CN111094946B - 差示折光检测器 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种差示折光检测器，在检测部(12)的受光面设置有排列为两列的多个受光元件(a1～a4、b1～b3)。(20)是成像于此检测部(12)上的狭缝图像。受光元件(a1)～受光元件(a4)在狭缝图像的位移方向连续配置而形成列(受光元件列(a1～a4))，受光元件(b1)～受光元件(b3)也在狭缝图像的位移方向连续配置而形成列(受光元件列(b1～b3))。受光元件列(a1～a4)与受光元件列(b1～b3)相互接触。

Description

差示折光检测器

技术领域

本发明涉及一种差示折光检测器，其例如用作液相色谱仪的检测器。

背景技术

对差示折光检测器的原理进行说明。差示折光检测器从光源对流动单元照射光，利用检测器来检测通过流动单元的光。流动单元包括由隔离壁所隔开的试样溶液所流通的试样单元及参照溶液用的参照单元，配置为来自光源的光透过试样单元及参照单元而引导至检测器(参照专利文献1)。

透过流动单元的光被引导至作为检测器而设置的光电二极管等光电转换元件上，成像有狭缝的图像。若在试样单元流动的试样溶液的折射率与参照单元用的参照溶液的折射率不同，则对流动单元照射的测定光在流动单元中折射，成像于光电转换元件上的狭缝图像从规定位置移动。成像于光电转换元件上的狭缝图像的移动距离由试样溶液的折射率与参照溶液的折射率的差来决定，通过测量狭缝图像的移动量来求出试样溶液的折射率变化。

光电转换元件包括相互邻接的一对受光元件，根据这些两个受光元件的输出电流的差来检测狭缝图像的移动量。即，在来自光源的光不折射而是透过流动单元的情况下，在这些两个受光元件之间的边界部分成像有狭缝图像，且进行调整以使两个受光元件的输出电流相等。若来自光源的光由流动单元折射，由此，狭缝图像向任一个受光元件侧位移，则两个受光元件的输出电流产生与其位移量相应的差，因此通过采取两个受光元件的输出电流的差分来求出狭缝图像的位移量，由此能够求出流动单元中的折射率变化。流动单元中的折射率变化与在试样单元中流动的试样溶液的浓度的关系根据预先通过实验而求出的标准曲线等来相关联，因此若采取两个受光元件的检测信号的差分，则试样溶液的浓度能够定量。

[现有技术文献]

[专利文献]

专利文献1：日本专利特开2010-48642号公报

发明内容

[发明所要解决的问题]

所述光电转换元件的构成中，当狭缝图像在两个受光元件之间的边界上成像时，能够检测狭缝图像的位移量，但若狭缝图像脱离两个受光元件之间的边界而向其中一个受光元件侧移动，则无法求出狭缝图像的位移量。因此，现有的构成中，无法测定如狭缝图像位移至脱离两个受光元件之间的边界以外的位置那样的高浓度的试样。

液相色谱仪中存在：“分析”，将低浓度的试样作为对象；以及“分取”，将高浓度的试样作为对象，一边利用检测器来检测由分离管柱所分离的成分，一边基于其检测信号来采取所需的成分。若在使用高浓度试样的“分取”，使用最适合于“分析”用途的差示折光检测器，则流动单元的折射率变化增大，狭缝图像位移至脱离光电转换元件的两个受光元件之间的边界以外的位置，无法测定其位移量。因此，难以将最适合于“分析”用途的差示折光检测器用作“分取”用的检测器。

因此，本发明的目的在于提供一种差示折光检测器，能够在不降低检测灵敏度的情况下，从低浓度的试样至高浓度的试样，执行测定。

[解决问题的技术手段]

本发明是一种差示折光检测器，其包括：光源，发出测定光；流动单元，试样溶液所流通的试样单元与参照溶液用的参照单元隔着隔离壁而设置，当试样单元的折射率与参照单元的折射率不同时，使来自光源的光折射；光学系统，将来自光源的测定光照射至流动单元，使其透过流动单元的试样单元及参照单元，使透过流动单元的测定光的狭缝图像成像；以及检测部，在透过流动单元的测定光的狭缝图像的成像位置包括受光面，且构成为，狭缝图像根据试样单元的折射率的变化而在受光面上向一定方向位移。本发明的差示折光检测器中，检测部在受光面包括两列受光元件列，所述受光元件列是多个受光元件在狭缝图像的位移方向连续配置而成，受光元件的位移方向的宽度大于狭缝图像的宽度，其中一个受光元件列中的邻接受光元件之间的边界以及位于最接近此边界的位置的另一个受光元件列中的邻接受光元件之间的边界在位移方向，仅偏移比位移方向的狭缝图像的宽度更小的宽度，且狭缝图像设定为在两受光元件列上均成像。而且，包括：测定受光元件对选择部，构成为将在检测部的受光元件中的任一个受光元件列中相互邻接的一对受光元件且在其边界上成像有狭缝图像的一对受光元件选作测定受光元件对；以及运算部，构成为取入测定受光元件对的检测信号，且根据这些受光元件的检测信号的差分来求出狭缝图像的位移量。

[发明的效果]

本发明的差示折光检测器中，检测部在受光面包括两列受光元件列，所述受光元件列是多个受光元件在狭缝图像的位移方向连续配置而成，受光元件的位移方向的宽度大于狭缝图像的宽度，其中一个受光元件列中的邻接受光元件之间的边界以及位于最接近此边界的位置的另一个受光元件列中的邻接受光元件之间的边界在位移方向，仅偏移比位移方向中的狭缝图像的宽度更小的宽度，且狭缝图像在两受光元件列上均成像，因此，即便在狭缝图像位移至越过其中一个受光元件列中的邻接受光元件之间的边界的情况下，所述狭缝图像也位于另一个受光元件列的邻接受光元件之间的边界上，故而能够准确地测定所述狭缝图像的位移量。因此，能够对比以前更高浓度的试样进行准确的测定。进而，由于包括：测定受光元件对选择部，构成为将在检测部的受光元件中的任一个受光元件列中相互邻接的一对受光元件且在其边界上成像有狭缝图像的一对受光元件选作测定受光元件对；以及运算部，构成为取入测定受光元件对的检测信号，且根据这些受光元件的检测信号的差分来求出狭缝图像的位移量，因此在彼此的边界上成像有狭缝图像的一对受光元件自动地被检测，且根据这些受光元件的检测信号的差分来自动求出狭缝图像的位移量。

附图说明

图1是概略性表示差示折光检测器的一实施例的构成图。

图2是概略性表示所述实施例中的检测部的受光元件的构成的检测部的受光面的俯视图。

图3是表示所述实施例的信号处理部的构成的方块图。

图4是用以对狭缝图像从图2的状态位移而成的状态进行说明的检测部的受光面的俯视图。

图5是用以对狭缝图像从图4的状态进而位移而成的状态进行说明的检测部的受光面的俯视图。

图6是概略性表示差示折光检测器的另一实施例的构成图。

图7是概略性表示差示折光检测器的又一实施例的构成图。

图8是概略性表示差示折光检测器的又一实施例的构成图。

图9是概略性表示差示折光检测器的又一实施例的构成图。

图10是表示包括图2或图6的构成的差示折光检测器的测定运行的流程图。

图11是表示包括图7或图8的构成的差示折光检测器的测定运行的流程图。

[符号的说明]

2：光源

4：狭缝

6：透镜

8：流动单元

8a：试样单元

8b：参照单元

10：反射镜

12：检测部

14：信号处理部

16：控制部

18：运算控制装置

19：显示部

20：狭缝图像

21、21a～21g：信号取入系统

22、22a～22g：前置放大器

24、24a～24g：A/D转换器

26、26a、26b：信号运算部

27、27a：测定受光元件对选择部

28：运算部

a1、a2、a3、a4、b1、b2、b3：受光元件

c1～c5：邻接受光元件间的边界。

具体实施方式

本发明的差示折光检测器中，测定受光元件对选择部还可构成为：在测定中，从检测部的所有受光元件定期地取入检测信号，当根据所述检测信号而检测到，在与选择中的一对受光元件不同的其它邻接的一对受光元件的边界上成像有狭缝图像时，将此一对受光元件设为新的测定受光元件对。由此，在狭缝图像的位移增大而越过当前使用的一对受光元件对的边界之前，能够选择新的一对受光元件来作为测定受光元件对。

另外，还包括测定受光元件对预测部，其构成为：基于在测定中由运算部求出的狭缝图像的位移量的时间变化，来预测接下来应选作测定受光元件对的一对受光元件，测定受光元件对选择部在测定中，定期地取入由测定受光元件对预测部所预测的一对受光元件的检测信号，且当根据此检测信号而检测到在此一对受光元件的边界上存在狭缝图像时，将此一对受光元件设为新的测定受光元件对。由此，不需要为了测定受光元件对的切换而定期地取入所有受光元件的检测信号且加以监视，因此能使信号处理变得简单。

运算部优选为构成为：将形成所述测定受光元件对的受光元件的检测信号的差分值除以这些检测信号的相加值，将所得的值用于狭缝图像的位移量的运算。若如此，则能够消除光源的光量变化的影响或由于试样的吸收而引起的受光元件的受光光量的变化所带来的影响，能够实现测定精度的提高及噪声的减少。

使用图1来对差示折光检测器的一实施例进行说明。

此实施例的差示折光检测器包括：检测器本体1及运算控制装置18。运算控制装置18除了进行检测器本体1的运行管理以外，还基于检测器本体1中获得的信号来进行运算处理或将其运算结果显示于显示部。操作此差示折光检测器的操作者经由设置于运算控制装置18的输入设备来输入测定条件等信息。运算控制装置18是利用例如与检测器本体1连接的个人电脑(personal computer，PC)或专用电脑、以及编入所述PC或电脑中的专用的软件来实现。

在检测器本体1配置有发出测定光的光源2，并且在来自光源2的测定光的光轴上，从光源2侧起依序配置有狭缝4、透镜6、流动单元8及反射镜10。狭缝4、透镜6及反射镜10构成光学系统，所述光学系统使来自光源2的测定光照射至流动单元8，并且将透过流动单元8的测定光引导至检测部12，使狭缝4的图像成像于检测部12的受光面。

检测器本体1进而在接收由反射镜10所反射的测定光的位置包括检测部12，并且还包括对由检测部12所获得的检测信号进行处理的信号处理部14、以及基于由运算控制装置18所提供的测定条件等信息来进行此检测器本体1的运行控制的控制部16。

流动单元8包括试样溶液所流通的试样单元8a以及参照溶液用的参照单元8b。在参照单元8b，参照溶液虽流通，但也可收纳。试样单元8a及参照单元8b的截面为三角形，是同一形状，各自的一侧面相对于来自光源2的测定光的光轴而垂直地配置。此实施例中，以参照单元8b位于测定光的入射侧且试样单元8a位于测定光的出射侧的方式配置有流动单元8，但试样单元8a及参照单元8b的配置也可相反。

由光源2发出的测定光穿过狭缝4及透镜6而照射至流动单元8。透过流动单元8的测定光由反射镜10反射而再次透过流动单元8，经过透镜6而聚光于检测部12，在检测部12的受光面上成像有狭缝4的图像(狭缝图像)。若流动单元8的试样单元8a与参照单元8b的光折射率不同，则在流动单元8中，测定光折射，由此，成像于流动单元8的检测部12的受光面上的狭缝图像位移。检测部12包括用以检测狭缝图像的位移的多个受光元件。

检测部12的检测信号被信号处理部14取入。信号处理部14构成为：基于从检测部12取入的受光元件的检测信号，对狭缝图像成像于彼此的边界上的两个邻接受光元件进行检测而作为测定受光元件对，根据此测定受光元件对的检测信号的差分，来求出成像于检测部12上的狭缝图像的位移量以及流动单元8中的试样溶液与参照溶液之间的折射率差。由信号处理部14所求出的流动单元8的折射率的信息被运算控制装置18取入。

运算控制装置18具备如下程序：流动单元8的折射率与在试样单元8a中流通的试样溶液的浓度的关系保持预先通过试验而求出的标准曲线，基于从信号处理部14取入的折射率的信息，根据标准曲线，将在试样单元8a中流通的试样溶液的浓度进行定量。试样溶液的浓度的定量结果显示出显示部19。

使用图2，对用以测定成像于检测部12上的狭缝图像的位移量的检测部12的构成进行说明。狭缝图像20的位移方向为此图中的左右方向。

在检测部12的受光面设置有排列为两列的多个受光元件a1～a4、b1～b3。20是成像于此检测部12上的狭缝图像。受光元件a1～受光元件a4在狭缝图像的位移方向连续配置而形成列(受光元件列a1～a4)，受光元件b1～受光元件b3也在狭缝图像的位移方向连续配置而形成列(受光元件列b1～b3)。受光元件列a1～a4与受光元件列b1～b3相互接触。

各受光元件a1～受光元件a4、受光元件b1～受光元件b3全部是相同形状且具有相同大小的元件。各受光元件a1～受光元件a4、受光元件b1～受光元件b3的宽度尺寸D大于狭缝图像20的宽度尺寸W，且D设定为小于W的2倍。受光元件列a1～a4的受光元件与受光元件列b1～b3的受光元件在狭缝图像20的位移方向，隔着各受光元件的宽度D的一半的间隔而偏移配置。由此，在狭缝图像20的位移方向邻接的受光元件a1与受光元件a2之间的边界c1、受光元件b1与受光元件b2之间的边界c2、受光元件a2与受光元件a3之间的边界c3、受光元件b2与受光元件b3之间的边界c4以及受光元件a3与受光元件a4之间的边界c5是在图中向从左侧朝向右侧的方向，依序配置为锯齿状。

狭缝图像20被调整为在受光元件列a1～a4及受光元件列b1～b3这两列上跨越而成像。由此，狭缝图像20当在图中向右方向位移时，以边界c1、边界c2、边界c3、边界c4、边界c5顺序穿过各边界c1～边界c5，当在图中向左方向位移时，以边界c5、c4、c3、c2、c1的顺序穿过各边界c1～边界c5。狭缝图像20的位移方向上的边界c1与边界c2、边界c2与边界c3、边界c3与边界c4以及边界c4与边界c5之间的间隔分别短于狭缝图像20的宽度W，因此狭缝图像20只要在受光元件b1～受光元件b3之间成像，则常常位于任一个边界c1～边界c5上。

图2的狭缝图像20的位置表示流动单元8的试样单元8a与参照单元8b的折射率相等时的位置。此实施例中，当试样单元8a与参照单元8b的折射率相等，流动单元8中无测定光的折射时，调整为狭缝图像20的中央部位于受光元件a2与受光元件a3之间的边界c3上。

图3中示出此差示折光检测器的信号处理系统的一例。

此实施例中构成为：在信号处理部14设置有信号选择电路30，所述信号选择电路30选择检测部12的受光元件a1～受光元件a4、受光元件b1～受光元件b3中取入检测信号的受光元件，且经由一个信号取入系统21，将由信号选择电路30所选择的受光元件的检测信号取入至信号运算部26。信号取入系统21包括前置放大器22以及模拟数字(analogdigital，A/D)转换器24，a1～a4、b1～b3中的任一个受光元件的检测信号被放大及数字信号化而被信号运算部26取入。

信号运算部26包括测定受光元件对选择部27以及运算部28。测定受光元件对选择部27构成为：基于从检测部12取入的各受光元件a1～受光元件a4、受光元件b1～受光元件b3的检测信号，来选择形成测定受光元件对的一对受光元件。所谓测定受光元件对，包括在受光元件列a1～a4或受光元件列b1～b3中任一个受光元件列中相互邻接的两个受光元件，在这两个受光元件之间的边界上成像有狭缝图像20，且是指用于求出狭缝图像20的位移量及流动单元8的折射率的受光元件的组合。运算部28构成为：使用由测定受光元件对选择部27所选择的测定受光元件对的检测信号，来求出狭缝图像20的位移量或流动单元8的折射率。

由信号运算部26求出的流动单元8的折射率的信息被运算控制装置18取入。运算控制装置18基于预先准备的表示流动单元8的折射率与试样溶液的浓度的关系的标准曲线，来求出试样溶液的浓度，将其结果显示于显示部19(图1)。

此外，图3的构成中，仅设置有一个用以从信号选择电路30向信号运算部26取入检测信号的信号取入系统，但还可如图6所示，设置两个信号取入系统21a、21b，由两个信号取入系统21a及21b来同时对形成测定受光元件对的两个受光元件进行检测信号的取入。若如此，则能够同时获取用于测定的受光元件的检测信号，因此能够消除光源的时间变化等的影响。

此外，图3的构成中虽无法同时获取测定受光元件对的两个检测信号，但由于经由单一的信号取入系统21来进行信号取入，故而也具有如下优点，即，不会产生由于从不同的信号取入系统中取入而引起的机械性误差。

使用图2、图4及图5以及图10的流程图，来对所述实施例的测定时的信号处理运行进行说明。

首先，在测定开始时选择形成测定受光元件对的两个受光元件。测定开始时，流动单元8中不存在测定光的折射，故而狭缝图像20如图2所示，位于受光元件a2与受光元件a3之间的边界c3上。测定受光元件对选择部27可构成为：在测定刚开始后必定即刻将受光元件a2与受光元件a3的组合作为测定受光元件对，也可构成为：在测定刚开始后，即刻依序取入所有受光元件a1～受光元件a4、受光元件b1～受光元件b3的检测信号，将经检测到表示测定光的受光的检测信号的邻接受光元件a2与受光元件a3作为测定受光元件对。

分时取入所有受光元件a1～受光元件a4、受光元件b1～受光元件b3的检测信号，基于测定受光元件对a2与a3的检测信号来求出狭缝图像20的位移量，且根据此位移量来逐次求出流动单元8的折射率。此运行反复执行直至测定结束时或者狭缝图像20移动至下一测定受光元件对的边界上为止。所谓下一测定受光元件对，是指如图4所示，在狭缝图像20在图中向右方向位移的情况下，狭缝图像20位于下一边界上的受光元件的组合b2与b3。

在受光元件a2与受光元件a3为测定受光元件对的情况下，由运算部28来获取这两个信号的差分(a3－a2)，此差分(a3－a2)除以将两个信号相加而得的相加信号(a3+a2)来求出(a3－a2)/(a3+a2)。使用此(a3－a2)/(a3+a2)来求出狭缝图像20的位移量，由此，求出在试样单元8a中流通的试样溶液的折射率。通过将两个信号的差分信号(a3－a2)除以相加信号(a3+a2)，能够消除光源的光量变化的影响或由于试样的吸收而引起的受光元件的受光光量的变化所带来的影响，能够实现测定精度的提高及噪声的减少。

在试样单元8a中流通的试样溶液的浓度从图4的状态进而变化，试样单元8a的折射率变化，如图5所示，若狭缝图像20越过受光元件b2与受光元件b3之间的边界c4而到达受光元件b3，则从受光元件b3检测到表示测定光的受光的检测信号。此时，测定受光元件对选择部27将测定受光元件切换为b2与b3的组合。接着，通过运算部28来获取这些受光元件b2与受光元件b3的检测信号的差分(b3－b2)，使用此差分(b3－b2)除以相加信号(b3+b2)而得的值来求出狭缝图像20的位移量，由此，求出流动单元8的折射率。

在狭缝图像20进而位移而越过边界c5的情况下，测定受光元件对的组合切换为(a3、a4)，根据这些检测信号的差分来求出狭缝图像20的位移量及流动单元8的折射率。在从所述状态起，狭缝图像20在图5中向左方向位移的情况下，测定受光元件对的组合以(a3、a4)、(b2、b3)、(a2、a3)、(b1、b2)、(a1、a2)顺序进行切换。

此外，能根据测定受光元件对的差分值的时间变化，来预测接下来狭缝图像20所越过的边界。例如在狭缝图像20从图2的状态起位移，测定受光元件对(a2、a3)的检测信号的差分(a3－a2)增加的情况下，可知狭缝图像20在图中向右方向位移，可知接下来狭缝图像20所越过的边界为c4。因此，不需要如所述实施例那样，对所有受光元件a1～受光元件a4、受光元件b1～受光元件b3的检测信号进行分时监视，若仅监视到接下来狭缝图像20越过边界而到达的受光元件的检测信号，则能够实现测定受光元件对的切换的时序。

使用图7，对具备预测下一个测定受光元件对的功能的一实施例进行说明。

此实施例中，信号运算部26a包括测定受光元件对预测部29，构成为：根据测定受光元件对的两个检测信号的差分值的时间变化来侦测狭缝图像20的位移方向，来预测接下来狭缝图像20位于彼此的边界上的两个邻接受光元件的组合，即下一个测定受光元件对。

信号处理部14包括三个信号取入系统21a～21c，来作为用以从信号选择电路30向信号运算部26a取入检测信号的信号取入系统。其中两个信号取入系统21a与21b用于取入由测定受光元件对选择部27所选择的测定受光元件对的两个检测信号，其余的一个信号取入系统21c用于通过狭缝图像20的位移，取入接下来狭缝图像20越过边界而到达的受光元件的检测信号。例如，在从图2的状态，狭缝图像20在图中向右方向位移的情况下，经由信号取入系统21c来取入受光元件b3的检测信号而监视，当从受光元件b3检测到表示测定光的受光的检测信号时，测定受光元件对选择部27将测定受光元件对的组合从(a2、a3)切换为(b2、b3)。利用此构成，从两个信号取入系统21a及21b随时取入测定受光元件对的两个检测信号，由此不存在由光源的时间变化等所带来的影响，能进行准确的测定。而且，由于能够随时监视接下来形成测定受光元件对的受光元件的检测信号，故而能够以正确的时序来进行测定受光元件对的切换。

进而，也可如图8所示，包括四个信号取入系统21a～21d，来作为用以从信号选择电路30向信号运算部26a取入检测信号的信号取入系统，将两个信号取入系统21a及21b用于取入由测定受光元件对选择部27所选择的测定受光元件对的两个检测信号，将其余的两个信号取入系统21c及21d用于取入被预计接下来形成测定受光元件对的两个受光元件的检测信号。若如此，则能够预先监视接下来形成测定受光元件对的两个受光元件的检测信号。

使用图11的流程图，对包括图7或图8的构成的差示折光检测器的测定运行进行说明。

首先，测定开始时选择形成测定受光元件对的两个受光元件。测定开始时，流动单元8中无测定光的折射，故而狭缝图像20如图2所示，位于受光元件a2与受光元件a3之间的边界c3上。测定受光元件对选择部27可构成为：在测定开始后，必定即刻将受光元件a2与受光元件a3的组合设为测定受光元件对，也可构成为：在测定刚开始后，即刻依序取入所有受光元件a1～受光元件a4、受光元件b1～受光元件b3的检测信号，将检测到表示测定光的受光的检测信号的邻接受光元件a2与受光元件a3设为测定受光元件对。

测定刚开始后无法立即侦测狭缝图像20位移的方向，但此后能够通过侦测狭缝图像20位移的方向来预测接下来形成测定受光元件对的受光元件。在狭缝图像20在图中向右方向位移的情况下，接下来形成测定受光元件对的受光元件为b2与b3。在受光元件a2与受光元件a3为测定受光元件对的情况下，这些受光元件a2与受光元件a3的检测信号每隔一定时间取入，由运算部28来获取这两个信号的差分(a3－a2)，将此差分(a3－a2)除以将两个信号相加而得的相加信号(a3+a2)来求出(a3－a2)/(a3+a2)。使用此(a3－a2)/(a3+a2)来求出狭缝图像20的位移量，由此，求出在试样单元8a中流通的试样溶液的折射率。同时，接下来形成测定受光元件对的受光元件b2与受光元件b3的检测信号也被分时取入而监视。此外，若为图7的构成，则也可以仅将受光元件b3的检测信号每隔一定时间取入而监视。

如图4所示，若狭缝图像20越过作为下一测定受光元件对的受光元件b2与受光元件b3之间的边界c4而到达受光元件b3，则从受光元件b3检测到表示测定光的受光的检测信号。由此，测定受光元件对选择部27将测定受光元件对切换为b2与b3的组合。而且，这些受光元件b2与受光元件b3的检测信号每隔一定时间被取入，由运算部28来获取这些受光元件b2与受光元件b3的检测信号的差分(b3－b2)，使用将此差分(b3－b2)除以相加信号(b3+b2)而得的值，来求出狭缝图像20的位移量及流动单元8的折射率。此时，根据检测信号的差分(b3－b2)的时间变化来侦测狭缝图像20的位移方向，由此，预测接下来形成测定受光元件对的受光元件的组合。当狭缝图像20进而在图4中向右侧方向位移时，预测受光元件a3与受光元件a4为下一测定受光元件对，这些检测信号每隔一定时间被取入而监视。以下，反复执行所述处理直至试样的测定结束为止。

此外，以上所说明的实施例中，经由信号选择电路30，将检测部12的各受光元件a1～受光元件a4、受光元件b1～受光元件b3的检测信号选择性地取入信号运算部26、信号运算部26a中，但本发明并不限定于此，也可如图9所示，将检测部12的所有受光元件a1～受光元件a4、受光元件b1～受光元件b3的检测信号，分别经由个别的信号取入系统21a～信号取入系统21g而直接取入信号运算部26b。

Claims (3)

1.一种差示折光检测器，包括：

光源，发出测定光；

流动单元，试样溶液所流通的试样单元与参照溶液用的参照单元隔着隔离壁而设置，当所述试样单元的折射率与所述参照单元的折射率不同时，使来自所述光源的光折射；

光学系统，将来自所述光源的测定光照射至所述流动单元，使其透过所述流动单元的所述试样单元及所述参照单元，使透过所述流动单元的测定光的狭缝图像成像；以及

检测部，在透过所述流动单元的测定光的所述狭缝图像的成像位置包括受光面，且

构成为所述狭缝图像根据所述试样单元的折射率的变化而在所述受光面上向一定方向位移；并且

所述检测部在所述受光面包括两列受光元件列，所述受光元件列是多个受光元件在所述狭缝图像的位移方向连续配置而成，所述受光元件的所述位移方向的宽度大于所述狭缝图像的宽度且小于所述狭缝宽度的2倍，其中一个所述受光元件列中的邻接受光元件之间的边界以及位于最接近此边界的位置的另一个所述受光元件列中的邻接受光元件之间的边界在所述位移方向，仅偏移比所述位移方向上的所述狭缝图像的宽度小的宽度，

所述狭缝图像设定为成像于两受光元件列上，

所述差示折光检测器包括：测定受光元件对选择部，构成为选择所述检测部的受光元件中的任一个所述受光元件列中相互邻接的一对受光元件且在其边界上成像有狭缝图像的一对受光元件，来作为测定受光元件对；以及

运算部，构成为取入所述测定受光元件对的检测信号，且根据这些受光元件的检测信号的差分来求出所述狭缝图像的位移量,

所述运算部构成为，将形成所述测定受光元件对的受光元件的检测信号的差分值除以这些检测信号的相加值，将所得的值用于所述狭缝图像的位移量的运算。

2.根据权利要求1所述的差示折光检测器，其中，

所述测定受光元件对选择部构成为，在测定中，从所述检测部的所有所述受光元件定期地取入检测信号，当根据此检测信号而检测到在与选择中的一对受光元件不同的其它邻接的一对受光元件的边界上成像有所述狭缝图像时，将此一对受光元件设为新的测定受光元件对。

3.根据权利要求1所述的差示折光检测器，还包括：

测定受光元件对预测部，构成为基于在测定中由所述运算部求出的所述狭缝图像的位移量的时间变化，来预测接下来应该选作所述测定受光元件对的一对受光元件，并且

所述测定受光元件对选择部构成为，在测定中，定期取入由所述测定受光元件对预测部所预测的一对受光元件的检测信号，当根据此检测信号而检测到在此一对受光元件的边界上存在所述狭缝图像时，将此一对受光元件设为新的测定受光元件对。

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