描述的裂纹检测电路，以RL＝10kΩ，RB＝50kΩ为例，可以将表2转换得到表3。
表3
Figure BDA0002377155630000161
Figure BDA0002377155630000171
如图5所示，在表3中，区域D1为左侧边框区域，区域D2为上边框区域，区域D3为右侧边框区域。
在本示例中，在对显示面板进行裂纹检测过程中，检测控制模组可以将裂纹检测电路的四个检测点进行两两组合得到六个测试组，依次对六个测试组进行阻值测量，得到每个测试组的测量阻值，然后，比较六个测试组的测量阻值与理论阻值，得到比较结果，然后，判断比较结果符合表3中的哪一种情况，从而确定边框区域是否存在裂纹，并定位裂纹所在的位置。
在本示例中，第一个测试组(T1-T2)和第六个测试组(T3-T4)对应有两个理论阻值，其余四个测试组对应有一个理论阻值。在表3中，第一个测试组(T1-T2)和第六个测试组(T3-T4)两列中的“↑”表示测试组得到的测量阻值与第一理论阻值的差值大于第一阈值，且测量阻值与第二理论阻值的差值绝对值大于第二阈值，其中，第一阈值大于第二阈值。第一阈值用于识别测量阻值明显增加的情况，第二阈值用于识别由于误差导致的测量阻值不同于理论阻值的情况。在其余四个测试组对应列中的“↑”表示测试组得到的测量阻值与理论阻值的差值大于第一阈值。
在一个例子中，第一个测试组(T1-T2)的测量阻值与对应的第一理论阻值(57.5kΩ)的差值绝对值小于第二阈值；第二个测试组(T1-T3)的测量阻值与对应的理论阻值(70kΩ)的差值绝对值小于第二阈值；第三个测试组(T1-T4)的测量阻值与对应的理论阻值(57.5kΩ)的差值绝对值小于第二阈值；第四个测试组(T2-T3)的测量阻值与对应的理论阻值(57.5kΩ)的差值绝对值小于第二阈值；第五个测试组(T2-T4)的测量阻值与对应的理论阻值(70kΩ)的差值绝对值小于第二阈值；第六个测试组(T3-T4)与对应的第一理论阻值(57.5kΩ)的差值绝对值小于第二阈值。在本示例中，可以判断出裂纹检测电路所在的边框区域不存在裂纹。
在另一个例子中，第一个测试组(T1-T2)的测量阻值与第一理论阻值(57.5kΩ)的差值大于第一阈值，且与第二理论阻值(70kΩ)的差值绝对值大于第二阈值；第二个测试组(T1-T3)的测量阻值与对应的理论阻值(70kΩ)的差值大于第一阈值；第三个测试组(T1-T4)的测量阻值与对应的理论阻值(57.5kΩ)的差值大于第一阈值；第四个测试组(T2-T3)的测量阻值与对应的理论阻值(57.5kΩ)的差值大于第一阈值；第五个测试组(T2-T4)的测量阻值与对应的理论阻值(70kΩ)的差值大于第一阈值；第六个测试组(T3-T4)的测量阻值与对应的第一理论阻值(57.5kΩ)的差值绝对值小于第二阈值；其中，第一阈值大于第二阈值。在本示例中，可以判断出裂纹检测电路所在的边框区域存在裂纹，并可以定位裂纹所在位置为区域D1。
在另一个例子中，第一个测试组(T1-T2)的测量阻值与第二理论阻值(70kΩ)的差值绝对值小于第二阈值；第二个测试组(T1-T3)的测量阻值与对应的理论阻值(70kΩ)的差值大于第一阈值；第三个测试组(T1-T4)的测量阻值与对应的理论阻值(57.5kΩ)的差值大于第一阈值；第四个测试组(T2-T3)的测量阻值与对应的理论阻值(57.5kΩ)的差值大于第一阈值；第五个测试组(T2-T4)的测量阻值与对应的理论阻值(70kΩ)的差值大于第一阈值；第六个测试组(T3-T4)的测量阻值与对应的第二理论阻值(70kΩ)的差值绝对值小于第二阈值；其中，第一阈值大于第二阈值。在本示例中，可以判断出裂纹检测电路所在的边框区域存在裂纹，并可以定位裂纹所在位置为区域D2。
在另一个例子中，第一个测试组(T1-T2)的测量阻值与对应的第一理论阻值(57.5kΩ)的差值绝对值小于第二阈值；第二个测试组(T1-T3)的测量阻值与对应的理论阻值(70kΩ)的差值大于第一阈值；第三个测试组(T1-T4)的测量阻值与对应的理论阻值(57.5kΩ)的差值大于第一阈值；第四个测试组(T2-T3)的测量阻值与对应的理论阻值(57.5kΩ)的差值大于第一阈值；第五个测试组(T2-T4)的测量阻值与对应的理论阻值(70kΩ)的差值大于第一阈值；第六个测试组(T3-T4)的测量阻值与对应的第一理论阻值(57.5kΩ)的差值大于第一阈值，且与对应的第二理论阻值(70kΩ)的差值绝对值大于第二阈值；其中，第一阈值大于第二阈值。在本示例中，可以判断出裂纹检测电路所在的边框区域存在裂纹，并可以定位裂纹所在位置为区域D3。
按照上述判断方式，可以判断出裂纹所在位置为区域D1和D3，或者区域D1和D3、或者，区域D1、D2和D3。故于此不再赘述。
图6为本申请实施例提供的显示面板的另一种示例图。如图6所示，显示面板包括显示区域AA和围绕显示区域AA的边框区域；裂纹检测电路位于边框区域内，裂纹检测电路的四个检测点T1、T2、T3和T4分别与检测控制模组连接。
在本示例中，检测控制模组可以包括：开关单元、测量单元、存储单元以及处理单元；其中，开关单元分别与四个检测点T1、T2、T3和T4连接，测量单元分别与开关单元和存储单元连接，处理单元与存储单元连接。在一示例中，检测控制模组可以为驱动集成电路(DIC)，开关单元可以为模拟多路开关(AMUX)，测量单元可以为模数转换器(ADC，Analog-to-Digital Converter)，存储单元可以包括寄存器。
在本示例中，开关单元可以用于选择不同测试组；测量单元可以用于对开关单元选择出的测试组进行阻值测量，得到测量阻值，并将测量阻值存入存储单元；通过开关单元和测量单元完成对六个测试组的阻值测量之后，存储单元内存储有六个测量阻值；处理单元对六个测量阻值和存储单元内存储的六个测试组的理论阻值进行比较，根据比较结果，确定裂纹检测电路所在的边框区域是否存在裂纹，并定位裂纹所在的位置。其中，测量单元对测试组进行阻值测量的方式可以为给测试组内的两个检测点提供电源，并检测电流，然后根据电源电压和检测到的电流，计算测量阻值。然而，本申请对此并不限定。关于测量单元进行阻值测量的方式可以采用本领域技术人员通用的方式，故于此不再赘述。
如图6所示，在本示例中，裂纹检测电路的结构如图3所示，故于此不再赘述。裂纹检测电路内的四个桥接电阻将边框区域划分为五个子区域D1、D2、D3、D4和D5，每个子区域内设置有一个检测单元。
在本示例中，四个检测点T1、T2、T3和T4可以两两组合得到六个测试组。六个测试组在不同情况下的理论阻值可以参照表4所示。
表4
Figure BDA0002377155630000201
Figure BDA0002377155630000211
在表4中，以延伸方向平行于第一方向的电阻的阻值为RL，延伸方向平行于第二方向的电阻的阻值为RB为例计算各个理论阻值，可以得到：
Figure BDA0002377155630000212
Figure BDA0002377155630000213
Figure BDA0002377155630000214
Figure BDA0002377155630000215
RT1-T2-3＝RT3-T4-3＝RB+2×RL。
然而，本申请对此并不限定。
如图6所示，在表4中，区域D1为左侧边框下部分区域，区域D2为左侧边框上部分区域，区域D3为上边框区域，区域D4为右侧边框上部分区域，区域D5为右侧边框下部分区域。
在表4中，第一个测试组(T1-T2)和第六个测试组(T3-T4)两列中的“↑”表示测试组得到的测量阻值与边缘无裂纹情况下的理论阻值的差值大于第一阈值，且测量阻值与用于表征裂纹区域的理论阻值的差值绝对值大于第二阈值，其中，第一阈值大于第二阈值。第一阈值用于识别测量阻值明显增加的情况，第二阈值用于识别由于误差导致的测量阻值不同于理论阻值的情况。在其余四个测试组对应列中的“↑”表示测试组得到的测量阻值与边缘无裂纹情况下的理论阻值的差值大于第一阈值。
在本示例中，在对显示面板进行裂纹检测过程中，检测控制模组可以将裂纹检测电路的四个检测点进行两两组合得到六个测试组，依次对六个测试组进行阻值测量，得到每个测试组的测量阻值，然后，比较六个测试组的测量阻值与理论阻值，得到比较结果，然后，判断比较结果符合表4中的哪一种情况，从而确定裂纹检测电路所在的边框区域是否存在裂纹，并定位裂纹所在的位置。关于测量阻值和理论阻值的比较方式可以参照图5对应实施例的描述，故于此不再赘述。
在本示例中，检测点的数目为四个。然而，本申请对此并不限定。根据表4可知，当将边框区域划分为较多个子区域时，可以通过新增检测点来精确定位裂纹存在于两个或更多个区域的情况。
图7为本申请实施例提供的裂纹检测方法的流程图。如图7所示，本申请实施例提供一种裂纹检测方法，应用于如上所述的显示面板，包括：
步骤701、检测控制模组将裂纹检测电路的四个检测点中的任两个检测点作为一个测试组，依次对六个测试组进行阻值测量，得到每个测试组的测量阻值；
步骤702、检测控制模组根据六个测试组的测量阻值与理论阻值的比较结果，确定裂纹检测电路所在的边框区域是否存在裂纹，并定位裂纹所在的位置。
在一示例性实施方式中，步骤702可以包括：
当至少四个测试组的测量阻值与对应的理论阻值之间的差值大于第一阈值，则确定裂纹检测电路所在的边框区域存在裂纹；
根据测量阻值与对应的理论阻值之间的差值绝对值小于第二阈值的测试组，定位裂纹所在的位置；其中，第一阈值大于第二阈值。
关于本实施例提供的裂纹检测方法已在前述实施例中详细说明，故于此不再赘述。
此外，本申请实施例还提供了一种显示装置，该显示装置包括采用前述实施例所述的显示面板。显示装置可以为：手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。
在本申请实施例的描述中，需要理解的是，术语“中部”、“上”、“下”、“前”、“后”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
在本申请实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
虽然本申请所揭露的实施方式如上，但所述的内容仅为便于理解本申请而采用的实施方式，并非用以限定本申请。任何本申请所属领域内的技术人员，在不脱离本申请所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式及细节上进行任何的修改与变化，但本申请的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (12)

1.一种裂纹检测电路，其特征在于，包括：依次连接的N个检测单元、N-1个桥接电阻、以及至少四个检测点；
任一检测单元包括两个检测电阻；第i个桥接电阻串接在第i个检测单元内的两个检测电阻之间，并串接在第i+1个检测单元内的两个检测电阻之间；
所述四个检测点分别与第一个检测单元内的两个检测电阻和第N个检测单元内的两个检测电阻一一对应连接，且任一检测点与对应的检测电阻未连接有桥接电阻的一端连接；
其中，N为大于1的整数，i为大于0且小于或等于N-1的整数。
2.根据权利要求1所述的裂纹检测电路，其特征在于，所述N个检测单元包括N1个第一类型的检测单元和N2个第二类型的检测单元；所述第一类型的检测单元内的两个检测电阻的延伸方向均平行于第一方向，所述第二类型的检测单元内的两个检测电阻的延伸方向均平行于第二方向；其中，所述第一方向和第二方向位于同一平面内且相互垂直；N1和N2均为大于或等于0且小于或等于N的整数，且N1和N2之和为N。
3.根据权利要求2所述的裂纹检测电路，其特征在于，所述第一类型的检测单元内的检测电阻的阻值相同，所述第二类型的检测单元内的检测电阻的阻值相同；所述第一类型的检测单元内的检测电阻的阻值不同于第二类型的检测单元内的检测电阻的阻值。
4.根据权利要求2或3所述的裂纹检测电路，其特征在于，连接在两个相邻的第一类型的检测单元之间的桥接电阻的延伸方向平行于第二方向，连接在两个相邻的第二类型的检测单元之间的桥接电阻的延伸方向平行于第一方向，连接在相邻的第一类型的检测单元和第二类型的检测单元之间的桥接电阻的延伸方向平行于第一方向或第二方向。
5.根据权利要求4所述的裂纹检测电路，其特征在于，延伸方向平行于第一方向的桥接电阻的阻值与延伸方向平行于第一方向的检测电阻的阻值相同，延伸方向平行于第二方向的桥接电阻的阻值与延伸方向平行于第二方向的检测电阻的阻值相同。
6.根据权利要求2所述的裂纹检测电路，其特征在于，N为3，N1为2，N2为1；第一个检测单元和第三个检测单元为第一类型的检测单元，第二个检测单元为第二类型的检测单元；
所述第一个检测单元内的第一个检测电阻的两端分别与第一个桥接电阻的第一端和第一个检测点连接，第一个检测单元内的第二个检测电阻的两端分别与第一个桥接电阻的第二端和第二个检测点连接；
所述第二个检测单元内的第一个检测电阻的两端分别与第一个桥接电阻的第一端和第二个桥接电阻的第一端连接，第二个检测单元内的第二个检测电阻的两端分别与第一个桥接电阻的第二端和第二个桥接电阻的第二端连接；
所述第三个检测单元内的第一个检测电阻的两端分别与第二个桥接电阻的第一端和第四个检测点连接，第三个检测单元内的第二个检测电阻的两端分别与第二个桥接电阻的第二端和第三个检测点连接。
7.根据权利要求2所述的裂纹检测电路，其特征在于，N为5，N1为4，N2为1；第一个检测单元、第二个检测单元、第四个检测单元和第五个检测单元为第一类型的检测单元，第三个检测单元为第二类型的检测单元；
所述第一个检测单元内的第一个检测电阻的两端分别与第一个桥接电阻的第一端和第一个检测点连接，第一个检测单元内的第二个检测电阻的两端分别与第一个桥接电阻的第二端和第二个检测点连接；
所述第二个检测单元内的第一个检测电阻的两端分别与第一个桥接电阻的第一端和第二个桥接电阻的第一端连接，第二个检测单元内的第二个检测电阻的两端分别与第一个桥接电阻的第二端和第二个桥接电阻的第二端连接；
所述第三个检测单元内的第一个检测电阻的两端分别与第二个桥接电阻的第一端和第三个桥接电阻的第一端连接，第三个检测单元内的第二个检测电阻的两端分别与第二个桥接电阻的第二端和第三个桥接电阻的第二端连接；
所述第四个检测单元内的第一个检测电阻的两端分别与第三个桥接电阻的第一端和第四个桥接电阻的第一端连接，第四个检测单元内的第二个检测电阻的两端分别与第三个桥接电阻的第二端和第四个桥接电阻的第二端连接；
所述第五个检测单元内的第一个检测电阻的两端分别与第四个桥接电阻的第一端和第四个检测点连接，第五个检测单元内的第二个检测电阻的两端分别与第四个桥接电阻的第二端和第三个检测点连接。
8.根据权利要求2所述的裂纹检测电路，其特征在于，N为4，N1为2，N2为2；第一个检测单元和第四个检测单元为第一类型的检测单元，第二个检测单元和第三个检测单元为第二类型的检测单元；
所述第一个检测单元内的第一个检测电阻的两端分别与第一个桥接电阻的第一端和第一个检测点连接，第一个检测单元内的第二个检测电阻的两端分别与第一个桥接电阻的第二端和第二个检测点连接；
所述第二个检测单元内的第一个检测电阻的两端分别与第一个桥接电阻的第一端和第二个桥接电阻的第一端连接，第二个检测单元内的第二个检测电阻的两端分别与第一个桥接电阻的第二端和第二个桥接电阻的第二端连接；
所述第三个检测单元内的第一个检测电阻的两端分别与第二个桥接电阻的第一端和第三个桥接电阻的第一端连接，第三个检测单元内的第二个检测电阻的两端分别与第二个桥接电阻的第二端和第三个桥接电阻的第二端连接；
所述第四个检测单元内的第一个检测电阻的两端分别与第三个桥接电阻的第一端和第四个检测点连接，第四个检测单元内的第二个检测电阻的两端分别与第三个桥接电阻的第二端和第三个检测点连接。
9.一种显示面板，其特征在于，包括：检测控制模组以及如权利要求1至8中任一项所述的裂纹检测电路；所述检测控制模组分别与所述裂纹检测电路的四个检测点连接；所述裂纹检测电路设置在围绕显示区域的边框区域内。
10.根据权利要求9所述的显示面板，其特征在于，所述检测控制模组可以包括：开关单元、测量单元、存储单元以及处理单元；其中，开关单元分别与四个检测点连接，测量单元分别与开关单元和存储单元连接，处理单元与存储单元连接。
11.一种裂纹检测方法，其特征在于，应用于如权利要求9或10所述的显示面板，所述裂纹检测方法包括：
检测控制模组将裂纹检测电路的四个检测点中的任两个检测点作为一个测试组，依次对六个测试组进行阻值测量，得到每个测试组的测量阻值；
所述检测控制模组根据六个测试组的测量阻值与理论阻值的比较结果，确定所述裂纹检测电路所在的边框区域是否存在裂纹，并定位所述裂纹所在的位置。
12.根据权利要求11所述的裂纹检测方法，其特征在于，所述检测控制模组根据六个测试组的测量阻值与理论阻值的比较结果，确定所述裂纹检测电路所在的边框区域是否存在裂纹，并定位所述裂纹所在的位置，包括：
当至少四个测试组的测量阻值与对应的理论阻值之间的差值大于第一阈值，则确定所述裂纹检测电路所在的边框区域存在裂纹；
根据测量阻值与对应的理论阻值之间的差值绝对值小于第二阈值的测试组，定位所述裂纹所在的位置；
其中，所述第一阈值大于第二阈值。
CN202010070443.3A 2020-01-21 2020-01-21 裂纹检测电路、显示面板及裂纹检测方法 Active CN111223429B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010070443.3A CN111223429B (zh) 2020-01-21 2020-01-21 裂纹检测电路、显示面板及裂纹检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010070443.3A CN111223429B (zh) 2020-01-21 2020-01-21 裂纹检测电路、显示面板及裂纹检测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111223429A true CN111223429A (zh) 2020-06-02
CN111223429B CN111223429B (zh) 2022-08-30

Family

ID=70828212

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010070443.3A Active CN111223429B (zh) 2020-01-21 2020-01-21 裂纹检测电路、显示面板及裂纹检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111223429B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113360024A (zh) * 2021-06-18 2021-09-07 京东方科技集团股份有限公司 触控面板及其裂纹检测方法
WO2023189827A1 (ja) * 2022-03-30 2023-10-05 ラピステクノロジー株式会社 表示装置及びソースドライバ

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN203324610U (zh) * 2013-07-25 2013-12-04 京东方科技集团股份有限公司 显示装置
US20180053792A1 (en) * 2016-08-22 2018-02-22 Samsung Display Co., Ltd. Display device
CN108154800A (zh) * 2016-12-05 2018-06-12 三星显示有限公司 显示装置
CN108831362A (zh) * 2018-08-20 2018-11-16 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板、其驱动方法及显示装置
CN109345985A (zh) * 2018-10-25 2019-02-15 昆山国显光电有限公司 显示装置
CN109830502A (zh) * 2017-11-23 2019-05-31 乐金显示有限公司 有机发光显示装置
US20190250208A1 (en) * 2018-02-09 2019-08-15 Qualcomm Incorporated Apparatus and method for detecting damage to an integrated circuit
CN110634411A (zh) * 2019-11-07 2019-12-31 京东方科技集团股份有限公司 一种显示模组及其封装检测方法

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN203324610U (zh) * 2013-07-25 2013-12-04 京东方科技集团股份有限公司 显示装置
US20180053792A1 (en) * 2016-08-22 2018-02-22 Samsung Display Co., Ltd. Display device
CN108154800A (zh) * 2016-12-05 2018-06-12 三星显示有限公司 显示装置
CN109830502A (zh) * 2017-11-23 2019-05-31 乐金显示有限公司 有机发光显示装置
US20190250208A1 (en) * 2018-02-09 2019-08-15 Qualcomm Incorporated Apparatus and method for detecting damage to an integrated circuit
CN108831362A (zh) * 2018-08-20 2018-11-16 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板、其驱动方法及显示装置
CN109345985A (zh) * 2018-10-25 2019-02-15 昆山国显光电有限公司 显示装置
CN110634411A (zh) * 2019-11-07 2019-12-31 京东方科技集团股份有限公司 一种显示模组及其封装检测方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113360024A (zh) * 2021-06-18 2021-09-07 京东方科技集团股份有限公司 触控面板及其裂纹检测方法
CN113360024B (zh) * 2021-06-18 2024-04-12 京东方科技集团股份有限公司 触控面板及其裂纹检测方法
WO2023189827A1 (ja) * 2022-03-30 2023-10-05 ラピステクノロジー株式会社 表示装置及びソースドライバ

Also Published As

Publication number Publication date
CN111223429B (zh) 2022-08-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111223429B (zh) 裂纹检测电路、显示面板及裂纹检测方法
CN105975137B (zh) 一种触控显示面板及触控显示装置
TWI396120B (zh) 多頻道觸控面板
US9665207B2 (en) In-cell touch panel, touch detection method and display device
CN105074477A (zh) 测量电阻器及对应的测量方法
US20100277418A1 (en) Patterned resistive touch panel
EP2287715A2 (en) Positioning method for touch screen
JP2004317403A (ja) 面圧分布センサ
CA2357023C (en) Device and method for measuring an electric current
US9921705B2 (en) Resistive film type touch panel having electrode grouping and routing wires arranged to miniaturize the touch panel, and a method of detecting a pressing position on the touch panel
US20190195657A1 (en) Redundant combinatory readout
CN112378960A (zh) 显示基板、显示屏及裂纹探测方法
CN111367111B (zh) 显示面板母板及显示面板的制备方法
CN107340914B (zh) 一种显示基板、显示面板及显示装置
KR20190078781A (ko) 탄소섬유강화플라스틱 시트의 파손 위치 감지 방법
KR20160088373A (ko) 투명 도전성 적층체, 터치 패널 및, 표시 장치
CN111007956A (zh) 显示装置
CN107678597B (zh) 一种触控显示面板和触控显示装置
US8803841B2 (en) Touch spot detecting method of touch panel
US20130334646A1 (en) Metallic thermal sensor for ic devices
WO2006046688A1 (ja) 座標検出装置、表示装置および座標検出方法
TWI447366B (zh) Pressure sensing component
JP7246706B2 (ja) 建設構造物用の歪み検知システム
WO2022104805A1 (zh) 测试结构以及测试方法
US10302457B2 (en) Structure and design of an anisotropic magnetoresistive angular sensor

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant