CN110961379B - 一种集成电路测试分选机的分粒机构 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及集成电路测试技术领域，且公开了一种集成电路测试分选机的分粒机构，包括电路流道，电路流道的上端固定连接有固定框，固定框呈倒“U”型设置，固定框的下端中心处固定连接有固定块，固定块的下端铰接有伸缩装置，伸缩装置的两端对称铰接有分选装置，固定框的下端安装有动力装置；分选装置包括滑筒、滑杆和分选块，两个滑筒对称铰接在伸缩装置的两端，滑筒的开口向上设置，滑杆滑动连接在滑筒内，滑杆远离滑筒内筒底的一端穿过滑筒的筒口并向上延伸，且固定连接在固定框内的对应位置上。该集成电路测试分选机的分粒机构，使得分选块和电路流道之间是直上直下，分选块不会卡电路流道中。
Description
技术领域
本发明涉及集成电路测试技术领域，具体为一种集成电路测试分选机的分粒机构。
背景技术
目前集成电路测试封装使用的分选机多种多样，其中的分粒机构大多采用气爪气缸直接与档杆连接的方式，而这种气爪气缸做成的结构具有成本高，使用寿命短的缺点。
在专利号为CN102259099A的专利中，提供了一种集成电路测试分选机的分粒机构，它至少包括有一个电路流道、一个气缸，作用于所述电路流道和气缸的前挡杆和后挡杆，所述的前挡杆连接L型连接件，所述L型连接件通过螺丝固定在气缸轴上，所述的气缸轴设置于气缸缸体内部；所述的前挡杆和后挡杆上设置有前支座和后支座，所述的前挡杆和后挡杆之间设置有光轴和光轴槽；所述前挡杆上设置有螺纹孔，通过该螺纹孔用螺丝将分粒压块固定在前挡杆上；该方案采用有效地解决了上述问题，但是仍然存在以下问题：在分选的过程中，分选块和电路流道之间并不是直上直下，分选块带有一定的弧度进入到电路流道中，长久使用后，分选块容易卡在电路流道中，影响装置的耐久性。
发明内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足，本发明提供了一种集成电路测试分选机的分粒机构，具备分选块和电路流道之间是直上直下，分选块不会卡电路流道中等优点，解决了在分选的过程中，分选块和电路流道之间并不是直上直下，分选块带有一定的弧度进入到电路流道中，长久使用后，分选块容易卡在电路流道中，影响装置耐久性的问题。
(二)技术方案
为实现上述分选块和电路流道之间是直上直下，分选块不会卡电路流道中的目的，本发明提供如下技术方案：一种集成电路测试分选机的分粒机构，包括电路流道，电路流道的上端固定连接有固定框，所述固定框呈倒“U”型设置，所述固定框的下端中心处固定连接有固定块，所述固定块的下端铰接有伸缩装置，所述伸缩装置的两端对称铰接有分选装置，所述固定框的下端安装有动力装置；
所述分选装置包括滑筒、滑杆和分选块，两个所述滑筒对称铰接在伸缩装置的两端，所述滑筒的开口向上设置，所述滑杆滑动连接在滑筒内，所述滑杆远离滑筒内筒底的一端穿过滑筒的筒口并向上延伸，且固定连接在固定框内的对应位置上，两个所述分选块分别固定连接在滑筒外的下端，所述分选块位于电路流道的正上方。
优选的，所述伸缩装置包括挡板、移动槽和移动杆，所述挡板的上端中心处铰接在固定块的下端上，两个所述移动槽对称开设在挡板的两端，两个所述移动杆分别滑动连接在两个移动槽内，所述移动杆远离移动槽槽底的一端穿过移动槽的槽口并向外延伸，且铰接在对应滑筒的外侧壁上。
优选的，所述滑筒内对称开设有限位槽，所述限位槽内滑动连接有限位块，所述限位块远离限位槽槽底的一端穿过限位槽的槽口并向外延伸，且固定连接在滑杆的对应杆壁上。
优选的，所述限位块靠近限位槽槽底的一端开设有滚珠槽，所述滚珠槽内滚动连接有滚珠，所述滚珠远离滚珠槽槽底的一端穿过滚珠槽的槽口向外延伸，且与限位槽的槽底滚动连接。
优选的，所述滚珠的直径大于滚珠槽槽口的口径。
优选的，所述动力装置包括气缸和导轨，所述气缸安装在固定框内的底部，所述导轨固定连接在挡板上端的一侧，所述气缸的输出端铰接在导轨的输出端上。
优选的，所述固定框的外表面上涂有防腐涂层。
(三)有益效果
与现有技术相比，本发明提供了一种集成电路测试分选机的分粒机构，具备以下有益效果：
1、该集成电路测试分选机的分粒机构，通过设置电路流道、固定框、固定块、伸缩装置、分选装置、滑筒、滑杆、分选块和动力装置，当进行分粒工作时，启动动力装置，动力装置推动伸缩装置，使得伸缩装置发生倾斜，使得两个滑筒中的其中一个向上移动，另一个滑筒带动分选块向下移动，使得能够很好进行分粒工作，同时分选块的路径为直线，使得分选块不会卡电路流道中。
2、该集成电路测试分选机的分粒机构，通过设置伸缩装置、挡板、移动槽和移动杆，当动力装置推动伸缩装置时候，移动杆和移动槽之间发生相对滑动，使得装置能够很好地运行。
附图说明
图1为本发明提出的一种集成电路测试分选机的分粒机构结构示意图；
图2为图1中A部分的放大图；
图3为图1中B部分的放大图；
图4为图3中C部分的放大图。
图中：1电路流道、2固定框、3固定块、4伸缩装置、41挡板、42移动槽、43移动杆、5分选装置、51滑筒、52滑杆、53分选块、6动力装置、61气缸、62导轨、7限位槽、8限位块、9滚珠槽、10滚珠。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-4，一种集成电路测试分选机的分粒机构，包括电路流道1，电路流道1的上端固定连接有固定框2，固定框2呈倒“U”型设置，固定框2的下端中心处固定连接有固定块3，固定块3的下端铰接有伸缩装置4，伸缩装置4的两端对称铰接有分选装置5，固定框2的下端安装有动力装置6；
分选装置5包括滑筒51、滑杆52和分选块53，两个滑筒51对称铰接在伸缩装置4的两端，滑筒51的开口向上设置，滑杆52滑动连接在滑筒51内，滑杆52远离滑筒51内筒底的一端穿过滑筒51的筒口并向上延伸，且固定连接在固定框2内的对应位置上，两个分选块53分别固定连接在滑筒51外的下端，分选块53位于电路流道1的正上方，当进行分粒工作时，启动动力装置6，动力装置6推动伸缩装置4，使得伸缩装置4发生倾斜，使得两个滑筒51中的其中一个向上移动，另一个滑筒51带动分选块53向下移动，使得能够很好进行分粒工作，同时分选块53的路径为直线，使得分选块不会卡电路流道中。
伸缩装置4包括挡板41、移动槽42和移动杆43，挡板41的上端中心处铰接在固定块3的下端上，两个移动槽42对称开设在挡板41的两端，两个移动杆43分别滑动连接在两个移动槽42内，移动杆43远离移动槽42槽底的一端穿过移动槽42的槽口并向外延伸，且铰接在对应滑筒51的外侧壁上，当动力装置6推动伸缩装置4时候，移动杆43和移动槽42之间发生相对滑动，使得装置能够很好地运行。
滑筒51内对称开设有限位槽7，限位槽7内滑动连接有限位块8，限位块8远离限位槽7槽底的一端穿过限位槽7的槽口并向外延伸，且固定连接在滑杆52的对应杆壁上，能够有效地防止滑杆52从滑筒51。
限位块8靠近限位槽7槽底的一端开设有滚珠槽9，滚珠槽9内滚动连接有滚珠10，滚珠10远离滚珠槽9槽底的一端穿过滚珠槽9的槽口向外延伸，且与限位槽7的槽底滚动连接，使得限位块8在限位槽7内移动地更加顺畅。
滚珠10的直径大于滚珠槽9槽口的口径，使得滚珠10不会从滚珠槽9中脱离。
动力装置6包括气缸61和导轨62，气缸61安装在固定框2内的底部，导轨62固定连接在挡板41上端的一侧，气缸61的输出端铰接在导轨62的输出端上，对整个装置提供了动力，气缸61推动导轨62下移动，导轨62带动挡板41进行移动。
固定框2的外表面上涂有防腐涂层，起了防腐的作用。
综上所述，该集成电路测试分选机的分粒机构，当进行分粒工作时，启动动力装置6，动力装置6推动伸缩装置4，使得伸缩装置4发生倾斜，使得两个滑筒51中的其中一个向上移动，另一个滑筒51带动分选块53向下移动，使得能够很好进行分粒工作，同时分选块53的路径为直线，使得分选块不会卡电路流道中，当动力装置6推动伸缩装置4时候，移动杆43和移动槽42之间发生相对滑动，使得装置能够很好地运行。
需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (7)
1.一种集成电路测试分选机的分粒机构，包括电路流道(1)，其特征在于：电路流道(1)的上端固定连接有固定框(2)，所述固定框(2)呈倒“U”型设置，所述固定框(2)的下端中心处固定连接有固定块(3)，所述固定块(3)的下端铰接有伸缩装置(4)，所述伸缩装置(4)的两端对称铰接有分选装置(5)，所述固定框(2)的下端安装有动力装置(6)；
所述分选装置(5)包括滑筒(51)、滑杆(52)和分选块(53)，两个所述滑筒(51)对称铰接在伸缩装置(4)的两端，所述滑筒(51)的开口向上设置，所述滑杆(52)滑动连接在滑筒(51)内，所述滑杆(52)远离滑筒(51)内筒底的一端穿过滑筒(51)的筒口并向上延伸，且固定连接在固定框(2)内的对应位置上，两个所述分选块(53)分别固定连接在滑筒(51)外的下端，所述分选块(53)位于电路流道(1)的正上方。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试分选机的分粒机构，其特征在于：所述伸缩装置(4)包括挡板(41)、移动槽(42)和移动杆(43)，所述挡板(41)的上端中心处铰接在固定块(3)的下端上，两个所述移动槽(42)对称开设在挡板(41)的两端，两个所述移动杆(43)分别滑动连接在两个移动槽(42)内，所述移动杆(43)远离移动槽(42)槽底的一端穿过移动槽(42)的槽口并向外延伸，且铰接在对应滑筒(51)的外侧壁上。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试分选机的分粒机构，其特征在于：所述滑筒(51)内对称开设有限位槽(7)，所述限位槽(7)内滑动连接有限位块(8)，所述限位块(8)远离限位槽(7)槽底的一端穿过限位槽(7)的槽口并向外延伸，且固定连接在滑杆(52)的对应杆壁上。
4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试分选机的分粒机构，其特征在于：所述限位块(8)靠近限位槽(7)槽底的一端开设有滚珠槽(9)，所述滚珠槽(9)内滚动连接有滚珠(10)，所述滚珠(10)远离滚珠槽(9)槽底的一端穿过滚珠槽(9)的槽口向外延伸，且与限位槽(7)的槽底滚动连接。
5.根据权利要求4所述的一种集成电路测试分选机的分粒机构，其特征在于：所述滚珠(10)的直径大于滚珠槽(9)槽口的口径。
6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试分选机的分粒机构，其特征在于：所述动力装置(6)包括气缸(61)和导轨(62)，所述气缸(61)安装在固定框(2)内的底部，所述导轨(62)固定连接在挡板(41)上端的一侧，所述气缸(61)的输出端铰接在导轨(62)的输出端上。
7.根据权利要求1所述的一种集成电路测试分选机的分粒机构，其特征在于：所述固定框(2)的外表面上涂有防腐涂层。
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