CN110518989A - 校准wifi模块射频功率的方法、装置、设备及介质 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种校准WIFI模块射频功率的方法、装置、设备及介质。该方法包括：获取待测试芯片的型号和待测试信道，其中，所述待测试信道为所述待测试芯片的部分信道；查询是否存在与所述型号匹配的样本库，所述样本库中包括至少一个样本，每个所述样本包括每个信道以及与每个所述信道对应的发射功率；若存在与所述型号匹配的样本库，测试所述待测试信道的发射功率，得到测试结果；确定所述样本库中是否存在与所述测试结果匹配的样本；若存在与所述测试结果匹配的样本，根据所述样本确定所述待测试芯片的全部信道对应的发射功率值。本申请能够实现提高校准效率和生产效率的技术效果。

Description

校准WIFI模块射频功率的方法、装置、设备及介质

技术领域

本申请涉及无线通信技术领域，具体而言，涉及校准WIFI模块射频功率的方法、装置、设备及介质。

背景技术

目前，MTK(MediaTek.Inc，联发科技股份有限公司)芯片方案的无线通信模块中，由于电子元器件参数杂散影响，要使得该无线模块能够正常稳定工作，就需要进行射频校准。MTK方案WIFI(Wireless-Fidelity，无线保真)射频校准的方法是对802.11a/g模式54M速率的每一个信道单独进行发射功率测试，最后向该信道对应的寄存器位置写入补偿值。

然而，通过采用分别对各个信道单独进行发射功率测试校准的方法，会导致效率低、耗时较长，严重影响生产效率。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种校准WIFI模块射频功率的方法、装置、设备及介质，用以提高校准效率。

第一方面，本申请实施例提供的一种，校准WIFI模块射频功率的方法，所述方法包括：获取待测试芯片的型号和待测试信道，其中，所述待测试信道为所述待测试芯片的部分信道；查询是否存在与所述型号匹配的样本库，所述样本库中包括至少一个样本，每个所述样本包括每个信道以及与每个所述信道对应的发射功率；若存在与所述型号匹配的样本库，测试所述待测试信道的发射功率，得到测试结果；确定所述样本库中是否存在与所述测试结果匹配的样本；若存在与所述测试结果匹配的样本，根据所述样本确定所述待测试芯片的全部信道对应的发射功率值。

在上述实现过程中，本申请中在查询到与待测试芯片匹配的样本库的前提下，只需要通过测试部分信道的发射功率，就可以通过样本库中的样本来快速且准确确定该待测试芯片的全部信道的发射功率，进而可以有效提高校准效率，进一步提高生产效率。

结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，所述确定所述样本库中是否存在与所述测试结果匹配的样本，包括：确定所述样本库中的每个所述样本中与所述待测试信道对应的信道的发射功率；将所述信道的发射功率与所述测试结果进行比较，确定是否存在与所述测试结果之间的误差位于预设误差区间的样本。

在上述实现过程中，通过确定所述样本库中的每个所述样本中与所述待测试信道对应的信道的发射功率；将所述信道的发射功率与所述测试结果进行比较，确定是否存在与所述测试结果之间的误差位于预设误差区间的样本。从而准确确定出与待测试芯片匹配的样本，以便于快速确定待测试芯片其余信道的发射功率。

结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，在查询是否存在与所述型号匹配的样本库之后，所述方法还包括：若不存在与所述型号匹配的样本库，对所述待测试芯片的全部信道进行发射功率测试，得到每个信道的发射功率。

在上述实现过程中，在没有找到与待测试芯片匹配的样本库时，依然可以通过全信道的测试方式，实现对该待测试芯片的信道进行测试，以便于完成对该待测试芯片的校准，进而可以提高校准效率。

结合第一方面的第二种可能的实施方式，本申请实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式，在对所述待测试芯片的全部信道进行发射功率测试，得到每个信道的发射功率之后，所述方法还包括：将所述每个信道的发射功率作为样本保存。

在上述实现过程中，通过将该待测试芯片的全信道测试结果作为样本进行保存，可以使得后期在对该型号的芯片进行校准时，无需再进行全信道测试了，可以有效提高校准效率。

结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式，在确定所述样本库中是否存在与所述测试结果匹配的样本之后，所述方法还包括：若不存在与所述测试结果匹配的样本，对所述待测试芯片的全部信道进行发射功率测试，得到每个信道的发射功率。

在上述实现过程中，当不存在与所述测试结果匹配的样本时，通过对待测试芯片的全部信道进行发射功率测试，得到每个信道的发射功率，从而实现对该待测试芯片的信道进行测试，以便于完成对该待测试芯片的校准，进而可以提高校准效率。

结合第一方面的任一实施方式，本申请实施例提供了第一方面的第五种可能的实施方式，所述方法还包括：计算所述全部信道中的每个信道的发射功率与预设目标功率之间的差值；向所述每个信道对应的寄存器位置写入所述差值。

第二方面，本申请实施例提供的一种校准WIFI模块射频功率的装置，所述装置包括：获取模块，用于获取待测试芯片的型号和待测试信道，其中，所述待测试信道为所述待测试芯片的部分信道；第一查询模块，用于查询是否存在与所述型号匹配的样本库，所述样本库中包括至少一个样本，每个所述样本包括每个信道以及与每个所述信道对应的发射功率；测试模块，用于若存在与所述型号匹配的样本库，测试所述待测试信道的发射功率，得到测试结果；第二查询模块，用于确定所述样本库中是否存在与所述测试结果匹配的样本；处理模块，用于若存在与所述测试结果匹配的样本，根据所述样本确定所述待测试芯片的全部信道对应的发射功率值。

结合第二方面，本申请实施例提供了第二方面的第一种可能的实施方式，所述第二查询模块，还用于：确定所述样本库中的每个所述样本中与所述待测试信道对应的信道的发射功率；将所述信道的发射功率与所述测试结果进行比较，确定是否存在与所述测试结果之间的误差位于预设误差区间的样本。

结合第二方面，本申请实施例提供了第二方面的第二种可能的实施方式，在第一查询模块之后，所述装置还包括：全信道测试模块，用于若不存在与所述型号匹配的样本库，对所述待测试芯片的全部信道进行发射功率测试，得到每个信道的发射功率。

结合第二方面的第二种可能的实施方式，本申请实施例提供了第二方面的第三种可能的实施方式，在全信道测试模块之后，所述装置还包括：存储模块，用于将所述每个信道的发射功率作为样本保存。

结合第二方面，本申请实施例提供了第二方面的第四种可能的实施方式，全信道测试模块，还用于在确定所述样本库中是否存在与所述测试结果匹配的样本之后，若不存在与所述测试结果匹配的样本，对所述待测试芯片的全部信道进行发射功率测试，得到每个信道的发射功率。

结合第二方面，本申请实施例提供了第二方面的第五种可能的实施方式，所述装置还包括：计算模块，用于计算所述全部信道中的每个信道的发射功率与预设目标功率之间的差值；向所述每个信道对应的寄存器位置写入所述差值。

第三方面，本申请实施例提供的一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面任意一项所述的方法。

第四方面，本申请实施例提供的一种存储介质，所述存储介质上存储有指令，当所述指令在计算机上运行时，使得所述计算机执行如第一方面任意一项所述的方法。

第五方面，本申请实施例提供的一种计算机程序产品，所述计算机程序产品在计算机上运行时，使得计算机执行如第一方面任意一项所述的方法。

本公开的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，或者，部分特征和优点可以从说明书推知或毫无疑义地确定，或者通过实施本公开的上述技术即可得知。

为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本申请实施例提供的一种校准WIFI模块射频功率的方法的流程图；

图2为本申请实施例提供的另一种校准WIFI模块射频功率的方法的流程图；

图3为本申请实施例提供的一种校准WIFI模块射频功率的装置的结构示意图；

图4为本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行描述。

请参阅图1，图1为本申请实施例提供的一种校准WIFI模块射频功率的方法的流程图，应理解，该方法可以通过如图3所示的校准WIFI模块射频功率的装置来执行，以实现对MTK方案的WIFI模块的射频功率进行校准，且该装置与图4所示的电子设备对应，该电子设备可以是能够执行该方法的各种设备，例如，计算机或服务器等，本申请实施例并不限于此，具体包括如下步骤：

步骤S101，获取待测试芯片的型号和待测试信道。

其中，所述待测试信道为所述待测试芯片的部分信道。

举例来说，假设该待测试芯片的包括5个信道，分别为信道1、信道2、信道3、信道4和信道5，则待测试信道可以是信道1、信道2、信道3、信道4或信道5中的至少一个信道。

应理解，上述举例仅为示例，而非限定。

可选地，待测试信道的信道数为n-1，n为大于1的整数，且n为该待测试芯片的全部信道的信道总数。

可选地，待测试芯片为MTK方案中的任一芯片。在此，不作具体限定。

作为一种实施方式，用户可以通过操作界面输入/选择待测试芯片的型号和配置待测试信道，以便于电子设备能够获取到待测试芯片的型号和待测试信道。

在一可能的实施例中，所述方法还包括：获取配置信息，所述配置信息包括预设误差区间以及如果进行全信道测试时的测试结果是否要作为样本进行保存。

可选地，预设误差区间是指待测试信道所测得的数据与样本库中的样本之间的误差范围。

可选地，预设误差区间的取值一般可以根据用户需求设置，例如，可以是(-0.5，0.5)。在此，不作具体限定。

可选地，当用户配置如果进行全信道测试时的测试结果要作为样本进行保存时，则在进行全信道测试后，测得的测试结果则直接作为样本进行保存；反之，如果用户配置全信道测试时的测试结果不作为样本进行保存，则在进行全信道测试后，测得的测试结果则就不作为样本进行保存了。

在一可能的实施例中，所述方法还包括：若所述待测试信道为所述待测试芯片的全部信道，则对所述待测试芯片的全部信道进行发射功率测试，得到每个信道的发射功率。

步骤S102，查询是否存在与所述型号匹配的样本库。

可选地，所述样本库中包括至少一个样本，每个所述样本包括每个信道以及与每个所述信道对应的发射功率。

可选地，样本库也可以称为样本集，在此，不作具体限定。

可选地，一个样本库可以存储多个型号的样本。

当然，在实际使用中，一个样本库只存储一个型号的样本。在此，不作具体限定。

可选地，每个样本可以是以曲线形式表征。该曲线用于表征该型号的芯片在每个信道对应的发射功率。可以理解为，该样本以信道的标识(如ID或信道名称)为横轴的参数，以发射功率为纵轴的参数。

当然，横轴与纵轴的参数可以互换，在此，不再赘述。

作为一种实施方式，步骤S102，包括：根据待测试芯片的型号查询数据库中是否存在与所述型号匹配的样本库。

在一可能的实施例中，在步骤S102之后，所述方法还包括：若不存在与所述型号匹配的样本库，对所述待测试芯片的全部信道进行发射功率测试，得到每个信道的发射功率。

可选地，对所述待测试芯片的全部信道进行发射功率测试，得到每个信道的发射功率，包括：根据所述待测试芯片的型号确定该待测试芯片的全部信道；对所述全部信道进行发射功率测试，得到每个信道的发射功率。

在上述实现过程中，在没有找到与待测试芯片匹配的样本库时，依然可以通过全信道的测试方式，实现对该待测试芯片的信道进行测试，以便于完成对该待测试芯片的校准，进而可以提高校准效率。

在一可能的实施例中，在对所述待测试芯片的全部信道进行发射功率测试，得到每个信道的发射功率之后，所述方法还包括：将所述每个信道的发射功率作为样本保存。

在上述实现过程中，通过将该待测试芯片的全信道测试结果作为样本进行保存，可以使得后期在对该型号的芯片进行校准时，无需再进行全信道测试了，可以有效提高校准效率。

步骤S103，若存在与所述型号匹配的样本库，测试所述待测试信道的发射功率，得到测试结果。

可选地，测试结果包括测试的信道与该信道对应的发射功率。

继续以上述例子为例来说，假设待测试信道包括信道1和信道3，测试结果包括信道1以及信道1对应的发射功率P1，信道3以及信道3对应的发射功率P2。

作为一种实施方式，在存在与所述型号匹配的样本库时，基于多进程并发的方式对待测试信道中的所有信道同时进行测试，以得到测试结果。

在上述实现过程中，通过多进程并发的方式，可以快速完成对待测试信道的测试，以提高校准效率。

作为另一种实施方式，在存在与所述型号匹配的样本库时，逐一对待测试信道中的所有信道进行测试，以得到测试结果。

在上述实现过程中，通过在存在与所述型号匹配的样本库时，逐一对待测试信道中的所有信道进行测试，也可以减少测试的信道数，不用对全部信道进行测试，进而提高校准效率。

步骤S104，确定所述样本库中是否存在与所述测试结果匹配的样本。

作为一种实施方式，步骤S104，包括：确定所述样本库中的每个所述样本中与所述待测试信道对应的信道的发射功率；将所述信道的发射功率与所述测试结果进行比较，确定是否存在与所述测试结果之间的误差位于预设误差区间的样本。

可选地，确定是否存在与所述测试结果之间的误差位于预设误差区间的样本，包括：将所述测试结果中的所述待测试信道对应的发射功率分别与每一个样本中的与待测试信道对应的信道的发射功率进行比较，判断两者之差是否位于预设误差区间；将位于预设误差区间的样本作为与所述测试结果匹配的样本；若未位于预设误差区间，将该样本不作为与所述测试结果匹配的样本。

举例来说，假设有2个样本，分别为样本1和样本2，假设待测试信道为信道1；将信道1对应的发射功率P1分别与样本1和样本2中的信道1对应的发射功率进行比较，假设样本1中的信道1对应的发射功率为JP1，样本2中的信道1对应的发射功率为JP2；将P1与JP1相减，得到第一差值；将将P1与JP2相减，得到第二差值；具体地，假设P1为10，JP1为10.1；JP2为12，预设误差区间为(-0.5，0.5)，则P1-JP1＝10-10.1＝-0.1；P1-JP2＝10-12＝-2；可知只有样本1对应的发射功率与待测试信道对应的发射功率之间的差值在预设误差区间内，故将样本1作为与所述测试结果匹配的样本；即将样本1作为待测试芯片对应的样本。

应理解，如果待测试信道有多个信道时，例如，待测试信道还包括信道2或信道3时，信道2或信道3的比较过程，可以参照上述信道1的比较过程，在此，不再赘述。

在上述实现过程中，通过确定所述样本库中的每个所述样本中与所述待测试信道对应的信道的发射功率；将所述信道的发射功率与所述测试结果进行比较，确定是否存在与所述测试结果之间的误差位于预设误差区间的样本。从而准确确定出与待测试芯片匹配的样本，以便于快速确定待测试芯片其余信道的发射功率。

在一可能的实施例中，所述方法还包括：若存在多个与所述测试结果匹配的样本；从多个样本中确定出误差最小的样本作为与所述测试结果匹配的目标样本。

继续以上述例子为例来说，假设有2个样本，分别为样本1和样本2，假设待测试信道为信道1；将信道1对应的发射功率P1分别与样本1和样本2中的信道1对应的发射功率进行比较，假设样本1中的信道1对应的发射功率为JP1，样本2中的信道1对应的发射功率为JP2；将P1与JP1相减，得到第一差值；将将P1与JP2相减，得到第二差值；具体地，假设P1为10，JP1为10.1；JP2为10.5，预设误差区间为(-0.5，0.5)，则P1-JP1＝10-10.1＝-0.1；P1-JP2＝10-10.5＝-0.5；可知样本1与样本2对应的发射功率均与待测试信道对应的发射功率之间的差值在预设误差区间内，但是待测试芯片与样本1的误差小于待测试芯片与样本2的误差，故将样本1作为与所述测试结果匹配的目标样本。

在上述实现过程中，通过在存在多个与所述测试结果匹配的样本时，从多个样本中确定出误差最小的样本作为与所述测试结果匹配的目标样本，以使得校准后的结果更加准确，提高校准率。

步骤S105，若存在与所述测试结果匹配的样本，根据所述样本确定所述待测试芯片的全部信道对应的发射功率值。

作为一种实施方式，当找到与所述测试结果匹配的样本后，将该样本中的所有信道对应的发射功率作为待测试芯片全部信道的发射功率。

继续以上述例子为例来说，假设与所述测试结果匹配的样本为样本1，待测试信道为信道1，待测试芯片包括10个信道，则将该样本1中信道2到信道10的9个信道对应的发射功率作为待测试芯片的除信道1以为的9个信道的发射功率，具体地，将样本1中信道2对应的发射功率作为待测芯片的信道2的发射功率；将样本1中信道3对应的发射功率作为待测芯片的信道3的发射功率；将样本1中信道4对应的发射功率作为待测芯片的信道4的发射功率；将样本1中信道5对应的发射功率作为待测芯片的信道5的发射功率；将样本1中信道6对应的发射功率作为待测芯片的信道6的发射功率；将样本1中信道7对应的发射功率作为待测芯片的信道7的发射功率；将样本1中信道8对应的发射功率作为待测芯片的信道8的发射功率；将样本1中信道9对应的发射功率作为待测芯片的信道9的发射功率；将样本1中信道10对应的发射功率作为待测芯片的信道10的发射功率。

应理解，上述仅为示例，而非限定。

在一可能的实施例中，在步骤S104之后，所述方法还包括：若不存在与所述测试结果匹配的样本，对所述待测试芯片的全部信道进行发射功率测试，得到每个信道的发射功率。

可选地，对待测试芯片的全部信道进行测试的过程可以参照上文中对应处的描述，在此，不再赘述。

在上述实现过程中，当不存在与所述测试结果匹配的样本时，通过对待测试芯片的全部信道进行发射功率测试，得到每个信道的发射功率，从而实现对该待测试芯片的信道进行测试，以便于完成对该待测试芯片的校准，进而可以提高校准效率。

在一可能的实施例中，所述方法还包括：计算所述全部信道中的每个信道的发射功率与预设目标功率之间的差值；向所述每个信道对应的寄存器位置写入所述差值。

可选地，预设目标功率的设置可以根据具体芯片型号进行设置，在此，不作具体限定。

上文结合图1描述了本申请中的校准WIFI模块射频功率的方法，下面，作为示例而非限定，结合图2对本申请中的校准WIFI模块射频功率的方法进行详细的描述。如图2所示的方法包括：

步骤S201：用户选择芯片型号、配置待测试的信道、误差范围、以及如果进行全信道测试时的测试数据是否要作为样本进行保存。

可选地，误差范围即为上文中的预设误差区间。

作为一种实施方式，用户可以配置待测试芯片的型号、待测试信道、预设误差区间以及如果进行全信道测试时的测试数据是否要作为样本进行保存等配置信息。

步骤S202：判断用户配置的信道是否是全信道，如果是则进入步骤S207，否则就进入步骤S203。

即，当待测试信道为全部信道时，执行步骤S207，反之就执行步骤S203。

步骤S203：根据所选择的芯片型号，查询样本库是否存在，如果存在就进入步骤S204，否则进入步骤S207。

步骤S204：测试所配置的信道的发射功率，然后根据测试数据以及用户配置的误差范围在样本库中匹配误差最小的样本。

步骤S205：判断匹配样本是否成功，如果成功则进入步骤S206，否则进入步骤S207。

步骤S206；根据匹配的样本得出全部信道对应的发射功率值。

步骤S207：进行全信道发射功率的测试。

步骤S208：如果全信道下的测试数据需要作为样本保存则进入步骤S209，否则进入步骤S210。

步骤S209；将全信道下的发射功率测试测试数据作为样本保存于样本库中。

步骤S210：得到全信道对应的发射功率，计算各个信道发射功率与目标功率之间的差值，然后向各个信道对应的寄存器位置写入差值。

可选地，步骤S201至步骤S210的具体实施过程可以参照上文的描述，在此，不再赘述。

步骤S211：重启样机、校准结束。

可选地，样机是指待测试芯片，也可以是待测试芯片所在设备。在此，不作具体限定。

本申请实施例提供的校准WIFI模块射频功率的方法，通过获取待测试芯片的型号和待测试信道，其中，所述待测试信道为所述待测试芯片的部分信道；查询是否存在与所述型号匹配的样本库，所述样本库中包括至少一个样本，每个所述样本包括每个信道以及与每个所述信道对应的发射功率；若存在与所述型号匹配的样本库，测试所述待测试信道的发射功率，得到测试结果；确定所述样本库中是否存在与所述测试结果匹配的样本；若存在与所述测试结果匹配的样本，根据所述样本确定所述待测试芯片的全部信道对应的发射功率值。从而通过只需要测试部分信道的发射功率，以通过样本库中的样本来快速且准确确定该待测试芯片的全部信道的发射功率，进而可以有效提高校准效率，进一步提高生产效率。

基于同一发明构思，本申请实施例中还提供了一种如图3所示的校准WIFI模块射频功率的装置，应理解，该装置300与上述图1方法实施例对应，能够执行上述方法实施例涉及的各个步骤，该装置300具体的功能可以参见上文中的描述，为避免重复，此处适当省略详细描述。具体地，该装置300包括：

获取模块310，用于获取待测试芯片的型号和待测试信道，其中，所述待测试信道为所述待测试芯片的部分信道。

第一查询模块320，用于查询是否存在与所述型号匹配的样本库，所述样本库中包括至少一个样本，每个所述样本包括每个信道以及与每个所述信道对应的发射功率。

测试模块330，用于若存在与所述型号匹配的样本库，测试所述待测试信道的发射功率，得到测试结果。

第二查询模块340，用于确定所述样本库中是否存在与所述测试结果匹配的样本。

处理模块350，用于若存在与所述测试结果匹配的样本，根据所述样本确定所述待测试芯片的全部信道对应的发射功率值。

可选地，所述第二查询模块340，还用于：确定所述样本库中的每个所述样本中与所述待测试信道对应的信道的发射功率；将所述信道的发射功率与所述测试结果进行比较，确定是否存在与所述测试结果之间的误差位于预设误差区间的样本。

在一可能的实施例中，在第一查询模块320之后，所述装置300还包括：全信道测试模块，用于若不存在与所述型号匹配的样本库，对所述待测试芯片的全部信道进行发射功率测试，得到每个信道的发射功率。

在一可能的实施例中，在全信道测试模块之后，所述装置300还包括：存储模块，用于将所述每个信道的发射功率作为样本保存。

在一可能的实施例中，全信道测试模块，还用于在确定所述样本库中是否存在与所述测试结果匹配的样本之后，若不存在与所述测试结果匹配的样本，对所述待测试芯片的全部信道进行发射功率测试，得到每个信道的发射功率。

在一可能的实施例中，所述装置300还包括：计算模块，用于计算所述全部信道中的每个信道的发射功率与预设目标功率之间的差值；向所述每个信道对应的寄存器位置写入所述差值。

基于同一发明构思，本申请还提供一种电子设备，图4为本申请实施例中的电子设备400的结构框图，如图4所示。电子设备400可以包括处理器410、通信接口420、存储器430和至少一个通信总线440。其中，通信总线440用于实现这些组件直接的连接通信。其中，本申请实施例中设备的通信接口420用于与其他节点设备进行信令或数据的通信。处理器410可以是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。

可选地，上述的处理器410可以是通用处理器。

存储器430可以是，但不限于，只读存储器(Read Only Memory，ROM)，可编程只读存储器(Programmable Read-Only Memory，PROM)，随机存取存储器(Random AccessMemory，RAM)，电可擦除只读存储器(Electric Erasable Programmable Read-OnlyMemory，EEPROM)，可擦除只读存储器(Erasable Programmable Read-Only Memory，EPROM)等。存储器430中存储有计算机可读取指令，当所述计算机可读取指令由所述处理器410执行时，电子设备400可以执行上述图1方法实施例涉及的各个步骤。

可选地，电子设备400还可以包括存储控制器、输入输出单元。

所述存储器430、存储控制器、处理器410、输入输出单元各元件相互之间直接或间接地电性连接，以实现数据的传输或交互。例如，这些元件相互之间可通过一条或多条通信总线440实现电性连接。所述处理器410用于执行存储器430中存储的可执行模块，例如装置300包括的软件功能模块或计算机程序。并且，装置300用于执行下述方法：获取待测试芯片的型号和待测试信道，其中，所述待测试信道为所述待测试芯片的部分信道；查询是否存在与所述型号匹配的样本库，所述样本库中包括至少一个样本，每个所述样本包括每个信道以及与每个所述信道对应的发射功率；若存在与所述型号匹配的样本库，测试所述待测试信道的发射功率，得到测试结果；确定所述样本库中是否存在与所述测试结果匹配的样本；若存在与所述测试结果匹配的样本，根据所述样本确定所述待测试芯片的全部信道对应的发射功率值。

输入输出单元用于提供给用户输入数据实现用户与所述服务器(或本地终端)的交互。所述输入输出单元可以是，但不限于，鼠标和键盘等。

可以理解，图4所示的结构仅为示意，所述电子设备400还可包括比图4中所示更多或者更少的组件，或者具有与图4所示不同的配置。图4中所示的各组件可以采用硬件、软件或其组合实现。

本申请实施例还提供一种存储介质，所述存储介质上存储有指令，当所述指令在计算机上运行时，使得所述计算机执行时实现方法实施例所述的方法，为避免重复，此处不再赘述。

本申请还提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品在计算机上运行时，使得计算机执行方法实施例所述的方法。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

另外，作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

再者，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。

在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。

以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请的保护范围，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种校准WIFI模块射频功率的方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待测试芯片的型号和待测试信道，其中，所述待测试信道为所述待测试芯片的部分信道；

查询是否存在与所述型号匹配的样本库，所述样本库中包括至少一个样本，每个所述样本包括每个信道以及与每个所述信道对应的发射功率；

若存在与所述型号匹配的样本库，测试所述待测试信道的发射功率，得到测试结果；

确定所述样本库中是否存在与所述测试结果匹配的样本；

若存在与所述测试结果匹配的样本，根据所述样本确定所述待测试芯片的全部信道对应的发射功率值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述样本库中是否存在与所述测试结果匹配的样本，包括：

确定所述样本库中的每个所述样本中与所述待测试信道对应的信道的发射功率；

将所述信道的发射功率与所述测试结果进行比较，确定是否存在与所述测试结果之间的误差位于预设误差区间的样本。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在查询是否存在与所述型号匹配的样本库之后，所述方法还包括：

若不存在与所述型号匹配的样本库，对所述待测试芯片的全部信道进行发射功率测试，得到每个信道的发射功率。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在对所述待测试芯片的全部信道进行发射功率测试，得到每个信道的发射功率之后，所述方法还包括：

将所述每个信道的发射功率作为样本保存。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在确定所述样本库中是否存在与所述测试结果匹配的样本之后，所述方法还包括：

若不存在与所述测试结果匹配的样本，对所述待测试芯片的全部信道进行发射功率测试，得到每个信道的发射功率。

6.根据权利要求1-5任意一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

计算所述全部信道中的每个信道的发射功率与预设目标功率之间的差值；

向所述每个信道对应的寄存器位置写入所述差值。

7.一种校准WIFI模块射频功率的装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取待测试芯片的型号和待测试信道，其中，所述待测试信道为所述待测试芯片的部分信道；

第一查询模块，用于查询是否存在与所述型号匹配的样本库，所述样本库中包括至少一个样本，每个所述样本包括每个信道以及与每个所述信道对应的发射功率；

测试模块，用于若存在与所述型号匹配的样本库，测试所述待测试信道的发射功率，得到测试结果；

第二查询模块，用于确定所述样本库中是否存在与所述测试结果匹配的样本；

处理模块，用于若存在与所述测试结果匹配的样本，根据所述样本确定所述待测试芯片的全部信道对应的发射功率值。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第二查询模块，还用于：

确定所述样本库中的每个所述样本中与所述待测试信道对应的信道的发射功率；

将所述信道的发射功率与所述测试结果进行比较，确定是否存在与所述测试结果之间的误差位于预设误差区间的样本。

9.一种电子设备，其特征在于，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-6任意一项所述的方法。

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有指令，当所述指令在计算机上运行时，使得所述计算机执行如权利要求1-6任意一项所述的方法。