CN110568336B - 一种接口装置及设有该接口装置的测试设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种接口装置，包括：内圈部；外圈部，环绕设于所述内圈部外部；连接器组件，其包括多组相配合并电连的连接器A和连接器B；其中，所述连接器B设于所述内圈部上，所述连接器A设于所述内圈部的下方。本发明能提高维护工作的效率，降低劳动强度和维护成本，保证维护工作的安全性，进而降低物料成本和生产成本。

Description

一种接口装置及设有该接口装置的测试设备

技术领域

本发明涉及自动化测试技术领域，更具体地，涉及一种用于自动测试系统的接口装置及设有该接口装置的测试设备。

背景技术

通常，半导体器件需要在其制造过程中以及出厂之前进行测试品质管理。这样的测试，是将被测试器件临时安装在半导体测试设备上，通过半导体测试设备上设置的信号处理模块与被测试器件之间输入输出测试信号来执行测试。

按照惯例，作为用于对半导体集成电路的电子器件进行测试的半导体测试设备，其用于处理信号的信号处理模块收容在测试头中，且将用于性能板(其用于可移除地安装被测试电子器件)与信号处理模块进行电气连接的接口板设置在性能板与测试头之间，例如日本专利公开案第2004-108898号中所揭示的半导体测试设备。

在上述的半导体测试设备中，一方面，随着SoC(System on Chip)、SIP(System inPackage)、系统LSI(Large-Scale Integrated circuit)等被测试器件越来越复杂的功能和测试需求，其输入输出端子数也越来越多；另一方面，半导体测试设备中可能包括各种被处理信号的不同频带和强度的信号处理模块，如用于分别处理频率或功率互不相同的测试信号的多种类型的信号处理模块，此时，设置于接口板中的连接器需要选用适合各种测试信号的规格，即，用于连接测试设备和性能板的信号媒介以及连接机构的种类也是多种多样。

因此，上述的半导体测试设备，在被测试器件的类型不同时，需要重新准备整个接口板，这就增加了时间成本和物料成本，同时降低了半导体测试设备的工作效率。

授权号为CN200610083517.7的中国发明专利提出了一种通过将测试信号输入到电子器件以及从电子器件输出测试信号来对电子器件进行测试的半导体测试装置，其半导体测试装置包括：测试头体，其具有用于处理测试信号的信号模块；多个连接电缆，其一端与信号模块电气地连接且其另一端具有连接器插脚；多种类型的连接器外壳，用于固持多个连接器插脚；接口板，其具有设置在测试头体的一个面上的板体，和分别可移除地附接到板体的多个连接器区块，每个连接器区块容纳多种类型中的任一种类型的多个连接器外壳；和性能板，用于可移除地固持电子器件，且用于通过附接到接口板来将多个连接器插脚电气地连接到电子器件。此发明专利提出的方案主要是将接口板上安装连接器的部分做成可拆除模块，并没有解决整个连接器组件方便拆除或更换的问题，尤其是对于通过导线连接信号处理模块和接口板的连接器组件。

被测试器件有时被统称为DUT(Device Under Test)，有时称半导体测试设备为自动测试设备或者ATE(Automatic Test Equipment)；性能板(performance board)又被叫做负载板、电路板；接口板(interface plate)有时也被叫做HIFIX(高度定位装置)、测试头底板(test head chassis)、测试套件(test fixture)或者顶板(top plate)等。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术存在的上述缺陷，提供一种接口装置及设有该接口装置的测试设备，用于解决现有技术中接口装置连接器组件维护工作量大、维护效率低的问题。

为实现上述目的，本发明的技术方案如下：

一种接口装置，包括：

内圈部；

外圈部，环绕设于所述内圈部外部；

连接器组件，其包括多组相配合并电连的连接器A和连接器B；其中，所述连接器B设于所述内圈部上，所述连接器A设于所述内圈部的下方。

进一步地，还包括：安装板，固定设于所述内圈部的下方；所述连接器A设于所述安装板上。

进一步地，所述内圈部设有上下贯通的连接器安装部，所述连接器B平铺设于所述连接器安装部的上表面上，并通过穿设于所述连接器安装部中的线缆连接对应设于下方的所述连接器A。

进一步地，所述内圈部为具有中空部的环形或框形结构，所述内圈部上环绕其中空部设有多个所述连接器安装部，所述连接器B分设于各所述连接器安装部上，并通过穿设于对应所述连接器安装部中的线缆连接所述连接器A。

进一步地，所述内圈部的外周设有外圈对接部，所述外圈部的内周设有内圈对接部，所述内圈部和所述外圈部之间通过所述外圈对接部与所述内圈对接部之间的配合组装在一起。

进一步地，所述外圈对接部包括设于所述内圈部外周上的凸缘，以及设于所述凸缘上的销部，所述外圈部的内周套设于所述凸缘上，并设有与所述销部相配合的卡口部。

一种测试设备，设有任一上述的接口装置，所述连接器A与所述测试设备上的信号处理模块对接，所述连接器B与所述测试设备上的性能板对接。

进一步地，所述外圈部通过其外周与所述测试设备相固定，所述测试设备设有限位对接部，所述内圈部的下表面上设有内圈限位部，所述内圈部通过所述内圈限位部容于所述限位对接部中。

进一步地，所述内圈限位部为平行设于所述内圈部下表面上的两根梁部，所述限位对接部为与所述梁部相配合的两个槽部。

进一步地，所述外圈部的外周与所述测试设备之间通过弹性支撑部相弹性连接。

本发明具有以下优点：

(1)通过拆除装置的外圈部和相关的少数连接器A和B，即可完成相关连接器组件的维护或更换工作，提高了维护工作的效率，降低了劳动强度和维护成本。

(2)可以将连接器安装板固定在测试设备上，提高测试设备的组装精度。

(3)通过内圈限位部与限位对接部配合，在拆除外圈部后，内圈部可在一定范围内移动，保证不会拉扯到连接器A和连接器B之间的对接导线，有效规避了维护工作过程中产生次生风险的可能性。

(4)内圈限位部和限位对接部配合，在拆除外圈后，内圈不会落入测试设备中，保证了维护工作的安全性。

(5)由于内圈部和外圈部均为较大零件且特征复杂，将内圈部和外圈部独立设置，可分开加工，有利于降低不良率，进而降低物料成本和生产成本。

附图说明

图1是本发明一较佳实施例的一种接口装置结构示意图。

图2是图1中连接器组件的结构示意图。

图3-图4是图1中内圈部的结构示意图。

图5是图1中外圈部的结构示意图。

图6是本发明一较佳实施例的一种设有图1的接口装置的测试设备结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图，对本发明的具体实施方式作进一步的详细说明。

需要说明的是，在下述的具体实施方式中，在详述本发明的实施方式时，为了清楚地表示本发明的结构以便于说明，特对附图中的结构不依照一般比例绘图，并进行了局部放大、变形及简化处理，因此，应避免以此作为对本发明的限定来加以理解。

在以下本发明的具体实施方式中，请参考图1，图1是本发明一较佳实施例的一种接口装置结构示意图。如图1所示，本发明提供了一种拆分式接口装置，接口装置可包括：内圈部1，环绕设于内圈部1外部的外圈部2，设于内圈部1下方的安装板4，以及连接器(connector)组件3’和3等主要结构组成部分。

请参考图2并结合参考图1。连接器组件3’和3包括连接器A3’和连接器B3，连接器A3’和连接器B3之间可通过线缆进行连接。其中，线缆可采用软性(柔性)导线。实现连接器A3’和连接器B3之间的软连接，是本方案的最佳应用场景。

相配合的连接器A3’和连接器B3呈多组设置，即连接器组件3’和3为多组；其中，连接器A3’以可拆卸方式安装于安装板4上；连接器A3’用于与测试设备7上的信号处理模块对接。连接器B3以可拆卸方式安装于内圈部1上；连接器B3用于与测试设备7上的性能板对接。

请参考图3-图4并结合参考图1。内圈部1可采用具有中空部的环形或框形结构，例如可采用本实施例中的环形内圈部1结构。在内圈部1的上表面上设有连接器安装部11；连接器安装部11可采用多个，并独立设置，例如可采用图示的4个扇形的连接器安装部11，以便对连接器组件3’和3进行分组配置，方便维护。

连接器B3可采用平铺方式，并围绕内圈部1的环形上表面依次规律地安装于连接器安装部11上。例如，连接器B3在扇形连接器安装部11上可采用向心方式进行排列和安装。

连接器B3可采用活动方式安装在接口装置的连接器安装部11上，以方便性能板与接口装置之间对接。

安装板4相对于内圈部1固定设置。连接器A3’同样可采用平铺方式安装于安装板4上。例如，连接器A3’也可采用向心方式进行环绕排列和安装，或者也可按图1所示，以并列方式安装在安装板4上。

连接器A3’也可以活动方式安装在安装板4上，以方便各部件之间的对接。

内圈部1的连接器安装部11可采用上下贯穿的中空结构，使内圈部1成为框架结构。这样，内圈部1的连接器安装部11与其下方的安装板4之间就形成连通，方便连接器A3’与连接器B3之间的连接线缆通过。并且可使得内圈部1的重量得到明显减轻。

请参考图3、图5并结合参考图1。在内圈部1的外周可设有外圈对接部12和14；外圈对接部12和14可包括设于内圈部1外周上的一圈凸缘12，以及设于凸缘12上的一至多个销部14。同时，在外圈部2的内周上设有内圈对接部，内圈对接部设有可与销部14相配合的一至多个卡口部21。将外圈部2的环形内周套设于凸缘12上，并将卡口部21与销部14对准进行安装，就可将内圈部1和外圈部2组装在一起。

进一步地，在凸缘12的圆周上以及外圈部2的内周位置上可加工相配合的安装孔，以便对内圈部1和外圈部2进行连接。

外圈部2可采用板状结构，并可具有与测试设备7相适应的轮廓形状，例如图示的矩形形状。

请参考图4。在内圈部1的下表面上可设有内圈限位部13，当将接口装置安装在测试设备7上时，内圈部1可通过内圈限位部13支撑于测试设备7上。

内圈限位部13与内圈部1之间可拆卸，以增加内圈限位部13的设计灵活性，提高设计质量，降低物料成本。

接口装置的内圈部1上还可设有性能板辅助对接装置。因为针对大量连接器的对接或拆除工作，需要花费很大力气；而且测试过程中需要性能板与接口装置保持相对固定。此时，性能板辅助对接装置可以很好地完成这些工作。性能板辅助对接装置可以是电机装置。

请参考图6，图6是本发明一较佳实施例的一种设有图1的接口装置的测试设备结构示意图。如图6所示，本发明的一种测试设备7，设有上述的接口装置。其中，通过安装在安装板4上的连接器A3’与测试设备7上的信号处理模块对接，通过安装在内圈部1上的连接器B3与测试设备7上的性能板对接。被测试的电子器件安装在性能板上。

请参考图6。接口装置可安装在测试设备7上。可利用接口装置的外圈部2与测试设备7进行安装固定。例如，可通过板状外圈部2的外周与测试设备7的壳体上端相固定，即将接口装置通过外圈部2支撑在测试设备7上。

测试设备7上设有限位对接部5，限位对接部5与内圈部1下表面上设有的内圈限位部13相配合。内圈部1通过内圈限位部13容于限位对接部5中。例如，内圈限位部13可采用两根平行安装在内圈部1下表面上的横梁(梁部)13，限位对接部5可采用安装在测试设备7上并与横梁相配合的两个槽形支架(槽部)5。

内圈限位部13可用于防止外圈部2拆除后，内圈部1发生无限制性移动而损坏连接器A3’与连接器B3之间的线缆。当拆掉外圈部2与测试设备7之间的固定螺钉后，外圈部2和内圈部1可以整体下落，直至内圈部1下表面上设有的两根横梁13与两个槽形支架5接触。此时，横梁13仅可在槽形支架5中的有限空间内水平移动(当然也可以向上移动)。

安装板4可固定安装在测试设备7上。当需要整体拆除接口装置时，不用单独拆除连接器A3’和连接器B3。而当需要拆除个别连接器组件3’和3时，只要将该连接器或该连接器相邻的几个连接器拆除即可，而不用将所有连接器组件3’和3都拆除，提高了工作效率，减少了工作量。

在外圈部2靠近外周的下方表面上还可安装弹性支撑部6，弹性支撑部6的下端支撑在测试设备7上。这样，接口装置的外圈部2与测试设备7之间就形成了弹性连接，以消除测试过程中对接工作产生的刚性应力，避免损坏连接器B3。

弹性支撑部6可采用弹簧作为弹性元件。

内圈部1和外圈部2可以相互拆分。外圈部2方便拆除，可以方便拆除固定在测试设备7(安装板4)上的连接器A3’。外圈部2拆除后，内圈部1留在测试设备7上。此时，只要将接口装置上与拆除的连接器A3’对应的连接器B3拆除，即可将对应的整个连接器组件3’和3拆除，达到快速更换连接器组件3’和3的目的。

以上的仅为本发明的优选实施例，实施例并非用以限制本发明的保护范围，因此凡是运用本发明的说明书及附图内容所作的等同结构变化，同理均应包含在本发明的保护范围内。

Claims (9)

1.一种接口装置，其特征在于，包括：

内圈部；

外圈部，环绕设于所述内圈部外部；

连接器组件，其包括多组相配合并电连的连接器A和连接器B；其中，所述连接器B设于所述内圈部上，所述连接器A设于所述内圈部的下方，其中，

所述外圈部通过其外周与测试设备相固定，所述测试设备设有限位对接部，所述内圈部的下表面上设有内圈限位部，所述内圈部通过所述内圈限位部容于所述限位对接部中。

2.根据权利要求1所述的接口装置，其特征在于，还包括：安装板，固定设于所述内圈部的下方；所述连接器A设于所述安装板上。

3.根据权利要求1所述的接口装置，其特征在于，所述内圈部设有上下贯通的连接器安装部，所述连接器B平铺设于所述连接器安装部的上表面上，并通过穿设于所述连接器安装部中的线缆连接对应设于下方的所述连接器A。

4.根据权利要求3所述的接口装置，其特征在于，所述内圈部为具有中空部的环形或框形结构，所述内圈部上环绕其中空部设有多个所述连接器安装部，所述连接器B分设于各所述连接器安装部上，并通过穿设于对应所述连接器安装部中的线缆连接所述连接器A。

5.根据权利要求1所述的接口装置，其特征在于，所述内圈部的外周设有外圈对接部，所述外圈部的内周设有内圈对接部，所述内圈部和所述外圈部之间通过所述外圈对接部与所述内圈对接部之间的配合组装在一起。

6.根据权利要求5所述的接口装置，其特征在于，所述外圈对接部包括设于所述内圈部外周上的凸缘，以及设于所述凸缘上的销部，所述外圈部的内周套设于所述凸缘上，并设有与所述销部相配合的卡口部。

7.一种测试设备，设有权利要求1-6任一所述的接口装置，其特征在于，所述连接器A与所述测试设备上的信号处理模块对接，所述连接器B与所述测试设备上的性能板对接。

8.根据权利要求7所述的测试设备，其特征在于，所述内圈限位部为平行设于所述内圈部下表面上的两根梁部，所述限位对接部为与所述梁部相配合的两个槽部。

9.根据权利要求7所述的测试设备，其特征在于，所述外圈部的外周与所述测试设备之间通过弹性支撑部相弹性连接。

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