CN111208406B - 一种半导体发光二极管测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及半导体领域，尤其是一种半导体发光二极管测试装置，包括机身以及固定在所述机身底壁四个边角的支架，所述机身内设置有上下贯通的转动腔，所述转动腔内可转动的设置有转动架，所述转动腔后侧端壁内设置有啮合腔，所述啮合腔与所述转动腔之间转动设置有与所述转动架固定连接的第一转轴，所述啮合腔内的所述第一转轴末端固定设置有第一齿轮，本发明提供的一种半导体发光二极管测试装置，能够实现发光二极管的通电测试，并将测试后能够发光与不能发光的二极管进行分离，设备自动化程度高，能够自动测试，并自动分类，节省大量人力，降低检测成本。
Description
技术领域
本发明涉及半导体领域，尤其是一种半导体发光二极管测试装置 。
背景技术
在发光二极管生产过程中，二极管有一定的损坏率，如何将不能工作的发光二极管从好的二极管中分离出来给工作人员造成了不小的困扰，传统的检测方式利用人力对二极管逐个通电，观察通电后状态，从而实现区分，但这样效率极低，而且浪费人力成本，因此有必要设置一种半导体发光二极管测试装置改善上述问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种半导体发光二极管测试装置，能够克服现有技术的上述缺陷，从而提高设备的实用性。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：本发明的一种半导体发光二极管测试装置，包括机身以及固定在所述机身底壁四个边角的支架，所述机身内设置有上下贯通的转动腔，所述转动腔内可转动的设置有转动架，所述转动腔后侧端壁内设置有啮合腔，所述啮合腔与所述转动腔之间转动设置有与所述转动架固定连接的第一转轴，所述啮合腔内的所述第一转轴末端固定设置有第一齿轮，所述啮合腔后侧端壁内设置有用于驱动所述转动架转动的动力装置，所述转动架内设置有开口向前的检测腔，所述转动架内转动设置有环形分布的八个转动块，所述转动块远离所述检测腔一侧端壁内设置有固定腔，所述固定腔与所述检测腔之间连通设置有对称设置的两个插槽，所述转动腔前侧端壁上固定设置有凸台，所述凸台左侧端壁内设置有开口向左的第一滑动槽，所述第一滑动槽内可滑动的设置有第一滑动杆，所述第一滑动杆左侧端壁内固定设置有第一电机，所述第一电机输出轴末端固定设置有用于发光二极管接电的接电块，所述第一滑动槽端壁上固定设置有上下对称的第一触点以及前后对称的与所述第一触点极性相反的第二触点，所述第一滑动杆上下端壁内对称设置有可与所述第一触点以及第二触点电联的第三触点，所述第一滑动杆与所述第一滑动槽右侧端壁间设置有处于压缩状态的第一弹簧，所述第一滑动槽右侧端壁内固定设置有第一电磁铁，所述第一滑动槽上下端壁内设置有用于所述第一滑动杆锁定的锁定装置，所述转动架每转动八分之一，所述锁定装置对所述第一滑动杆解锁，此时所述第一滑动杆在所述第一弹簧作用下左移将所述固定腔内放置的二极管通电，所述转动腔左侧端壁内设置有开口向右的导滑槽，所述导滑槽内可滑动的设置有固定块，所述固定块右侧端壁上固定设置有吸盘，所述导滑槽内设置有吸附装置，所述吸附装置在所述导滑槽上下端壁内对称设置的光敏元件未检测到光照时将二极管吸附左移，从而将不发光二极管与发光二极管区分。
进一步地，所述动力装置包括所述啮合腔后侧端壁内设置的开口向前的滑动腔，所述滑动腔内可滑动的设置有滑动块，所述滑动块前侧端壁内固定设置有第二电机，所述第二电机输出轴末端固定设置有与所述第一齿轮啮合的第二齿轮，所述滑动腔右侧端壁内固定设置有第二电磁铁，所述第二电磁铁在所述接电块左移时带动所述滑动块左移，同时在所述接电块右移时带动所述滑动块右移。
进一步地，所述锁定装置包括所述第一滑动槽上下端壁内对称设置有连通所述检测腔的第二滑动槽，所述第二滑动槽内可滑动的设置有末端伸入所述第一滑动杆上下端壁内对称设置的锁定槽内的第二滑动杆，所述第二滑动杆内设置有左右贯通的斜槽，所述第二滑动杆与所述凸台上下端壁间设置有第二弹簧，所述凸台右侧端壁内设置有开口向右的顶推腔，所述顶推腔左侧端壁内上下对称设置有开口向右的第三滑动槽，所述第三滑动槽内可滑动的设置有第三滑动杆，所述第三滑动杆右侧末端与所述顶推腔内可滑动的设置的顶推块固定连接，所述顶推块与所述凸台左侧端壁间设置有第三弹簧，所述顶推腔后侧端壁内可转动的设置有第二转轴，所述第二转轴外表面固定设置有与所述检测腔端壁内中心对称设置的齿条啮合的第三齿轮，所述第三齿轮与所述顶推腔后侧端壁间设置有扭簧，所述顶推腔前侧端壁内可转动的设置有第三转轴，所述第三转轴与所述第二转轴之间设置有棘轮装置，所述第三转轴外表面固定设置有用于顶推所述顶推块的第一凸轮。
进一步地，所述吸附装置包括所述啮合腔前侧端壁内设置的凸轮腔，所述凸轮腔与所述啮合腔之间可转动的设置有第四转轴，所述凸轮腔内的所述第四转轴外表面固定设置有第二凸轮，所述啮合腔内的所述第四转轴末端固定设置有可与所述第二齿轮啮合的第四齿轮，所述凸轮腔与所述导滑槽之间连通设置有第四滑动槽，所述第四滑动槽内可滑动的设置有与所述固定块固定连接的第四滑动杆，所述固定块与所述导滑槽左侧端壁间设置有第四弹簧，所述固定块内设置有三通孔，所述固定块左侧端壁内开口向左设置有贯穿所述三通孔的第五滑动槽，所述第五滑动槽内可滑动的设置有第五滑动杆，所述第五滑动杆与所述第五滑动槽右侧端壁间设置有第五弹簧，所述第五滑动杆内设置有上下贯通的通孔，所述导滑槽底壁内设置有连通所述机身外部的落料槽。
本发明的有益效果 ：本发明提供的一种半导体发光二极管测试装置，能够实现发光二极管的通电测试，并将测试后能够发光与不能发光的二极管进行分离，设备自动化程度高，能够自动测试，并自动分类，节省大量人力，降低检测成本。
附图说明
为了更清楚地说明发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是本发明的一种半导体发光二极管测试装置整体结构示意图。
图2是图1中A-A的结构示意图。
图3是图1中B的放大结构示意图。
图4是图1中C的放大结构示意图。
具体实施方式
下面结合图1-4对本发明进行详细说明，其中，为叙述方便，现对下文所说的方位规定如下：下文所说的上下左右前后方向与图1本身投影关系的上下左右前后方向一致。
结合附图 1-4所述的一种半导体发光二极管测试装置，包括机身10以及固定在所述机身10底壁四个边角的支架28，所述机身10内设置有上下贯通的转动腔18，所述转动腔18内可转动的设置有转动架23，所述转动腔18后侧端壁内设置有啮合腔30，所述啮合腔30与所述转动腔18之间转动设置有与所述转动架23固定连接的第一转轴37，所述啮合腔30内的所述第一转轴37末端固定设置有第一齿轮36，所述啮合腔30后侧端壁内设置有用于驱动所述转动架23转动的动力装置99，所述转动架23内设置有开口向前的检测腔24，所述转动架23内转动设置有环形分布的八个转动块19，所述转动块19远离所述检测腔24一侧端壁内设置有固定腔20，所述固定腔20与所述检测腔24之间连通设置有对称设置的两个插槽21，所述转动腔18前侧端壁上固定设置有凸台63，所述凸台63左侧端壁内设置有开口向左的第一滑动槽59，所述第一滑动槽59内可滑动的设置有第一滑动杆58，所述第一滑动杆58左侧端壁内固定设置有第一电机25，所述第一电机25输出轴末端固定设置有用于发光二极管接电的接电块26，所述第一滑动槽59端壁上固定设置有上下对称的第一触点64以及前后对称的与所述第一触点64极性相反的第二触点65，所述第一滑动杆58上下端壁内对称设置有可与所述第一触点64以及第二触点65电联的第三触点69，所述第一滑动杆58与所述第一滑动槽59右侧端壁间设置有处于压缩状态的第一弹簧60，所述第一滑动槽59右侧端壁内固定设置有第一电磁铁61，所述第一滑动槽59上下端壁内设置有用于所述第一滑动杆58锁定的锁定装置98，所述转动架23每转动八分之一，所述锁定装置98对所述第一滑动杆58解锁，此时所述第一滑动杆58在所述第一弹簧60作用下左移将所述固定腔20内放置的二极管通电，所述转动腔18左侧端壁内设置有开口向右的导滑槽16，所述导滑槽16内可滑动的设置有固定块47，所述固定块47右侧端壁上固定设置有吸盘52，所述导滑槽16内设置有吸附装置97，所述吸附装置97在所述导滑槽16上下端壁内对称设置的光敏元件53未检测到光照时将二极管吸附左移，从而将不发光二极管与发光二极管区分。
有益地，所述动力装置99包括所述啮合腔30后侧端壁内设置的开口向前的滑动腔31，所述滑动腔31内可滑动的设置有滑动块32，所述滑动块32前侧端壁内固定设置有第二电机33，所述第二电机33输出轴末端固定设置有与所述第一齿轮36啮合的第二齿轮34，所述滑动腔31右侧端壁内固定设置有第二电磁铁35，所述第二电磁铁35在所述接电块26左移时带动所述滑动块32左移，同时在所述接电块26右移时带动所述滑动块32右移。
有益地，所述锁定装置98包括所述第一滑动槽59上下端壁内对称设置有连通所述检测腔24的第二滑动槽66，所述第二滑动槽66内可滑动的设置有末端伸入所述第一滑动杆58上下端壁内对称设置的锁定槽57内的第二滑动杆67，所述第二滑动杆67内设置有左右贯通的斜槽56，所述第二滑动杆67与所述凸台63上下端壁间设置有第二弹簧54，所述凸台63右侧端壁内设置有开口向右的顶推腔45，所述顶推腔45左侧端壁内上下对称设置有开口向右的第三滑动槽55，所述第三滑动槽55内可滑动的设置有第三滑动杆62，所述第三滑动杆62右侧末端与所述顶推腔45内可滑动的设置的顶推块44固定连接，所述顶推块44与所述凸台63左侧端壁间设置有第三弹簧68，所述顶推腔45后侧端壁内可转动的设置有第二转轴38，所述第二转轴38外表面固定设置有与所述检测腔24端壁内中心对称设置的齿条22啮合的第三齿轮40，所述第三齿轮40与所述顶推腔45后侧端壁间设置有扭簧39，所述顶推腔45前侧端壁内可转动的设置有第三转轴43，所述第三转轴43与所述第二转轴38之间设置有棘轮装置41，所述第三转轴43外表面固定设置有用于顶推所述顶推块44的第一凸轮42。
有益地，所述吸附装置97包括所述啮合腔30前侧端壁内设置的凸轮腔11，所述凸轮腔11与所述啮合腔30之间可转动的设置有第四转轴12，所述凸轮腔11内的所述第四转轴12外表面固定设置有第二凸轮13，所述啮合腔30内的所述第四转轴12末端固定设置有可与所述第二齿轮34啮合的第四齿轮29，所述凸轮腔11与所述导滑槽16之间连通设置有第四滑动槽15，所述第四滑动槽15内可滑动的设置有与所述固定块47固定连接的第四滑动杆14，所述固定块47与所述导滑槽16左侧端壁间设置有第四弹簧17，所述固定块47内设置有三通孔48，所述固定块47左侧端壁内开口向左设置有贯穿所述三通孔48的第五滑动槽49，所述第五滑动槽49内可滑动的设置有第五滑动杆50，所述第五滑动杆50与所述第五滑动槽49右侧端壁间设置有第五弹簧46，所述第五滑动杆50内设置有上下贯通的通孔51，所述导滑槽16底壁内设置有连通所述机身10外部的落料槽27。
本实施例所述固定连接方法包括但不限于螺栓固定、焊接等方法。
如图1-4所示，本发明的设备处于初始状态时，所述第一弹簧60处于压缩状态。
整个装置的机械动作的顺序 ：
当本发明的设备工作时，将发光二极管引脚插入插槽21内，并将发光二极管置于所述固定腔20内，此时所述第二电机33启动带动所述第二齿轮34转动，从而带动所述第一齿轮36转动，从而带动所述转动架23转动，所述转动架23转动带动发光二极管转动，所述转动架23转动带动所述齿条22转动，从而带动所述第三齿轮40转动，从而带动所述扭簧39转动蓄力，此时所述第三齿轮40转动无法通过所述棘轮装置41带动所述第一凸轮42转动，当所述转动架23转动八分之一时，所述齿条22与所述第三齿轮40分离，此时所述第二转轴38在所述扭簧39作用下反向转动，从而带动所述第三转轴43反向转动，从而带动所述第一凸轮42转动，所述第一凸轮42转动带动所述顶推块44左移，从而带动所述第二滑动杆67向上下两侧移动出所述锁定槽57，此时所述第一滑动杆58在所述第一弹簧60作用下左移，从而带动所述接电块26左移与所述固定腔20内放置的发光二极管电联，所述接电块26左移后，所述第二电磁铁35控制所述滑动块32左移，从而带动所述第二齿轮34与所述第四齿轮29啮合，此时所述第三触点69与所述第一触点64电联，此时发光二极管通电，如果此时光敏元件53感应到发光二极管发光，所述光敏元件53将控制所述第一电磁铁61吸附所述第一滑动杆58左移，当所述第一滑动杆58右移至最右侧时，所述锁定装置98将所述第一滑动杆58锁定，同时所述光敏元件53控制所述第二电磁铁35带动所述滑动块32右移，从而带动所述第二齿轮34与所述第一齿轮36啮合，此时启动所述第二电机33，从而再次进行检测，如果此时所述光敏元件53未感应到发光二极管发光，所述第一电机25带动所述接电块26转动半周，从而带动所述第三触点69与所述第二触点65电联，如果此时光敏元件53感应到发光二极管发光，所述光敏元件53将控制所述第一电磁铁61吸附所述第一滑动杆58左移，当所述第一滑动杆58右移至最右侧时，所述锁定装置98将所述第一滑动杆58锁定，同时所述光敏元件53控制所述第二电磁铁35带动所述滑动块32右移，从而带动所述第二齿轮34与所述第一齿轮36啮合，此时启动所述第二电机33，从而再次进行检测，如果所述光敏元件53仍然未检测到光照，此时，所述第二电机33带动所述第二齿轮34转动，从而带动所述第四齿轮29转动，从而带动所述第二凸轮13转动，从而带动所述第四滑动杆14先向右移动，从而带动所述光敏元件53吸附发光二极管，然后，所述第二凸轮13继续转动，此时所述固定块47在所述第四弹簧17带动下左移，从而带动二极管左移，当所述第五滑动杆50与所述导滑槽16左侧端壁抵接时，所述第五滑动杆50右移，从而带动所述通孔51与所述三通孔48连通，此时所述吸盘52内通入空气，所述吸盘52失去吸附能力，此时不能发光的二极管从所述落料槽27坠落，此时所述第二凸轮13继续转动带动所述第四滑动杆14右移，当所述第四弹簧17恢复原始位置时，所述第一电磁铁61吸附所述第一滑动杆58右移，此时所述第一滑动杆58被所述锁定装置98锁定，同时所述第二电磁铁35吸附所述滑动块32右移，从而带动所述第二齿轮34与所述第一齿轮36啮合，此时重复上述步骤，从而再次进行检测，检测能发光的二极管移动至所述转动架23下侧时，坠落到所述机身10下方。
上述实施例只为说明本发明的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此领域技术的人士能够了解本发明内容并加以实施，并不能以此限制本发明的保护范围。凡根据本发明精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本发明的保护范围内。
Claims (4)
1.一种半导体发光二极管测试装置，包括机身以及固定在所述机身底壁四个边角的支架，其特征在于：所述机身内设置有上下贯通的转动腔，所述转动腔内可转动的设置有转动架，所述转动腔后侧端壁内设置有啮合腔，所述啮合腔与所述转动腔之间转动设置有与所述转动架固定连接的第一转轴，所述啮合腔内的所述第一转轴末端固定设置有第一齿轮，所述啮合腔后侧端壁内设置有用于驱动所述转动架转动的动力装置，所述转动架内设置有开口向前的检测腔，所述转动架内转动设置有环形分布的八个转动块，所述转动块远离所述检测腔一侧端壁内设置有固定腔，所述固定腔与所述检测腔之间连通设置有对称设置的两个插槽，所述转动腔前侧端壁上固定设置有凸台，所述凸台左侧端壁内设置有开口向左的第一滑动槽，所述第一滑动槽内可滑动的设置有第一滑动杆，所述第一滑动杆左侧端壁内固定设置有第一电机，所述第一电机输出轴末端固定设置有用于发光二极管接电的接电块，所述第一滑动槽端壁上固定设置有上下对称的第一触点以及前后对称的与所述第一触点极性相反的第二触点，所述第一滑动杆上下端壁内对称设置有可与所述第一触点以及第二触点电联的第三触点，所述第一滑动杆与所述第一滑动槽右侧端壁间设置有处于压缩状态的第一弹簧，所述第一滑动槽右侧端壁内固定设置有第一电磁铁，所述第一滑动槽上下端壁内设置有用于所述第一滑动杆锁定的锁定装置，所述转动架每转动八分之一，所述锁定装置对所述第一滑动杆解锁，此时所述第一滑动杆在所述第一弹簧作用下左移将所述固定腔内放置的二极管通电，所述转动腔左侧端壁内设置有开口向右的导滑槽，所述导滑槽内可滑动的设置有固定块，所述固定块右侧端壁上固定设置有吸盘，所述导滑槽内设置有吸附装置，所述吸附装置在所述导滑槽上下端壁内对称设置的光敏元件未检测到光照时将二极管吸附左移，从而将不发光二极管与发光二极管区分。
2.如权利要求1所述一种半导体发光二极管测试装置，其特征在于：所述动力装置包括所述啮合腔后侧端壁内设置的开口向前的滑动腔，所述滑动腔内可滑动的设置有滑动块，所述滑动块前侧端壁内固定设置有第二电机，所述第二电机输出轴末端固定设置有与所述第一齿轮啮合的第二齿轮，所述滑动腔右侧端壁内固定设置有第二电磁铁，所述第二电磁铁在所述接电块左移时带动所述滑动块左移，同时在所述接电块右移时带动所述滑动块右移。
3.如权利要求1所述一种半导体发光二极管测试装置，其特征在于：所述锁定装置包括所述第一滑动槽上下端壁内对称设置有连通所述检测腔的第二滑动槽，所述第二滑动槽内可滑动的设置有末端伸入所述第一滑动杆上下端壁内对称设置的锁定槽内的第二滑动杆，所述第二滑动杆内设置有左右贯通的斜槽，所述第二滑动杆与所述凸台上下端壁间设置有第二弹簧，所述凸台右侧端壁内设置有开口向右的顶推腔，所述顶推腔左侧端壁内上下对称设置有开口向右的第三滑动槽，所述第三滑动槽内可滑动的设置有第三滑动杆，所述第三滑动杆右侧末端与所述顶推腔内可滑动的设置的顶推块固定连接，所述顶推块与所述凸台左侧端壁间设置有第三弹簧，所述顶推腔后侧端壁内可转动的设置有第二转轴，所述第二转轴外表面固定设置有与所述检测腔端壁内中心对称设置的齿条啮合的第三齿轮，所述第三齿轮与所述顶推腔后侧端壁间设置有扭簧，所述顶推腔前侧端壁内可转动的设置有第三转轴，所述第三转轴与所述第二转轴之间设置有棘轮装置，所述第三转轴外表面固定设置有用于顶推所述顶推块的第一凸轮。
4.如权利要求1所述一种半导体发光二极管测试装置，其特征在于：所述吸附装置包括所述啮合腔前侧端壁内设置的凸轮腔，所述凸轮腔与所述啮合腔之间可转动的设置有第四转轴，所述凸轮腔内的所述第四转轴外表面固定设置有第二凸轮，所述啮合腔内的所述第四转轴末端固定设置有可与所述第二齿轮啮合的第四齿轮，所述凸轮腔与所述导滑槽之间连通设置有第四滑动槽，所述第四滑动槽内可滑动的设置有与所述固定块固定连接的第四滑动杆，所述固定块与所述导滑槽左侧端壁间设置有第四弹簧，所述固定块内设置有三通孔，所述固定块左侧端壁内开口向左设置有贯穿所述三通孔的第五滑动槽，所述第五滑动槽内可滑动的设置有第五滑动杆，所述第五滑动杆与所述第五滑动槽右侧端壁间设置有第五弹簧，所述第五滑动杆内设置有上下贯通的通孔，所述导滑槽底壁内设置有连通所述机身外部的落料槽。
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