CN110926527A - 一种通用传感器测试设备 - Google Patents

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CN110926527A CN201911140284.3A CN201911140284A CN110926527A CN 110926527 A CN110926527 A CN 110926527A CN 201911140284 A CN201911140284 A CN 201911140284A CN 110926527 A CN110926527 A CN 110926527A
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central control
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赵广超
潘丽娜
郑淑芹
马文超
李科连
周之丽
周曦
王先发
聂荣
刘红皊
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Jiangxi Hongdu Aviation Industry Group Co Ltd
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Jiangxi Hongdu Aviation Industry Group Co Ltd
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D21/00—Measuring or testing not otherwise provided for
    • G01D21/02—Measuring two or more variables by means not covered by a single other subclass

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Abstract

本发明涉及测试设备技术领域，特别是一种通用传感器测试设备。包括温度传感器测试系统、振动传感器测试系统、压力传感器测试系统、流量传感器测试系统、位移传感器测试系统、中央控制系统；所述中央控制系统对温度传感器测试系统、振动传感器测试系统、压力传感器测试系统、流量传感器测试系统、位移传感器测试系统的控制，向标准传感器及被测传感器提供供电并采集输出信号，对被测传感器数据进行处理分析；本发明为导弹武器系统常用传感器提供了综合测试设备，采用一套设备实现多种传感器的测试，保障传感器性能指标满足要求。

Description

一种通用传感器测试设备
技术领域
本发明涉及测试设备技术领域，特别是一种通用传感器测试设备。
背景技术
传感器是导弹武器系统科研试验中必不可少的测量设备，常用传感器包括温度传感器、振动传感器、压力传感器、流量传感器、位移传感器等。各种传感器交付总体单位后，一般只能进行定性测试，传感器测量精度由传感器生产厂家出厂测试时保证，存在传感器在运输、贮存过程中测量精度下降的风险，且总体单位无法检测。若总体单位配备各种传感器测试设备，则因各类测试设备相互独立，导致使用不便。
发明内容
发明目的：本发明通过设计一种通用传感器测试设备，对导弹武器系统常用的温度传感器、振动传感器、压力传感器、流量传感器、位移传感器进行测试。
发明技术方案：一种通用传感器测试设备，其特征在于，包括温度传感器测试系统、振动传感器测试系统、压力传感器测试系统、流量传感器测试系统、位移传感器测试系统、中央控制系统；所述中央控制系统对温度传感器测试系统、振动传感器测试系统、压力传感器测试系统、流量传感器测试系统、位移传感器测试系统的控制，向标准传感器及被测传感器提供供电并采集输出信号，对被测传感器数据进行处理分析。
所述温度传感器测试系统由温箱、标准温度传感器组成，由中央控制系统控制温箱内温度变化，向标准温度传感器与被测试温度传感器提供温度变化测试环境；
所述振动传感器测试系统由振动台、标准振动传感器组成，由中央控制系统控制振动台输出振动源，向标准振动传感器和被测试振动传感器提供激励；
所述压力传感器测试系统由高压气源、标准压力传感器组成，由中央控制系统控制高压气源输出，向标准压力传感器和被测试压力传感器提供压力；
所述流量传感器测试系统由油泵、标准流量传感器组成，由中央控制系统控制油泵流量输出，向标准流量传感器和被测试流量传感器提供激励；
所述位移传感器测试系统由位移产生器、标准位移传感器组成，由中央控制系统控制位移产生器位移量，向标准位移传感器和被测试位移传感器提供激励；
所述中央控制系统由数据采集单元、数据处理单元和设备控制单元组成。
发明的有益效果
本发明的有益效果是为导弹武器系统常用传感器提供了综合测试设备，采用一套设备实现多种传感器的测试，保障传感器性能指标满足要求。
附图说明
图1:为通用传感器测试设备组成框图
具体实施方式
下面结合附图对本发明进一步说明：
一种通用传感器测试设备，包括温度传感器测试系统1、振动传感器测试系统2、压力传感器测试系统3、流量传感器测试系统4、位移传感器测试系统5、中央控制系统6组成。
所述温度传感器测试系统1由温箱、标准温度传感器组成，由中央控制系统控制温箱内温度变化，向标准温度传感器与被测试温度传感器提供测试环境；
所述振动传感器测试系统2由振动台、标准振动传感器组成，由中央控制系统控制振动台输出，向标准振动传感器和被测试振动传感器提供激励；
所述压力传感器测试系统3由高压气源、标准压力传感器组成，由中央控制系统控制高压气源输出，向标准压力传感器和被测试压力传感器提供压力；
所述流量传感器测试系统4由油泵、标准流量传感器组成，由中央控制系统控制油泵流量输出，向标准流量传感器和被测试流量传感器提供激励；
所述位移传感器测试系统5由位移产生器、标准位移传感器组成，由中央控制系统控制位移产生器位移量，向标准位移传感器和被测试位移传感器提供激励；
所述中央控制系统6由数据采集单元、数据处理单元和设备控制单元组成，完成对温度传感器测试系统1、振动传感器测试系统2、压力传感器测试系统3、流量传感器测试系统4、位移传感器测试系统5的控制，向标准传感器及被测传感器提供供电并采集输出信号，对被测传感器数据进行处理分析。
所述被测试温度传感器测量范围决定传感器测试系统控制范围、数据变化速率的设置。
温度传感器测试系统1、振动传感器测试系统2、压力传感器测试系统3、流量传感器测试系统4、位移传感器测试系统5通过系统电缆与中央控制系统6连接，由中央控制系统6向各传感器测试系统提供供电及控制信号，采集各传感器测试信号。各传感器测试系统独立工作，互不影响。
本发明的使用步骤为：
步骤一：将被测传感器安装于对应的传感器测试系统；
步骤二：根据被测试温度传感器测量范围，完成对传感器测试系统控制范围、数据变化速率等参数设置；
步骤三：开始传感器测试，中央控制系统6向各传感器测试系统输出控制信号，各传感器测试系统输出相应激励；
步骤四：中央控制系统6实时采集并显示各传感器测量数据，监控设备及被测传感器工作情况；
步骤五：分析被测传感器数据与标准传感器输出数据，应满足相应技术要求。

Claims (8)

1.一种通用传感器测试设备，其特征在于，包括温度传感器测试系统、振动传感器测试系统、压力传感器测试系统、流量传感器测试系统、位移传感器测试系统、中央控制系统；所述中央控制系统对温度传感器测试系统、振动传感器测试系统、压力传感器测试系统、流量传感器测试系统、位移传感器测试系统的控制，向标准传感器及被测传感器提供供电并采集输出信号，对被测传感器数据进行处理分析。
2.如权利要求1所述的通用传感器测试设备，其特征在于，所述温度传感器测试系统由温箱、标准温度传感器组成，由中央控制系统控制温箱内温度变化，向标准温度传感器与被测试温度传感器提供温度变化测试环境。
3.如权利要求1所述的通用传感器测试设备，其特征在于，所述振动传感器测试系统由振动台、标准振动传感器组成，由中央控制系统控制振动台输出振动源，向标准振动传感器和被测试振动传感器提供激励。
4.如权利要求1所述的通用传感器测试设备，其特征在于，所述压力传感器测试系统由高压气源、标准压力传感器组成，由中央控制系统控制高压气源输出，向标准压力传感器和被测试压力传感器提供压力。
5.如权利要求1所述的通用传感器测试设备，其特征在于，所述流量传感器测试系统由油泵、标准流量传感器组成，由中央控制系统控制油泵流量输出，向标准流量传感器和被测试流量传感器提供激励。
6.如权利要求1所述的通用传感器测试设备，其特征在于，所述位移传感器测试系统由位移产生器、标准位移传感器组成，由中央控制系统控制位移产生器位移量，向标准位移传感器和被测试位移传感器提供激励。
7.如权利要求1所述的通用传感器测试设备，其特征在于，所述中央控制系统由数据采集单元、数据处理单元和设备控制单元组成。
8.如权利要求1所述的通用传感器测试设备，其特征在于，所述被测试温度传感器测量范围决定传感器测试系统控制范围、数据变化速率的设置。
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