CN111164406A - 二维闪烁测定装置及二维闪烁测定方法 - Google Patents

二维闪烁测定装置及二维闪烁测定方法 Download PDF

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Abstract

本发明的二维闪烁测定装置具备：第一计算部，其根据以第一采样频率对测定对象物进行测光而得到的测光量算出测定对象物中设定的多个测定区域各自的闪烁量；第二计算部，其根据以第二采样频率对测定对象物中设定的规定的测定区域进行测光而得到的测光量算出规定的测定区域的闪烁量；以及校正部，其使用校正系数对第一计算部算出的多个测定区域各自的闪烁量进行校正，该校正系数由第二计算部算出的闪烁量、和根据以第一采样频率对规定的测定区域进行测光而得到的测光量算出的规定的测定区域的闪烁量而规定。

Description

二维闪烁测定装置及二维闪烁测定方法
技术领域
本发明涉及例如测定显示器屏幕的闪烁量的技术。
背景技术
以往，根据在显示器屏幕内设定的一个测定区域(测定点)测定出的闪烁量来评价显示器屏幕的闪烁量。但是，近年来，显示器屏幕逐渐大型化。在大型的显示器屏幕的情况下，仅根据一个测定区域的闪烁量无法评价显示器屏幕的闪烁量，需要设置多个测定区域。因此，提出了对于显示器屏幕内设定的多个测定区域的每一个测定区域测定闪烁量的技术。
作为这样的技术，例如专利文献1中公开了一种闪烁测定方法，用于测定显示装置中显示的图像的闪烁，其中，实施图像拍摄控制工序和闪烁波形运算工序，在图像拍摄控制工序中，获取利用拍摄装置以比测定对象的闪烁的周期长规定的追加时间的时间间隔依次拍摄所述图像而生成的拍摄信号，在闪烁波形运算工序中，将在该图像拍摄控制工序中获得的拍摄信号中的光的强度作为每个所述追加时间的数据来运算所述闪烁的波形，并且，所述闪烁波形运算工序中分别运算将所述拍摄信号中的图像分割成多个区域后的每个分割区域的闪烁的波形。
在使用低采样频率(例如128Hz)测定闪烁量的情况下，如后述说明那样，与闪烁量的真值相比，测定出的闪烁量较小。若提高用于测定闪烁量的采样频率(例如512Hz)，则能够防止该情况。但是，在使用高采样频率测定多个测定区域的每个测定区域的闪烁量的情况下，会产生以下问题。
使用二维摄像元件测定多个测定区域的每个测定区域的闪烁量。作为二维摄像元件，存在CCD(Charge Coupled Device：电荷耦合器件)传感器、CMOS(Complementary MOS：互补金属氧化物半导体)传感器。它们都是若储存电荷的量多则输出信号较大，若储存电荷的量少则输出信号较小。当采样频率较高时，电荷的储存时间较短，因而输出信号下降。因此，输出信号的信噪比变差。
与一个测定区域的闪烁量的测定相比，多个测定区域的每个测定区域的闪烁量的测定的数据量较多。并且，与采样频率低的情况相比，在采样频率高的情况下的数据量较多。因此，在使用高采样频率测定多个测定区域的每个测定区域的闪烁量的情况下，CPU必须高速处理数据，从而要求高性能的CPU。
这里的高采样频率例如为512Hz。该值与通常的二维摄像元件的帧率(例如60fps(＝60Hz)、128fps(＝128Hz))相比相当大。利用通常的二维摄像元件，无法应对高采样频率。
在先技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2011-169842号公报
发明内容
本发明的目的在于提供二维闪烁测定装置及二维闪烁测定方法，能够使用低采样频率高精度地测定在测定对象物中设定的多个测定区域的每个测定区域的闪烁量。
为了实现上述目的，反映了本发明的一个侧面的二维闪烁测定装置具备测光部、第一计算部、第二计算部以及校正部。所述测光部具有以第一采样频率对二维区域进行测光的第一功能、和以高于所述第一采样频率的第二采样频率对比所述二维区域小的区域进行测光的第二功能。所述第一计算部根据通过所述测光部以所述第一采样频率对测定对象物进行测光而得到的所述测定对象物的测光量，计算在所述测定对象物中设定的多个测定区域的每个测定区域的闪烁量。所述第二计算部根据通过所述测光部以所述第二采样频率对所述测定对象物中设定的规定的测定区域进行测光而得到的所述规定的测定区域的测光量，计算所述规定的测定区域的闪烁量。所述校正部使用校正系数对由所述第一计算部计算出的所述多个测定区域的每个测定区域的闪烁量进行校正，所述校正系数是由所述第二计算部计算出的闪烁量、和根据通过所述测光部以所述第一采样频率对所述规定的测定区域进行测光而得到的所述规定的测定区域的测光量计算出的所述规定的测定区域的闪烁量而规定的。
通过以下给出的详细说明和附图，能够充分理解通过发明的一个或多个实施方式给出的优点和特征。这些详细说明和附图仅作为例子给出，并非旨在限定本发明的范围。
附图说明
图1是表示具有作为测定对象物的屏幕的彩色显示器(DUT)与二维闪烁测定装置之间的关系的图。
图2是设定有多个测定区域的DUT屏幕的平面的示意图。
图3是示出表示一个测定区域的亮度的亮度信号的一例的图表。
图4是表示本发明人对表示一个测定区域的亮度的亮度信号进行测定后的结果的图表。
图5是将图4所示的图表沿横轴放大后的图表。
图6是表示第一实施方式的二维闪烁测定装置的结构的框图。
图7是表示在图2所示的DUT屏幕中设定了规定的测定区域的状态的示意图。
图8是说明使用第一实施方式的二维闪烁测定装置计算校正系数的动作的流程图。
图9是说明使用第一实施方式的二维闪烁测定装置测定DUT屏幕内的25个测定区域的每个测定区域的闪烁量的动作的流程图。
图10是表示第二实施方式的二维闪烁测定装置的结构的框图。
图11是说明拍摄时机的控制的说明图。
图12是用第二实施方式的二维闪烁装置的动作进行说明的流程图。
具体实施方式
以下，参照附图对本发明的一个或多个实施方式进行说明。但是，发明的范围并不限定于所公开的实施方式。
在各图中，标注相同标记的结构表示是相同的结构，关于该结构，省略已经说明过的内容的说明。在本说明书中，统称时用省略了后缀的参照标号(例如二维闪烁测定装置3)表示，在指出单独的结构时用附加有后缀的参照标号(例如二维闪烁测定装置3-1、3-2)表示。
图1是表示具有作为测定对象物的屏幕1的彩色显示器(DUT＝Device UnderTest)与二维闪烁测定装置3之间的关系的图。测定对象物具有显示图像的功能，在实施方式中，以DUT的屏幕1(以下，称为DUT屏幕1)为例进行说明。测定对象物并不限于显示器屏幕，除此之外，例如也可以是投射型投影仪。
二维闪烁测定装置3根据测定人的指示在DUT屏幕1上设定多个测定区域，并同时对多个测定区域测定闪烁量。图2是设定有多个测定区域15的DUT屏幕1的平面的示意图。这里，在DUT屏幕1上例如设定有25个测定区域15。
以下，以使用亮度测定闪烁量的例子进行说明，但也可以是测光量(明亮度)。二维闪烁测定装置3根据从测定对象物得到的图像信息信号求出测光量，并根据该测光量运算闪烁量。测光量是对从二维闪烁测定装置3所具备的二维摄像元件输出的图像信息信号和亮度进行统称的物理量。亮度是通过对图像信息信号进行运算处理而求出的。
作为闪烁量的测定方式，存在对照方式和JEITA(Japan Electronics andInformation Technology Industries Association：日本电子信息技术产业协会)方式。二维闪烁测定装置3是以对照方式测定闪烁量，但也可以利用JEITA方式测定闪烁量。
图3是示出表示一个测定区域15的亮度的亮度信号的一例的图表。横轴表示时间，纵轴表示亮度。可以看出，亮度信号在直流分量上层叠有交流分量。亮度信号的波形一般为正弦曲线形状。在将亮度信号的最大值设为Lv_max、最小值设为Lv_min时，Lv_max和Lv_min交替反复。
基于对照方式的闪烁量是由以下的式子定义的。
闪烁量＝交流分量AC/直流分量DC
对于当亮度信号的采样频率变低时，闪烁量的测定值与闪烁量的真值相比较小的情况进行说明。图4是表示本发明人对表示一个测定区域15的亮度的亮度信号进行测定后的结果的图表。横轴表示时间(毫秒)，纵轴表示亮度。Lv_true是亮度信号的真值。与图3的亮度信号相同，Lv_true具有正弦曲线形状的波形。Lv_h_mes表示以高采样频率对Lv_true进行采样后的结果。Lv_l_mes表示以低采样频率对Lv_true进行采样后的结果。图5是将图4所示的图表沿横轴放大后的图表。表1中针对Lv_true、Lv_h_mes、Lv_l_mes分别示出最大值、最小值、直流分量的值、闪烁量、闪烁测定误差。
[表1]
Figure BDA0002430624990000041
参照表1和图5，Lv_h_mes的采样间隔小(采样频率高)。因此，Lv_h_mes大致能够捕捉Lv_true的最大值，从而Lv_h_mes的最大值与Lv_true的最大值大致相同。同样地，Lv_h_mes大致能够捕捉Lv_true的最小值，从而Lv_h_mes的最小值与Lv_true的最小值大致相同。从直流分量的值来看，Lv_true为1.5000，相对于此，Lv_h_mes为1.5002。从闪烁量来看，Lv_true为1.3333，相对于此，Lv_h_mess为1.3332。与真值的差即闪烁测定误差为-0.01％。
对此，Lv_l_mes的采样间隔大(采样频率低)。因此，无法捕捉Lv_true的最大值，而是捕捉到比该最大值小的值(＝2.4945)。基于相同的理由，无法捕捉Lv_true的最小值，而是捕捉到比该最小值大的值(＝0.5055)。从直流分量的值来看，Lv_true为1.5000，相对于此，Lv_l_mes为1.5075。从闪烁量来看，Lv_true为1.3333，相对于此，Lv_l_mess为1.3194。与真值的差即闪烁测定误差为-1.04％。与低速采样相比，高速采样的闪烁测定误差(与真值的差)较小。这样，采样频率越低，闪烁量的测定值越小于闪烁量的真值。
图6是表示第一实施方式的二维闪烁测定装置3-1的结构的框图。二维闪烁测定装置3-1具备光学透镜31、二维摄像元件32、运算处理部33以及通信部34。光学透镜31会聚来自DUT屏幕1的整体的光L。由光学透镜31会聚的光L被二维摄像元件32接收。
二维摄像元件32(测光部)例如是CMOS传感器，且是具有二维的拍摄区域的图像传感器。二维摄像元件32以规定的帧率拍摄显示图像的DUT屏幕1，并输出表示拍摄到的图像的亮度信息的信号(以下称为亮度信号SG)。亮度信号SG是数字的电信号。
二维摄像元件32具有整体读出模式和部分读出模式。整体读出模式是将二维摄像元件32的所有受光元件作为读出的对象，以第一帧率拍摄DUT屏幕1的模式。第一帧率是低的帧率(相对低的帧率)，例如168fps、128fps、60fps。
部分读出模式是将二维摄像元件32的拍摄区域的一部分作为读出的对象，以比第一帧率高的第二帧率拍摄DUT屏幕1的模式。部分读出是二维摄像元件所具有的功能。拍摄区域的一部分与后述说明的图7所示的规定的测定区域15-1对应，是能够仅取出规定的测定区域15-1的图像信息的模式。根据部分读出，即使是通常的二维摄像元件32，由于读出的像素数较少，因此，例如也能够以512fps这样的高帧率(相对高的帧率)传送图像信息。因此，即使是通常的二维摄像元件32，也能够以高采样频率取出图像信息。
二维摄像元件32的帧率(第一帧率、第二帧率)可以看作采样频率。因此，在二维摄像元件32的情况下，帧率和采样频率只是单位不同，值是相同的。关于帧率的值，若将单位从fps变为Hz，则成为采样频率。例如，在帧率为512fps时，采样频率为512Hz。二维摄像元件32在512fps的帧率下输出的亮度信号SG是以512Hz进行采样的数字信号。
如以上所说明的那样，二维摄像元件32是测光部的具体例。测光部具有以第一采样频率(例如128Hz)对二维区域进行测光的第一功能、和以高于第一采样频率的第二采样频率(例如512Hz)对小于二维区域的区域进行测光的第二功能。在第一实施方式中，整体读出模式是第一功能，部分读出模式是第二功能。
另外，也可以是具备二维闪烁测定装置3-1和以下的受光装置(未图示)的方式。该受光装置例如被设置于光点型的亮度计中，包括接收来自规定的测定区域15-1(点区域)的光的受光元件(例如硅光电二极管)、和将从受光元件输出的信号(亮度信号)以高采样频率从模拟信号转换为数字信号的AD转换电路。从AD转换电路输出的信号(亮度信号)被输入运算处理部33。在该方式中，不使用二维摄像元件32的部分读出功能。该方式是使用受光装置得到以高采样频率进行采样的、规定的测定区域15的亮度信号。在该方式中，由受光装置和二维摄像元件32构成测光部。
运算处理部33是执行在闪烁量的测定中所需的各种设定、运算的硬件处理器。详细而言，运算处理部33是由CPU(Central Processing Unit：中央处理单元)、RAM(RandomAccess Memory：随机存取存储器)以及ROM(Read Only Memory：只读存储器)等实现的微型计算机。运算处理部33具备第一计算部331、第二计算部332、校正系数计算部333、校正系数存储部334以及校正部335作为功能块。对这些部件将在后文进行说明。
另外，运算处理部33的功能的一部分或全部也可以通过由FPGA(fieldprogrammable gate array：现场可编程门阵列)进行的处理来代替由CPU进行的处理而实现，或者是通过由FPGA进行的处理和由CPU进行的处理这两者而实现。另外，同样地，运算处理部33的功能的一部分或全部也可以通过专用的硬件电路的处理来代替由软件进行的处理而实现，或者是通过专用的硬件电路的处理和由软件进行的处理这两者而实现。
通信部34是二维闪烁测定装置3-1与外部的PC(Personal Computer：个人计算机)5进行通信的通信接口。测定人通过操作PC5向二维闪烁测定装置3-1发出执行在闪烁量的测定中所需的各种设定(例如测定区域15的中心位置的指定、测定区域15的数量)、闪烁量的测定的命令等。
对构成运算处理部33的要素进行说明。第一计算部331根据二维摄像元件32以第一帧率(整体读出模式)通过拍摄显示了图像的DUT屏幕1而得到的亮度信号SG，计算DUT屏幕1中设定的25个测定区域15(图2)的每个测定区域的闪烁量。该亮度信号SG是使用第一采样频率(低采样频率)采样得到的信号。换言之，第一计算部331根据测光部(二维摄像元件32)以第一采样频率通过对显示了图像的DUT屏幕1进行测光而得到的DUT屏幕1的测光量，计算DUT屏幕1中设定的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量。当第一帧率例如为128fps时，第一采样频率为128Hz。作为多个测定区域15，以25个测定区域15为例进行说明，但多个测定区域15的数量并不限定于25个。
第一计算部331根据二维摄像元件32以第一帧率(整体读出模式)通过拍摄显示了图像的DUT屏幕1而得到的亮度信号SG，计算DUT屏幕1中设定的规定的测定区域15-1的闪烁量。换言之，第一计算部331根据测光部(二维摄像元件32)以第一采样频率通过对显示了图像的DUT屏幕1中设定的规定的测定区域15-1进行测光而得到的规定的测定区域15-1的测光量，计算规定的测定区域15-1的闪烁量。对规定的测定区域15-1进行说明。图7是示出在图2所示的DUT屏幕1中设定了规定的测定区域15-1的状态的示意图。规定的测定区域15-1的数量为一个。图2所示的25个测定区域15中位于DUT屏幕1的中央的测定区域15被设为规定的测定区域15-1。规定的测定区域15-1被设定在DUT屏幕1的中央，但并不限定于该位置。25个测定区域15中的一个被设为规定的测定区域15-1，但也可以将与25个测定区域15分开设置的区域设为规定的测定区域15-1。
参照图6，第二计算部332根据二维摄像元件32以第二帧率(部分读出模式)通过拍摄显示了图像的DUT屏幕1而得到的亮度信号SG，计算规定的测定区域15-1的闪烁量。该亮度信号是使用第二采样频率(高采样频率)采样得到的信号。换言之，第二计算部332根据测光部(二维摄像元件32)以第二采样频率通过对显示了图像的DUT屏幕1中设定的规定的测定区域15-1进行测光而得到的规定的测定区域15-1的测光量，计算规定的测定区域15-1的闪烁量。当第二帧率例如为512fps时，第二采样频率为512Hz。
校正系数计算部333计算校正系数。校正系数是由第二计算部332计算出的规定的测定区域15-1的闪烁量、和根据二维摄像元件32以第一帧率通过拍摄显示了图像的DUT屏幕1而得到的表示规定的测定区域15-1的亮度的亮度信号计算出的规定的测定区域15-1的闪烁量规定的。换言之，校正系数是由第二计算部332计算出的规定的测定区域15-1的闪烁量、和根据测光部(二维摄像元件32)以第一采样频率通过对规定的测定区域15-1进行测光而得到的规定的测定区域15-1的测光量而计算出的规定的测定区域15-1的闪烁量规定的。并且，换言之，校正系数是由针对预定的测定区域15-1使用第二采样频率(高采样频率)计算出的闪烁量和使用第一采样频率(低采样频率)计算出的闪烁量规定的。在第一实施方式中，使用由第二计算部332计算出的规定的测定区域15-1的闪烁量和第一计算部331计算出的规定的测定区域15-1的闪烁量所规定的校正系数。
校正系数例如通过以下的公式1表示。
k＝Fc_h/Fc_l……公式1
其中，k是校正系数。Fc_h是针对规定的测定区域15-1使用第二采样频率计算出的闪烁量。Fc_l是针对规定的测定区域15-1使用第一采样频率计算出的闪烁量。
由于校正系数与场所(位置)无关，因而求出对于25个测定区域15通用的一个校正系数(并非求出与25个测定区域15分别对应的25个校正系数)。
校正系数存储部334在测定设定于DUT屏幕1中的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量之前预先存储校正系数。
校正部335使用在校正系数存储部334中存储的校正系数，对第一计算部331计算出的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量进行校正。
对使用第一实施方式的二维闪烁测定装置3-1计算校正系数的动作进行说明。图8是说明该动作的流程图。
参照图6，测定人操作PC5向二维闪烁测定装置3-1输入计算校正系数的命令。由此，运算处理部33将二维摄像元件32设定成部分读出模式，将二维摄像元件32的帧率设定为第二帧率(例如512fps)(图8的步骤S1)。换言之，第二帧率为第二采样频率，当第二帧率为512fps时，第二采样频率为512Hz。
运算处理部33在步骤S1的设定下，进行使二维摄像元件32拍摄显示了图像的DUT屏幕1的控制(图8的步骤S2)。由此，在预先设定的期间(时间)内，从二维摄像元件32输出的亮度信号SG被输入运算处理部33(图8的步骤S3)。这里的亮度信号SG是表示规定的测定区域15-1的亮度的亮度信号。规定的测定区域15-1与二维摄像元件32的拍摄区域中被部分读出的区域对应。
第二计算部332根据在步骤S3中被输入运算处理部33的亮度信号SG，计算规定的测定区域15-1的闪烁量(图8的步骤S4)。这里的闪烁量是针对规定的测定区域15-1使用第二采样频率计算出的闪烁量(Fc_h)。
接着，运算处理部33将二维摄像元件32的设定从部分读出模式变更为整体读出模式。由此，运算处理部33将二维摄像元件32的帧率设定为第一帧率(例如128fps)(图8的步骤S5)。换言之，第一帧率为第一采样频率，第一帧率为128fps时，第一采样频率为128Hz。
运算处理部33在步骤S5的设定下，进行使二维摄像元件32拍摄显示了图像的DUT屏幕1的控制(图8的步骤S6)。由此，在预先设定的期间(时间)内，从二维摄像元件32输出的亮度信号SG被输入运算处理部33(图8的步骤S7)。这里的亮度信号SG是表示DUT屏幕1的整个区域的亮度的亮度信号。在DUT屏幕1的整个区域中，包括图2所示的25个测定区域15(多个测定区域15)。
第一计算部331根据在步骤S7中被输入运算处理部33的亮度信号SG中的规定的测定区域15-1的亮度信号SG，计算规定的测定区域15-1的闪烁量(图8的步骤S8)。这里的闪烁量是针对规定的测定区域15-1使用第一采样频率计算出的闪烁量(Fc_l)。
校正系数计算部333使用在步骤S4中计算出的闪烁量(Fc_h)、在步骤S8中计算出的闪烁量(Fc_l)以及式1计算校正系数(图8的步骤S9)。该校正系数对于25个测定区域15是通用的。校正系数计算部333将计算出的校正系数存储在校正系数存储部334中。另外，校正系数也可以在二维闪烁测定装置3-1出厂前计算出并被存储在校正系数存储部334中。由此，测定人(用户)也可以不使用二维闪烁测定装置3-1计算校正系数。
接着，对使用第一实施方式的二维闪烁测定装置3-1测定DUT屏幕1中设定的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量的动作进行说明。图9是说明该动作的流程图。
参照图6，测定人操作PC5向二维闪烁测定装置3-1输入测定闪烁量的命令。由此，运算处理部33将二维摄像元件32设定成整体读出模式，将二维摄像元件32的帧率设定为第一帧率(图9的步骤S11)。步骤S11中的第一帧率是与图8的步骤S5中的第一帧率相同的值。这里为128fps。
运算处理部33在步骤S11的设定下，进行使二维摄像元件32拍摄显示了图像的DUT屏幕1的控制(图9的步骤S12)。由此，从二维摄像元件32输出的亮度信号SG被输入运算处理部33(图9的步骤S13)。这里的亮度信号SG是表示DUT屏幕1的整个区域的亮度的亮度信号。在DUT屏幕1的整个区域中，包括图2所示的25个测定区域15(多个测定区域15)。
第一计算部331根据在步骤S13中被输入运算处理部33的亮度信号SG，计算25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量(图9的步骤S14)。这里的闪烁量是针对25个测定区域15的每个测定区域使用第一采样频率计算出的闪烁量。
校正部335使用在校正系数存储部334中存储的校正系数，对在步骤S14中计算出的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量进行校正(图9的步骤S15)。该校正中使用以下公式2。
F(x，y)_true＝k×F(x，y)_l_mes……公式2
其中，k是校正系数。F(x，y)_l_mes表示在步骤S14中由第一计算部331计算出的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量。F(x，y)_true表示在步骤S15中校正后的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量。(x，y)表示25个测定区域15的每个测定区域的中心点的坐标。
具体说明的话，对第一计算部331计算出的第一个测定区域15的闪烁量乘以校正系数后的值为第一个测定区域15的校正后的闪烁量，对第一计算部331计算出的第二个测定区域15的闪烁量乘以校正系数后的值为第二个测定区域15的校正后的闪烁量，……，对第一计算部331计算出的第25个测定区域15的闪烁量乘以校正系数后的值为第25个测定区域15的校正后的闪烁量。
运算处理部33使用通信部34将25个测定区域15的每个测定区域的校正后的闪烁量发送至PC5。PC5将这些闪烁量作为25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量的测定值显示在PC5的屏幕上(图9的步骤S16)。
如上所述，第一实施方式的二维闪烁测定装置3-1针对25个测定区域15(多个测定区域15)分别使用第一采样频率(低采样频率)计算闪烁量(图9的步骤S14)，并用校正系数进行校正(图9的步骤S15)。因此，能够使用低采样频率高精度地测定DUT屏幕1中设定的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量。
另外，也可以是，对二维摄像元件32以第一帧率拍摄显示了图像的DUT屏幕1而得到的表示DUT屏幕1的亮度的亮度信号SG(图9的步骤S12、步骤S13)进行插值(拉格朗日插值等)。由此，即使没有校正系数，也能够高精度地测定DUT屏幕1中设定的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量。
对第一实施方式的变形例进行说明。参照图6对变形例1进行说明。变形例1能够实现根据DUT屏幕1的驱动频率(垂直同步信号的频率)的值改变校正系数。例如，设第一DUT屏幕1的驱动频率为f1，设第二DUT屏幕1的驱动频率为f2(f1≠f2)。在驱动频率f1的情况下，设校正系数为k1，在驱动频率f2的情况下，设校正系数为k2(k1≠k2)。校正系数存储部334将驱动频率f1与校正系数k1相对应地存储，并且将驱动频率f2与校正系数k2相对应地存储。即，校正系数存储部334预先存储根据DUT屏幕1的驱动频率的值计算出的多个校正系数。
在DUT屏幕1的驱动频率为f1的情况下(第一DUT屏幕1的情况下)，校正部335从校正系数存储部334读出校正系数k1，并使用校正系数k1对第一计算部331计算出的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量进行校正。关于DUT屏幕1的驱动频率，既可以是二维闪烁测定装置3-1使用公知技术自动测定，也可以是测定人使用PC5输入到二维闪烁测定装置3-1。
在DUT屏幕1的驱动频率为f2的情况下(第二DUT屏幕1的情况下)，校正部335从校正系数存储部334读出校正系数k2，并使用校正系数k2对第一计算部331计算出的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量进行校正。
如上所述，校正部335使用在校正系数存储部334中存储的多个校正系数中的与DUT屏幕1的驱动频率的值对应的校正系数，对第一计算部331计算出的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量进行校正。
校正系数根据DUT屏幕1的驱动频率的值而变化。因此，当对于不同的驱动频率的DUT屏幕1使用相同的校正系数时，闪烁量的测定精度下降。根据变形例1，由于根据DUT屏幕1的驱动频率的值改变校正系数，因而能够防止上述情况发生。
参照图6对变形例2进行说明。在变形例2中，根据第一帧率的值改变校正系数(第一帧率可以改称为第一采样频率)。例如，在第一帧率的值为v1的情况下，设校正系数为k1，在第一帧率的值为v2的情况下，设校正系数为k2(v1≠v2、k1≠k2)。校正系数存储部334将第一帧率v1与校正系数k1相对应地存储，并且将第一帧率v2与校正系数k2相对应地存储。这样，校正系数存储部334预先存储根据第一帧率的值计算出的多个校正系数。
在测定25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量之前，测定人使用PC5(第一输入部)，将第一帧率的值输入二维闪烁测定装置3-1。在被输入了第一帧率v1的情况下，校正部335从校正系数存储部334读出校正系数k1，并使用校正系数k1对第一计算部331计算出的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量进行校正。在被输入了第一帧率v2的情况下，校正部335从校正系数存储部334读出校正系数k2，并使用校正系数k2对第一计算部331计算出的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量进行校正。
这样，在使用PC5指定了第一帧率的值时，校正部335使用在校正系数存储部334中存储的多个校正系数中的、与使用PC5指定的值对应的校正系数，对第一计算部331计算出的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量进行校正。
校正系数根据第一帧率的值而改变。因此，当与第一帧率的值无关地使用相同的校正系数时，闪烁量的测定精度下降。根据变形例2，由于根据第一帧率的值改变校正系数的值，因而能够防止上述情况发生。
参照图6对变形例3进行说明。变形例3是变形例1与变形例2的组合。例如，设第一DUT屏幕1的驱动频率为f1，设第二DUT屏幕1的驱动频率为f2(f1≠f2)，并设第一帧率的值为v1、v2(v1≠v2)。第一帧率可以改称为第一采样频率。在驱动频率f1与第一帧率v1的组合的情况下，设校正系数为k1，在驱动频率f1与第一帧率v2的组合的情况下，设校正系数为k2，在驱动频率f2与第一帧率v1的组合的情况下，设校正系数为k3，在驱动频率f2与第一帧率v2的组合的情况下，设校正系数为k4(k1、k2、k3、k4分别为不同的值)。
校正系数存储部334将驱动频率f1与第一帧率v1的组合和校正系数k1相对应地存储，将驱动频率f1与第一帧率v2的组合和校正系数k2相对应地存储，将驱动频率f2与第一帧率v1的组合和校正系数k3相对应地存储，将驱动频率f2与第一帧率v2的组合和校正系数k4相对应地存储。这样，校正系数存储部334在测定25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量之前，预先存储根据DUT屏幕1的驱动频率的值与第一帧率的值的组合计算出的多个校正系数。
在测定25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量之前，测定人使用PC5(第二输入部)，将第一帧率的值输入二维闪烁测定装置3-1。在被输入了第一帧率v1且DUT屏幕1的驱动频率为f1的情况下，校正部335从校正系数存储部334读出校正系数k1，并使用校正系数k1对第一计算部331计算出的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量进行校正。在被输入了第一帧率v2且DUT屏幕1的驱动频率为f1的情况下，校正部335从校正系数存储部334读出校正系数k2，并使用校正系数k2对第一计算部331计算出的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量进行校正。在被输入了第一帧率v1且DUT屏幕1的驱动频率为f2的情况下，校正部335从校正系数存储部334读出校正系数k3，并使用校正系数k3对第一计算部331计算出的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量进行校正。在被输入了第一帧率v2且DUT屏幕1的驱动频率为f2的情况下，校正部335从校正系数存储部334读出校正系数k4，并使用校正系数k4对第一计算部331计算出的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量进行校正。
这样，在使用PC5(第二输入部)指定了第一帧率的值时，校正部335使用在校正系数存储部334中存储的多个校正系数中的、与使用PC5指定的值和DUT屏幕1的驱动频率的值的组合对应的校正系数，对第一计算部331计算出的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量进行校正。
根据变形例3，具有与变形例1、变形例2相同的效果。
参照图6和图9对变形例4进行说明。在变形例4中，能够由测定人选择是否校正闪烁量。测定人在测定25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量之前，使用PC5(第三输入部)向二维闪烁测定装置3-1输入是否校正闪烁量的指示。在被输入了校正闪烁量的指示时，校正部335对在步骤S14中由第一计算部331计算出的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量进行校正(步骤S15)。
相对于此，在被输入了不校正闪烁量的指示时，校正部335对在步骤S14中由第一计算部331计算出的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量不校正。即，不进行步骤S15的处理。运算处理部33使用通信部34，将在步骤S14中由第一计算部331计算出的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量(未被校正的闪烁量)发送至PC5。PC5将这些闪烁量作为多个测定区域15的每个测定区域的闪烁量的测定值显示在PC5的屏幕上。
即使未根据校正系数对第一计算部331计算出的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量进行校正，也可以得知25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量的相对值。在25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量的相对值充分的情况下，测定人使用PC5(第三输入部)发出不校正闪烁量的指示。
变形例4也可适用于接下来说明的第二实施方式。
对第二实施方式进行说明。图10是示出第二实施方式的二维闪烁测定装置3-2的结构的框图。第二实施方式的二维闪烁测定装置3-2在测定25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量时实时计算校正系数。对第二实施方式的二维闪烁测定装置3-2与第一实施方式的二维闪烁测定装置3-1的不同点进行说明。
二维闪烁测定装置3-2具备供穿过光学透镜31的光L入射的光分割部35。光分割部35将光L分割为两个光即光L1和光L2。光分割部35例如是半反射镜。
二维闪烁测定装置3-2具备第一二维摄像元件36(第一测光部)和第二二维摄像元件37(第二测光部)作为测光部来代替二维摄像元件32。第一二维摄像元件36被配置于光L1(分割后的一个光)的光路上。第二二维摄像元件37被配置于光L2(分割后的另一个光)的光路上。
第一二维摄像元件36(第一测光部)在整体读出模式下以第一帧率拍摄显示了图像的DUT屏幕1，并输出拍摄到的图像的亮度信号SG。第一二维摄像元件36例如是CMOS传感器、CCD传感器。这样，第一测光部具有以第一采样频率对二维区域进行测光的第一功能。
第二二维摄像元件37(第二测光部)在部分读出模式下以第二帧率拍摄显示了图像的DUT屏幕1，并输出拍摄到的图像的亮度信号SG。第二二维摄像元件37例如是CMOS传感器。这样，第二测光部具有以高于第一采样频率的第二采样频率对小于二维区域的区域进行测光的第二功能。
也可以使用以下的第二测光部代替第二二维摄像元件37。该第二测光部包括接收来自规定的测定区域15-1(点区域)的光的受光元件(例如硅光电二极管)、和将从受光元件输出的信号从模拟信号转换为数字信号的AD转换电路。根据该第二测光部，由于信号的传送速度快，因而不需要进行部分读出。
从第一二维摄像元件36输出的亮度信号SG和从第二二维摄像元件37输出的亮度信号SG被输入到运算处理部33。
运算处理部33具备第一计算部336、第二计算部337、第三计算部338、校正部339以及定时控制部340。除了定时控制部340以外，其他部分将在后文进行说明。定时控制部340进行控制，使得在第二二维摄像元件37以第二帧率拍摄显示了图像的DUT屏幕1时按时间序列排列的拍摄定时中包含第一二维摄像元件36以第一帧率拍摄显示了图像的DUT屏幕1时按时间序列排列的拍摄定时。图11是说明拍摄定时的控制的说明图。第二帧率是第一帧率的整数倍。这里，以第二帧率为500fps、第一帧率为100fps为例进行说明。
由于第一二维摄像元件36的帧率为100fps，因此拍摄定时T1以0.01秒间隔按时间序列排列。由于第二二维摄像元件37的拍摄时机T2为500fps，因此拍摄定时T2以0.002秒间隔按时间序列排列。为了排除第一二维摄像元件36与第二二维摄像元件37之间的相位差的要因，例如定时控制部340具备将基准时钟分别分频为100Hz的时钟、500Hz的时钟的分频电路。第一二维摄像元件36将100Hz的时钟作为定时信号，并以该定时信号为基准进行拍摄。第二二维摄像元件37将500Hz的时钟作为定时信号，并以该定时信号为基准进行拍摄。由此，第二二维摄像元件37的拍摄定时T2在5次周期中有1次周期与第一二维摄像元件36的拍摄定时T1相同。这意味着，在第二二维摄像元件37以第二帧率拍摄显示了图像的DUT屏幕1时按时间序列排列的拍摄时机T2中包含在第一二维摄像元件36以第一帧率拍摄显示了图像的DUT屏幕1时按时间序列排列的拍摄时机T1。
接着，用第二实施方式的二维闪烁装置3-2的动作进行说明。图12是说明该动作的流程图。
参照图10，DUT屏幕1中显示有图像，光分割部35将来自整个DUT屏幕1的光L分割为光L1和光L2。由此，光L1入射到第一二维摄像元件36中，光L2入射到第二二维摄像元件37中。测定人操作PC5向二维闪烁测定装置3-2输入测定闪烁量的命令。由此，运算处理部33进行如下控制：使第一二维摄像元件36以第一帧率拍摄显示了图像的DUT屏幕1，并使第二二维摄像元件37使以第二帧率拍摄显示了图像的DUT屏幕1(图12的步骤S21)。如利用图11说明的那样，定时控制部340控制第一二维摄像元件36的拍摄定时T1和第二二维摄像元件37的拍摄定时T2。
第一二维摄像元件36以第一帧率拍摄显示了图像的DUT屏幕1，由此第一二维摄像元件36输出亮度信号SG。第二二维摄像元件37以第二帧率拍摄显示了图像的DUT屏幕1，由此第二二维摄像元件37输出亮度信号SG。从第一二维摄像元件36输出的亮度信号SG和从第二二维摄像元件37输出的亮度信号SG被输入到运算处理部33(图12的步骤S22)。从第一二维摄像元件36输出的亮度信号SG是表示DUT屏幕1的整个区域的亮度的亮度信号。在DUT屏幕1的整个区域中，包括图2所示的25个测定区域15(多个测定区域15)。从第二二维摄像元件37输出的亮度信号SG是表示规定的测定区域15-1的亮度的信号。规定的测定区域15-1与第二二维摄像元件37的拍摄区域中被部分读出的区域相对应。
第一计算部336计算25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量，第二计算部337计算规定的测定区域15-1的闪烁量(图12的步骤S23)。详细说明的话，第一计算部336根据从第一二维摄像元件36输出并被输入到运算处理部33的亮度信号SG(通过第一二维摄像元件36拍摄显示了图像的DUT屏幕1而得到的表示DUT屏幕1的亮度的亮度信号SG)，计算25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量。换言之，第一计算部336根据通过第一测光部(第一二维摄像元件36)对显示了图像的DUT屏幕1进行测光而得到的DUT屏幕1的测光量，计算25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量。
第二计算部337根据从第二二维摄像元件37输出并被输入到运算处理部33的亮度信号SG(通过第二二维摄像元件37拍摄显示了图像的DUT屏幕1而得到的表示规定的测定区域15-1的亮度的亮度信号SG)，计算规定的测定区域15-1的闪烁量。换言之，第二计算部337根据通过第二测光部(第二二维摄像元件37)对显示了图像的DUT屏幕中设定的规定的测定区域15-1进行测光而得到的规定的测定区域15-1的测光量，计算规定的测定区域15-1的闪烁量。
第三计算部338使用第一计算部336计算出的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量中的中央的测定区域15(即规定的测定区域15-1)的闪烁量、第二计算部337计算出的闪烁量以及公式1计算校正系数(图12的步骤S24)。
校正部339使用在步骤S24中计算出的校正系数，对在步骤S23中计算出的25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量进行校正(图12的步骤S25)。在该校正中使用上述公式2。
运算处理部33使用通信部34将25个测定区域15的每个测定区域的校正后的闪烁量发送至PC5。PC5将这些闪烁量作为25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量的测定值显示在PC5的屏幕上(图12的步骤S26)。
对第二实施方式的主要效果进行说明。在第二实施方式中，以第一帧率拍摄DUT屏幕1的二维摄像元件(第一二维摄像元件36)和以第二帧率拍摄DUT屏幕1的二维摄像元件(第二二维摄像元件37)是分开的。光分割部35将来自DUT屏幕1的光L分割为两个光，第一二维摄像元件36被配置于分割后的一个光L1的光路上，第二二维摄像元件37被配置于分割后的另一个光L2的光路上。因此，根据第二实施方式，在测定25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量时，能够实时计算校正系数。由此，能够提高25个测定区域15的每个测定区域的闪烁量的测定精度。
(本实施方式的总结)
实施方式的第一方面的二维闪烁测定装置具备：测光部，其具有以第一采样频率对二维区域进行测光的第一功能、和以高于所述第一采样频率的第二采样频率对比所述二维区域小的区域进行测光的第二功能；第一计算部，其根据通过所述测光部以所述第一采样频率对测定对象物进行测光而得到的所述测定对象物的测光量，计算在所述测定对象物中设定的多个测定区域的每个测定区域的闪烁量；第二计算部，其根据通过所述测光部以所述第二采样频率对在所述测定对象物中设定的规定的测定区域进行测光而得到的所述规定的测定区域的测光量，计算所述规定的测定区域的闪烁量；以及校正部，其使用校正系数对由所述第一计算部计算出的所述多个测定区域的每个测定区域的闪烁量进行校正，所述校正系数是由所述第二计算部计算出的闪烁量、和根据通过所述测光部以所述第一采样频率对所述规定的测定区域进行测光而得到的所述规定的测定区域的测光量计算出的所述规定的测定区域的闪烁量而规定的。
既可以将多个测定区域中的任意一个测定区域设为规定的测定区域，也可以将与多个测定区域不同的区域设为规定的测定区域。
规定校正系数的后者的闪烁量(即，根据通过测光部以第一采样频率对规定的测定区域进行测光而得到的规定的测定区域的测光量计算出的规定的测定区域的闪烁量)既可以在通过第一计算部计算多个测定区域的每个测定区域的闪烁量之前，预先由第一计算部计算出(由此，在测定多个测定区域的每个测定区域的闪烁量之前，预先存储校正系数)，也可以在通过第一计算部计算出多个测定区域的每个测定区域的闪烁量时由第一计算部计算出(由此，在测定多个测定区域的每个测定区域的闪烁量时，实时计算校正系数)。
第一计算部根据通过测光部以第一采样频率(低采样频率)对测定对象物进行测光而得到的测定对象物的测光量(例如亮度)，计算在测定对象物中设定的多个测定区域的每个测定区域的闪烁量。
第二计算部根据通过测光部以第二采样频率(高采样频率)对测定对象物中设定的规定的测定区域进行测光而得到的规定的测定区域的测光量(例如亮度)，计算规定的测定区域的闪烁量。
校正系数是由第二计算部计算出的规定的测定区域的闪烁量和根据通过测光部以第一采样频率对规定的测定区域进行测光而得到的规定的测定区域的测光量计算出的规定的测定区域的闪烁量规定的。换言之，校正系数是由针对规定的测定区域使用第二采样频率(高采样频率)求出的闪烁量和使用第一采样频率(低采样频率)求出的闪烁量规定的。校正部根据该校正系数对由第一计算部计算出的多个测定区域的每个测定区域的闪烁量(第一计算部使用第一采样频率计算出的多个测定区域的每个测定区域的闪烁量)。由此，能够提高闪烁量的测定精度。
如上文那样，实施方式的第一方面的二维闪烁测定装置针对多个测定区域的每个测定区域，使用第一采样频率(低采样频率)计算闪烁量，并利用校正系数进行校正。因此，能够使用低采样频率高精度地测定在测定对象物中设定的多个测定区域的每个测定区域的闪烁量。
在上述结构中，还具备存储部，该存储部预先存储在测定所述多个测定区域的每个测定区域的闪烁量之前计算出的所述校正系数，所述校正部使用在所述存储部中存储的所述校正系数，校正由所述第一计算部计算出的所述多个测定区域的每个测定区域的闪烁量。
在存储部中存储的校正系数既可以在二维闪烁测定装置的出厂前，使用二维闪烁测定装置计算出，也可以在用户使用二维闪烁测定装置测定在测定对象物中设定的多个测定区域的每个测定区域的闪烁量之前，使用二维闪烁测定装置计算出。
在上述结构中，所述存储部预先存储根据所述测定对象物的驱动频率的值计算出的多个所述校正系数，所述校正部使用在所述存储部中存储的多个所述校正系数中的、与所述测定对象物的驱动频率的值对应的所述校正系数，校正由所述第一计算部计算出的所述多个测定区域的每个测定区域的闪烁量。
校正系数根据测定对象(例如显示器屏幕)的驱动频率的值而改变。因此，当对不同的驱动频率的测定对象物使用相同的校正系数时，闪烁量的测定精度下降。根据该结构，由于根据测定对象物的驱动频率的值改变校正系数，因而能够防止上述情况发生。
在上述结构中，还具备第一输入部，所述存储部预先存储根据所述第一采样频率的值计算出的多个所述校正系数，在使用所述第一输入部指定了所述第一采样频率的值时，所述校正部使用在所述存储部中存储的多个所述校正系数中的、与使用所述第一输入部指定的值对应的所述校正系数，校正由所述第一计算部计算出的所述多个测定区域的每个测定区域的闪烁量。
该结构是以二维闪烁测定装置具有能够改变第一采样频率的值的功能为前提的。校正系数根据第一采样频率的值而发生变化。因此，当与第一采样频率的值无关地使用相同的校正系数时，闪烁量的测定精度下降。根据该结构，由于根据第一采样频率的值改变校正系数的值，因而能够防止上述情况发生。
在上述结构中，还具备第二输入部，所述存储部预先存储根据所述测定对象物的驱动频率的值和所述第一采样频率的值的组合计算出的多个所述校正系数，在使用所述第二输入部指定了所述第一采样频率的值时，所述校正部使用在所述存储部中存储的多个所述校正系数中的、与使用所述第二输入部指定的值和所述测定对象物的驱动频率的值的组合对应的所述校正系数，校正由所述第一计算部计算出的所述多个测定区域的每个测定区域的闪烁量。
该结构是上述两个结构(根据测定对象物的驱动频率的值改变校正系数。根据第一采样频率的值改变校正系数。)的组合。该结构具有与上述两个结构相同的效果。
在上述结构中，所述测光部包括具有所述第一功能和所述第二功能的二维摄像元件，所述第二功能是部分读出功能。
根据该结构，通过1个二维摄像元件实现第一功能和第二功能。
在上述结构中，还具备将来自所述测定对象物的光分割为两个光的光分割部，所述测光部具备被配置于所述分割后的一个光的光路上并具有所述第一功能的第一测光部、和被配置于所述分割后的另一个光的光路上并具有所述第二功能的第二测光部，所述第一计算部根据通过所述第一测光部对所述测定对象物进行测光而得到的所述测定对象物的测光量计算所述多个测定区域的每个测定区域的闪烁量，所述第二计算部根据通过所述第二测光部对所述规定的测定区域进行测光而得到的所述规定的测定区域的测光量计算所述规定的测定区域的闪烁量，所述多个测定区域中的一个测定区域是所述规定的测定区域，所述二维闪烁测定装置还具备第三计算部，该第三计算部使用由所述第一计算部计算出的所述多个测定区域的每个测定区域的闪烁量中的所述规定的测定区域的闪烁量和由所述第二计算部计算出的闪烁量计算所述校正系数，所述校正部使用由所述第三计算部计算出的所述校正系数校正由所述第一计算部计算出的所述多个测定区域的每个测定区域的闪烁量。
在该结构中，以第一采样频率进行测光的测光部(第一测光部)和以第二采样频率进行测光的测光部(第二测光部)是分开的。光分割部将来自测定对象物的光分割为两个光，第一测光部被配置于分割后的一个光的光路上，第二测光部被配置于分割后的另一个光的光路上。因此，根据该结构，在测定多个测定区域的每个测定区域的闪烁量时，能够实时计算校正系数。由此，能够提高多个测定区域的每个测定区域的闪烁量的测定精度。
在上述结构中，所述第一测光部包括第一二维摄像元件，所述第二测光部包括具有作为所述第二功能的部分读出功能的第二二维摄像元件或者接收来自比所述第一二维摄像元件的拍摄区域小的点区域的光的受光元件。
在该结构中具体地规定了第一测光部和第二测光部。由于第二测光部对测定对象物中设定的规定的测定区域进行测光，因此第二测光部也可以不是二维摄像元件。
在上述结构中，还具备第三输入部，在测定所述多个测定区域的每个测定区域的闪烁量之前，当使用所述第三输入部发出了校正闪烁量的指示时，所述校正部对由所述第一计算部计算出的所述多个测定区域的每个测定区域的闪烁量进行校正，在测定所述多个测定区域的每个测定区域的闪烁量之前，当使用所述第三输入部发出了不校正闪烁量的指示时，所述校正部对由所述第一计算部计算出的所述多个测定区域的每个测定区域的闪烁量不校正。
即使未根据校正系数对由第一计算部计算出的多个测定区域的每个测定区域的闪烁量进行校正，也可以得知多个测定区域的每个测定区域的闪烁量的相对值。在多个测定区域的每个测定区域的闪烁量的相对值充分的情况下，测定人使用第三输入部发出不校正闪烁量的指示。
实施方式的第二方面的二维闪烁测定方法是使用测光部测定在测定对象物中设定的多个测定区域的每个测定区域的闪烁量，其中，所述测光部具有以第一采样频率对二维区域进行测光的第一功能、和以高于所述第一采样频率的第二采样频率对比所述二维区域小的区域进行测光的第二功能，该二维闪烁测定方法包括以下步骤：第一计算步骤，在该步骤中，根据通过所述测光部以所述第一采样频率对所述测定对象物进行测光而得到的所述测定对象物的测光量，计算所述测定对象物中设定的所述多个测定区域的每个测定区域的闪烁量；第二计算步骤，在该步骤中，根据通过所述测光部以所述第二采样频率对所述测定对象物中设定的规定的测定区域进行测光而得到的所述规定的测定区域的测光量，计算所述规定的测定区域的闪烁量；以及校正步骤，在该步骤中，使用校正系数对在所述第一计算步骤中计算出的所述多个测定区域的每个测定区域的闪烁量进行校正，所述校正系数是由在所述第二计算步骤中计算出的闪烁量、和根据通过所述测光部以所述第一采样频率对所述规定的测定区域进行测光而得到的所述规定的测定区域的测光量计算出的所述规定的测定区域的闪烁量而规定的。
实施方式的第二方面的二维闪烁测定方法是从方法的观点限定实施方式的第一方面的二维闪烁测定装置，因此具有与实施方式的第一方面的二维闪烁测定装置相同的作用效果。
详细图示并说明了本发明的实施方式，但这仅仅是图示例和实例，并不限定于此。本发明的范围应根据所附权利要求书的内容进行解释。
通过参考的方式，将2017年10月5日提交的日本专利申请特愿第2017-195103号中公开的整个内容全部援引于本说明书。
(产业上的可利用性)
根据本发明，能够提供二维闪烁测定装置及二维闪烁测定方法。

Claims (10)

1.一种二维闪烁测定装置，其特征在于，具备：
测光部，其具有以第一采样频率对二维区域进行测光的第一功能、和以高于所述第一采样频率的第二采样频率对比所述二维区域小的区域进行测光的第二功能；
第一计算部，其根据所述测光部以所述第一采样频率对测定对象物进行测光而得到的所述测定对象物的测光量，算出所述测定对象物中设定的多个测定区域各自的闪烁量；
第二计算部，其根据所述测光部以所述第二采样频率对所述测定对象物中设定的规定的测定区域进行测光而得到的所述规定的测定区域的测光量，算出所述规定的测定区域的闪烁量；以及
校正部，其使用校正系数对所述第一计算部算出的所述多个测定区域各自的闪烁量进行校正，所述校正系数由所述第二计算部算出的闪烁量、和根据所述测光部以所述第一采样频率对所述规定的测定区域进行测光而得到的所述规定的测定区域的测光量算出的所述规定的测定区域的闪烁量而规定。
2.根据权利要求1所述的二维闪烁测定装置，其特征在于，
还具备预先存储在测定所述多个测定区域各自的闪烁量之前算出的所述校正系数的存储部；
所述校正部使用所述存储部中存储的所述校正系数校正所述第一计算部算出的所述多个测定区域各自的闪烁量。
3.根据权利要求2所述的二维闪烁测定装置，其特征在于，
所述存储部预先存储根据所述测定对象物的驱动频率的值算出的多个所述校正系数；
所述校正部使用所述存储部中存储的多个所述校正系数中的、与所述测定对象物的驱动频率的值对应的所述校正系数，校正所述第一计算部算出的所述多个测定区域各自的闪烁量。
4.根据权利要求2所述的二维闪烁测定装置，其特征在于，
还具备第一输入部；
所述存储部预先存储根据所述第一采样频率的值算出的多个所述校正系数；
在使用所述第一输入部指定了所述第一采样频率的值时，所述校正部使用所述存储部中存储的多个所述校正系数中的、与使用所述第一输入部指定的值对应的所述校正系数，校正所述第一计算部算出的所述多个测定区域各自的闪烁量。
5.根据权利要求2所述的二维闪烁测定装置，其特征在于，
还具备第二输入部；
所述存储部预先存储根据所述测定对象物的驱动频率的值和所述第一采样频率的值的组合算出的多个所述校正系数；
在使用所述第二输入部指定了所述第一采样频率的值时，所述校正部使用所述存储部中存储的多个所述校正系数中的、与使用所述第二输入部指定的值和所述测定对象物的驱动频率的值的组合对应的所述校正系数，校正所述第一计算部算出的所述多个测定区域各自的闪烁量。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的二维闪烁测定装置，其特征在于，
所述测光部包括具有所述第一功能和所述第二功能的二维摄像元件；
所述第二功能是部分读出功能。
7.根据权利要求1所述的二维闪烁测定装置，其特征在于，
还具备将来自所述测定对象物的光分割为两个光的光分割部；
所述测光部具备配置于所述分割后的一个光的光路中并具有所述第一功能的第一测光部、和配置于所述分割后的另一个光的光路中并具有所述第二功能的第二测光部；
所述第一计算部根据所述第一测光部对所述测定对象物进行测光而得到的所述测定对象物的测光量算出所述多个测定区域各自的闪烁量；
所述第二计算部根据所述第二测光部对所述规定的测定区域进行测光而得到的所述规定的测定区域的测光量算出所述规定的测定区域的闪烁量；
所述多个测定区域中的一个是所述规定的测定区域；
所述二维闪烁测定装置还具备第三计算部，所述第三计算部使用所述第一计算部算出的所述多个测定区域各自的闪烁量中的、所述规定的测定区域的闪烁量和所述第二计算部算出的闪烁量算出所述校正系数；
所述校正部使用所述第三计算部算出的所述校正系数校正所述第一计算部算出的所述多个测定区域各自的闪烁量。
8.根据权利要求7所述的二维闪烁测定装置，其特征在于，
所述第一测光部包含第一二维摄像元件；
所述第二测光部包含具有作为所述第二功能的部分读出功能的第二二维摄像元件、或者接收来自比所述第一二维摄像元件的拍摄区域小的点区域的光的受光元件。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的二维闪烁测定装置，其特征在于，
还具备第三输入部；
在测定所述多个测定区域各自的闪烁量之前，使用所述第三输入部发出了校正闪烁量的指示时，所述校正部对所述第一计算部算出的所述多个测定区域各自的闪烁量进行校正，在测定所述多个测定区域各自的闪烁量之前，使用所述第三输入部发出了不校正闪烁量的指示时，所述校正部不对所述第一计算部算出的所述多个测定区域各自的闪烁量进行校正。
10.一种二维闪烁测定方法，使用测光部测定在测定对象物中设定的多个测定区域各自的闪烁量，所述测光部具有以第一采样频率对二维区域进行测光的第一功能、和以高于所述第一采样频率的第二采样频率对比所述二维区域小的区域进行测光的第二功能；
所述二维闪烁测定方法的特征在于，包括：
第一计算步骤，根据所述测光部以所述第一采样频率对所述测定对象物进行测光而得到的所述测定对象物的测光量，算出所述测定对象物中设定的所述多个测定区域各自的闪烁量；
第二计算步骤，根据所述测光部以所述第二采样频率对所述测定对象物中设定的规定的测定区域进行测光而得到的所述规定的测定区域的测光量，算出所述规定的测定区域的闪烁量；以及
校正步骤，使用校正系数对所述第一计算步骤中算出的所述多个测定区域各自的闪烁量进行校正，所述校正系数由所述第二计算步骤中算出的闪烁量、和根据所述测光部以所述第一采样频率对所述规定的测定区域进行测光而得到的所述规定的测定区域的测光量算出的所述规定的测定区域的闪烁量而规定。
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