CN110995233B

CN110995233B - 一种高安全校准和筛选测试的方法和电路

Info

Publication number: CN110995233B
Application number: CN201911092555.2A
Authority: CN
Inventors: 刘明磊
Original assignee: Beijing CEC Huada Electronic Design Co Ltd
Current assignee: Beijing CEC Huada Electronic Design Co Ltd
Priority date: 2019-11-11
Filing date: 2019-11-11
Publication date: 2023-10-13
Anticipated expiration: 2039-11-11
Also published as: CN110995233A

Abstract

由于工艺偏差，模拟信号需要进行校准和筛选，通用的校准方式将每一个模拟信号引出到测试端口，测试机通过直接探测信号信息，调整芯片内部电路进行校准。这种方式存在几个缺点，第一是被测试信号需要引到端口，容易在端口处被探测，存在安全隐患；第二是多组模拟信号进行校准需要多个测试端口，浪费面积；第三是由于测试机测试电压精度比提供电压差，会造成精度不高；第四是实现自动校准比较困难。本发明通过内部比较的测试方法，测试信号不需要引出到PAD实现高安全、只需要一个或者两个测试端口实现小面积、测试机只需要提供电源不需要读电压实现高精度、容易与逻辑配合实现自动校准。

Description

一种高安全校准和筛选测试的方法和电路

技术领域

本发明涉及一种高安全校准和筛选测试的方法和电路。

背景技术

由于工艺偏差，模拟信号需要校准方式进行校准，通用的校准方式将每一个模拟信号引出到测试端口，测试机通过直接探测信号信息，调整芯片内部电路进行校准。这种方式存在几个缺点，第一是被测信号需要引到端口PAD，容易在端口处被探测，存在安全隐患；第二是多组模拟信号进行校准需要多个测试端口，浪费面积；第三是由于测试机测试电压精度比提供电压差，会造成精度不高；第四是实现自动校准比较困难。本发明通过内部比较测试方法，测试信号不需要引出到PAD实现高安全、只需要一个或者两个测试端口实现小面积、测试机只需要提供电压不需要读电压实现高精度、容易与逻辑配合实现自动校准。另外信号需要筛选也可以通过此方法进行。

本文提出了一种高安全校准和筛选测试的方法和电路。

发明内容

本文提出了一种高安全校准和筛选测试的方法和电路。

本方法中通过将被测模块I4产生的被测信号A1、A2……An输出给信号选择电路I2，Logic和NVM电路控制I2的开关T1、T2…Tn选择一路信号Ax(A1、A2…An中的一个信号)输出给I1，测试机通过PAD1和PAD2输出Ax要求的校准精度上下限V1和V2，调节I4的TRIM控制电路TRIMAx【m：0】(与Ax对应的TRIMA1【m：0】、TRIMA2【m：0】…TRIMAn【m：0】中的一个信号)，当I3逻辑检测到B1输出正确结果后，将此校准值写入NVR。此种方法不仅可以对被测信号进行校准，也可以对被测信号进行筛选。通过内部比较测试方法，测试信号不需要引出到PAD实现高安全、只需要一个或者两个测试端口实现小面积、测试机只需要提供电源不需要读电压实现高精度、容易与逻辑配合实现自动校准。

被测信号Ax输出到I1的两个比较器的公共端，Ax信号要求精度的上下限V1和V2，测试机通过PAD1和PAD2施加电压V1和V2，然后调整被测模块内部的校准控制逻辑，当I1模块输出端B1出现正确结果时，此校准值符合电路精度需求，将此校准值写进NVR中，另外一种情况，此种方法可以进行筛选测试，被筛选信号Ax，测试机在PAD1和PAD2处施加Ax要求的精度上下限V1和V2，通过Logic判断B1是否符合设计需求的方式进行筛选。

本发明方法主要包括了图1中介绍的几个电路功能模块：

测试模块I1：包括测试PAD、比较器COMP1和COMP2，被测信号Ax引入两个比较器输入端，比较器的另两个输入端引出到PAD1和PAD2，比较器输出经过逻辑N1送到I3的Logic进行处理。I1作用是测试机通过PAD1和PAD2输出Ax要求的校准精度上下限V1和V2，调节I4的TRIM控制电路TRIMAx【m：0】，当Ax达到V1和V2之间时，B1会输出一个正确的逻辑电平，I3检测到正确电平后将此值存入NVM中。

信号选择电路I2：包括T1、T2……Tn个模拟开关，输入信号经过模拟开关选择输出到测试模块I1

逻辑和NVM电路I3：包括逻辑和NVM，逻辑控制NVM、I2的开关选择电路、I4的控制电路，并接收I1的输出。I3的作用是产生控制逻辑和存储器NVM，控制逻辑控制开关T1、T2…Tn和TRIMA1【m：0】、TRIMA2【m：0】…TRIMAn【m：0】，以及处理B1信号。NVM作用是将测试完成后正确的TRIM值写到NVM中

被测模块I4：产生模拟信号A1、A2……An的电路，将信号输出给选择电路I2

为提高精度，比较器COMP1和COMP2可以先进行校准，消除比较器失调电压。此种方法不需要将被测信号引出到PAD，避免了被探测风险，安全性得到了大幅度提高。

附图说明

图1示意了一种高安全校准和筛选测试的方法和电路结构图。

图2示意了一种高安全校准和筛选测试的方法和电路的结构图

具体实施方式

如图1所示，包括了四个模块(测试电路I1、信号选择电路I2、逻辑和NVM电路I3、被测模块I4)。

其中被测模块I4输出模拟信号A1、A2……An到I2；A1、A2……An信号与I2内部模拟开关T1、T2……Tn相连接,T1、T2……Tn另一端连接到一起输出给测试模块I1比较器COMP1和COMP2公共输入端；比较器COMP1和COMP2另一个输入端分别与测试PAD1和PAD2相连接，比较器COMP1和COMP2输出端连接到与门N1，N1的输出端B1输出给I3的Logic电路，logic电路与被测模块I4和I2的控制单元相连接。

被测信号Ax输出到I1的两个比较器的公共端，Ax信号要求精度的上下限V1和V2，测试机通过PAD1和PAD2施加电压V1和V2，然后调整被测模块内部的校准控制逻辑，当I1模块输出端B1出现翻转时，此校准值符合电路精度需求，将此校准值写进NVR中，另外一种情况，此种方法可以进行筛选测试，被筛选信号Ax，测试机在PAD1和PAD2处施加Ax要求的精度上下限V1和V2，过Logic判断B1是否符合设计需求的方式进行筛选。

如图2所示，包括了四个模块(测试电路I1、信号选择电路I2、逻辑和NVM电路I3、被测模块I4)。

其中被测模块I4输出模拟信号A1、A2……An到I2；A1、A2……An信号与I2内部模拟开关T1、T2……Tn相连接,T1、T2……Tn另一端连接到一起输出给测试模块I1比较器COMP1输入端；比较器COMP1另一个输入端与测试PAD1相连接，比较器COMP1输出给I3的Logic电路，logic电路与被测模块I4和I2的控制单元相连接。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的设计原则、技术方案之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明保护范围内。

Claims

1.一种高安全校准和筛选测试的方法，其特征在于，所述方法实现电路包括测试电路（I1）、信号选择电路（I2）、逻辑和NVM电路（I3）和被测模块（I4），其中：测试电路（I1）与信号选择电路（I2）相连，测试电路（I1）与逻辑和NVM电路（I3）相连，信号选择电路（I2）与逻辑和NVM电路（I3）相连，信号选择电路（I2）与被测模块（I4）相连，逻辑和NVM电路（I3）与被测模块（I4）相连；被测模块（I4）产生被测信号A1、A2…An；逻辑和NVM电路（I3）产生控制逻辑和存储器NVM，控制逻辑控制开关T1、T2…Tn和TRIMA1【m：0】、TRIMA2【m：0】…TRIMAn【m：0】，以及处理测试电路（I1）的输出（B1信号），存储器NVM将测试完成后正确的TRIM值写到NVM中；信号选择电路（I2）作用是通过控制逻辑控制开关T1、T2…Tn将被测信号A1、A2…An选出一路信号Ax送给测试电路（I1）；测试电路（I1）作用是测试机通过PAD1和PAD2输出Ax要求的校准精度上下限V1和V2，调节被测模块（I4）的TRIM控制电路TRIMAx【m：0】，当Ax达到V1和V2之间时，B1会输出一个正确的逻辑电平，逻辑和NVM电路（I3）检测到正确电平后将此值存入存储器NVM中；方法步骤包括：1）被测模块（I4）产生的被测信号A1、A2…An输出给信号选择电路（I2）；2）逻辑和NVM电路（I3）控制信号选择电路（I2）的开关T1、T2…Tn选择一路信号Ax（A1、A2…An中的一个信号）输出给测试电路（I1）;3)测试机通过PAD1和PAD2输出一路信号Ax要求的校准精度上下限V1和V2，调节被测模块（I4）的TRIM控制电路TRIMAx【m：0】（与Ax对应的TRIMA1【m：0】、TRIMA2【m：0】…TRIMAn【m：0】中的一个信号）;4)当逻辑和NVM电路（I3）逻辑检测到测试电路（I1）的输出(B1信号)正确结果后，将此TRIMAx【m：0】值写入逻辑和NVM电路（I3）的NVM中。

2.如权利要求1中所述的一种高安全校准和筛选测试的方法，其特征在于，所述A1、A2……An可以是1个被测信号，也可以是多个。

3.如权利要求1中所述的一种高安全校准和筛选测试的方法，其特征在于，所述信号选择电路（I2）在一个或者多个被测信号情况下可以通过开关进行选通，在只有一个被测信号情况下可以不通过开关选通。

4.如权利要求1中所述的一种高安全校准和筛选测试的方法，其特征在于，被测信号不直接输出到端口PAD，而是输入到测试电路（I1）的比较器COMP1和COMP2的一个输入端，比较器的其他输入端连接测试PAD。

5.如权利要求1中所述的一种高安全校准和筛选测试的方法，其特征在于测试电路（I1）的比较器数目可以是1个也可以是2个或者多个；测试电路（I1）的测试PAD可以是1个也可以是2个或者多个；被测模块（I4）是需要Trim校准的模拟模块，也可以是需要筛选的模拟信号。

6.如权利要求1中所述的一种高安全校准和筛选测试的方法，其特征在于测试机通过在测试PAD处输入被测信号Ax要求的精度电压，调节被测模块（I4）的控制电路达到筛选或校准的方式。

7.如权利要求4中所述的一种高安全校准和筛选测试的方法，其特征在于测试电路（I1）的比较器COMP1或者COMP2功能是比较被测信号Ax和测试机提供信号V1或V2，比较器COMP1和COMP2可以是任意结构比较器；信号选择电路（I2）对多个信号进行选通，选通可以是数字控制的模拟开关；NVM为存储TRIMAn【m：0】值的存储器电路，不限于PFLASH、EEPROM或者其他结构。

8.如权利要求1中所述的一种高安全校准和筛选测试的方法，其特征在于逻辑和NVM电路（I3）控制被测模块的控制电路对被测信号Ax进行调节，也控制着信号选择电路（I2）的选通，此高安全校准和筛选测试的电路可以对测试电路（I1）进行校准，也可以对被测信号进行筛选；被测模块TRIMA1【m：0】、TRIMA2【m：0】…TRIMAn【m：0】中m可以是0也可以是任意值，0的情况下是Ax信号不需要调节，只进行筛选。

9.如权利要求1中所述的一种高安全校准和筛选测试的方法，其特征在于测试电路（I1）将比较输出的结果B1送给逻辑和NVM电路（I3），（I3）对测试电路（I1）的输出(B1信号)进行判断是否校准或筛选完成。