CN201417296Y - 一种指针表集成电路测试装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型适用于测试的技术领域，提供了一种指针表集成电路测试装置，装置包括：对被测集成电路的电气参数进行采集的针卡；根据针卡采集的电气参数进行处理，输出测试结果信号的测试单元；与测试单元连接，根据测试结果信号并输出控制信号的主控制模块；显示测试结果的显示模块；分别与主控制模块和显示模块连接的从控制模块，接收主控制模块输出的控制信号，控制显示模块显示。在本实用新型中，该指针表集成电路测试装置采用主控制模块和从控制模块，从控制模块专门负责控制显示模块显示，从而分担了主控制模块的工作，缩短了测试时间，也降低了测试成本。

Description

一种指针表集成电路测试装置
技术领域
本实用新型属于测试的技术领域，尤其涉及一种指针表集成电路测试装置。
背景技术
随着集成电路设计业的兴旺，使得社会对集成电路测试的需求也越来越大，对集成电路测试既是集成电路产业链中的一环，也是集成电路产品验证出厂的关键。
目前，采用通用测试装置对指针表集成电路进行测试，但是，这种测试装置对指针表集成电路的测试时间较长，测试成本比较高。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种指针表集成电路测试装置，旨在解决现在的测试装置存在对指针表集成电路的测试时间较长，测试成本比较高的问题。
本实用新型是这样实现的，一种指针表集成电路测试装置，所述装置包括：
用于装载被测集成电路的探针台；
对被测集成电路的电气参数进行采集的针卡；
根据所述针卡采集的电气参数进行处理，输出测试结果信号的测试单元；
分别与所述针卡和测试单元连接的选通模块，通过不同的通道选通，实现所述针卡与测试单元中不同测试模块的连接；
与所述测试单元连接，根据所述测试结果信号并输出控制信号的主控制模块；
显示测试结果的显示模块；
分别与所述主控制模块和显示模块连接的从控制模块，接收主控制模块输出的控制信号，控制所述显示模块显示；以及
分别与所述主控制模块和探针台连接的通讯模块，实现主控制模块和探针台之间的信号通讯；
上述结构中，所述测试单元包括：
根据所述针卡采集的电气参数，输出接触测试结果信号的接触测试模块；
根据所述针卡采集的电气参数，输出电流测试结果信号的电流测试模块；
根据所述针卡采集的电气参数，输出频率测试结果信号的频率测试模块；以及
根据所述针卡采集的电气参数，输出功能测试结果信号的功能测试模块；
上述结构中，所述装置还包括：
分别与所述主控制模块和电脑连接的下载控制模块，所述主控制模块和从控制模块通过所述下载控制模块从电脑下载控制程序；
上述结构中，所述主控制模块为AT89S52单片机；
上述结构中，所述从控制模块为AT89S52单片机；
上述结构中，所述显示模块为LCD显示模块；
上述结构中，所述选通模块为继电器阵列。
在本实用新型中，该指针表集成电路测试装置采用主控制模块和从控制模块，从控制模块专门负责控制显示模块显示，从而分担了主控制模块的工作，缩短了测试时间，也降低了测试成本。
附图说明
图1是本实用新型实施例提供的指针表集成电路测试装置的结构图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
图1示出了本实用新型实施例提供的指针表集成电路测试装置的结构，为了便于说明，仅示出了与本实用新型相关的部分。
指针表集成电路测试装置包括：用于装载被测集成电路的探针台100；对被测集成电路的电气参数进行采集的针卡200；根据针卡200采集的电气参数进行处理，输出测试结果信号的测试单元300，作为本实用新型一实施例，测试单元300包括：根据针卡200采集的电气参数，输出接触测试结果信号的接触测试模块301；根据针卡200采集的电气参数，输出电流测试结果信号的电流测试模块302；根据针卡200采集的电气参数，输出频率测试结果信号的频率测试模块303；以及根据针卡200采集的电气参数，输出功能测试结果信号的功能测试模块304。
指针表集成电路测试装置还包括：分别与针卡200和测试单元300连接的选通模块400，通过不同的通道选通，实现针卡200与测试单元300中不同测试模块的连接；与测试单元300连接，根据测试结果信号并输出控制信号的主控制模块500；显示测试结果的显示模块600；分别与主控制模块500和显示模块600连接的从控制模块700，接收主控制模块500输出的控制信号，控制显示模块600显示；以及分别与主控制模块500和探针台100连接的通讯模块800，实现主控制模块500和探针台100之间的信号通讯。
作为本实用新型一实施例，该指针表集成电路测试装置还包括分别与主控制模块500和电脑连接的下载控制模块900，主控制模块500和从控制模块700通过下载控制模块900从电脑下载控制程序。
主控制模块500为AT89S52单片机，从控制模块700为AT89S52单片机，显示模块600为LCD显示模块，选通模块400为继电器阵列。
该指针表集成电路测试装置的工作过程为：
首先，主控制模块500和从控制模块700通过下载控制模块900从电脑下载控制程序，使得该指针表集成电路测试装置可以脱机工作。
主控制模块500不停检测探针台100发送的开始信号，当检测到开始信号，主控制模块500开始执行测试程序，首先是接触测试，针卡200对被测集成电路的电气参数进行采集，接触测试模块301根据针卡200采集的电气参数，输出接触测试结果信号，主控制模块500根据触测试结果信号并输出控制信号，如果测试不通过，主控制模块500通过通讯模块800向探针台100发送测试结束信号，并发送显示控制信号给从控制模块700，使其控制显示模块600显示测试结果；如果测试通过，则进行频率测试，其测试过程与接触测试一样，频率测试通过后接着进行电流测试和功能测试，等所有电气参数测试完后，如果测试通过，主控制模块500输出控制信号给探针台100，控制探针台100的移动，使得指针表集成电路测试装置对下一个被测集成电路进行测试。
在本实用新型实施例中，该指针表集成电路测试装置采用主控制模块和从控制模块，从控制模块专门负责控制显示模块显示，从而分担了主控制模块的工作，缩短了测试时间，也降低了测试成本。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1、一种指针表集成电路测试装置，其特征在于，所述装置包括：
用于装载被测集成电路的探针台；
对被测集成电路的电气参数进行采集的针卡；
根据所述针卡采集的电气参数进行处理，输出测试结果信号的测试单元；
分别与所述针卡和测试单元连接的选通模块，通过不同的通道选通，实现所述针卡与测试单元中不同测试模块的连接；
与所述测试单元连接，根据所述测试结果信号并输出控制信号的主控制模块；
显示测试结果的显示模块；
分别与所述主控制模块和显示模块连接的从控制模块，接收主控制模块输出的控制信号，控制所述显示模块显示；以及
分别与所述主控制模块和探针台连接的通讯模块，实现主控制模块和探针台之间的信号通讯。
2、如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试单元包括：
根据所述针卡采集的电气参数，输出接触测试结果信号的接触测试模块；
根据所述针卡采集的电气参数，输出电流测试结果信号的电流测试模块；
根据所述针卡采集的电气参数，输出频率测试结果信号的频率测试模块；以及
根据所述针卡采集的电气参数，输出功能测试结果信号的功能测试模块。
3、如权利要求1或2所述的测试装置，其特征在于，所述装置还包括：
分别与所述主控制模块和电脑连接的下载控制模块，所述主控制模块和从控制模块通过所述下载控制模块从电脑下载控制程序。
4、如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述主控制模块为AT89S52单片机。
5、如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述从控制模块为AT89S52单片机。
6、如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述显示模块为LCD显示模块。
7、如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述选通模块为继电器阵列。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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