CN110702685A - 显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统 - Google Patents

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CN110702685A
CN110702685A CN201910902949.3A CN201910902949A CN110702685A CN 110702685 A CN110702685 A CN 110702685A CN 201910902949 A CN201910902949 A CN 201910902949A CN 110702685 A CN110702685 A CN 110702685A
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Abstract

本申请实施例公开了一种显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统，该缺陷检测方法应用于缺陷检测系统，缺陷检测系统包括拍照装置，拍照装置在平行于显示面板表面的检测面上平动，缺陷检测方法包括：获取待拍照点的位置；根据待拍照点的位置确定目标焦距；将拍照装置的焦距调整为目标焦距；将拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测显示面板的缺陷，其中，目标拍照点在显示面板上的投影与待拍照点重合。本申请根据待拍照点的位置直接确定拍照装置的焦距，能够避免在每个待拍照点都自动聚焦，从而降低聚焦时间，提高拍照效率；并且可以在将拍照装置移动至目标拍照点的过程中或之前调整焦距，提高拍照效率。

Description

显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统
技术领域
本申请涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统。
背景技术
目前对显示面板的缺陷检测主要是通过拍照方式进行。拍照大多使用自动调焦方式，在进行拍照时，相机需要先移动至待拍照点的上方，然后进行自动聚焦，聚焦完成后再拍照。若在对多个不同的待拍照点进行拍照时，需要针对每个拍照点重复进行聚焦动作，拍照倍率越高，聚焦时间越长，增加整体聚焦时间，影响设备效率及节拍时间。
也即，现有技术中显示面板的缺陷检测方法存在聚焦时间长、效率不高的问题。
发明内容
本申请实施例提供一种显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统，能够减少聚焦时间，提高检测效率。
为解决上述问题，第一方面，本申请提供一种显示面板的缺陷检测方法，应用于缺陷检测系统，所述缺陷检测系统包括拍照装置，所述拍照装置在平行于所述显示面板表面的检测面上平动，所述缺陷检测方法包括：
获取所述待拍照点的位置；
根据所述待拍照点的位置确定目标焦距；
将所述拍照装置的焦距调整为所述目标焦距；
将所述拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测所述显示面板的缺陷，其中，所述目标拍照点在所述显示面板上的投影与所述待拍照点重合。
其中，所述显示面板的表面被划分为多个区域，所述多个区域对应不同的焦距，所述根据所述待拍照点的位置确定目标焦距，包括：
获取预存的区域和焦距的对应关系；
根据所述待拍照点的位置确定目标区域，其中，所述目标区域为所述待拍照点所处的区域；
根据所述目标区域、所述预存的区域和焦距的对应关系，确定所述目标焦距。
其中，所述获取所述待拍照点的位置，包括：
在所述显示面板的表面建立直角坐标系，所述直角坐标系包括横轴和纵轴；
扫描所述显示面板，以获取所述显示面板上缺陷点的横坐标和纵坐标；
将所述显示面板上缺陷点的横坐标和纵坐标，作为所述待拍照点的横坐标和纵坐标，以确定所述待拍照点的位置。
其中，所述将所述拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，包括：
获取所述拍照装置的当前横坐标和当前纵坐标；
根据所述拍照装置的当前横坐标和当前纵坐标、所述待拍照点的横坐标和纵坐标，得到横轴移动距离和纵轴移动距离；
将所述拍照装置沿所述横轴移动所述横轴移动距离，将所述拍照装置沿所述纵轴移动所述纵轴移动距离。
为解决上述问题，第二方面，本申请提供一种缺陷检测系统，所述缺陷检测系统包括拍照装置和控制器，所述拍照装置在平行于所述显示面板表面的检测面上平动，所述拍照装置用于拍照，所述控制器用于：
获取所述待拍照点的位置；
根据所述待拍照点的位置确定目标焦距；
将所述拍照装置的焦距调整为所述目标焦距；
将所述拍照装置移动至所述目标拍照点进行拍照，以检测所述显示面板的缺陷，其中，所述目标拍照点在所述显示面板上的投影与所述待拍照点重合。
其中，所述控制器具体用于：
获取预存的区域和焦距的对应关系；
根据所述待拍照点的位置确定目标区域，其中，所述目标区域为所述待拍照点所处的区域；
根据所述目标区域、所述预存的区域和焦距的对应关系，确定所述目标焦距。
其中，所述缺陷检测系统还包括扫描装置，所述扫描装置用于：
在所述显示面板的表面建立直角坐标系，所述直角坐标系包括横轴和纵轴；
扫描所述显示面板，以获取所述显示面板上缺陷点的横坐标和纵坐标；
所述控制器具体用于将所述显示面板上缺陷点的横坐标和纵坐标，作为所述待拍照点的横坐标和纵坐标，以确定所述待拍照点的位置。
其中，所述缺陷检测系统还包括第一驱动装置以及第二驱动装置，
所述控制器用于获取所述拍照装置的当前横坐标和当前纵坐标；根据所述拍照装置的当前横坐标和当前纵坐标、所述待拍照点的横坐标和纵坐标，得到横轴移动距离和纵轴移动距离；
所述第一驱动装置用于将所述拍照装置沿所述横轴移动所述横轴移动距离，所述第二驱动装置用于将所述拍照装置沿所述纵轴移动所述纵轴移动距离。
其中，所述缺陷检测系统还包括第一导轨以及第二导轨，
所述第一导轨沿所述横轴延伸，所述第二导轨沿所述纵轴延伸，所述第一导轨与所述第二导轨活动连接，所述拍照装置设置在所述第二导轨上，所述第一驱动装置用于驱动所述第二导轨在所述第一导轨上沿所述横轴滑动，以使所述拍照装置沿所述横轴滑动；
所述拍照装置与所述第二导轨活动连接，所述第二驱动装置用于驱动所述拍照装置在所述第二导轨上沿所述纵轴滑动。
其中，所述缺陷检测系统包括承载平台，所述承载平台用于承载所述显示面板，所述第一导轨的数量为两个，两个所述第一导轨位于所述承载平台的两侧，所述第二导轨的两端分别与所述第一导轨的两端活动连接。
有益效果：本申请实施例提供一种显示面板的缺陷检测方法，应用于缺陷检测系统，缺陷检测系统包括拍照装置，拍照装置在平行于显示面板表面的检测面上平动，缺陷检测方法包括：获取待拍照点的位置；根据待拍照点的位置确定目标焦距；将拍照装置的焦距调整为目标焦距；将拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测显示面板的缺陷，其中，目标拍照点在显示面板上的投影与待拍照点重合。本申请根据待拍照点的位置直接确定拍照装置的焦距，能够避免在每个待拍照点都自动聚焦，从而降低聚焦时间，提高拍照效率；并且可以在将拍照装置移动至目标拍照点的过程中或之前调整焦距，提高拍照效率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供一种缺陷检测系统的一个实施例结构示意图；
图2是图1缺陷检测系统的一个具体实施例结构示意图；
图3是显示面板上的区域划分方式一实施例示意图；
图4是本申请实施例提供一种显示面板的缺陷检测方法的一个实施例流程示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或装置必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
在本申请中，“示例性”一词用来表示“用作例子、例证或说明”。本申请中被描述为“示例性”的任何实施例不一定被解释为比其它实施例更优选或更具优势。为了使本领域任何技术人员能够实现和使用本申请，给出了以下描述。在以下描述中，为了解释的目的而列出了细节。应当明白的是，本领域普通技术人员可以认识到，在不使用这些特定细节的情况下也可以实现本申请。在其它实例中，不会对公知的结构和过程进行详细阐述，以避免不必要的细节使本申请的描述变得晦涩。因此，本申请并非旨在限于所示的实施例，而是与符合本申请所公开的原理和特征的最广范围相一致。
本申请实施例提供一种显示面板的缺陷检测方法，应用于缺陷检测系统，缺陷检测系统包括拍照装置，拍照装置在平行于显示面板表面的检测面上平动，缺陷检测方法包括：获取待拍照点的位置；根据待拍照点的位置确定目标焦距；将拍照装置的焦距调整为目标焦距；将拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测显示面板的缺陷，其中，目标拍照点在显示面板上的投影与待拍照点重合。
本申请实施例还提供一种缺陷检测系统，缺陷检测系统包括拍照装置和控制器，拍照装置在平行于显示面板表面的检测面上平动，拍照装置用于拍照，控制器用于：获取待拍照点的位置；根据待拍照点的位置确定目标焦距；将拍照装置的焦距调整为目标焦距；将拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测显示面板的缺陷，其中，目标拍照点在显示面板上的投影与待拍照点重合。
以下分别进行详细说明。
参阅图1和图2，图1是本申请实施例提供一种缺陷检测系统的一个实施例结构示意图；图2是图1缺陷检测系统的一个具体实施例结构示意图。
结合图1和图2，本申请实施例中，缺陷检测系统10包括控制器11、拍照装置12、扫描装置13、第一驱动装置14以及第二驱动装置15。控制器11与拍照装置12、扫描装置13、第一驱动装置14以及第二驱动装置15耦接，以发送指令或者获取信息。
本申请实施例中，拍照装置12可以为CCD相机和CMOS相机中的任意一种。CCD(Charge coupled Device，电荷耦合元件)，可以称为CCD图像传感器。CCD是一种半导体器件，能够把光学影像转化为数字信号。CCD上有许多排列整齐的电容，能感应光线，并将影像转变成数字信号。经由外部电路的控制，每个小电容能将其所带的电荷转给它相邻的电容。CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor，互补金属氧化物半导体)是指制造大规模集成电路芯片用的一种技术或用这种技术制造出来的芯片，是电脑主板上的一块可读写的芯片。
本申请实施例中，缺陷检测系统10包括承载平台161，承载平台161用于承载显示面板17。进一步的，承载平台161上设有吸附装置，吸附装置吸附显示面板17，以将显示面板17固定在承载平台161上，避免显示面板17移动。
本申请实施例中，缺陷检测系统10包括第一导轨162和第二导轨163，第一导轨162沿横轴X延伸，第二导轨163沿纵轴Y延伸。第一导轨162与第二导轨163活动连接，拍照装置12设置在第二导轨163上。第一驱动装置14用于驱动第二导轨163在第一导轨162上沿横轴滑动，以使拍照装置12沿横轴滑动。拍照装置12与第二导轨163活动连接，第二驱动装置15用于驱动拍照装置12在第二导轨163上沿纵轴滑动。第一驱动装置14为气缸、液压缸以及电机中的任一种，第二驱动装置15为气缸、液压缸以及电机中的任一种，本申请对此不作限定。
进一步的，第一导轨162的数量为两个，两个第一导轨162位于承载平台161的两侧，第二导轨163的两端分别与第一导轨162的两端活动连接。通过两个第一导轨162支撑第二导轨163，能够提高第二导轨163的稳定性，能够避免拍照装置12晃动，提高拍照精度。
本申请实施例中，拍照装置12在平行于显示面板17表面的检测面上平动。也即，拍照装置12整体距离显示面板17的距离不变，拍照装置12只需调整镜头的焦距，无需调节自身底座相对显示面板17的垂直距离，从而避免调焦误差和调节自身底座误差叠加，可以减小整体误差。
本申请实施例中，第二导轨163上的拍照装置12数量可以为2个、3个或者更多个，多个拍照装置12能够同时显示面板17上一条直线的多个待拍照点进行拍照，能够提高检测效率。第二导轨163的数量也可以为2个、3个或者更多个，多个第二导轨163沿横轴X依次排布，多个第二导轨163能够使其上拍照装置12同时对显示面板17的各个区域的多个待拍照点进行拍照，提高检测效率。
本申请实施例中，显示面板17的表面被划分为多个区域，多个区域对应不同的焦距。在一个具体的实施例中，预先对样品显示面板各个区域对应的焦距进行测试，得到样品显示面板的区域和焦距的对应关系，将样品显示面板的区域和焦距的对应关系确定为预存的区域和焦距的对应关系。预存的区域和焦距的对应关系可以应用于与样品显示面板同一批次或同型号的显示面板17中。区域的大小、形状以及排布方式可以根据具体情况设置，例如，区域形状可以为三角形、矩形以及四边形等形状，多个区域以阵列的方式排布。本申请对此不作限定。
参阅图3，图3是显示面板上的区域划分方式一实施例示意图。如图3所示，在一个具体的实施方式中，显示面板17被划分为9个区域，预存的区域和焦距的对应关系如表1所示。
表1：
Figure BDA0002212376390000071
在一个具体的实施例中，随机选取区域中的一个待拍照点，对待拍照点以不同焦距进行拍照，将最清晰的图片所对应的焦距确定为区域对应的焦距。在另一个具体的实施例中，随机选取区域中多个待拍照点，分别对多个待拍照点进行拍照，获取各个待拍照点的最优焦距，将各个待拍照点的最优焦距的平均值确定为区域对应的焦距。
为了具体说明本申请实施例中显示面板17的缺陷检测方法，进一步参阅图4，图4是本申请实施例提供一种显示面板的缺陷检测方法的一个实施例流程示意图。本申请实施例中显示面板17的缺陷检测方法可以包括以下步骤：
401：获取待拍照点的位置。
本申请实施例中，待拍照点的位置可以是待拍照点在直角坐标系中的横坐标和纵坐标，也可以是待拍照点在极坐标系中的极坐标，根据具体情况选用即可，本申请对此不作限定。
在一个具体的实施例中，扫描装置13扫描显示面板17，在显示面板17的表面建立直角坐标系，直角坐标系包括横轴X和纵轴Y。扫描装置13扫描显示面板17，以获取显示面板17上缺陷点的横坐标和纵坐标。例如，扫描装置13扫描显示面板17，标记出显示面板17上的缺陷点位置，并根据坐标系确定获取显示面板17上缺陷点的横坐标和纵坐标。扫描装置13将显示面板17上缺陷点的横坐标和纵坐标发送至控制器11。控制器11接收显示面板17上缺陷点的横坐标和纵坐标，将显示面板17上缺陷点的横坐标和纵坐标，作为待拍照点的横坐标和纵坐标，以确定待拍照点的位置。
402：根据待拍照点的位置确定目标焦距。
在一个具体的实施例中，控制器11获取预存的区域和焦距的对应关系。例如，控制器11读取存储器中存储的数据，获取预存的区域和焦距的对应关系。根据待拍照点的位置确定目标区域，其中，目标区域为待拍照点所处的区域。根据目标区域、预存的区域和焦距的对应关系，确定目标焦距。将待拍照点所处目标区域的焦距确定目标焦距，能够能够加快目标焦距的确认速度，提高聚焦速度。当然在其他实施例中，也可以根据位置坐标点与焦距的对应关系确定焦距，本申请对此不作限定。
例如，预存的区域和焦距的对应关系为表1所示的对应关系。获取到待拍照点A的横坐标为0.8，纵坐标为1.9。待拍照点A位于区域M4中，判定区域M4为目标区域，区域M4对应的焦距为58mm。则根据目标区域、预存的区域和焦距的对应关系，确定目标焦距为58mm。
403：将拍照装置的焦距调整为目标焦距。
在一个具体的实施例中，控制器11向拍照装置12发送目标焦距，拍照装置12将自身的焦距调整为目标焦距。例如，拍照装置12将自身的焦距调整为58mm。本申请根据待拍照点的位置直接确定拍照装置12的焦距，能够避免在每个待拍照点都自动聚焦，从而降低聚焦时间，提高拍照效率。
404：将拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测显示面板的缺陷，其中，目标拍照点在显示面板上的投影与待拍照点重合。
在一个具体的实施例中，控制器11获取拍照装置12的当前横坐标和当前纵坐标。控制器11可以通过扫描装置13获取拍照装置12的当前横坐标和当前纵坐标，也可以通过扫拍照装置12上设置的传感器获取拍照装置12的当前横坐标和当前纵坐标，本申请对此不作限定。控制器11根据拍照装置12的当前横坐标和当前纵坐标、待拍照点的横坐标和纵坐标，得到横轴移动距离和纵轴移动距离。例如，拍照装置12的当前位置在显示面板17上的投影为原点0，待拍照点A的横坐标为0.8，纵坐标为1.9。则可得到，横轴移动距离为0.8，纵轴移动距离为1.9。拍照装置12对待拍照点A拍照完毕后，拍照装置12的横坐标为0.8，纵坐标为1.9；下一个待拍照点B的横坐标为2.4，纵坐标为1.9。则可得到，横轴移动距离为1.6，纵轴移动距离为0。
在控制器11得到横轴移动距离和纵轴移动距离之后。控制器11向第一驱动装置14和第二驱动装置15分别发送横轴移动距离和纵轴移动距离。第一驱动装置14接收横轴移动距离，将拍照装置12沿横轴移动横轴移动距离；第二驱动装置15接收纵轴移动距离，将拍照装置12沿纵轴移动纵轴移动距离。例如，横轴移动距离为0.8，纵轴移动距离为1.9，将拍照装置12沿横轴移动0.8的距离，将拍照装置12沿横轴移动1.9的距离。
需要说明的是，步骤403可以和步骤404同时进行，也可以在步骤404之前进行，可以在将拍照装置移动至目标拍照点的过程中或之前调整焦距，提高拍照效率。
区别于现有技术，本申请实施例提供一种显示面板的缺陷检测方法，应用于缺陷检测系统，缺陷检测系统包括拍照装置，拍照装置在平行于显示面板表面的检测面上平动，缺陷检测方法包括：获取待拍照点的位置；根据待拍照点的位置确定目标焦距；将拍照装置的焦距调整为目标焦距；将拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测显示面板的缺陷，其中，目标拍照点在显示面板上的投影与待拍照点重合。本申请根据待拍照点的位置直接确定拍照装置的焦距，能够避免在每个待拍照点都自动聚焦，从而降低聚焦时间，提高拍照效率；并且可以在将拍照装置移动至目标拍照点的过程中或之前调整焦距，提高拍照效率。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见上文针对其他实施例的详细描述，此处不再赘述。
具体实施时，以上各个单元或结构可以作为独立的实体来实现，也可以进行任意组合，作为同一或若干个实体来实现，以上各个单元或结构的具体实施可参见前面的方法实施例，在此不再赘述。
以上各个操作的具体实施可参见前面的实施例，在此不再赘述。
以上对本申请实施例所提供的一种显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (10)

1.一种显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，应用于缺陷检测系统，所述缺陷检测系统包括拍照装置，所述拍照装置在平行于所述显示面板表面的检测面上平动，所述缺陷检测方法包括：
获取所述待拍照点的位置；
根据所述待拍照点的位置确定目标焦距；
将所述拍照装置的焦距调整为所述目标焦距；
将所述拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测所述显示面板的缺陷，其中，所述目标拍照点在所述显示面板上的投影与所述待拍照点重合。
2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述显示面板的表面被划分为多个区域，所述多个区域对应不同的焦距，所述根据所述待拍照点的位置确定目标焦距，包括：
获取预存的区域和焦距的对应关系；
根据所述待拍照点的位置确定目标区域，其中，所述目标区域为所述待拍照点所处的区域；
根据所述目标区域、所述预存的区域和焦距的对应关系，确定所述目标焦距。
3.根据权利要求1或2所述的缺陷检测方法，其特征在于，
所述获取所述待拍照点的位置，包括：
在所述显示面板的表面建立直角坐标系，所述直角坐标系包括横轴和纵轴；
扫描所述显示面板，以获取所述显示面板上缺陷点的横坐标和纵坐标；
将所述显示面板上缺陷点的横坐标和纵坐标，作为所述待拍照点的横坐标和纵坐标，以确定所述待拍照点的位置。
4.根据权利要求3所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述将所述拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，包括：
获取所述拍照装置的当前横坐标和当前纵坐标；
根据所述拍照装置的当前横坐标和当前纵坐标、所述待拍照点的横坐标和纵坐标，得到横轴移动距离和纵轴移动距离；
将所述拍照装置沿所述横轴移动所述横轴移动距离，将所述拍照装置沿所述纵轴移动所述纵轴移动距离。
5.一种缺陷检测系统，其特征在于，所述缺陷检测系统包括拍照装置和控制器，所述拍照装置在平行于所述显示面板表面的检测面上平动，所述拍照装置用于拍照，所述控制器用于：
获取所述待拍照点的位置；
根据所述待拍照点的位置确定目标焦距；
将所述拍照装置的焦距调整为所述目标焦距；
将所述拍照装置移动至所述目标拍照点进行拍照，以检测所述显示面板的缺陷，其中，所述目标拍照点在所述显示面板上的投影与所述待拍照点重合。
6.根据权利要求5所述的缺陷检测系统，其特征在于，所述控制器具体用于：
获取预存的区域和焦距的对应关系；
根据所述待拍照点的位置确定目标区域，其中，所述目标区域为所述待拍照点所处的区域；
根据所述目标区域、所述预存的区域和焦距的对应关系，确定所述目标焦距。
7.根据权利要求6所述的缺陷检测系统，其特征在于，所述缺陷检测系统还包括扫描装置，所述扫描装置用于：
在所述显示面板的表面建立直角坐标系，所述直角坐标系包括横轴和纵轴；
扫描所述显示面板，以获取所述显示面板上缺陷点的横坐标和纵坐标；
所述控制器具体用于将所述显示面板上缺陷点的横坐标和纵坐标，作为所述待拍照点的横坐标和纵坐标，以确定所述待拍照点的位置。
8.根据权利要求7所述的缺陷检测系统，其特征在于，所述缺陷检测系统还包括第一驱动装置以及第二驱动装置，
所述控制器用于获取所述拍照装置的当前横坐标和当前纵坐标；根据所述拍照装置的当前横坐标和当前纵坐标、所述待拍照点的横坐标和纵坐标，得到横轴移动距离和纵轴移动距离；
所述第一驱动装置用于将所述拍照装置沿所述横轴移动所述横轴移动距离，所述第二驱动装置用于将所述拍照装置沿所述纵轴移动所述纵轴移动距离。
9.根据权利要求8所述的缺陷检测系统，其特征在于，所述缺陷检测系统还包括第一导轨以及第二导轨，
所述第一导轨沿所述横轴延伸，所述第二导轨沿所述纵轴延伸，所述第一导轨与所述第二导轨活动连接，所述拍照装置设置在所述第二导轨上，所述第一驱动装置用于驱动所述第二导轨在所述第一导轨上沿所述横轴滑动，以使所述拍照装置沿所述横轴滑动；
所述拍照装置与所述第二导轨活动连接，所述第二驱动装置用于驱动所述拍照装置在所述第二导轨上沿所述纵轴滑动。
10.根据权利要求9所述的缺陷检测系统，其特征在于，所述缺陷检测系统包括承载平台，所述承载平台用于承载所述显示面板，所述第一导轨的数量为两个，两个所述第一导轨位于所述承载平台的两侧，所述第二导轨的两端分别与所述第一导轨的两端活动连接。
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