CN110488118A - 电源芯片的抗干扰性测试方法及其系统 - Google Patents

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    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/001—Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing
    • G01R31/002—Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing where the device under test is an electronic circuit

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Abstract

本发明提供了一种电源芯片的抗干扰性测试方法及其系统，通过向电源芯片提供一电压稳定的电源,使电源芯片在电源下正常工作，并测量电源芯片的输出电压的第一电压波形曲线；提供一射频模块，使射频模块在预设频率以及其最大额定功率下工作，并将射频模块靠近电源芯片，测量射频模块靠近电源芯片过程中电源芯片的输出电压的第二电压波形曲线；根据电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线，确定电源芯片的抗干扰性，本发明测试方法简单，能够评估电源芯片的抗干扰性且不会增加成本。

Description

电源芯片的抗干扰性测试方法及其系统
技术领域
本发明属于电池技术领域，具体涉及一种电源芯片的抗干扰性测试方法及其系统。
背景技术
对通信行业来说，电源芯片经常会影响到射频的正常工作，同样，射频在工作时也会影响到电源芯片的正常工作。而电源芯片的不稳定性会直接导致整个系统无法正常工作，因此在选择电源芯片的时候需要格外注意，尤其要考虑是否会受到射频天线的影响，导致输出电压不稳的情况发生。
发明内容
本发明是为了解决上述问题而进行的，目的在于提供一种测试方法简单、能够评估电源芯片的抗干扰性且不会增加成本的电源芯片的抗干扰性测试方法及其系统。
本发明提供了一种电源芯片的抗干扰性测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
向电源芯片提供一电压稳定的电源,使所述电源芯片在所述电源下正常工作，并测量所述电源芯片的输出电压的第一电压波形曲线；
提供一射频模块，使所述射频模块在预设频率以及其最大额定功率下工作，并将所述射频模块靠近所述电源芯片，测量所述射频模块靠近所述电源芯片过程中所述电源芯片的输出电压的第二电压波形曲线；
根据所述电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线，确定所述电源芯片的抗干扰性。
进一步，在本发明提供的电源芯片的抗干扰性测试方法中，还可以具有这样的特征：所述射频模块包括天线；在所述射频模块靠近电源芯片的过程中，所述射频模块的天线端指向所述电源芯片。
进一步，在本发明提供的电源芯片的抗干扰性测试方法中，还可以具有这样的特征：向电源芯片提供一电压稳定的电源包括：将所述电源芯片安装于电源芯片测试板上，所述电源芯片测试板与一外接电源连接，所述外接电源通过所述电源芯片测试板向所述电源芯片供电。
进一步，在本发明提供的电源芯片的抗干扰性测试方法中，还可以具有这样的特征：通过示波器测量所述电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线。
进一步，在本发明提供的电源芯片的抗干扰性测试方法中，还可以具有这样的特征：根据所述电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线，确定所述电源芯片的抗干扰性，包括：
根据所述第一电压波形曲线和所述第二电压波形曲线，判断所述电源芯片的输出电压的上下波动是否在第一预设电压之内，若是，则所述射频芯片对所述电源芯片不存在干扰；否则所述射频芯片对所述电源芯片存在干扰。
进一步，在本发明提供的电源芯片的抗干扰性测试方法中，还可以具有这样的特征：所述第一预设电压根据与所述电源芯片连接的后端芯片的工作电压范围确定。
本发明提供了一种电源芯片的抗干扰性测试系统，其特征在于，包括：测量电路，用于向电源芯片提供一电压稳定的电源，使所述电源芯片在所述电源下正常工作；
射频模块，所述射频模块在预设频率以及其最大额定功率下工作，用于向所述电源芯片提供射频信号源；以及
示波器，与所述电源芯片连接，用于测量所述电源芯片正常工作时的第一电压波形曲线和所述射频模块靠近所述电源芯片过程中的第二电压波形曲线。
进一步，在本发明提供的电源芯片的抗干扰性测试系统中，还可以具有这样的特征：所述测量电路包括：电源芯片测试板以及外接电源，所述电源芯片安装在所述电源芯片测试板上，所述外接电源与所述电源芯片测试板连接，所述外接电源通过所述电源芯片测试板向所述电源芯片供电。
进一步，在本发明提供的电源芯片的抗干扰性测试系统中，还可以具有这样的特征：所述射频模块包括天线；在所述射频模块靠近电源芯片的过程中，所述射频模块的天线端指向所述电源芯片。
本发明的优点如下：
根据本发明所涉及的电源芯片的抗干扰性测试方法，射频模块在最大功率下工作时，将射频模块靠近正常工作的电源芯片，用示波器测量电源芯片的输出电压的电压波动曲线，根据示波器显示的电压波动曲线来判断电源芯片的抗干扰性，本发明测试方法简单，能够评估电源芯片的抗干扰性且不会增加成本。
本发明所涉及的电源芯片的抗干扰性测试系统，装置简单，测试方法简单，能够评估电源芯片的抗干扰性且不会增加成本。
附图说明
图1是本发明中电源芯片的抗干扰性测试方法的流程图；
图2是电源芯片未受干扰和受到干扰后的电压曲线图；
图3是本发明中电源芯片的抗干扰性测试系统的结构图。
其中，图2中纵坐标代表电压，横坐标代表时间，波形1为正常的电压输出波形，波形2为输出电压受到干扰的电压波形。
具体实施方式
为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，以下实施例结合附图对本发明的电源芯片的抗干扰性测试方法及其系统作具体阐述。
如图1所示，电源芯片的抗干扰性测试方法包括以下步骤：
向电源芯片提供一电压稳定的电源,使电源芯片在电源下正常工作，并测量电源芯片的输出电压的第一电压波形曲线。第一电压波形曲线为电源芯片未被干扰时的电压波形曲线。电源芯片正常工作不被干扰时，电源芯片的输出电压是一个稳定的状态，会一直稳定在一个恒定的值，上下波动基本上维持在50MV以内，波形是一个稳定的，纹波很小的电压波形，如图2中波形1。
在本实施例中，向电源芯片提供一电压稳定的电源包括：将电源芯片安装于电源芯片测试板上，电源芯片测试板与一外接电源连接，外接电源通过电源芯片测试板向电源芯片供电。具体地，电源芯片测试板为DEMO板，外电源为直流电电源。电源芯片测试板中的电源芯片可以更换为需要测量的电源芯片。
提供一射频模块，使射频模块在预设频率以及其最大额定功率下工作，并将射频模块靠近电源芯片，测量射频模块靠近电源芯片过程中电源芯片的输出电压的第二电压波形曲线。第二电压波形曲线为受到射频模块干扰的电压波形曲线。当电源芯片外部没有负载且电源受到外部干扰时，其输出电压有较大的电压波动，受到干扰的波形是一个有剧烈抖动的电压波形，纹波较大，如图2中波形2。
在本实施例中，射频模块包括天线；在射频模块靠近电源芯片的过程中，射频模块的天线端指向电源芯片。
在本实施例中，通过示波器测量电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线。具体地，采用电源芯片测试板时，用示波器测量电源芯片测试板的电源芯片的输出电容端获得电源芯片的输出电压的电压波形曲线。
根据电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线，确定电源芯片的抗干扰性。具体包括：根据第一电压波形曲线和第二电压波形曲线，判断所述电源芯片的输出电压的上下波动是否在第一预设电压之内，若是，则射频芯片对电源芯片不存在干扰；否则射频芯片对电源芯片存在干扰。第一预设电压根据与电源芯片连接的后端芯片的工作电压范围确定。
一般电源系统后端的芯片都会有一个正常工作的电压范围，例如1.8V-3.8V，当超出这一个电压范围，后端芯片就无法正常工作，因此，电源芯片受到干扰电压发生波动时，该波动是否会影响到电源芯片正常工作取决于后端芯片的工作电压范围，所以上述第一预设电压为电源系统后端芯片的工作电压范围，超过该范围，则说明电源芯片受到干扰，没有超过该范围，则说明该干扰不影响电源芯片正常工作。
根据电压波形波动的大小来判断电源芯片的抗干扰能力的强弱。当电源芯片受到干扰电压发生波动时，输出电压波形波动越厉害也就是纹波越大，输出电压越不稳定，电源芯片的抗干扰能力越小；反之，输出电压越稳定，电源芯片的抗干扰能力越强。
最后，需更改射频模块的频段，重复上述步骤。频段包括2G、3G、4G、5G等所有频段。更改射频模块的频段多次测试，是为了确保测试的可靠性。
如图3所示，电源芯片的抗干扰性测试系统100包括：测量电路10、射频模块20、示波器30。
电源芯片200安装在测量电路10中，测量电路10用于向电源芯片200提供一电压稳定的电源，使电源芯片200在该电源下正常工作。在本实施例中，测量电路10包括：电源芯片测试板11以及外接电源12，电源芯片200安装在电源芯片测试板11上，外接电源12与电源芯片测试板11连接，外接电源12通过电源芯片测试板11向电源芯片200供电。
射频模块20在预设频率以及其最大额定功率下工作，用于向所述电源芯片200提供射频信号源。
在本实施例中，射频模块20包括天线21。在射频模块20靠近电源芯片200的过程中，射频模块20的天线端指向电源芯片200。
示波器30与电源芯片200连接，用于测量电源芯片200正常工作时的第一电压波形曲线和射频模块20靠近电源芯片200过程中的第二电压波形曲线。
本发明测试方法简单，能够评估电源芯片的抗干扰性且不会增加成本。
上述实施方式为本发明的优选案例，并不用来限制本发明的保护范围。

Claims (9)

1.一种电源芯片的抗干扰性测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
向电源芯片提供一电压稳定的电源,使所述电源芯片在所述电源下正常工作，并测量所述电源芯片的输出电压的第一电压波形曲线；
提供一射频模块，使所述射频模块在预设频率以及其最大额定功率下工作，并将所述射频模块靠近所述电源芯片，测量所述射频模块靠近所述电源芯片过程中所述电源芯片的输出电压的第二电压波形曲线；
根据所述电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线，确定所述电源芯片的抗干扰性。
2.根据权利要求1所述的电源芯片的抗干扰性测试方法，其特征在于：
所述射频模块包括天线；在所述射频模块靠近电源芯片的过程中，所述射频模块的天线端指向所述电源芯片。
3.根据权利要求1所述的电源芯片的抗干扰性测试方法，其特征在于：
向电源芯片提供一电压稳定的电源包括：将所述电源芯片安装于电源芯片测试板上，所述电源芯片测试板与一外接电源连接，所述外接电源通过所述电源芯片测试板向所述电源芯片供电。
4.根据权利要求1-3任一权利要求所述的电源芯片的抗干扰性测试方法，其特征在于：
通过示波器测量所述电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线。
5.根据权利要求4所述的电源芯片的抗干扰性测试方法，其特征在于：
根据所述电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线，确定所述电源芯片的抗干扰性，包括：
根据所述第一电压波形曲线和所述第二电压波形曲线，判断所述电源芯片的输出电压的上下波动是否在第一预设电压之内，若是，则所述射频芯片对所述电源芯片不存在干扰；否则所述射频芯片对所述电源芯片存在干扰。
6.根据权利要求5所述的电源芯片的抗干扰性测试方法，其特征在于：
所述第一预设电压根据与所述电源芯片连接的后端芯片的工作电压范围确定。
7.一种实施权利要求1-6中任一权利要求所述的电源芯片的抗干扰性测试方法的电源芯片的抗干扰性测试系统，其特征在于，包括：
测量电路，用于向电源芯片提供一电压稳定的电源，使所述电源芯片在所述电源下正常工作；
射频模块，所述射频模块在预设频率以及其最大额定功率下工作，用于向所述电源芯片提供射频信号源；以及
示波器，与所述电源芯片连接，用于测量所述电源芯片正常工作时的第一电压波形曲线和所述射频模块靠近所述电源芯片过程中的第二电压波形曲线。
8.根据权利要求7所述的电源芯片的抗干扰性测试系统，其特征在于：
所述测量电路包括：电源芯片测试板以及外接电源，所述电源芯片安装在所述电源芯片测试板上，所述外接电源与所述电源芯片测试板连接，所述外接电源通过所述电源芯片测试板向所述电源芯片供电。
9.根据权利要求7所述的电源芯片的抗干扰性测试系统，其特征在于：
所述射频模块包括天线；在所述射频模块靠近电源芯片的过程中，所述射频模块的天线端指向所述电源芯片。
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Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1834321A2 (en) * 2004-12-14 2007-09-19 Quellan, Inc. Method and system for reducing signal interference
CN102916468A (zh) * 2012-10-19 2013-02-06 北京小米科技有限责任公司 电池供电电路、方法及移动终端
CN103692984A (zh) * 2013-12-27 2014-04-02 天泽信息产业股份有限公司 搭载于车载系统的电磁兼容设计方法
CN104635190A (zh) * 2014-12-31 2015-05-20 漳州科能电器有限公司 一种计量芯片抗干扰检测及纠错方法和装置
CN105527508A (zh) * 2015-07-10 2016-04-27 北京中电华大电子设计有限责任公司 一种评估智能卡芯片cpu抗干扰能力的测试装置及方法
CN105988049A (zh) * 2015-02-28 2016-10-05 惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司 一种噪声抑制的调试方法
CN106291189A (zh) * 2016-08-15 2017-01-04 北京航空航天大学 一种模拟真实边界的无扰动可重构式电磁干扰检测装置及检测方法
CN106405473A (zh) * 2016-08-29 2017-02-15 中国电力科学研究院 一种适用于高压计量设备的辐射抗扰度电磁兼容测试系统及方法
CN106653091A (zh) * 2015-10-30 2017-05-10 龙芯中科技术有限公司 芯片抗辐射能力的评测方法、装置及芯片
CN106872883A (zh) * 2017-04-11 2017-06-20 山东盛品电子技术有限公司 一种可用于多种芯片封装形式的测试母板及测试方法
CN207181563U (zh) * 2017-09-19 2018-04-03 北京汽车研究总院有限公司 一种电机控制器射频抗干扰测试装置
CN107907818A (zh) * 2017-10-12 2018-04-13 中车青岛四方机车车辆股份有限公司 一种检测多场作用下电路板的实验装置及实验方法
CN109212325A (zh) * 2018-10-16 2019-01-15 广州广电计量检测股份有限公司 一种电源线缆串扰耦合测试方法

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1834321A2 (en) * 2004-12-14 2007-09-19 Quellan, Inc. Method and system for reducing signal interference
CN102916468A (zh) * 2012-10-19 2013-02-06 北京小米科技有限责任公司 电池供电电路、方法及移动终端
CN103692984A (zh) * 2013-12-27 2014-04-02 天泽信息产业股份有限公司 搭载于车载系统的电磁兼容设计方法
CN104635190A (zh) * 2014-12-31 2015-05-20 漳州科能电器有限公司 一种计量芯片抗干扰检测及纠错方法和装置
CN105988049A (zh) * 2015-02-28 2016-10-05 惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司 一种噪声抑制的调试方法
CN105527508A (zh) * 2015-07-10 2016-04-27 北京中电华大电子设计有限责任公司 一种评估智能卡芯片cpu抗干扰能力的测试装置及方法
CN106653091A (zh) * 2015-10-30 2017-05-10 龙芯中科技术有限公司 芯片抗辐射能力的评测方法、装置及芯片
CN106291189A (zh) * 2016-08-15 2017-01-04 北京航空航天大学 一种模拟真实边界的无扰动可重构式电磁干扰检测装置及检测方法
CN106405473A (zh) * 2016-08-29 2017-02-15 中国电力科学研究院 一种适用于高压计量设备的辐射抗扰度电磁兼容测试系统及方法
CN106872883A (zh) * 2017-04-11 2017-06-20 山东盛品电子技术有限公司 一种可用于多种芯片封装形式的测试母板及测试方法
CN207181563U (zh) * 2017-09-19 2018-04-03 北京汽车研究总院有限公司 一种电机控制器射频抗干扰测试装置
CN107907818A (zh) * 2017-10-12 2018-04-13 中车青岛四方机车车辆股份有限公司 一种检测多场作用下电路板的实验装置及实验方法
CN109212325A (zh) * 2018-10-16 2019-01-15 广州广电计量检测股份有限公司 一种电源线缆串扰耦合测试方法

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
HENGFEIZHONG等: "A mechanism for detecting on-chip radio frequency interference of field-programmable gate array", 《INTEGRATION》 *
毛毳: "CMOS射频接收芯片的片上低噪声电源管理系统研究与设计", 《中国博士学位论文全文数据库信息科技辑》 *
陈健: "电动汽车电池管理系统电磁兼容性分析与设计", 《中国优秀硕士学位论文全文数据库工程科技Ⅱ辑》 *

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