CN111128656A - 一种宽带束束流二维检测的方法与装置 - Google Patents

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张喻召
方加晔
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    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/30Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
    • H01J37/317Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for changing properties of the objects or for applying thin layers thereon, e.g. for ion implantation
    • H01J37/3171Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for changing properties of the objects or for applying thin layers thereon, e.g. for ion implantation for ion implantation
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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
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Abstract

本发明阐述了一种宽带束束流二维检测的方法与装置,装置包括移动法拉第(1),通道选择板(27),信号转换板(28),上位机(29),电机1、2及传动装置(30)。移动法拉第(1)包含法拉第杯(2),(3),(4),(5),(6),(7),(8),(9),(10),(11),(12),(13),(14),(15),(16),(17),(18),(19),(20),(21),(22),(23),(24),(25),(26)。通道选择板(27)包含通道选择芯片(31),(32),(33),(34)。本发明特征:上位机(29)指令通过总线(35)控制通道选择板(27)的通道选择芯片(31),(32),(33),(34)的状态,选择输出束流信号,信号经过信号转换板(28)的处理,通过总线(35)传送至上位机。利用这些装置,通过电机1、2及传动装置(30)驱动移动法拉第(1)两方向移动,检测出宽带束二维束流大小。

Description

一种宽带束束流二维检测的方法与装置
技术领域
本发明涉及离子注入机的宽带束束流二维检测。通过束流二维检测,得到束流二维数据。
背景技术
超大集成电路的设计和生产工艺几乎按着“摩尔定律”不断地加大半导体器件的集成度,而超大型芯片在“线宽”上也以倍数的形式进行着细微化。自2000年起集成电路的线宽也从“微米级”进入了“纳米级”。2010年起我国先进的半导体生产工艺也从45nm延伸至28nm以及更小的线宽。超大规模集成电路的生产工艺,从“微米级”到“纳米级”发生了许多根本的变化。离子注入机是45~22nm工艺装备中的关键装备,高品质的束流是研发离子注入机的目标,这就对量测系统提出了更高的要求。
发明内容
为了精确检测宽带束束流品质,本发明设计并开发了二维束流检测系统。
二维移动法拉第由25个法拉杯子组成的法拉第阵列和运动部分及束流采集部分组成。具体结构如图1所示,法拉第阵列在电机丝杠传动下,沿水平和竖直两个方向运动,运动垂直于束流。将每个法拉第杯子采集到的束流与其所处的实时位置对应起来,即可得到束流在所测位置处的束剖面的形状及流强密度分布。
二维移动法拉第在移动过程中,采集指定位置的束流值。位置用X表示,束流值用Y表示,束流信息为(X,Y)。本发明图2中的2~26为25路信号输入通道,输入通道的信息是束流的电流值,图1中的27通道选择板上的31、32、33、34为输出通道选择开关,图1中的28为信号转换板,其作用是将束流的电流值高精度的转换为电压值。31通道的采集束流信息为(X1,Y1),32通道的采集束流信息为(X2,Y2),33通道的采集束流信息为(X3,Y3),34通道的采集束流信息为(X4,Y4)。通过移动8次二维移动法拉第,切换通道选择开关,可以采集一遍全部束流信息。
本发明通过以下技术方案实现:
1.一种宽带束束流二维检测的方法与装置其特征在于:移动法拉第(1)上共用了25个法拉第杯(2),(3),(4),(5),(6),(7),(8),(9),(10),(11),(12),(13),(14),(15),(16),(17),(18),(19),(20),(21),(22),(23),(24),(25),(26)。
2.一种宽带束束流二维检测的方法与装置其特征在于:此束流检测是采用了运动控制器的位置触发采集数据的方式。
3.一种宽带束束流二维检测的方法与装置其特征在于:采集的25路信号通过通道选择芯片(31),(32),(33),(34)选择输出。
4.一种宽带束束流二维检测的方法与装置其特征在于:移动法拉第(1)移动八次即可采集出宽带束二维束流数据。
本发明具有如下显著优点:
1.检测精度高。
2.多通道复用,成本低。
3.结构简单,拆装维护方便。
附图说明
图1宽带束二维束流检测装置总装图
图2束流检测系统结构图
具体实施方式
下面结合附图1、附图2对本发明作进一步的介绍,但不作为对本发明的限定。
二维移动法拉第在移动过程中,采集指定位置的束流值。位置用X表示,束流值用Y表示,束流信息为(X,Y)。本发明图2中的2~26为25路信号输入通道,输入通道的信息是束流的电流值,图2中的27通道选择板上的31、32、33、34为输出通道选择开关,图2中的28为信号转换板,其作用是将束流的电流值高精度的转换为电压值。31通道的采集束流信息为(X1,Y1),32通道的采集束流信息为(X2,Y2),33通道的采集束流信息为(X3,Y3),34通道的采集束流信息为(X4,Y4)。通过移动8次二维移动法拉第,切换通道选择开关,可以采集一遍全部束流信息。
本发明专利的特定实施例已对本发明专利的内容做了详尽说明。对本领域一般技术人员而言,在不背离本发明专利精神的前提下对它所做的任何显而易见的改动,都构成对本发明专利的侵犯,将承担相应的法律责任。

Claims (4)

1.一种宽带束束流二维检测的方法与装置其特征在于:移动法拉第(1)上共用了25个法拉第杯(2),(3),(4),(5),(6),(7),(8),(9),(10),(11),(12),(13),(14),(15),(16),(17),(18),(19),(20),(21),(22),(23),(24),(25),(26)。
2.一种宽带束束流二维检测的方法与装置其特征在于:此束流检测是采用了运动控制器的位置触发采集数据的方式。
3.一种宽带束束流二维检测的方法与装置其特征在于:采集的25路信号通过通道选择芯片(31),(32),(33),(34)选择输出。
4.一种宽带束束流二维检测的方法与装置其特征在于:移动法拉第(1)移动八次即可采集出宽带束二维束流数据。
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