CN110784236A - 增强系统集成镜的精确度和分辨率的方法和系统 - Google Patents

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Abstract

本说明书公开用于实施芯片集成镜(即，芯片镜(CS))的方法和系统，所述芯片集成镜是使得用户能够通过使用RF接收路径(包括放大器、滤波器、ADC、DSP)捕获和存储信号轨迹来仔细检查RF信号(在受测试装置(device under test，DUT)内部和外部)的特征。在一些实施例中，本说明书公开通过使用原始和校正数据对Rx(接收器)路径中引入的增益/相位减损进行增益/相位补偿来增强这些信号轨迹的分辨率和精确度的方法和系统。在一些实施例中，所述校正数据从以下中的一个或多个生成：模拟数据、特性化数据、生产测试数据。

Description

增强系统集成镜的精确度和分辨率的方法和系统
技术领域
所描述的实施例大体上涉及用于芯片集成镜的方法和装置，且更具体地说，涉及向芯片集成镜提供增强的精确度和分辨率的方法和装置。
背景技术
使用外部仪器(即，在受测试装置或芯片外部)，例如示波器，来仔细检查所述受测试装置或芯片以分析和调试极端或错误情况极其重要。此类仪器可以是一种非常强大的用于定位一些最复杂且不显眼的硬件和软件缺陷的工具。
因此，有很强的动机来开发其它方法和系统以执行仔细检查受测试装置或芯片以分析和调试极端或错误情况的重要任务。
发明内容
本说明书公开用于实施芯片集成镜(即，芯片镜(CS))的方法和系统，所述芯片集成镜是使得用户能够通过使用RF接收路径(包括放大器、滤波器、ADC、DSP)捕获和存储信号轨迹来仔细检查RF信号(在受测试装置(device under test，DUT)内部和外部)的特征。在一些实施例中，本说明书公开通过使用原始和校正数据对Rx(接收器)路径中引入的增益/相位减损进行增益/相位补偿来增强这些信号轨迹的分辨率和精确度的方法和系统。在一些实施例中，校正数据从以下中的一个或多个生成：模拟数据、特性化数据、生产测试数据。
本发明提供一种用于接收射频(radio frequency，RF)信号并将所述RF信号转换成数字数据样本的装置，所述装置包括：(a)数字数据存储器；(b)接收器，所述接收器被配置成向数字数据存储器提供原始数字数据样本；(c)校正数据存储器，其被配置成存储校正数据，其中所述校正数据用于补偿在所述装置的不同单元之间出现的电路变化；(d)芯片镜(chip scope，CS)控制单元，所述CS控制单元被配置成从接收器接收输入，所述CS控制单元另外被配置成使用所述输入确定应用到原始数字数据样本以补偿电路变化的校正数据的适当子集。
在一些实施例中，原始数字数据样本是RF信号轨迹，其中来自接收器的输入是关于接收器的状态的信息。
在一些实施例中，电路变化是由来自接收器中的功能块的增益、相位和/或非线性错误所致。
在一些实施例中，接收器被配置成接收启用NFC的装置的RF信号，其中NFC表示近场通信。
在一些实施例中，接收器包括：(a)降频转换器，(b)模/数转换器(analog todigital converter，ADC)。
在一些实施例中，接收器另外包括以下中的一个或多个：(c)衰减器，(d)基带放大器(baseband amplifier，BBA)，(e)滤波器。
在一些实施例中，(a)降频转换器包括以下中的一个或多个：(i)混合器，(ii)本地振荡器(local oscillator，LO)，(iii)I/QLO单元，(b)其中所述装置另外包括坐标旋转数字计算机(Coordinate Rotation Digital Computer，CORDIC)，其中CORDIC被配置成在向数字数据存储器发送来自接收器的原始数字数据样本之前处理原始数字数据样本。
在一些实施例中，(a)CS控制单元从接收器的以下功能块中的一个或多个接收输入：(i)衰减器，(ii)混合器，(iii)BBA，(iv)ADC，(b)其中来自接收器的一个或多个功能块的输入是关于接收器的状态的信息。
在一些实施例中，原始数字数据样本是基于接收器从以下源中的一个接收的信号：(a)在所述装置外部的源，(b)在所述装置内部的源，(c)在所述装置外部的源和在所述装置内部的源的组合。
在一些实施例中，接收器通过接收器的以下功能块中的一个或多个从在所述装置内部的源接收信号：(a)衰减器，(b)混合器，(c)BBA，(d)ADC。
在一些实施例中，校正数据的适当子集应用到原始数字数据样本以生成经补偿数字数据样本，其中经补偿数字数据样本接着可直接用作所述装置的即时输出，或经补偿数字数据样本存储在数字数据存储器中以供未来输出。
在一些实施例中，校正数据的适当子集与原始数字数据样本一起存储在数字数据存储器中，使得需要后处理步骤来生成经补偿数字数据样本。
在一些实施例中，校正数据的适当子集使用以下方法中的一个应用到原始数字数据样本以生成经补偿数字数据样本：(a)硬件，(b)软件，(c)硬件与软件的组合。
在一些实施例中，校正数据的适当子集中的每一个进行预处理，变成可应用到原始数字数据样本的单个补偿值。
在一些实施例中，校正数据从以下中的一个或多个生成：(a)模拟数据，(b)特性化数据，(c)生产测试数据。
在一些实施例中，温度传感器检测所述装置的温度，其中所述装置的温度用于确定应用到原始数字数据样本的校正数据的适当子集。
本发明还提供一种增强装置的芯片集成镜的精确度和分辨率的方法，所述方法包括：(a)使用所述装置的接收器接收射频(radio frequency，RF)信号；(b)将所述RF信号转换成原始数字数据样本；(c)使用所述装置的芯片镜(chip scope，CS)控制单元从接收器接收输入，(d)使用前往CS控制单元的输入确定应用到原始数字数据样本以补偿在接收器的不同单元之间出现的电路变化的校正数据的适当子集。
在一些实施例中，原始数字数据样本是RF信号轨迹，其中来自接收器的输入是关于接收器的状态的信息。
在一些实施例中，所述方法另外包括：(e)向原始数字数据样本应用校正数据的适当子集以生成经补偿数字数据样本，其中经补偿数字数据样本接着可直接用作装置的即时输出，或经补偿数字数据样本存储在数字数据存储器中以供未来输出。
本发明提供一种包括在非暂时性计算机可读媒体中编码的可执行指令的计算机程序产品，所述可执行指令在由系统执行时实行或控制增强装置的芯片集成镜的精确度和分辨率的以下方法，所述方法包括：(a)使用所述装置的接收器接收射频(radiofrequency，RF)信号；(b)将所述RF信号转换成原始数字数据样本；(c)使用所述装置的芯片镜(chip scope，CS)控制单元从接收器接收输入，(d)使用前往CS控制单元的输入确定应用到原始数字数据样本以补偿在接收器的不同单元之间出现的电路变化的校正数据的适当子集。
以上概述并不希望表示当前或未来的权利要求集的范围内的每一例子实施例。额外的例子实施例论述于以下图式和具体实施方式内。通过结合附图进行的以下详细描述，本发明的实施例的其它方面和优点将变得显而易见。
附图说明
图1示出根据本发明的一些实施例的芯片集成镜(即，芯片镜(CS))的功能框图。
图2示出根据本发明的一些实施例的使用校正数据补偿电路变化(在所述装置的不同单元之间出现)的增强芯片集成镜(即，芯片镜(CS))的功能框图。
图3示出根据本发明的一些实施例的使用校正数据补偿电路变化(在所述装置的不同单元之间出现)的增强芯片集成镜(即，芯片镜(CS))的功能框图，其中补偿处理在芯片集成镜内执行。
图4示出根据本发明的一些实施例的使用校正数据补偿电路变化(在所述装置的不同单元之间出现)的增强芯片集成镜(即，芯片镜(CS))的功能框图，其中补偿处理在芯片集成镜内执行，并且还使用额外的传感器数据来进行补偿处理。
图5示出根据本发明的一些实施例的使用校正数据补偿电路变化(在所述装置的不同单元之间出现)的增强芯片集成镜(即，芯片镜(CS))的功能框图，其中补偿处理在芯片集成镜内执行，且存在触发信号输入。
图6示出根据本发明的一些实施例的使用校正数据补偿电路变化(在所述装置的不同单元之间出现)的增强芯片集成镜(即，芯片镜(CS))的功能框图，其中补偿处理在芯片集成镜内执行，并且存在来自在芯片内部的源的触发信号输入和信号馈送。
图7示出根据本发明的一些实施例的通过使用校正数据补偿电路变化(在所述装置的不同单元之间出现)来增强芯片集成镜(即，芯片镜(CS))的精确度和分辨率的方法的过程流程图。
具体实施方式
容易理解的是，如本文中大体描述且在附图中说明的实施例的组件可以用各种不同的配置来布置和设计。因此，以下如图中所表示的各种实施例的更详细描述并非意图限制本公开的范围，而仅仅是表示各种实施例。尽管在图式中呈现了实施例的各个方面，但是除非特别地指示，否则图式未必按比例绘制。
在不脱离本发明精神或基本特性的情况下，可以其它特定形式体现本发明。所描述实施例应视为在所有方面均仅为说明性而非限制性的。因此，本发明的范围由所附权利要求书而不是由此详细描述来指示。在权利要求书等效物的含义和范围内的所有变化均涵盖在其范围内。
贯穿本说明书对特征、优点或类似语言的提及并不暗示可以使用本发明实现的所有特征和优点应该在或就在本发明的任何单个实施例中。实际上，指代特征和优点的语言应理解成意味着结合实施例描述的特定特征、优点或特性包括在本发明的至少一个实施例中。因此，贯穿本说明书对特征和优点的论述以及类似语言可以(但未必)是指同一实施例。
此外，本发明的所描述的特征、优点和特性可以任何合适方式在一个或多个实施例中组合。相关领域的技术人员将认识到，鉴于本文中的描述，本发明可在无具体实施例的特定特征或优点中的一个或多个特征或优点的情况下实践。在其它情况下，在某些实施例中可以认识到可能不是存在于本发明的所有实施例中的额外特征和优点。
许多系统，例如射频(radio frequency，RF)接收器系统，可实施于芯片上。因而，系统集成镜的特征可以为芯片集成镜。芯片集成镜(即，芯片镜(CS))是使得用户能够通过使用RF接收路径(包括放大器、滤波器、模/数转换器(analog-to-digital converter，ADC)、数字信号处理器(digital signal processor，DSP))捕获和存储信号轨迹来仔细检查RF信号(在受测试装置(device under test，DUT)内部和外部)的特征。在一些实施例中，本说明书公开通过使用原始和校正数据对Rx(接收器)路径中引入的增益/相位减损进行增益/相位补偿来增强这些信号轨迹的分辨率和精确度的方法和系统。期望在没有耗费额外硅面积、测试时间或设计工作量的情况下改进CS精确度。在一些实施例中，CS精确度的这一改进可在没有耗费额外硅面积、测试时间或设计工作量的情况下从+/-1dB降至0.1dB。
CS特征允许系统(例如，集成电路(integrated circuit，IC))检测内部或外部信号并存储相应轨迹。在大多数情况下，这一特征是分析和调试极端或错误情况的测试工具，或者它可以在测试条件下用于以高精确度捕获数据。此类使用情况的例子在图1中示出。
在这方面，图1示出根据本发明的一些实施例的芯片集成镜(即，芯片镜(CS))的功能框图。如图1所示，芯片镜(CS)100包括CS控制单元160、两个混合器(130，132)、两个基带放大器(baseband amplifier，BBA)(120，122)、两个模/数转换器(analog to digitalconverter，ADC)(140，142)、坐标旋转数字计算机(Coordinate Rotation DigitalComputer，CORDIC)144和存储器150。请注意，所有功能块(除了CS控制单元160之外)是非CS特定的块(因为实际它们全都来自正常接收路径)。换句话说，CS对所有这些功能块(除了CS控制单元160之外)都没有施加任何特定的高要求规范。
另外，如图1所示，芯片镜(CS)100还包括衰减器124、本地振荡器(localoscillator，LO)136和I/Q LO单元(标记为0/90°单元134)。图1中还示出的是芯片镜(CS)100接收Rx(接收器)信号110作为输入，然后传输CS_Data_Out 180作为输出。换句话说，CS100接收射频(radio frequency，RF)信号(例如，Rx信号110)，然后传出数字数据样本(例如，CS_Data_Out 180)。
在一些实施例中，芯片镜(CS)100可以是用于接收射频(radio frequency，RF)信号并将所述RF信号转换成数字数据样本的装置。在一些实施例中，原始数字数据样本可以是RF信号轨迹。在一些实施例中，芯片镜(CS)100可包括：(a)接收器105，(b)CORDIC 144，(c)芯片镜(chip scope，CS)控制单元，和(d)数字数据存储器150。接收器105可被配置成向CORDIC 144提供原始数字数据样本。接着，CORDIC可被配置成在向数字数据存储器150发送原始数字数据样本之前处理来自接收器105的原始数字数据样本。在一些实施例中，接收器105可被配置成接收启用NFC的装置的RF信号，其中NFC表示近场通信。
图1还示出功能块中的一些可分组在一起以形成接收器(Rx)105。如图1所示，接收器(Rx)105可包括衰减器124、本地振荡器(local oscillator，LO)136、I/Q LO单元(标记为0/90°单元134)、两个混合器(130，132)、两个基带放大器(baseband amplifier，BBA)(120，122)和两个模/数转换器(analog to digital converter，ADC)(140，142)。
虽然未在图1中示出，但是在一些实施例中，接收器(Rx)可包括(a)降频转换器和(b)模/数转换器(analog to digital converter，ADC)。在一些实施例中，接收器可另外包括以下中的一个或多个：(c)增益级，和(d)滤波器。在一些实施例中，增益级可包括(i)衰减器，和(ii)基带放大器(baseband，amplifier BBA)。因此，在一些实施例中，接收器可另外包括以下中的一个或多个：(c)衰减器，(d)基带放大器(baseband amplifier，BBA)，和(e)滤波器。在一些实施例中，降频转换器可包括以下中的一个或多个：(i)混合器，(ii)本地振荡器(local oscillator，LO)，和(iii)I/Q LO单元。在一些实施例中，I/Q LO单元可以是0/90°单元。
虽然未在图1中示出，但是在一些实施例中，芯片镜(CS)可允许信号在衰减器或混合器输入处引入。在一些实施例中，所关注信号还可在ADC、BBA、混合器或衰减器输入处引入(例如，使用混合器或BBA的旁路、mux(或多路复用器)等)。这另外在图6中示出。
因为芯片镜(CS)可以基于现有Rx(接收)路径，所以许多关键性能规范(例如取样率、分辨率、精确度)是从现有RX路径继承的。然而，在(生产)测试条件或调试中，这一性能度量可能并不够。
因此，如果芯片镜(CS)规范是基于现有Rx(接收)路径规范，那么芯片镜(CS)性能可能有基础限制，从而将限制以下目标测试能力：
(a)实现例如小于和等于0.1dB的芯片镜(CS)绝对精确度，使得芯片镜(CS)在生产测试中可以代替外部示波器。(这具有减小测试成本的益处，因为受测试装置(deviceunder test，DUT)现在可以用作“示波器”的替代，从而代替了外部示波器。)
(b)将芯片镜(CS)用于调制信号的样本上升/下降边沿(和过冲/下冲)以评估例如环回或DUT-DUT情况中的波形信号质量。
对于上述使用情况，重要的是改进芯片镜(CS)的精确度和分辨率。因而，本说明书公开设计成基于现有硬件(hardware，HW)设计增强芯片镜(CS)的性能的方法和系统。因此，不需要将硬件(hardware，HW)规范方式推到正常通信使用情况所需要的范围之外。也不需要向芯片镜(CS)施加新的、严格的或昂贵的改变来改进CS绝对增益精确度。举例来说，CS精确度的这一增强可允许CS在生产测试中代替外部示波器测量IC的能力。这将节省下外部示波器的成本，并且大大缩短测试时间，因为在芯片内部进行测试不再需要控制外部测试设备(示波器)、读出测得数据(轨迹)再通过测试台控制器校正数据。
在一些实施例中，为了增强CS的分辨率和精确度，使用原始和校正数据来补偿来自Rx路径中的模拟/RF块的增益/相位错误。图2示出可以如何使用CS控制单元中的额外控制件、校正数据和额外增强存储器来实施这一增强的实施例。
在这方面，图2示出根据本发明的一些实施例的使用校正数据补偿电路变化(在所述装置的不同单元之间出现)的增强芯片集成镜(即，芯片镜(CS))的功能框图。本说明书用“所述装置的不同单元”意指相同芯片镜(CS)装置的不同单元。这是因为每一个制造出的芯片镜(CS)装置的单元都预期因为使用的不同IC管芯、过程变化、制造变化等而具有电路变化。
图2所示的芯片镜(CS)200类似于图1所示的芯片镜(CS)100。例如，芯片镜(CS)200接收Rx(接收器)信号210作为输入，然后传输CS_Data_Out 280作为输出。换句话说，CS 200接收射频(radio frequency，RF)信号(例如，Rx信号210)，然后传出数字数据样本(例如，CS_Data_Out 280)。另外，图2的芯片镜(CS)200包括接收器205、CS控制单元260、CORDIC244和存储器250。此外，接收器205包括衰减器224、两个混合器(230，232)、两个BBA(220，222)、两个ADC(240，242)、LO 236，和I/Q LO单元(标记为0/90°单元234)。
然而，相比于图1的芯片镜(CS)100，图2的芯片镜(CS)200包括这些新的增强特征：(a)CS控制单元260中的额外控制件(265)，(b)存储在校正数据存储器(270)中的校正数据，和(c)应用到存储器250的增强255。
这些增强的功能在于，在CS捕获原始数字数据样本期间，CS控制单元260向衰减器、BBA和混合器请求关于增益相关设置的状态信息。这些增益相关设置用于从校正数据存储器270获取相关功能块的相应补偿(或校正)数据，这些数据又是IC生产测试期间的每部分测量的确切增益数据。此处，状态信息是基于衰减器、BBA和混合器的增益设置。在其它实施例中，状态信息可以基于来自接收器中的功能块的增益、相位和/或非线性设置/错误。此处，相关功能块是衰减器、BBA和混合器。在其它实施例中，其它功能块可以是相关的。在又其它实施例中，如果衰减器、BBA和混合器正从在所述装置内部的源接收信号，那么它们可能不再是相关功能块。此处，所获取的相应补偿(或校正)数据可与“应用到原始数字数据样本以补偿电路变化的校正数据的适当子集”相对应。此处，“每部分测量的”意指针对芯片镜(CS)装置的每一个单元测量的。
校正数据存储器是存储Rx(接收)路径所涉及的相关块的所有补偿(或校正)数据的存储器。对于瞬时校正，选择对应于Rx路径配置的数据集，并将其传递到专用校正寄存器(存储器)作为校正的一部分。此处，在图2中，相关块是衰减器、BBA和混合器。在其它实施例中，其它功能块可以是相关的。在又其它实施例中，如果衰减器、BBA和混合器正从在所述装置内部的源接收信号，那么它们可能不再是相关功能块。此处，对应于Rx路径配置的数据集可与“应用到原始数字数据样本以补偿电路变化的校正数据的适当子集”相对应。此处，专用校正寄存器(存储器)可以是增强存储器255。
在CS捕获期间与数据样本相关的生产测试数据连同(未经补偿)CS原始数据样本一起存储(或，即刻处理为原始数据样本的校正以生成经补偿数据样本)。此处，与数据样本相关的生产测试数据可以是存储在校正数据存储器(270)中的校正数据。此处，(未经补偿)CS原始数据样本可以是“原始数字数据样本”。此处，“处理为原始数据样本的校正以生成经补偿数据样本”可意指“校正数据的适当的子集应用到原始数字数据样本以生成经补偿数字数据样本”。
换句话说，CS控制单元260中的额外控制件(265)可从接收器205接收输入，然后使用所述输入确定应用到原始数字数据样本以补偿电路变化的校正数据的适当子集。在一些实施例中，来自接收器的输入是关于接收器的状态的信息。在一些实施例中，电路变化是由来自接收器中的功能块的增益、相位和/或非线性错误所致。在一些实施例中，接收器的状态可基于来自接收器中的功能块的增益、相位和/或非线性设置/错误。
在图2中，来自接收器205的输入是来自接收器的以下功能块：(i)衰减器224，(ii)混合器(230，232)，和(iii)BBA(220，222)。在一些实施例中，CS控制单元260可从接收器205的以下功能块中的一个或多个接收输入：(i)衰减器224，(ii)混合器(230，232)，(iii)BBA(220，222)，(iv)ADC(240，242)。在一些实施例中，来自接收器的一个或多个功能块的输入是关于接收器的状态的信息。
图2示出应用到存储器250的增强255。在一些实施例中，应用到存储器250的增强255可以是附接到数字数据存储器250上的增强存储器255。在这种情况下，(应用到原始数字数据样本以补偿电路变化的)校正数据的适当子集可与原始数字数据样本一起存储在数字数据存储器中，使得需要后处理步骤来生成经补偿数字数据样本。在一些实施例中，校正数据的适当子集可存储在增强存储器255中，并且原始数字数据样本可存储在数字数据存储器250中。于是，需要后处理步骤来生成经补偿数字数据样本。在一些实施例中，应用到存储器250的增强255可以只是应用到数字数据存储器250的存储器增强255，使得(应用到原始数字数据样本以补偿电路变化的)校正数据的适当子集可与原始数字数据样本一起存储在数字数据存储器中，使得需要后处理步骤来生成经补偿数字数据样本。
如果在CS捕获期间与数据样本相关的生产测试数据和(未经补偿)CS原始数据样本分开存储，那么需要进行后处理步骤来应用补偿。在图3中示出这一情形。
在这方面，图3示出根据本发明的一些实施例的使用校正数据补偿电路变化(在所述装置的不同单元之间出现)的增强芯片集成镜(即，芯片镜(CS))的功能框图，其中补偿处理在芯片集成镜内执行。
图3所示的芯片镜(CS)300类似于图2所示的芯片镜(CS)200。例如，芯片镜(CS)300接收Rx(接收器)信号310作为输入，然后传输CS_Data_Out 380作为输出。另外，图3的芯片镜(CS)300包括接收器305、CS控制单元360、CS控制单元增强365、CORDIC 344、存储器350、增强存储器355，和存储在校正数据存储器(370)中的校正数据。此外，接收器305包括衰减器324、两个混合器(330，332)、两个BBA(320，322)、两个ADC(340，342)、LO 336，和I/QLO单元(标记为0/90°单元334)。
然而，相比于图2的芯片镜(CS)200，图3的芯片镜(CS)300包括这个新的增强特征：(a)校正处理器382。
如前所述，如果在CS捕获期间与数据样本相关的生产测试数据和(未经补偿)CS原始数据样本分开存储，那么需要进行后处理步骤382来应用补偿。
因此，在一些实施例中，校正数据的适当的子集可应用到原始数字数据样本以生成经补偿数字数据样本(CS_Data_Out 380)，其中经补偿数字数据样本(CS_Data_Out 380)接着可直接用作来自所述装置的即时输出，或经补偿数字数据样本可存储在数字数据存储器中以供未来输出。
在一些实施例中，校正数据的适当子集与原始数字数据样本一起存储在数字数据存储器中，使得需要后处理步骤382来生成经补偿数字数据样本。
在一些实施例中，校正数据的适当子集使用以下方法中的一个应用到原始数字数据样本以生成经补偿数字数据样本：(a)硬件，(b)软件，(c)硬件与软件的组合。因此，在一些实施例中，校正处理器382可实施为：(a)硬件(例如，硬件块)，(b)软件(例如，软件算法)，(c)硬件与软件的组合。
在一些实施例中，芯片镜可不执行校正，但是向其中进行后处理的高逻辑层(主机)提供原始数据(例如，原始数字数据样本)和校正数据。
在一些实施例中，芯片镜可将“校正数据”存储为从生产测试存储器复制的原始数据。在一些实施例中，校正数据从以下中的一个或多个生成：(a)模拟数据，(b)特性化数据，(c)生产测试数据。
在一些实施例中，芯片镜可将“校正数据”预处理成单个补偿值，所述单个补偿值随后进行存储或处理。在一些实施例中，校正数据的适当子集中的每一个进行预处理，变成可应用到原始数字数据样本的单个补偿值。
在图4的框图中，可使用添加传感器信息来进行校正/补偿。因为管芯温度对模拟/RF块有影响(偏置、混合器增益、BBA增益和相位)，所以它是进行了解和补偿的有用信息。如图4中所示，例如，可在CS捕获期间使用温度传感器检测管芯温度，所述管芯温度随后用于使用“校正数据”来选择或计算适当补偿。
在这方面，图4示出根据本发明的一些实施例的使用校正数据补偿电路变化(在所述装置的不同单元之间出现)的增强芯片集成镜(即，芯片镜(CS))的功能框图，其中补偿处理在芯片集成镜内执行，并且还使用额外的传感器数据来进行补偿处理。图4中所示的芯片镜(CS)400类似于图3所示的芯片镜(CS)300，除了图4包括这些新的增强特征以外：(a)温度传感器484，和(b)额外传感器486。在其它方面，所有图4组件以类似于它们在图3中对应的对应组件的方式操作和表现。
在一些实施例中，温度传感器检测所述装置的温度，其中所述装置的温度用于确定应用到原始数字数据样本的校正数据的适当子集。
在图5的框图中，可使用额外的触发(即，内部和外部触发)来向CS控制单元发送触发信号。例如，这些额外的触发可提供示波器的触发功能，这对实现清零信号特性化来说很重要，因为它使示波器的水平扫掠同步到信号的适当点。触发控制使得用户能够稳定重复波形并捕获单发波形。另外，这些额外触发能够提供其它功能和益处。
在这方面，图5示出根据本发明的一些实施例的使用校正数据补偿电路变化(在所述装置的不同单元之间出现)的增强芯片集成镜(即，芯片镜(CS))的功能框图，其中补偿处理在芯片集成镜内执行，并且存在触发信号输入。图5所示的芯片镜(CS)500类似于图3所示的芯片镜(CS)300，除了图5包括这些新的增强特征以外：(a)内部触发590，(b)外部触发592，(c)用于在内部和外部触发之间选择作为前往CS控制单元560的输入的mux(或多路复用器)，和(d)系统时钟594。在其它方面，所有图5组件以类似于它们在图3中对应的对应组件的方式操作和表现。
内部触发590是来自在CS装置500内部的源的数据信号。外部触发592是来自在CS装置500外部的源的数据信号。在一些实施例中，触发是基于CS控制单元从以下源中的一个接收的信号：(a)在所述装置外部的源，(b)在所述装置内部的源，(c)在所述装置外部的源和在所述装置内部的源的组合。
在一些实施例中，芯片镜(CS)可允许信号在衰减器或混合器输入处引入。在一些实施例中，所关注信号还可在ADC、BBA、混合器或衰减器输入处引入(例如，使用混合器或BBA的旁路、mux(或多路复用器)等)。这在图6中示出。在图6的框图中，额外的数据信号可在ADC、BBA或混合器输入处引入。(注意：额外的数据信号还可在衰减器输入处引入，但是这在图6中未示出。)
在这方面，图6示出根据本发明的一些实施例的使用校正数据补偿电路变化(在所述装置的不同单元之间出现)的增强芯片集成镜(即，芯片镜(CS))的功能框图，其中补偿处理在芯片集成镜内执行，并且存在来自在芯片内部的源的触发信号输入和信号馈送。图6所示的芯片镜(CS)600类似于图5所示的芯片镜(CS)500，除了图6包括这些新的增强特征以外：(a)来自在芯片内部的源的信号馈送(IN-A 696、IN-B 697、IN-C 698)，和(b)用于在内部和外部信号馈送之间进行选择的mux(或多路复用器)。IN-A 696是通过mux前往混合器的信号馈送。IN-B 697是通过mux前往BBA的信号馈送。IN-C 698是通过mux前往ADC的信号馈送。在其它方面，所有图6组件以类似于它们在图5中对应的对应组件的方式操作和表现。
在一些实施例中，原始数字数据样本是基于接收器从以下源中的一个接收的信号：(a)在所述装置外部的源(例如，Rx信号610)，(b)在所述装置内部的源(例如，IN-A 696、IN-B 697、IN-C 698)，(c)在所述装置外部的源和在所述装置内部的源的组合。在一些实施例中，接收器通过接收器的以下功能块中的一个或多个从在所述装置内部的源接收信号：(a)衰减器，(b)混合器(例如，IN-A696)，(c)BBA(例如，IN-B 697)，(d)ADC(例如，IN-C698)。
在一个实施例中，CS输入数据可来自IC外部源。
在一个实施例中，CS输入数据可来自IC内部源。
在一个实施例中，CS输入数据可馈送到衰减器中。
在一个实施例中，CS输入数据可馈送到混合器中。
在一个实施例中，CS输入数据可馈送到BBA中。
在一个实施例中，CS输入数据可馈送到ADC中。
图7示出根据本发明的一些实施例的通过使用校正数据补偿电路变化(在所述装置的不同单元之间出现)来增强芯片集成镜(即，芯片镜(CS))的精确度和分辨率的方法的过程流程图。如图7所示，方法700开始于步骤710，其中所述方法使用所述装置的接收器接收射频(radio frequency，RF)信号。接着，所述方法前进到步骤720。在步骤720中，所述方法将所述RF信号转换成原始数字数据样本。接下来，在步骤730处，所述方法使用所述装置的芯片镜(chip scope，CS)控制单元从接收器接收输入。最后，在步骤740处，所述方法使用前往CS控制单元的输入确定应用到原始数字数据样本以补偿在接收器的不同单元之间出现的电路变化的校正数据的适当子集。
在本说明书中，已经依据选定的细节集合而呈现例子实施例。然而，本领域的普通技术人员将理解，可以实践包括这些细节的不同选定集合的许多其它例子实施例。希望所附权利要求书涵盖所有可能的例子实施例。
尽管本文中以特定次序展示和描述方法操作，但是每一方法的操作次序可以更改，使得某些操作可以逆序执行，或使得某些操作可以至少部分地与其它操作同时执行。在另一实施例中，可以间断的和/或交替的方式实施不同操作的指令或子操作。
还应注意，可以使用通过计算机执行的存储在计算机可用存储媒体上的软件指令实施所述方法的操作中的至少一些操作。举例来说，计算机程序产品的实施例包括存储计算机可读程序的计算机可用存储媒体，该计算机可读程序当在计算机上执行时使得计算机执行如本文所描述的操作。
计算机可用或计算机可读媒体可为电子、磁性、光学、电磁、红外或半导体系统(或设备或装置)，或传播媒体。计算机可读媒体的例子包括半导体或固态存储器、磁带、抽取式计算机磁盘、随机存取存储器(random access memory，RAM)、只读存储器(read-onlymemory，ROM)、硬磁盘和光盘。光盘的例子包括具有只读存储器的压缩光盘(CD-ROM)、具有读取/写入的压缩光盘(CD-R/W)、数字视频光盘(digital video disc，DVD)，以及蓝光光盘。
可单独地或以任何组合形式使用所描述的实施例的各个方面、实施例、实施方案或特征。所描述的实施例的各个方面可通过软件、硬件或硬件与软件的组合实施。
出于解释的目的，前述描述使用特定命名法来提供对所描述的实施例的透彻理解。然而，本领域技术人员将清楚的是，不需要特定细节来实践所描述的实施例。因此，特定实施例的前述描述是出于说明和描述的目的而呈现的。它们并不希望是穷尽性的或将所描述的实施例限制为所公开的精确形式。本领域的普通技术人员将清楚，鉴于以上教示，许多修改和变化是可能的。

Claims (10)

1.一种用于接收射频(radio frequency，RF)信号并将所述RF信号转换成数字数据样本的装置，其特征在于，所述装置包括：
数字数据存储器；
接收器，所述接收器被配置成向所述数字数据存储器提供原始数字数据样本；
校正数据存储器，其被配置成存储校正数据，其中所述校正数据用于补偿在所述装置的不同单元之间出现的电路变化；
芯片镜(chip scope，CS)控制单元，所述CS控制单元被配置成从所述接收器接收输入，所述CS控制单元进一步被配置成使用所述输入确定应用到所述原始数字数据样本以补偿电路变化的所述校正数据的适当子集。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述原始数字数据样本是RF信号轨迹，其中来自所述接收器的所述输入是关于所述接收器的状态的信息。
3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述电路变化是由来自所述接收器中的功能块的增益、相位和/或非线性错误所致。
4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述接收器被配置成接收启用NFC的装置的所述RF信号，其中NFC表示近场通信。
5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，
所述校正数据的所述适当子集应用到所述原始数字数据样本以生成经补偿数字数据样本，
所述经补偿数字数据样本接着可直接用作来自所述装置的即时输出，或所述经补偿数字数据样本存储在所述数字数据存储器中以供未来输出。
6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，
所述校正数据的所述适当子集与所述原始数字数据样本一起存储在所述数字数据存储器中，使得需要后处理步骤来生成经补偿数字数据样本。
7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述校正数据的所述适当子集中的每一个进行预处理，变成可应用到所述原始数字数据样本的单个补偿值。
8.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，温度传感器检测所述装置的温度，其中所述装置的所述温度用于确定应用到所述原始数字数据样本的所述校正数据的所述适当子集。
9.一种增强装置的芯片集成镜的精确度和分辨率的方法，其特征在于，所述方法包括：
使用所述装置的接收器接收射频(radio frequency，RF)信号；
将所述RF信号转换成原始数字数据样本；
使用所述装置的芯片镜(chip scope，CS)控制单元从所述接收器接收输入，
使用前往所述CS控制单元的所述输入确定应用到所述原始数字数据样本以补偿在所述接收器的不同单元之间出现的电路变化的校正数据的适当子集。
10.一种计算机程序产品，其特征在于，包括在非暂时性计算机可读媒体中编码的可执行指令，所述可执行指令在由系统执行时实行或控制根据权利要求9所述的方法。
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