CN110971990B - 一种olt光模块突发sd/los检测的方法与装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及光通信技术领域，具体涉及一种OLT光模块突发SD/LOS检测的方法与装置，方法包括：通过控制芯片产生特定的SD/LOS检测时序，并作用于ONU和待测OLT，使ONU发送突发光信号；待测OLT接收ONU发送的光信号，并向控制芯片反馈突发的SD/LOS信号；控制芯片接收待测OLT反馈的SD/LOS信号，并通过沿触发或电平触发计数判断SD/LOS是否响应，进而检测响应电平、去响应电平和/或响应时间是否满足要求。本发明通过单控制芯片即可产生特定的检测时序，并采用特殊计数检测实现响应电平、去响应电平及响应时间的测试，降低了硬件设备要求与电路实现难度，测试复杂性、成本、测试效率都有很大优化。

Description

一种OLT光模块突发SD/LOS检测的方法与装置

【技术领域】

本发明涉及光通信技术领域，具体涉及一种OLT光模块突发SD/LOS检测的方法与装置。

【背景技术】

光线路终端(Optical Line Terminal，简写为OLT)，是指用于连接光纤干线的终端设备。在OLT光模块中，SD(或LOS)是一个重要的指标参数，如其响应不及时或错误响应会影响光网络单元(Optiocal Network Unit，简写为ONU)的正常注册与跑流；而且SD/LOS的响应时间要求较严，通常在ns量级。因此，在实际应用中，通常需要对突发SD/LOS的响应是否满足要求进行检测，并对响应电平、去响应电平和响应时间进行测试。其中，SD/LOS表示“SD或LOS”，LOS为SD的反相。

传统的测试方法中，一般是通过发送高精度的逻辑时序作用于ONU和待测OLT，再通过示波器或逻辑电路来测试SD/LOS的电平变化与时间延迟。如果采用逻辑电路，则模拟系统时序沿时间测试，由于需要发送高精度的逻辑时序，并检测沿与沿之间的时间延迟，因此对逻辑电路的性能要求很高；如果采用示波器，将会增加设备投入，而且需要增加对示波器的控制读取，成本高昂且控制复杂。因此，对于OLT光模块中的突发SD/LOS检测，尤其是批量化测试，急需一种简单有效、易于控制的测试方法和装置。

鉴于此，克服上述现有技术所存在的缺陷是本技术领域亟待解决的问题。

【发明内容】

本发明需要解决的技术问题是：

对于OLT光模块的突发SD/LOS检测，如果采用逻辑电路模拟系统时序沿时间测试，对逻辑电路的性能要求很高，如果采用示波器则会增加设备投入，而且成本高昂、控制复杂，因此急需一种简单有效、易于控制的测试方法和装置。

本发明通过如下技术方案达到上述目的：

第一方面，本发明提供了一种OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，包括：

通过控制芯片产生特定的SD/LOS检测时序，并作用于ONU和待测OLT，使ONU发送突发光信号；其中，所述SD/LOS检测时序可调节；

所述待测OLT接收所述ONU发送的光信号，并向所述控制芯片反馈突发的SD/LOS信号；

所述控制芯片接收待测OLT反馈的SD/LOS信号，并通过沿触发或电平触发计数判断SD/LOS是否响应，进而检测SD/LOS的响应电平、去响应电平和/或响应时间是否满足要求。

优选的，所述通过控制芯片产生特定的SD/LOS检测时序，并作用于ONU和待测OLT，具体为：

通过控制芯片输出同步且特定相位差的BEN脉冲信号和RST脉冲信号；所述BEN脉冲信号作用于ONU，并用于控制所述ONU发送突发光信号；所述RST脉冲信号作用于待测OLT，并用于复位所述待测OLT的SD/LOS锁存状态；

其中，所述BEN脉冲信号和所述RST脉冲信号各自的脉冲宽度以及相位位置均为可调节，且响应时间是通过调节所述BEN脉冲信号和所述RST脉冲信号的脉冲宽度和/或相位位置来调节。

优选的，当光功率大于第一预设阈值时，通过调节BEN脉冲信号和RST脉冲信号各自的脉冲宽度和/或相位位置，使得响应时间满足预设时间阈值，以便进行SD/LOS的响应测试；

则所述控制芯片通过沿触发或电平触发计数后，如果发现SD/LOS响应，则证明SD/LOS的响应测试达标，对应的响应电平和响应时间均满足要求；如果发现SD/LOS不响应，则证明SD/LOS的响应测试不达标，对应的响应电平和/或响应时间不满足要求。

优选的，当确定SD/LOS的响应测试是否达标之后，所述方法还包括：

将响应时间固定，通过不断调节ONU发送的光信号强度来调节响应电平；每调节一次后，通过沿触发或电平触发计数实时判断SD/LOS是否响应；当检测至响应与不响应的临界点时，确定SD/LOS的真实响应电平。

优选的，当确定SD/LOS的响应测试是否达标之后，则所述方法还包括：

将ONU发送的光信号强度固定，通过不断调节BEN脉冲信号和RST脉冲信号的脉冲宽度和/或相位位置，来调节响应时间；每调节一次后，通过沿触发或电平触发计数判断SD/LOS是否响应；当检测至响应与不响应的临界点时，确定SD/LOS的真实响应时间。

优选的，当光功率小于第二预设阈值时，通过调节BEN脉冲信号和RST脉冲信号的脉冲宽度和/或相位位置，使得ONU处于常发光状态，以便进行SD/LOS的去响应测试；

则所述控制芯片通过沿触发或电平触发计数后，如果发现SD/LOS不响应，则证明SD/LOS的去响应测试达标，对应的去响应电平满足要求；如果发现SD/LOS响应，则证明SD/LOS的去响应测试不达标，对应的去响应电平不满足要求。

优选的，在SD/LOS的去响应测试中，如果发现SD/LOS响应，则所述方法还包括：

不断调节ONU的光信号强度，每调节一次后，通过沿触发或电平触发计数判断SD/LOS是否响应；当检测至响应与不响应的临界点，确定SD/LOS的真实去响应电平。

优选的，所述SD/LOS检测时序为单次输出或周期性地输出。

第二方面，本发明还提供了一种OLT光模块突发SD/LOS检测的装置，可用于实现第一方面所述的检测方法，包括控制芯片和ONU控制单元，所述控制芯片分别与所述ONU控制单元和待测OLT的OLT控制单元相连接，所述ONU控制单元与OLT控制单元相连接；

其中，所述控制芯片用于产生可调节的特定SD/LOS检测时序以作用于待测OLT和ONU，同时接收待测OLT反馈的SD/LOS信号，并通过沿触发或电平触发计数来检测SD/LOS的响应电平、去响应电平和/或响应时间是否满足要求；

所述ONU控制单元用于控制ONU发送突发光信号，以便所述待测OLT检测突发光信号，并向所述控制芯片反馈突发的SD/LOS信号。

优选的，所述控制芯片包括BEN端口、RST端口和SD/LOS端口，所述BEN端口与所述RST端口均为输出端口，所述SD/LOS端口为输入端口；

其中，所述BEN端口用于输出BEN脉冲信号，所述BEN脉冲信号作用于ONU，并用于控制ONU发送突发光信号；其中，ONU光信号的脉冲宽度与BEN脉冲信号的脉冲宽度一致；

所述RST端口用于输出RST脉冲信号，所述RST脉冲信号作用于待测OLT，并用于复位所述待测OLT的SD/LOS锁存状态；

所述SD/LOS端口用于接收待测OLT反馈的SD/LOS信号，以便通过沿触发或电平触发计数来检测SD/LOS的响应电平、去响应电平和/或响应时间是否满足要求。

与传统技术相比，本发明的有益效果是：

本发明提供的检测方法和装置中，通过简单的单控制芯片即可产生特定的检测时序，并采用特殊的沿触发或电平触发计数检测实现突发SD/LOS的响应电平、去响应电平以及响应时间的测试。相比于传统结合示波器进行测试，或逻辑电路模拟系统时序沿时间进行测试，通过改进检测时序与检测方式，极大地降低了硬件设备的要求与电路的实现难度，同时测试拓扑的复杂性、测试成本、测试效率都有很大优化。

【附图说明】

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对本发明实施例中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种OLT光模块突发SD/LOS检测的装置结构图；

图2为本发明实施例提供的一种OLT光模块突发SD/LOS检测的方法流程图；

图3为本发明实施例提供的一种RST在光包外时SD响应测试的检测时序图；

图4为本发明实施例提供的一种RST在光包内时SD响应测试的检测时序图；

图5为本发明实施例提供的一种SD去响应测试的检测时序图。

【具体实施方式】

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

在本发明各实施例中，符号“/”表示同时具有两种功能的含义，而对于符号“A和/或B”则表明由该符号连接的前后对象之间的组合包括“A”、“B”、“A和B”三种情况。

此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。下面就参考附图和实施例结合来详细说明本发明。

实施例1：

基于传统SD/LOS检测装置的缺陷以及批量化测试的需求，本发明提供了一种简单有效、易于控制的OLT光模块突发SD/LOS检测方法和装置；其中，SD/LOS表示“SD或LOS”，即两种均可适用。

如图1所示，本发明实施例首先提供了一种OLT光模块突发SD/LOS检测装置，主要包括控制芯片及其外围电路、ONU控制单元和相关控制软件。其中，所述控制芯片分别与所述ONU控制单元和待测OLT的OLT控制单元相连接，所述ONU控制单元与OLT控制单元相连接。

所述控制芯片用于产生可调节的特定SD/LOS检测时序以作用于待测OLT和ONU，同时接收待测OLT反馈的SD/LOS信号，并通过沿触发或电平触发计数来判断SD/LOS是否响应，进而检测SD/LOS的响应电平、去响应电平和/或响应时间是否满足要求；所述ONU控制单元可控制ONU发送突发光信号，以便待测OLT检测ONU的突发光信号，并向所述控制芯片反馈突发的SD/LOS信号。

其中，所述控制芯片包括但不限于微处理器、可编程逻辑等控制芯片，其主频决定了检测时序的最高精度。

继续参考图1，所述SD/LOS检测时序具体由所述控制芯片的IO口产生。所述控制芯片包括BEN端口、RST端口和SD/LOS端口；其中，所述BEN端口与所述RST端口均为输出端口，所述SD/LOS端口为输入端口。由图可知，所述BEN端口与所述ONU控制单元的输入端口相连接，所述RST端口与所述OLT控制单元的输入端口相连接，所述SD/LOS端口与所述OLT控制单元的输出端口相连接。

其中，所述BEN端口用于输出BEN脉冲信号，所述BEN脉冲信号作用于ONU，并可控制ONU发送突发光信号；且所述BEN脉冲信号的脉冲宽度决定了ONU光信号的脉冲宽度，即ONU光信号的脉冲宽度与BEN脉冲信号的脉冲宽度一致。

所述RST端口用于输出RST脉冲信号，所述RST脉冲信号作用于待测OLT，并用于复位所述待测OLT的SD/LOS锁存状态；当然，对于SD/LOS不锁存的待测OLT光模块，可以不用输出RST脉冲信号。

所述SD/LOS端口用于接收所述待测OLT反馈的SD/LOS信号，以便通过沿触发或电平触发计数来检测SD/LOS的响应电平、去响应电平和/或响应时间是否满足要求。

其中，BEN脉冲信号和RST脉冲信号各自的脉冲宽度以及相位位置均可调节，且调节步进与所述控制芯片的主频相关。前面提到，所述控制芯片能够产生可调节的SD/LOS检测时序，实际上就是通过调节所述BEN脉冲信号和所述RST脉冲信号各自的脉冲宽度和/或相位位置来实现。

本发明提供的上述检测装置主要可实现以下两个方面的作用：

一方面可用于检测用户给定的响应电平、去响应电平和/或响应时间是否满足要求。具体如下：在响应测试中，基于用户给定的响应电平和响应时间，通过计数判断SD/LOS是否响应，如果响应，则响应电平和响应时间满足要求；在去响应测试中，基于用户给定的去响应电平和响应时间，通过计数判断SD/LOS是否响应，如果不响应，则去响应电平满足要求。其中，用户给出的响应电平和去响应电平可通过设置外部光功率大小(即调节OUN发送的光信号强度)来设定，用户给出的响应时间则可通过调节检测时序来设定，即调节BEN脉冲信号和RST脉冲信号的脉冲宽度和/或相位位置来设定。

另一方面可用于测试SD/LOS的真实响应电平、真实去响应电平和真实响应时间。具体如下：在响应测试中，通过不断调节OUN发送的光信号强度，并结合计数检测，得到真实响应电平；通过不断调节检测时序，并结合计数检测，得到真实响应时间。在去响应测试中，通过不断调节检测时序，并结合计数检测，得到真实去响应电平。

总结来说，对于SD/LOS的响应电平和去响应电平的测试，所述检测装置可通过调节ONU发送的光信号强度，并结合计数来进行测试；对于SD/LOS的响应时间的测试，可通过调节所述BEN脉冲信号和所述RST脉冲信号各自的脉冲宽度以及相位位置，并结合计数来进行测试。具体测试过程将在后续实施例2中介绍，在此不做赘述。

另外，所述SD/LOS检测时序可以单次发送，也可以周期性地多次发送，所述控制芯片可通过统计SD/LOS触发次数来判断SD/LOS是否响应，进而检测响应电平、去响应电平和/或响应时间是否满足要求。当单次发送时，如果SD/LOS触发次数为1，则判断SD/LOS正常响应；如果SD/LOS触发次数为0，则判断SD/LOS不响应。当周期性地多次发送时，如果SD/LOS触发次数与BEN脉冲信号发送次数一致，则判断SD/LOS正常响应；如果SD/LOS触发次数少于BEN脉冲信号发送次数，则判断SD/LOS不响应。

本发明实施例提供的上述检测装置中，通过简单的单控制芯片即可产生特定的检测时序，并采用特殊的沿触发或电平触发计数检测实现突发SD/LOS的响应电平、去响应电平以及响应时间的测试。相比于传统结合示波器进行测试，或逻辑电路模拟系统时序沿时间进行测试，通过改进检测时序与检测方式，极大地降低了硬件设备的要求与电路的实现难度，同时测试拓扑的复杂性、测试成本、测试效率都有很大优化。

实施例2：

在上述实施例1的基础上，本发明实施例还提供了一种OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，可利用实施例1中的检测装置来实现。如图2所示，本发明实施例提供的检测方法主要包括以下步骤：

步骤201，通过控制芯片产生特定的SD/LOS检测时序，并作用于ONU和待测OLT，使ONU发送突发光信号。

基于实施例1和图1可知，所述通过控制芯片产生特定的SD/LOS检测时序，并作用于ONU和待测OLT，具体为：

通过控制芯片输出同步且特定相位差的BEN脉冲信号和RST脉冲信号；其中，所述BEN脉冲信号送入ONU，并用于控制所述ONU发送突发光信号；所述RST脉冲信号送入待测OLT，并用于复位所述待测OLT的SD/LOS锁存状态(对于SD/LOS不锁存的待测OLT光模块，可以不用输出RST脉冲信号)。其中，所述BEN脉冲信号和所述RST脉冲信号各自的脉冲宽度以及相位位置均可调节，且调节步进与所述控制芯片的主频相关；也就是说，所述SD/LOS检测时序可调节。另外，所述SD/LOS检测时序可以是单次输出，也可以是周期性地多次输出，且具体的发送次数以及周期可灵活设置，在此不做限定。

步骤202，所述待测OLT接收所述ONU发送的光信号，并向所述控制芯片反馈突发的SD/LOS信号。

步骤203，所述控制芯片接收待测OLT反馈的SD/LOS信号，并通过沿触发或电平触发计数判断SD/LOS是否响应，进而检测SD/LOS的响应电平、去响应电平和/或响应时间是否满足要求。

当检测时序为单次发送时，如果SD/LOS触发次数为1，则判断SD/LOS正常响应；如果SD/LOS触发次数为0，则判断SD/LOS不响应。当检测时序为周期性地多次发送时，如果SD/LOS触发次数与BEN脉冲信号发送次数一致，则判断SD/LOS正常响应；如果SD/LOS触发次数少于BEN脉冲信号发送次数，则判断SD/LOS不响应。

结合实施例1可知，在实际检测过程中，通常需要根据用户需求分别进行SD/LOS的响应测试和去响应测试，而两种测试需要使用不同的检测时序；通过调节检测时序，可使测试调节分别满足响应测试调节和非响应测试条件。在响应测试中，可通过判断SD/LOS是否响应来检测用户给定的响应电平和响应时间是否满足要求；在去响应测试中，可通过判断SD/LOS是否响应来检测用户给定的去响应电平是否满足要求。下面分别对两种测试过程进行具体介绍。

响应测试

对于响应测试，用户会给定一个第一预设阈值和一个预设时间阈值，光功率需设置为大于第一预设阈值(即光功率值较大)，响应时间则设置为给定的预设时间阈值，即响应电平和响应时间均由用户预先给定。由于给定的该光功率值较大，在该测试条件下理应发生SD/LOS响应，因此检测到有响应时方可确定达标。其中，响应时间是通过所述控制芯片调节检测时序来设置。响应测试的具体过程如下：

当光功率大于第一预设阈值时，通过调节BEN脉冲信号和RST脉冲信号各自的脉冲宽度和/或相位位置，使得响应时间满足预设时间阈值，以便进行SD/LOS的响应测试。所述控制芯片通过沿触发或电平触发计数后，如果发现SD/LOS正常响应，则证明SD/LOS的响应测试达标，对应的响应电平和响应时间均满足要求；如果发现SD/LOS不响应，则证明SD/LOS的响应测试不达标，对应的响应电平和/或响应时间不满足要求。如此一来，便可检测到用户给定的响应电平和响应时间是否满足要求，实现实施例1中第一方面的作用。

进一步地，在SD/LOS的响应测试中，验证完SD/LOS的响应测试是否达标之后，还可继续通过检测来确定SD/LOS的真实响应电平和真实响应时间，即实现实施例1中第二方面的作用。具体检测过程如下：

首先，通过调节ONU发送的光信号强度，并结合计数测试，确定SD/LOS的真实响应电平：将响应时间固定，通过不断调节ONU发送的光信号强度来调节电平；每调节一次后，通过沿触发或电平触发计数实时判断SD/LOS是否响应；当检测至响应与不响应的临界点时，确定SD/LOS的真实响应电平。其中，响应时间固定也就是保持在预设时间阈值不变，即之前设置好的检测时序保持不变。

例如，用户给定的第一预设阈值为-24，光功率开始设置为-25时有响应，则可不断将其减小为-26、-27、-28等等，并分别通过计数测试是否响应，也就是ONU发送的光信号强度不断减小；如果上一次测试时(例如-28时)仍有响应，而到下一次测试时(例如-29时)不再有响应，则认为已经检测至响应与不响应的临界点，可将上一次测试(即光功率-29时)对应的电平作为真实响应电平，也是最小响应电平。再例如，光功率开始设置为-25时无响应，则可不断将其增大并分别通过计数测试是否响应；如果上一次测试时(例如-20时)仍无响应，而到下一次测试时(例如-19时)有响应，则认为已经检测至响应与不响应的临界点，可将下一次测试(即光功率-19时)对应的电平作为真实响应电平，也是最大响应电平。

然后，通过所述控制芯片调节检测时序，并结合计数测试，确定SD/LOS的真实响应时间：将ONU发送的光信号强度固定，通过不断调节BEN脉冲信号和RST脉冲信号的脉冲宽度和/或相位位置，来调节响应时间；每调节一次后，通过沿触发或电平触发计数判断SD/LOS是否响应；当检测至响应与不响应的临界点时，确定SD/LOS的真实响应时间。其中，ONU发送的光信号强度固定也就是光功率固定。

例如，用户给定的预设时间阈值为100ns，响应时间为100ns时可正常响应，则可不断将其减小为90ns、80ns、70ns等等，并分别通过计数测试是否响应；如果上一次测试时(例如70ns时)仍有响应，而到下一次测试时(例如60ns时)不再有响应，则认为已经检测至响应与不响应的临界点，可将上一次测试对应的响应时间(即70ns)作为真实响应时间，也是最小响应时间。再例如，响应时间为100ns时无响应，则可不断将其增大并分别通过计数测试是否响应；如果上一次测试时(例如120ns时)仍无响应，而到下一次测试时(例如130ns时)有响应，则可将下一次测试对应的响应时间(即130ns)作为真实响应时间，也是最小响应时间。

去响应测试

对于去响应测试，用户会给定一个第二预设阈值，光功率需设置为小于第二预设阈值(即光功率值很小)，使ONU保持在常发光状态，即去响应电平由用户预先给定。由于给定的该光功率值很小，在无限长的时间内都不应该发生SD/LOS响应，因此检测到无响应时方可确定达标。去响应测试的具体过程如下：

当光功率小于第二预设阈值时，通过调节BEN脉冲信号和RST脉冲信号的脉冲宽度和/或相位位置，使得ONU处于常发光状态，以便进行SD/LOS的去响应测试。所述控制芯片通过沿触发或电平触发计数后，如果发现SD/LOS不响应，则证明SD/LOS的去响应测试达标，对应的去响应电平满足要求；如果发现SD/LOS响应，则证明SD/LOS的去响应测试不达标，对应的去响应电平不满足要求。如此一来，便可检测到用户给定的去响应电平是否满足要求，实现实施例1中第一方面的作用。

进一步地，在SD/LOS的去响应测试中，如果发现SD/LOS响应，还可继续通过检测来确定SD/LOS的真实去响应电平，即实现实施例1中第二方面的作用。具体检测过程如下：

通过调节ONU发送的光信号强度，并结合计数测试，确定SD/LOS的真实去响应电平(即真实的最大去响应电平)：保持检测时序不变，通过不断调节ONU的光信号强度来调节去响应电平；每调节一次后，通过沿触发或电平触发计数判断SD/LOS是否响应；当检测至响应与不响应的临界点，确定SD/LOS的真实去响应电平。其中，ONU发送的光信号强度的调节方向为不断减小。

例如，用户给定的第二预设阈值为-40，光功率开始设置为-41时有响应，则可不断将其减小为-42、-43、-44等等，并分别通过计数测试是否响应；如果上一次测试时(例如-45时)仍有响应，而到下一次测试时(例如-46时)不再有响应，则认为已经检测至响应与不响应的临界点，可将下一次测试(即光功率-46时)对应的电平作为真实去响应电平，也是最大去响应电平。

总体来说，在响应测试中，可检测用户给定的响应电平和响应时间是否满足要求，同时还能通过测试得到真实响应电平和真实响应时间；在去响应测试中，可检测用户给定的去响应电平是否满足要求，同时还能通过测试得到真实去响应电平。而且，响应电平和去响应电平的测试是通过调节ONU的光信号强度，响应时间的测试是通过调节BEN脉冲信号和RST脉冲信号的脉冲宽度和/或相位位置。

本发明实施例提供的上述检测方法中，通过简单的单控制芯片即可产生特定的检测时序，并采用特殊的沿触发或电平触发计数检测实现突发SD/LOS的响应电平、去响应电平以及响应时间的测试。相比于传统结合示波器进行测试，或逻辑电路模拟系统时序沿时间进行测试，通过改进检测时序与检测方式，极大地降低了硬件设备的要求与电路的实现难度，同时测试拓扑的复杂性、测试成本、测试效率都有很大优化。

实施例3：

在上述实施例2提供的检测方法基础上，本发明实施例以OLT光模块突发SD的检测为例，分别给出了一种SD响应测试和SD去响应测试的具体实施方式，仍采用如图1所示的检测装置完成。

如图3和图4所示，本发明实施例以ONU为高电平发光为例(如果ONU为低电平发光，BEN反相即可)，提供了两种可用于SD响应测试的检测时序，下面分别加以介绍：

第一种检测时序如图3，RST脉冲信号在光包外。在该具体的实施例中，所述控制芯片发送如图3所示的检测时序，RST脉冲在BEN脉冲之外，BEN脉冲为高时ONU发光，即ONU的光信号脉冲与BEN脉冲一致。RST脉冲信号清除待测OLT的SD锁存状态后(对于SD不锁存的待测OLT，正常状态ONU无光时SD自动变低，就不需要RST脉冲信号)，随即ONU突发发光，此时所述控制芯片检测接收来自待测OLT的SD响应，并通过沿触发或电平触发方式进行一次计数。如果SD触发次数为1，视为SD正常响应，响应测试达标；如果次数为0，视为SD不响应，响应测试不达标。当然，这里是以检测时序单次发送为例，除此以外，还可以周期性地多次发送，则所述控制芯片相应地进行多次计数统计。

在上述实施例中，通过调节ONU发出的光信号强度可以测试SD的响应电平，通过调节BEN脉冲信号的脉冲宽度则可以检测SD的响应时间。例如，BEN脉冲宽度为50ns(即图3中T2)时，SD统计计数比BEN发送脉冲光次数少；逐步增大BEN脉宽到80ns时，SD统计计数与BEN的发送脉冲次数一致，则SD的响应时间为80ns。

第二种检测时序如图4，RST脉冲信号在光包内。在该具体的实施例中，所述控制芯片发送如图4所示的检测时序，检测方式与第一种检测时序一致。不同之处在于，SD响应时间的测试是通过控制RST下降沿与BEN下降沿之间的脉冲宽度(即图4中T)来控制的，也就是调节两个脉冲信号之间的相位差，前面的BEN部分被RST强制复位，SD保持低电平。另外，该检测时序中RST的上升沿超前于BEN的上升沿，以保证SD的响应次数与BEN发送次数对应。

如图5所示，本发明实施例以ONU为低电平发光为例，提供了一种可用于SD去响应测试的检测时序。在该具体的实施例中，所述控制芯片发送如图5所示的检测时序，BEN脉冲信号常低以使ONU常发光，只给RST信号；RST信号发送后，同样的方式测试SD的触发计数，如SD触发次数为0，则达到去响应，测试达标；如SD触发次数不为0，则可调节ONU的光信号强度以确定去响应电平。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，其特征在于，包括：

通过控制芯片产生特定的SD/LOS检测时序，并作用于ONU和待测OLT，使ONU发送突发光信号；其中，所述SD/LOS检测时序可调节；

所述待测OLT接收所述ONU发送的光信号，并向所述控制芯片反馈突发的SD/LOS信号；

所述控制芯片接收待测OLT反馈的SD/LOS信号，并通过沿触发或电平触发计数判断SD/LOS是否响应，进而检测SD/LOS的响应电平、去响应电平和/或响应时间是否满足要求；

SD响应时间的测试是通过控制RST下降沿与BEN下降沿之间的脉冲宽度来控制的，调节两个脉冲信号之间的相位差，前面的BEN部分被RST强制复位，SD保持低电平；检测时序中RST的上升沿超前于BEN的上升沿，以保证SD的响应次数与BEN发送次数对应。

2.根据权利要求1所述的OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，其特征在于，所述通过控制芯片产生特定的SD/LOS检测时序，并作用于ONU和待测OLT，具体为：

通过控制芯片输出同步且特定相位差的BEN脉冲信号和RST脉冲信号；所述BEN脉冲信号作用于ONU，并用于控制所述ONU发送突发光信号；所述RST脉冲信号作用于待测OLT，并用于复位所述待测OLT的SD/LOS锁存状态；

其中，所述BEN脉冲信号和所述RST脉冲信号各自的脉冲宽度以及相位位置均为可调节，且响应时间是通过调节所述BEN脉冲信号和所述RST脉冲信号的脉冲宽度和/或相位位置来调节。

3.根据权利要求2所述的OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，其特征在于，当光功率大于第一预设阈值时，通过调节BEN脉冲信号和RST脉冲信号各自的脉冲宽度和/或相位位置，使得响应时间满足预设时间阈值，以便进行SD/LOS的响应测试；

则所述控制芯片通过沿触发或电平触发计数后，如果发现SD/LOS响应，则证明SD/LOS的响应测试达标，对应的响应电平和响应时间均满足要求；如果发现SD/LOS不响应，则证明SD/LOS的响应测试不达标，对应的响应电平和/或响应时间不满足要求。

4.根据权利要求3所述的OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，其特征在于，当确定SD/LOS的响应测试是否达标之后，所述方法还包括：

将响应时间固定，通过不断调节ONU发送的光信号强度来调节响应电平；每调节一次后，通过沿触发或电平触发计数实时判断SD/LOS是否响应；当检测至响应与不响应的临界点时，确定SD/LOS的真实响应电平。

5.根据权利要求3所述的OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，其特征在于，当确定SD/LOS的响应测试是否达标之后，则所述方法还包括：

将ONU发送的光信号强度固定，通过不断调节BEN脉冲信号和RST脉冲信号的脉冲宽度和/或相位位置，来调节响应时间；每调节一次后，通过沿触发或电平触发计数判断SD/LOS是否响应；当检测至响应与不响应的临界点时，确定SD/LOS的真实响应时间。

6.根据权利要求2所述的OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，其特征在于，当光功率小于第二预设阈值时，通过调节BEN脉冲信号和RST脉冲信号的脉冲宽度和/或相位位置，使得ONU处于常发光状态，以便进行SD/LOS的去响应测试；

则所述控制芯片通过沿触发或电平触发计数后，如果发现SD/LOS不响应，则证明SD/LOS的去响应测试达标，对应的去响应电平满足要求；如果发现SD/LOS响应，则证明SD/LOS的去响应测试不达标，对应的去响应电平不满足要求。

7.根据权利要求6所述的OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，其特征在于，在SD/LOS的去响应测试中，如果发现SD/LOS响应，则所述方法还包括：

不断调节ONU的光信号强度，每调节一次后，通过沿触发或电平触发计数判断SD/LOS是否响应；当检测至响应与不响应的临界点，确定SD/LOS的真实去响应电平。

8.根据权利要求1-7任一所述的OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，其特征在于，所述SD/LOS检测时序为单次输出或周期性地输出。

9.一种OLT光模块突发SD/LOS检测的装置，其特征在于，包括控制芯片和ONU控制单元，所述控制芯片分别与所述ONU控制单元和待测OLT的OLT控制单元相连接，所述ONU控制单元与OLT控制单元相连接；

其中，所述控制芯片用于产生可调节的特定SD/LOS检测时序以作用于待测OLT和ONU，同时接收待测OLT反馈的SD/LOS信号，并通过沿触发或电平触发计数检测SD/LOS的响应电平、去响应电平和/或响应时间是否满足要求；

所述ONU控制单元用于控制ONU发送突发光信号，以便所述待测OLT检测突发光信号，并向所述控制芯片反馈突发的SD/LOS信号；

SD响应时间的测试是通过控制RST下降沿与BEN下降沿之间的脉冲宽度来控制的，调节两个脉冲信号之间的相位差，前面的BEN部分被RST强制复位，SD保持低电平；检测时序中RST的上升沿超前于BEN的上升沿，以保证SD的响应次数与BEN发送次数对应。

10.根据权利要求9所述的OLT光模块突发SD/LOS检测的装置，其特征在于，所述控制芯片包括BEN端口、RST端口和SD/LOS端口，所述BEN端口与所述RST端口均为输出端口，所述SD/LOS端口为输入端口；

其中，所述BEN端口用于输出BEN脉冲信号，所述BEN脉冲信号作用于ONU，并用于控制ONU发送突发光信号；其中，ONU光信号的脉冲宽度与BEN脉冲信号的脉冲宽度一致；

所述RST端口用于输出RST脉冲信号，所述RST脉冲信号作用于待测OLT，并用于复位所述待测OLT的SD/LOS锁存状态；

所述SD/LOS端口用于接收待测OLT反馈的SD/LOS信号，以便通过沿触发或电平触发计数来检测SD/LOS的响应电平、去响应电平和/或响应时间是否满足要求。

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