CN110967610A - 一种二极管检测装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种二极管检测装置，包括一对送料轨道、转移机构和检测机构，送料轨道包括进料段、过渡段和出料段，过渡段上成型有第一矩形槽、第二矩形槽和凹平面，转移机构包括设置在两根送料轨道之间的转移臂，转移臂上成型有三个左右方向线性均布的半圆槽，转移臂通过左右移动将二极管一个个从送料段送到出料段上，检测机构包括二级管检测机，二极管检测机通过导线连接有正极测量片和负极测量片，正极测量片和负极测量片分别固定在对应的一个气缸的活塞杆上。本发明能够快速的对大量的二极管的参数性能进行检测，提高了生产效率，降低了工人的劳动强度。

Description

一种二极管检测装置
技术领域：
本发明涉及二极管检测技术领域，具体涉及一种二极管检测装置。
背景技术：
二极管作为常用的电子元器件，需求量较大，二极管的生产厂家为了保证出厂的良品率，传统的检测方法采用人工手动检测，人工一个一个检测的速度较慢，无法满足现在市场的需求量，这样的效率还是比较低下。
发明内容：
本发明的目的是克服现有技术的不足，提供一种二极管检测装置，它能够快速的对大量的二极管的参数性能进行检测，提高了生产效率，降低了工人的劳动强度。
本发明解决所述技术问题的方案是：
一种二极管检测装置，包括一对前后设置用于传送二极管的送料轨道、转移机构和检测机构，送料轨道通过支脚固定在底板上，二极管的两端的引脚分别置于对应的一根送料轨道上，所述送料轨道包括左高右低设置的进料段、水平设置的过渡段和左高右低的出料段，所述过渡段上成型有上侧开口的第一矩形槽、第二矩形槽和凹平面，凹平面的左端与进料段连接；所述转移机构包括设置在两根送料轨道之间的转移臂，转移臂上成型有三个左右方向线性均布的上侧开口的半圆槽，半圆槽的内壁与二极管的塑封体的外壁相配合，左侧的半圆槽与凹平面的右端对应，中间的半圆槽与第一矩形槽相对应，右侧的半圆槽与第二矩形槽相对应；所述转移臂的中部固定有向下凸起的支耳，支耳与固定在驱动臂一端的销轴铰接，驱动臂的另一端固定在电机的电机轴上，电机设置在第一矩形槽和第二矩形槽之间且与底板固定连接，所述转移臂上固定有矩形条，矩形条的下端插套在矩形套管内，矩形套管的下端成型有滑动槽，滑动槽插套在左右设置的导轨上，导轨固定在底板上；所述检测机构包括固定在底板上的二级管检测机，二极管检测机通过导线连接有正极测量片和负极测量片，正极测量片位于后侧的送料轨道的第一矩形槽的后侧，负极测量片位于前侧的送料轨道的第一矩形槽的前侧，正极测量片和负极测量片分别固定在对应的一个气缸的活塞杆上，两个气缸固定在底板上。
所述第一矩形槽的宽度、第二矩形槽的宽度与引脚的直径相配合。
所述凹平面的最右端与第一矩形槽的右侧壁之间的距离L1等于第二矩形槽的右侧壁与第一矩形槽的右侧壁之间的距离L2；所述销轴与电机的电机轴的中心距L3等于L1的二分之一。
凹平面的深度、第一矩形槽的深度及第二矩形槽的深度都在引脚的半径值和直径值之间。
两根所述送料导轨之间的间距与二极管的塑封体的长度相配合，二极管的引脚伸出到送料导轨外。
所述正极测量片和负极测量片与其对应的气缸的活塞杆之间设有绝缘垫。
本发明的突出效果是：与现有技术相比，它能够快速的对大量的二极管的参数性能进行检测，提高了生产效率，降低了工人的劳动强度。
附图说明：
图1为本发明的前视图；
图2为本发明的俯视图；
图3为图2关于A-A的剖视图；
图4为图3关于B-B的剖视图。
具体实施方式：
实施例，见如图1至图4所示，一种二极管检测装置，包括一对前后设置用于传送二极管9的送料轨道1、转移机构2和检测机构3，送料轨道1通过支脚4固定在底板5上，二极管9的两端的引脚91 分别置于对应的一根送料轨道1上，所述送料轨道1包括左高右低设置的进料段11、水平设置的过渡段12和左高右低的出料段13，所述过渡段12上成型有上侧开口的第一矩形槽121、第二矩形槽122和凹平面123，凹平面123的左端与进料段11连接；所述转移机构2 包括设置在两根送料轨道1之间的转移臂21，转移臂21上成型有三个左右方向线性均布的上侧开口的半圆槽211，半圆槽211的内壁与
二极管9的塑封体92的外壁相配合，左侧的半圆槽211与凹平面123的右端对应，中间的半圆槽211与第一矩形槽121相对应，右侧的半圆槽211与第二矩形槽122相对应；所述转移臂21的中部固定有向下凸起的支耳22，支耳22与固定在驱动臂23一端的销轴24 铰接，驱动臂23的另一端固定在电机25的电机轴上，电机25设置在第一矩形槽121和第二矩形槽122之间且与底板5固定连接，所述转移臂21上固定有矩形条26，矩形条26的下端插套在矩形套管27 内，矩形套管27的下端成型有滑动槽271，滑动槽271插套在左右设置的导轨28上，导轨28固定在底板5上；所述检测机构3包括固定在底板5上的二级管检测机31，二极管检测机31通过导线连接有正极测量片32和负极测量片33，正极测量片32位于后侧的送料轨道1的第一矩形槽121的后侧，负极测量片33位于前侧的送料轨道 1的第一矩形槽121的前侧，正极测量片32和负极测量片33分别固定在对应的一个气缸34的活塞杆上，两个气缸34固定在底板5上。
更进一步的说，所述第一矩形槽121的宽度、第二矩形槽122的宽度与引脚91的直径相配合。
更进一步的说，所述凹平面123的最右端与第一矩形槽121的右侧壁之间的距离L1等于第二矩形槽122的右侧壁与第一矩形槽121 的右侧壁之间的距离L2；所述销轴24与电机25的电机轴的中心距 L3等于L1的二分之一。
更进一步的说，凹平面123的深度、第一矩形槽121的深度及第二矩形槽122的深度都在引脚91的半径值和直径值之间。
更进一步的说，两根所述送料导轨1之间的间距与二极管9的塑封体92的长度相配合，二极管9的引脚91伸出到送料导轨1外。
更进一步的说，所述正极测量片32和负极测量片33与其对应的气缸34的活塞杆之间设有绝缘垫35。
工作原理:第一，将二极管9一个个如图1所示放置在送料轨道 1上，二级管9的塑封体92位于两根送料轨道1之间，二极管9的引脚91放置在送料轨道上；第二，电机25的电机轴转动，电机25 带动驱动臂24转动，驱动臂24通过销轴23、支耳22带动转移臂21 以顺时针方向同时上下及左右方向往复移动，左侧的半圆槽211将送料段11最右侧的二极管9铲起，中间的半圆槽211将插套在第一矩形槽121内的二极管9铲起，右侧的半圆槽211将插套在第二矩形槽 121内的二极管9铲起，然后转移臂21将左侧的半圆槽211上的二极管9的引脚91放置在第一矩形槽121内，转移臂21将中间的半圆槽211上的二极管9的引脚91放置在第二矩形槽122内，转移臂21 将右侧的半圆槽211上的二极管9的引脚91放置在两根送料轨道1的出料段13上，然后从出料段13滑落到下一道工序，然后，转移臂 21脱离三个二级管9继续顺时针转动，此时，两个气缸34的活塞杆伸展，分别带动正极测量片32和负极测量片33上移，正极测量片 32和负极测量片33分别压靠在置于第一矩形槽121内的二极管9的两个引脚91上，然后二极管测量机31通过正极测量片32和负极测量片33对二极管进行参数测量。
最后，以上实施方式仅用于说明本发明，而离本发明的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有等同的技术方案也属于本发明的范畴，本发明的专利保护范围应由权利要求限定。

Claims (6)

1.一种二极管检测装置，包括一对前后设置用于传送二极管(9)的送料轨道(1)、转移机构(2)和检测机构(3)，送料轨道(1)通过支脚(4)固定在底板(5)上，二极管(9)的两端的引脚(91)分别置于对应的一根送料轨道(1)上，其特征在于：所述送料轨道(1)包括左高右低设置的进料段(11)、水平设置的过渡段(12)和左高右低的出料段(13)，所述过渡段(12)上成型有上侧开口的第一矩形槽(121)、第二矩形槽(122)和凹平面(123)，凹平面(123)的左端与进料段(11)连接；所述转移机构(2)包括设置在两根送料轨道(1)之间的转移臂(21)，转移臂(21)上成型有三个左右方向线性均布的上侧开口的半圆槽(211)，半圆槽(211)的内壁与二极管(9)的塑封体(92)的外壁相配合，左侧的半圆槽(211)与凹平面(123)的右端对应，中间的半圆槽(211)与第一矩形槽(121)相对应，右侧的半圆槽(211)与第二矩形槽(122)相对应；所述转移臂(21)的中部固定有向下凸起的支耳(22)，支耳(22)与固定在驱动臂(23)一端的销轴(24)铰接，驱动臂(23)的另一端固定在电机(25)的电机轴上，电机(25)设置在第一矩形槽(121)和第二矩形槽(122)之间且与底板(5)固定连接，所述转移臂(21)上固定有矩形条(26)，矩形条(26)的下端插套在矩形套管(27)内，矩形套管(27)的下端成型有滑动槽(271)，滑动槽(271)插套在左右设置的导轨(28)上，导轨(28)固定在底板(5)上；所述检测机构(3)包括固定在底板(5)上的二级管检测机(31)，二极管检测机(31)通过导线连接有正极测量片(32)和负极测量片(33)，正极测量片(32)位于后侧的送料轨道(1)的第一矩形槽(121)的后侧，负极测量片(33)位于前侧的送料轨道(1)的第一矩形槽(121)的前侧，正极测量片(32)和负极测量片(33)分别固定在对应的一个气缸(34)的活塞杆上，两个气缸(34)固定在底板(5)上。
2.根据权利要求1所述的一种二极管检测装置，其特征在于：所述第一矩形槽(121)的宽度、第二矩形槽(122)的宽度与引脚(91)的直径相配合。
3.根据权利要求2所述的一种二极管检测装置，其特征在于：所述凹平面(123)的最右端与第一矩形槽(121)的右侧壁之间的距离L1等于第二矩形槽(122)的右侧壁与第一矩形槽(121)的右侧壁之间的距离L2；所述销轴(24)与电机(25)的电机轴的中心距L3等于L1的二分之一。
4.根据权利要求1所述的一种二极管检测装置，其特征在于：凹平面(123)的深度、第一矩形槽(121)的深度及第二矩形槽(122)的深度都在引脚(91)的半径值和直径值之间。
5.根据权利要求1所述的一种二极管检测装置，其特征在于：两根所述送料导轨(1)之间的间距与二极管(9)的塑封体(92)的长度相配合，二极管(9)的引脚(91)伸出到送料导轨(1)外。
6.根据权利要求1所述的一种二极管检测装置，其特征在于：所述正极测量片(32)和负极测量片(33)与其对应的气缸(34)的活塞杆之间设有绝缘垫(35)。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113702791A (zh) * 2021-07-13 2021-11-26 成都思科瑞微电子股份有限公司 一种半导体分立器件测试装置

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201589848U (zh) * 2010-01-08 2010-09-22 常州银河电器有限公司 步进二极管检测装置
KR20120104728A (ko) * 2011-03-14 2012-09-24 (주)에이피텍 엘이디 칩의 이송장치 및 방법
KR20140092513A (ko) * 2013-01-10 2014-07-24 서울반도체 주식회사 발광 다이오드 패키지 테스트 장치
CN203875028U (zh) * 2014-06-18 2014-10-15 四川蓝彩电子科技有限公司 一种高效二极管三极管电气性能不良品回收装置
CN205229400U (zh) * 2015-11-16 2016-05-11 如皋市大昌电子有限公司 一种二极管电气性能检测装置
KR20160128668A (ko) * 2015-04-29 2016-11-08 주식회사 한라정밀엔지니어링 엘이디검사용 프로브 및 이를 포함하는 콘텍장치
CN107298296A (zh) * 2017-07-19 2017-10-27 东莞市联洲知识产权运营管理有限公司 一种二极管的检测校正输送轨道
CN109835657A (zh) * 2019-03-19 2019-06-04 台州风达机器人科技有限公司 一种用于二极管检测的送料装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201589848U (zh) * 2010-01-08 2010-09-22 常州银河电器有限公司 步进二极管检测装置
KR20120104728A (ko) * 2011-03-14 2012-09-24 (주)에이피텍 엘이디 칩의 이송장치 및 방법
KR20140092513A (ko) * 2013-01-10 2014-07-24 서울반도체 주식회사 발광 다이오드 패키지 테스트 장치
CN203875028U (zh) * 2014-06-18 2014-10-15 四川蓝彩电子科技有限公司 一种高效二极管三极管电气性能不良品回收装置
KR20160128668A (ko) * 2015-04-29 2016-11-08 주식회사 한라정밀엔지니어링 엘이디검사용 프로브 및 이를 포함하는 콘텍장치
CN205229400U (zh) * 2015-11-16 2016-05-11 如皋市大昌电子有限公司 一种二极管电气性能检测装置
CN107298296A (zh) * 2017-07-19 2017-10-27 东莞市联洲知识产权运营管理有限公司 一种二极管的检测校正输送轨道
CN109835657A (zh) * 2019-03-19 2019-06-04 台州风达机器人科技有限公司 一种用于二极管检测的送料装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113702791A (zh) * 2021-07-13 2021-11-26 成都思科瑞微电子股份有限公司 一种半导体分立器件测试装置

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