CN110455873A - 一种采用W掺杂改善MoS2气体传感器性能的方法 - Google Patents

一种采用W掺杂改善MoS2气体传感器性能的方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供了一种采用W掺杂改善MoS2气体传感器性能的方法,包括以下步骤:在MoS2生长过程中,引入与Mo4+离子半径相近的W4+离子,实现对材料空位的填补,改善气体分子在材料表面的吸附/脱附行为。通过水热法合成了W掺杂MoS2材料,并进一步制作出平面叉指型NO2气体传感器。结果表明,W的掺杂使得MoS2气体传感器对NO2气体的响应/恢复行为得到了极大的改善,响应/恢复时间降低了一个数量级,从几百秒降低到几十秒。本发明利用经济有效的水热法实现了空位补偿并且提高了MoS2气体传感器响应/恢复速度,制备过程简单,反应条件对所需仪器要求低、工艺简单、成本低等优点,在室温快速气体检测中的领域中具有巨大的应用前景。

Description

一种采用W掺杂改善MoS2气体传感器性能的方法
技术领域
本发明涉及一种半导体气体传感器,特别涉及一种采用W掺杂改善MoS2气体传感器性能的方法。
背景技术
随着现代工业的迅速发展,大量的有毒有害气体被排放,环境空气质量问题已经成为人们广泛的关注点。氮氧化物(NO2)是一种典型的空气污染物,对人体健康和环境构成威胁。因此,研制具有快速气体检测、高选择性和高灵敏度的NO2气体传感器以实现对环境中NO2气体的高效检测具有十分重要的意义。
MoS2作为一种高效的NO2气体传感材料,由于不需要加热装置就能在室温下检测NO2而受到广泛的关注。一些理论计算证实NO2以物理吸附的形式吸附在MoS2表面,这意味着NO2对MoS2的吸附和解吸行为是非常短的过程。然而,水热法和其他湿法合成的MoS2在室温下检测气体时,并没有理论预测的快速响应/恢复行为。这是因为水热法合成的MoS2表面存在或多或少的缺陷(如钼空位、硫空位),并不是理论计算中理想的均匀表面。这些缺陷导致了MoS2与气体分子之间的强化学吸附,使得气态NO2难以从MoS2表面脱附。MoS2因在室温下脱附困难,导致其在室温下的响应/恢复时间较慢,甚至没有恢复,这极大地阻碍了MoS2的实际应用。
发明内容
为了解决上述技术问题,本发明提供一种采用W掺杂改善MoS2气体传感器性能的方法。
发明原理:在MoS2生长过程中,引入与Mo4+离子半径相近的W4+离子,W4+进入晶格后填补了Mo4+缺失产生的空位,达到MoS2均匀表面的目的。通过对MoS2材料中空位的填补实现气敏性能提升。
采用以下技术方案实现:采用水热法合成了W掺杂MoS2材料,包含下述步骤:
步骤1,称取钼酸钠、硫代乙酸铵和钨酸钠置于烧杯中,溶于去离子水中并使用磁力搅拌器搅拌使其分散均匀;
步骤2,在上述混合溶液中加入0.3 g硅酸钠,促进W掺杂MoS2材料的形成;将稀盐酸逐滴滴入上述溶液中,调节透明溶液的pH值为6;
步骤3,将上述均匀溶液转移到聚四氟乙烯内胆中,然后将内胆装入不锈钢反应釜中,并将反应釜密封,放入烘箱中加热反应;
步骤4,待反应釜自然冷却后,将釜内悬浊液取出,进行离心分离操作,得到黑色沉淀,然后将所得的黑色沉淀进行清洗、干燥,得到W掺杂MoS2材料。
上述的一种采用W掺杂改善MoS2气体传感器性能的方法,其特征在于:所述W掺杂MoS2材料中Mo与W的摩尔比为1:0~1:3。
上述的一种采用W掺杂改善MoS2气体传感器性能的方法,所述步骤3中,其特征在于:所述水热法的生长参数为水热温度200℃,反应时间24小时。
上述的一种采用W掺杂改善MoS2气体传感器性能的方法,所述步骤4中,其特征在于:离心分离的转速为3500~7500转每分钟,采用去离子水和无水乙醇对所得的黑色沉淀进行清洗,干燥温度为60℃,干燥时间为4-12小时。
上述一种采用W掺杂改善MoS2气体传感器性能的方法,包括基于W掺杂MoS2的室温NO2气体传感器的制备方法,其特征在于,按照以下步骤进行:
步骤1,在带有银/钯叉指电极的氧化铝陶瓷基底上连接外接引脚;
步骤2,将W掺杂MoS2溶于无水乙醇中,然后进行超声分散处理,使溶液分散均匀,得到悬浊液;
步骤3,用胶头滴管吸取步骤2中分散均匀后的悬浊液,然后滴至银/钯叉指电极上形成敏感薄膜,再将器件自然风干,待乙醇蒸发后再将制备好的传感器老化,得到基于W掺杂MoS2的室温NO2气体传感器。
上述的基于W掺杂MoS2的室温NO2气体传感器的制备方法,所述步骤3中,其特征在于:器件自然风干4-8小时,老化时间为12-24小时。
本发明的有益效果在于:
1.本发明提供了一种采用W掺杂改善MoS2气体传感器性能的方法,在MoS2生长过程中,引入与Mo4+离子半径相近的W4+离子,实现对材料空位的填补,改善气体分子在材料表面的吸附/脱附行为。相比于纯MoS2材料,W掺杂MoS2材料在室温下对NO2的响应/恢复行为得到了极大的改善,响应/恢复时间降低了一个数量级,从几百秒降低到几十秒。掺W还大幅度的提高了MoS2的响应值和灵敏度。克服了纯MoS2响应/恢复时间超长的缺点,实现了室温下对NO2的精确、高效、快速、稳定检测;
2.本发明利用简单的水热法制备了W掺杂MoS2材料,制备过程简单,反应条件对所需仪器要求低;采用市售的平面叉指电极基底,通过滴涂法制作成传感器,工艺简单,成本低。
附图说明
图1为本发明的实施例中Mo:W摩尔比为1:2的W掺杂MoS2材料的X射线衍射图谱。
图2为本发明的实施例和对比例的光致发光图谱。
图3为本发明的实施例和对比例对NO2浓度曲线的响应图。
图4为本发明的实施例和对比例在25℃对20 ppm NO2响应和恢复时间对比图。
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。
一种采用W掺杂改善MoS2气体传感器性能的方法,其特征在于,在MoS2生长过程中,引入与Mo4+离子半径相近的W4+离子,实现对材料空位的填补。采用水热法合成了W掺杂MoS2材料,并进一步制作出平面叉指型NO2气体传感器。
对比例:
以Mo/W摩尔比例为1:0,1:1和1:3的W掺杂MoS2制作平面叉指型气体传感器,其具体的制作过程如下:
①称取1.21 g钼酸钠(5 mmol)、1.127 g硫代乙酸铵(15 mmol)和0/ 1.65/ 4.95 g 钨酸钠(0/ 5/ 15 mmol)分别置于烧杯中,加入30 mL去离子水,使用磁力搅拌器搅拌25分钟使其溶解;
②将上述混合溶液中加入0.3 g硅酸钠,促进W掺杂MoS2材料的形成;
③将稀盐酸(2 mol/L)逐滴滴入上述溶液中,调节透明溶液的pH值约为6;
④将上述均匀溶液转移到容积为150 mL聚四氟乙烯内胆中,然后将内胆装入不锈钢反应釜中,并将反应釜密封,放入烘箱中加热反应在200℃下加热反应24小时;
⑤待反应釜自然冷却后,将釜内悬浊液取出,在7500转每分钟的转速下离心分离,所得的黑色沉淀前后分别用去离子水和无水乙醇分别清洗3遍,然后在60℃下干燥12小时后,得到不同掺杂比例的W掺杂MoS2材料,记为W0,W1,W3
⑥将0.1 g W0,W1,W3与3 mL无水乙醇混合,超声分散处理15分钟,使溶液分散均匀;将分散均匀后的悬浊液用胶头滴管滴至银/钯叉指电极上,再将器件自然风干8小时,待乙醇蒸发后再将制备好的传感器老化24小时,得到基于W0,W1,W3的室温NO2气体传感器。
实施例:
以Mo/W摩尔比为1:2的W掺杂MoS2作为敏感材料制作平面叉指型气体传感器,其具体的制作过程如下:
①称取1.21 g钼酸钠(5 mmol)、1.127 g硫代乙酸铵(15 mmol)、和3.30 g 钨酸钠(10mmol)置于烧杯中,加入30 mL去离子水,使用磁力搅拌器搅拌25分钟使其溶解;
②将上述混合溶液中加入0.3 g硅酸钠,促进W掺杂MoS2材料的形成;
③将稀盐酸(2 mol/L)逐滴滴入上述溶液中,调节透明溶液的pH值约为6;
④将上述均匀溶液转移到容积为150 mL聚四氟乙烯内胆中,然后将内胆装入不锈钢反应釜中,并将反应釜密封,放入烘箱中加热反应在200℃下加热反应24小时;
⑤待反应釜自然冷却后,将釜内悬浊液取出,在7500转每分钟的转速下离心分离,所得的黑色沉淀前后分别用去离子水和无水乙醇分别清洗3遍,然后在60℃下干燥12小时后,得到Mo/W掺杂比例为1:2的W掺杂MoS2粉末,记为W2
⑥在带有银/钯叉指电极的氧化铝陶瓷基底上连接外接引脚;
⑦将0.1 g W2与3 mL无水乙醇混合,超声分散处理15分钟,使溶液分散均匀;
⑧将分散均匀后的悬浊液用胶头滴管滴至银/钯叉指电极上,再将器件自然风干8小时,待乙醇蒸发后再将制备好的传感器老化24小时,得到基于W2的室温NO2气体传感器。
如图1所示,实施例W2的X射线衍射图(XRD)中的特征峰与与标准六角形二硫化钼JCPDS卡(37-1492)的衍射峰有很好的对应关系。XRD分析结果表明,W已经成功地掺杂到MoS2中,没有形成其他材料。
如图2所示,W0-W3缺陷浓度的差异可以通过材料的光致发光强度(PL)来确定。W0在1.77 eV的发射波段表现出较强的PL强度,随着掺W比例的增大,发光强度逐渐减小,然后增大,但发射带不变。不同掺钨比的MoS2的PL光谱强度变化表明,W作为掺杂剂为水热合成的MoS2提供了有效的空位补偿,降低缺陷浓度,其中实施例W2的缺陷最少。
如图3所示,W掺杂可以提高MoS2气体传感器对NO2的响应度,但不是W的掺杂量越多响应越大。在四个不同的掺杂比中, 当Mo/W掺杂比为1:2时响应度最高,在室温下的响应值是纯MoS2的12倍。实施例W2的气敏性能最佳,因此Mo/W比为1:2是纯MoS2的最佳掺杂比,最大限度地提高制备材料对NO2的响应和灵敏度。
如图4(a-b)所示,在20 ppm NO2氛围下,对比例W0(纯MoS2),对NO2的响应和恢复行为较差,响应和恢复时间均超过100 s甚至接近1000 s。与W0相比,W1的响应时间和恢复时间略短,这是由于W对MoS2的补偿。低掺杂浓度限制了对MoS2表面缺陷的补偿,使得W1表面仍有一定数量的Mo空位不能完全补偿。随着W掺杂浓度的增加,通过W对Mo空位的连续补偿,缺陷会逐渐减小。特别是当Mo/W比值增加到1:2 (实施例W2)时,几乎所有的Mo空位都可能被W原子占据,且MoS2表面可能接近理想的无缺陷表面。此时W2的响应/恢复时间大大提高,与W0(纯MoS2)相比,其响应/恢复时间减少了近一个数量级,从数百秒减少到数十秒。随着Mo/W比值的不断增大,W的过量掺杂使得MoS2对NO2的响应和恢复行为变差,W3的响应和恢复时间比W2长。其原因是过量的W原子在补偿了MoS2表面的所有Mo空位后,会挤入间隙通道形成间隙杂质,导致晶格畸变,导致W3产生新的缺陷。上述讨论中缺陷浓度随W掺杂量的变化趋势与之前的PL测量结果一致。需要注意的是,W0或W1在20 ppm NO2浓度下的响应时间均大于恢复时间。相反,W2或W3在每个NO2浓度下的响应时间都小于回收时间,这意味着NO2在材料表面的吸附类型发生了变化(化学吸附转变为物理吸附)。NO2物理吸附在W2的近似理想无缺陷表面占主导地位,这是W2响应/恢复时间最快的主要原因。通过W掺杂实现了对水热法制备的MoS2中的缺陷(Mo空位)进行补偿,进一步获得理论上均匀的表面,实现对NO2的快速响应恢复行为。

Claims (7)

1.一种采用W掺杂改善MoS2气体传感器性能的方法,在MoS2生长过程中,引入与Mo4+离子半径相近的W4+离子,W4+进入晶格后填补了Mo4+缺失产生的空位,达到MoS2均匀表面的目的,其特征在于,通过对MoS2材料中空位的填补实现气敏性能提升。
2.根据权利要求1所述的一种采用W掺杂改善MoS2气体传感器性能的方法,其特征在于:采用水热法合成了W掺杂MoS2材料,包含下述步骤:
步骤1,称取钼酸钠、硫代乙酸铵和钨酸钠置于烧杯中,溶于去离子水中并使用磁力搅拌器搅拌使其分散均匀;
步骤2,将上述混合溶液中加入0.3g硅酸钠,促进W掺杂MoS2材料的形成;将稀盐酸逐滴滴入上述溶液中,调节透明溶液的pH值为6;
步骤3,将上述均匀溶液转移到容积为150mL聚四氟乙烯内胆中,然后将内胆装入不锈钢反应釜中,并将反应釜密封,放入烘箱中加热反应;
步骤4,待反应釜自然冷却后,将釜内悬浊液取出,进行离心分离操作,得到黑色沉淀,然后将所得的黑色沉淀进行清洗、干燥,得到W掺杂MoS2材料。
3.根据权利要求1所述的一种采用W掺杂改善MoS2气体传感器性能的方法,其特征在于:所述W掺杂MoS2材料中Mo与W的摩尔比为1:0~1:3。
4.根据权利要求1所述的一种采用W掺杂改善MoS2气体传感器性能的方法,所述步骤3中,其特征在于:所述水热法的生长参数为水热温度200℃,反应时间24小时。
5.根据权利要求1所述的一种采用W掺杂改善MoS2气体传感器性能的方法,所述步骤4中,其特征在于:离心分离的转速为3500~7500转每分钟,采用去离子水和无水乙醇对所得的黑色沉淀进行清洗,干燥温度为60℃,干燥时间为4-12小时。
6.根据权利要求1-4中任一项所述一种采用W掺杂改善MoS2气体传感器性能的方法,包括基于W掺杂MoS2的室温NO2气体传感器的制备方法,其特征在于,按照以下步骤进行:
步骤1,在带有银/钯叉指电极的氧化铝陶瓷基底上连接外接引脚;
步骤2,将W掺杂MoS2溶于无水乙醇中,然后进行超声分散处理,使溶液分散均匀,得到悬浊液;
步骤3,用胶头滴管吸取步骤2中分散均匀后的悬浊液,然后滴至银/钯叉指电极上形成敏感薄膜,再将器件自然风干,待乙醇蒸发后再将制备好的传感器老化,得到基于W掺杂MoS2的室温NO2气体传感器。
7.根据权利要求5所述的基于W掺杂MoS2的室温NO2气体传感器的制备方法,所述步骤3中,其特征在于:器件自然风干4-8小时,老化时间为12-24小时。
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