CN110673333A - 一种能实时修正振幅的投影振镜及其修正振幅的方法 - Google Patents
一种能实时修正振幅的投影振镜及其修正振幅的方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN110673333A CN110673333A CN201910819297.7A CN201910819297A CN110673333A CN 110673333 A CN110673333 A CN 110673333A CN 201910819297 A CN201910819297 A CN 201910819297A CN 110673333 A CN110673333 A CN 110673333A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- hall sensor
- galvanometer
- amplitude
- subminiature
- permanent magnet
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 11
- 230000006698 induction Effects 0.000 claims abstract description 4
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims abstract description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims 2
- BGPVFRJUHWVFKM-UHFFFAOYSA-N N1=C2C=CC=CC2=[N+]([O-])C1(CC1)CCC21N=C1C=CC=CC1=[N+]2[O-] Chemical compound N1=C2C=CC=CC2=[N+]([O-])C1(CC1)CCC21N=C1C=CC=CC1=[N+]2[O-] BGPVFRJUHWVFKM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/0816—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements
- G02B26/0833—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD
- G02B26/085—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD the reflecting means being moved or deformed by electromagnetic means
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B21/00—Projectors or projection-type viewers; Accessories therefor
- G03B21/14—Details
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
- G05D19/00—Control of mechanical oscillations, e.g. of amplitude, of frequency, of phase
- G05D19/02—Control of mechanical oscillations, e.g. of amplitude, of frequency, of phase characterised by the use of electric means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Transforming Electric Information Into Light Information (AREA)
Abstract
本发明公开了一种能实时修正振幅的投影振镜及其修正振幅的方法,其技术方案的要点是通过在振镜片上粘接超小型永磁铁,在电路板上集成霍尔传感器,且霍尔传感器设在超小型永磁铁的正下方,当振镜片振动时,其上的超小型永磁铁到霍尔传感器的距离会发生变化,对应穿过霍尔传感器的磁场强度会发生变化,超小型永磁铁到霍尔传感器距离越远,对应的霍尔传感器接收到的磁场强度就越弱,霍尔传感器工作中随磁感应强度的变化而输出线性变化的电压,输出至主控CPU的模拟数字转换器端口,通过计算电压的变化,可以实时换算成振镜片的振动幅度变化,再调整输入线圈的电压值,构成输入‑检测‑反馈的实时闭环系统,达到精确修正振镜片振幅的目的。
Description
【技术领域】
本发明涉及一种能实时修正振幅的投影振镜及其修正振幅的方法。
【背景技术】
目前DLP(数字光处理技术)投影的DMD(数字微镜器件)成本很高,所以民用级的投影DMD(数字微镜器件)都会采用振镜的方式,用低成本的简单方法扩大像素,如从DMD原始的1920X1080,通过振镜扩展到3840X2160的4K级别,目前民用的4K激光投影都是采用振镜这个方法。
TI(德州仪器公司)借助于TRP(倾斜滚动像素)技术,以FHD DMD(1920x1080数字微镜器件)为基础,加入一光学组件振镜的牵动,依Frame time(帧时间)将光点做半个像素的移动,以四个为一周期,因此投影在银幕上的视觉效果就如同4K×2K的分辨率。
目前的投影振镜,由于是线圈磁场驱动,存在振动幅度不够稳定的问题,影响投影画质亮度和清晰度。造成振幅不稳定的原因主要有:
1、生产时线圈个体差异造成磁场强度不同,弹片的力度个体差异。
2、温度变高或者变低,会改变振动结构金属的弹性,会影响振动幅度。
虽然目前有的高端振镜集成了温度传感器,通过补偿曲线校正了一些温度变化引起的振幅变化,但是由于这种温度补偿方法不能实时监测振镜片的振幅变化,无法做到闭环负反馈的控制,效果也不是很好。
本发明就是基于这种情况作出的。
【发明内容】
本发明的目的是为了解决振镜振幅稳定性差的问题,提供一种改善振镜的振动幅度波形的投影振镜及其修正振镜片振幅的方法。
本发明是通过以下技术方案实现的:
一种能实时修正振幅的投影振镜,其特征在于:包括有振镜片1,在所述振镜片1下表面粘接有超小型永磁铁4,在振镜片1的下方设有电路板3,在电路板3的上表面设有用于接收磁场的霍尔传感器5。
如上所述能实时修正振幅的投影振镜,其特征在于:所述霍尔传感器5为集成在所述电路板3上的小体积封装的线性输出型霍尔传感器。
如上所述能实时修正振幅的投影振镜,其特征在于:所述霍尔传感器5设在超小型永磁铁4的正下方。
如上所述能实时修正振幅的投影振镜,其特征在于:所述霍尔传感器5与所述超小型永磁铁4的间距不小于所述振镜片1的最大振幅。
如上所述能实时修正振幅的投影振镜,其特征在于:还包括有底座6,所述振镜片1设在底座6上,在底座6的四周还分别设有线圈2。
一种投影振镜实时修正振幅的方法,其特征在于:通过在振镜片1上粘接超小型永磁铁4,在电路板3上集成霍尔传感器5,且霍尔传感器5设在超小型永磁铁4的正下方,当振镜片1振动时,其上的超小型永磁铁4到霍尔传感器5的距离会发生变化,对应穿过霍尔传感器5的磁场强度会发生变化,超小型永磁铁4到霍尔传感器5距离越远,对应的霍尔传感器5接收到的磁场强度就越弱,霍尔传感器5工作中随磁感应强度的变化而输出线性变化的电压,输出至主控CPU的模拟数字转换器端口,通过计算电压的变化,可以实时换算成振镜片1的振动幅度变化,再调整输入线圈2的电压值,构成输入-检测-反馈的实时闭环系统,达到精确修正振镜片1振幅的目的。
与现有技术相比,本发明有如下优点:
1、本发明通过振镜片上粘接超小型永磁铁,在电路板上集成低成本、采用表面贴装三引脚的小体积(SOT-23)封装的的霍尔传感器元件,构成闭环系统,就可以达到精确控制振镜振幅、提高投影显示画质的目的。
【附图说明】
图1是本发明的结构示意图1;
图2是本发明的结构示意图2;
图3是本发明投影振镜的立体图;
图4是本发明投影振镜的爆炸图;
图5是本发明平面图;
图6是图5中A-A方向的剖视图;
图中:1为振镜片;2为线圈;3为电路板;4为超小型永磁铁;5为霍尔传感器;6为底座。
【具体实施方式】
下面结合附图对本发明技术特征作进一步详细说明以便于所述领域技术人员能够理解。
一种能实时修正振幅的投影振镜,如图1至图6所示,包括有振镜片1,在所述振镜片1下表面粘接有超小型永磁铁4,在振镜片1的下方设有电路板3,在电路板3的上表面设有用于接收磁场的霍尔传感器5。
如上所述能实时修正振幅的投影振镜,该投影振镜还包括有底座6,所述振镜片1设在底座6上,在底座6的四周还分别设有线圈2,即共有四个线圈2。
进一步地,所述霍尔传感器5为集成在所述电路板3上的小体积封装(SOT-23)的线性输出型霍尔传感器。
如图2所示,所述霍尔传感器5设在超小型永磁铁4的正下方;所述霍尔传感器5与所述超小型永磁铁4的间距不小于所述振镜片1的最大振幅。
图1是振镜片1下面安装超小型用磁铁4的位置示意图,理论上,超小型用磁铁4的位置可以安装在不影响四个线圈2位置的非工作图像区域(图1中间长方形)任意四周位置。
本发明还请求保护一种投影振镜实时修正振幅的方法,通过在振镜片1上粘接超小型永磁铁4,在电路板3上集成霍尔传感器5,且霍尔传感器5设在超小型永磁铁4的正下方,当振镜片1振动时,其上的超小型永磁铁4到霍尔传感器5的距离会发生变化,对应穿过霍尔传感器5的磁场强度会发生变化,超小型永磁铁4到霍尔传感器5距离越远,对应的霍尔传感器5接收到的磁场强度就会越弱,反之超小型永磁铁4到霍尔传感器5距离越近,对应的霍尔传感器5接收到的磁场强度就会越强。
根据霍尔传感器接收到的磁场强度和距离成线性的特性,可以间接计算输出振镜片振幅的实时幅度值。
振镜片的振幅L=(T﹡K)+P,公式中,L代表振镜的振幅,T代表霍尔传感器接收到的磁场强度ADC后的数值,K是系数由实际测量计算得到,P是因为非线性和温度漂移造成误差的修正系数。
霍尔传感器5工作中随着磁感应强度的变化而输出线性变化的电压,输出至主控CPU的模拟数字转换器端口,投影主机主控CPU实时接收霍尔传感器5的输出线性电压,经过ADC(模拟数字转换器)变换,根据上面公式就可以计算得出振镜片1的振幅,就可进一步得到振镜片1振幅变化的实时数值曲线;再向线圈2输出经过计算修正后的控制电压,就可以达到闭环负反馈精确控制振镜片1振幅的目的。
本发明所述的实施例仅仅是对本发明的优选实施方式进行的描述,并非对发明构思和范围进行限定,在不脱离本发明设计思想的前提下,本领域中工程技术人员对本发明的技术方案作出的各种变型和改进,均应落入本发明的保护范围。
Claims (6)
1.一种能实时修正振幅的投影振镜,其特征在于:包括有振镜片(1),在所述振镜片(1)下表面粘接有超小型永磁铁(4),在振镜片(1)的下方设有电路板(3),在电路板(3)的上表面设有用于接收磁场的霍尔传感器(5)。
2.根据权利要求1所述能实时修正振幅的投影振镜,其特征在于:所述霍尔传感器(5)为集成在所述电路板(3)上的小体积封装的线性输出型霍尔传感器。
3.根据权利要求2所述能实时修正振幅的投影振镜,其特征在于:所述霍尔传感器(5)设在超小型永磁铁(4)的正下方。
4.根据权利要求3所述能实时修正振幅的投影振镜,其特征在于:所述霍尔传感器(5)与所述超小型永磁铁(4)的间距不小于所述振镜片(1)的最大振幅。
5.根据权利要求1至4任一项所述能实时修正振幅的投影振镜,其特征在于:还包括有底座(6),所述振镜片(1)设在底座(6)上,在底座(6)的四周还分别设有线圈(2)。
6.一种投影振镜实时修正振幅的方法,其特征在于:通过在振镜片(1)上粘接超小型永磁铁(4),在电路板(3)上集成霍尔传感器(5),且霍尔传感器(5)设在超小型永磁铁(4)的正下方,当振镜片(1)振动时,其上的超小型永磁铁(4)到霍尔传感器(5)的距离会发生变化,对应穿过霍尔传感器(5)的磁场强度会发生变化,超小型永磁铁(4)到霍尔传感器(5)距离越远,对应的霍尔传感器(5)接收到的磁场强度就越弱,霍尔传感器(5)工作中随磁感应强度的变化而输出线性变化的电压,输出至主控CPU的模拟数字转换器端口,通过计算电压的变化,可以实时换算成振镜片(1)的振动幅度变化,再调整输入线圈(2)的电压值,构成输入-检测-反馈的实时闭环系统,达到精确修正振镜片(1)振幅的目的。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910819297.7A CN110673333A (zh) | 2019-08-31 | 2019-08-31 | 一种能实时修正振幅的投影振镜及其修正振幅的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910819297.7A CN110673333A (zh) | 2019-08-31 | 2019-08-31 | 一种能实时修正振幅的投影振镜及其修正振幅的方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN110673333A true CN110673333A (zh) | 2020-01-10 |
Family
ID=69076100
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201910819297.7A Pending CN110673333A (zh) | 2019-08-31 | 2019-08-31 | 一种能实时修正振幅的投影振镜及其修正振幅的方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN110673333A (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112612171A (zh) * | 2020-12-25 | 2021-04-06 | 成都极米科技股份有限公司 | 一种投影仪及与其配合使用的振镜组件 |
CN115314686A (zh) * | 2021-05-07 | 2022-11-08 | 成都极米科技股份有限公司 | 振镜控制电路、光机系统、投影仪、振镜控制方法及装置 |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20020060830A1 (en) * | 2000-11-20 | 2002-05-23 | Olympus Optical Co. Ltd. | Optical deflector |
CN1940465A (zh) * | 2005-09-30 | 2007-04-04 | 中国科学院沈阳自动化研究所 | 一种被磁化物体位移检测方法及位移传感器 |
CN101082697A (zh) * | 2006-05-30 | 2007-12-05 | 佳能株式会社 | 光偏转器及使用光偏转器的光学仪器 |
CN101122683A (zh) * | 2006-08-09 | 2008-02-13 | 精工爱普生株式会社 | 光学设备、光扫描器及图像形成装置 |
KR20080106740A (ko) * | 2007-06-04 | 2008-12-09 | 삼성전기주식회사 | 레이저빔 주사 장치 |
US20140132091A1 (en) * | 2012-11-15 | 2014-05-15 | Kabushiki Kaisha Toyota Chuo Kenkyusho | Mems device |
CN104570332A (zh) * | 2013-10-14 | 2015-04-29 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | Mems扫描振镜的磁场系统 |
JP2015106125A (ja) * | 2013-12-02 | 2015-06-08 | 厦▲門▼新▲鴻▼洲精密科技有限公司Xinhongzhou Precision Technology Co,.Ltd | 手振れ補正装置 |
US20180252816A1 (en) * | 2017-03-06 | 2018-09-06 | Funai Electric Co., Ltd. | Reflecting device |
CN210835429U (zh) * | 2019-08-31 | 2020-06-23 | 广东联大光电有限公司 | 一种能实时修正振幅的投影振镜 |
-
2019
- 2019-08-31 CN CN201910819297.7A patent/CN110673333A/zh active Pending
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20020060830A1 (en) * | 2000-11-20 | 2002-05-23 | Olympus Optical Co. Ltd. | Optical deflector |
CN1940465A (zh) * | 2005-09-30 | 2007-04-04 | 中国科学院沈阳自动化研究所 | 一种被磁化物体位移检测方法及位移传感器 |
CN101082697A (zh) * | 2006-05-30 | 2007-12-05 | 佳能株式会社 | 光偏转器及使用光偏转器的光学仪器 |
CN101122683A (zh) * | 2006-08-09 | 2008-02-13 | 精工爱普生株式会社 | 光学设备、光扫描器及图像形成装置 |
KR20080106740A (ko) * | 2007-06-04 | 2008-12-09 | 삼성전기주식회사 | 레이저빔 주사 장치 |
US20140132091A1 (en) * | 2012-11-15 | 2014-05-15 | Kabushiki Kaisha Toyota Chuo Kenkyusho | Mems device |
CN104570332A (zh) * | 2013-10-14 | 2015-04-29 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | Mems扫描振镜的磁场系统 |
JP2015106125A (ja) * | 2013-12-02 | 2015-06-08 | 厦▲門▼新▲鴻▼洲精密科技有限公司Xinhongzhou Precision Technology Co,.Ltd | 手振れ補正装置 |
US20180252816A1 (en) * | 2017-03-06 | 2018-09-06 | Funai Electric Co., Ltd. | Reflecting device |
CN210835429U (zh) * | 2019-08-31 | 2020-06-23 | 广东联大光电有限公司 | 一种能实时修正振幅的投影振镜 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
崔葛瑾;张中炜;: "振动测量中霍尔位置传感器特性自标定", 上海海事大学学报, no. 03, 15 September 2007 (2007-09-15) * |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112612171A (zh) * | 2020-12-25 | 2021-04-06 | 成都极米科技股份有限公司 | 一种投影仪及与其配合使用的振镜组件 |
CN112612171B (zh) * | 2020-12-25 | 2022-04-12 | 成都极米科技股份有限公司 | 一种投影仪及与其配合使用的振镜组件 |
CN115314686A (zh) * | 2021-05-07 | 2022-11-08 | 成都极米科技股份有限公司 | 振镜控制电路、光机系统、投影仪、振镜控制方法及装置 |
CN115314686B (zh) * | 2021-05-07 | 2023-06-16 | 成都极米科技股份有限公司 | 振镜控制电路、光机系统、投影仪、振镜控制方法及装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN210835429U (zh) | 一种能实时修正振幅的投影振镜 | |
CN111190280B (zh) | 光路移位设备、图像显示装置及光路移位设备的控制方法 | |
JP7052784B2 (ja) | 光学デバイス、プロジェクター、及び光学デバイスの制御方法 | |
TWI477879B (zh) | 雷射投影機 | |
US7059523B1 (en) | Scan line alignment in raster pattern | |
JP6515631B2 (ja) | 画像表示装置、及び調整用デバイス | |
CN111190281B (zh) | 光路移位设备以及图像显示装置 | |
KR100703073B1 (ko) | 틸팅부재와 이를 갖는 틸팅 엑츄에이터 | |
CN110673333A (zh) | 一种能实时修正振幅的投影振镜及其修正振幅的方法 | |
JPWO2015098120A1 (ja) | 光学部材駆動装置及び投写型映像表示装置 | |
US9075246B2 (en) | Image display device having laser light scanning with a variation in scanning speed | |
JP2010117533A (ja) | 拡散板駆動装置及び投射型画像表示装置 | |
JP6287808B2 (ja) | 画像表示装置及び画像補正方法 | |
JP2019053128A (ja) | 表示装置、及び表示装置の制御方法 | |
US20070278311A1 (en) | Monitoring scan mirror motion in laser scanning arrangements | |
JP2008015452A (ja) | 光学素子振動装置 | |
US9983405B2 (en) | Optical device and image display apparatus | |
US9575397B2 (en) | Optical member driving device and projection image display apparatus | |
CN211956088U (zh) | 一种可提高投影仪投影显示分辨率的模组 | |
JP2020190672A (ja) | 光学デバイス、光学デバイスの制御方法、および画像表示装置 | |
CN114518683B (zh) | 光学器件的驱动方法、光学系统以及显示装置 | |
JP2018009895A (ja) | 位置検出装置、位置検出方法、画像生成ユニット及び画像投影装置 | |
US11683457B2 (en) | Optical device and image display device | |
JP2012145754A (ja) | 画像表示装置 | |
CN110133948A (zh) | 一种可提高投影仪投影显示分辨率的模组 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination |