CN110412847A - 成像设备 - Google Patents

Abstract

本公开涉及一种成像设备，其中中间转印带在与感光鼓和清洁刮刀接触的表面上包括多个凹槽，多个凹槽在与中间转印带的移动方向相交的宽度方向上沿着中间转印带的移动方向形成。此外，中间转印带包括：多个第一区域，在多个第一区域中相邻凹槽在宽度方向上以预定间隔布置；和第二区域，第二区域定位在多个第一区域之间且在所述第二区域中相邻凹槽之间在宽度方向上的间隔不同于预定间隔。第二区域在中间转印带的宽度方向上布置在在浓度校正中斑点调色剂待形成的范围的之外。

Description

成像设备

技术领域

本公开涉及一种电子照相成像设备，例如复印件和打印机。

背景技术

已经存在市售的采用中间转印方法的电子照相彩色成像设备。在中间转印方法中，调色剂图像从不同颜色的成像单元被相继地转印到中间转印构件上，并且接着所转印的调色剂图像从中间转印构件共同转印到转印材料上。

在这种成像设备中，成像单元中的每一个均包括作为图像承载构件的鼓形感光构件(在下文中被称为“感光鼓”)。广泛地使用形成为环状带的中间转印带作为中间转印构件。初级转印电源向经由中间转印带布置成面向感光鼓的初级转印构件施加电压，从而使得形成在成像单元的感光鼓上的调色剂图像初级转印到中间转印带上。次级转印电源向次级转印部分处的次级转印构件施加电压，使得从相应颜色的成像单元初级转印到中间转印带上的相应颜色的调色剂图像从中间转印带被共同地初级转印到转印材料上，所述转印材料例如为纸张片材或高射投影仪(OHP)片材。然后，转印材料上的相应颜色的所转印的调色剂图像通过定影单元被定影到转印材料。

在采用中间转印方法的成像设备中，在调色剂图像从中间转印带次级转印到转印材料上之后，调色剂残留在中间转印带上(残余未转印调色剂)。因此，需要在对应于下一图像的调色剂图像初级转印到中间转印带上之前移除残留在中间转印带上的残余未转印调色剂。

广泛地使用刮刀清洁方法作为一种用于移除残余未转印调色剂的方法。在刮刀清洁方法中，通过清洁刮刀刮去残余未转印调色剂且将其收集到清洁容器中，所述清洁刮刀是与中间转印带接触的接触构件且在中间转印带的移动方向上布置在次级转印部分的下游。一般而言，使用例如聚氨酯橡胶的弹性构件作为清洁刮刀。清洁刮刀通常布置在以下状态下，在所述状态下清洁刮刀的边缘部分从与中间转印带的移动方向相对的方向(反方向)压抵中间转印带。此时，用于收集残余未转印调色剂的收集夹持部分形成在清洁刮刀与中间转印带压力接触的位置处。

近年来，需要一种耐久性提高的成像设备，并且因此使用刮刀清洁方法的成像设备需要提供耐受重复使用的改善的耐久性。日本专利申请特开No.2015-125187论述一种结构，其中凹槽沿着中间转印带的移动方向形成在中间转印带的表面上，使得清洁刮刀与中间转印带之间的摩擦系数降低，以便防止清洁刮刀磨损且提高耐久性。此外，日本专利申请特开No.2015-125187论述了可以使用研磨膜、模具或纳米压印技术在中间转印带的表面上形成凹槽形状。

在使用具有其上形成有突出形状的表面的模具在中间转印带上形成凹槽的情况下，在使模具压抵中间转印带的表面的状态下旋转模具或中间转印带，因此在中间转印带上提供凹槽形状。此时，如果施加成将模具压抵中间转印带的压力较高，则模具可能会变形，这可能会导致形成在中间转印带的表面上的凹槽形状在模具的更长侧方向(与中间转印带的移动方向相交的中间转印带的宽度方向)上的不均匀性(或非均匀性)。在凹槽形状在模具的更长侧方向上不均匀的情况下，清洁刮刀与中间转印带之间的摩擦系数会变化，从而使得清洁刮刀在模具的更长侧方向上的磨损量同样会变化。

为了减少或防止由于随时间的周围环境改变或成像设备的老化而导致的图像改变，在满足预定条件的时刻在成像设备中执行校正控制以校正成像条件，例如图像浓度和成像位置。更具体地，用于检测的调色剂图像(在下文中被称为“斑点调色剂”)形成在中间转印带上，并且检测单元检测关于所形成的调色剂图像的浓度相关信息和位置相关信息，并且将所检测的信息作为反馈传输到控制单元，因此校正成像条件，例如图像浓度和成像位置。在校正控制时形成的斑点调色剂的量和调色剂电荷比在从中间转印带到转印材料的次级转印之后残留的残余未转印调色剂更大。因此，斑点调色剂易于牢固地粘合到中间转印带。

因此，如果清洁刮刀在模具的更长侧方向上的磨损量如上文所述发生变化，那么斑点调色剂可能在变化显著的位置处滑过清洁刷，这可能会导致清洁缺陷。

发明内容

本公开涉及一种用于防止或减少如下结构中由用于检测的调色剂图像滑过接触构件所致的清洁缺陷、同时改善接触构件的耐久性的技术，在所述结构中与中间转印构件接触的接触构件收集残留在中间转印构件上的调色剂。

根据本公开的一方面，一种成像设备包括：图像承载构件，所述图像承载构件构造成承载调色剂图像；中间转印构件，所述中间转印构件能够移动，并且与所述图像承载构件接触，承载在所述图像承载构件上的调色剂图像被初级转印到所述中间转印构件上；收集单元，所述收集单元在所述中间转印构件的移动方向上设置在次级转印部分的下游，在所述次级转印部分中所述中间转印构件上的初级转印的调色剂图像从所述中间转印构件被次级转印到转印材料上，其中所述收集单元包括与所述中间转印构件接触的接触构件，并且构造成在所述调色剂图像穿过所述次级转印部分之后使用所述接触构件收集残留在所述中间转印构件上的调色剂；检测单元，所述检测单元构造成检测用于检测的调色剂图像，所述用于检测的调色剂图像从所述图像承载构件被转印到所述中间转印构件上；和控制单元，所述控制单元构造成基于所述检测单元的检测结果执行校正控制以校正用于使用所述调色剂图像形成图像的成像条件。所述中间转印构件在其与所述图像承载构件和所述接触构件接触的表面上包括多个凹槽，所述多个凹槽相对于所述中间转印构件的宽度方向沿着移动方向形成，所述宽度方向与所述移动方向相交。所述中间转印构件包括：多个第一区域，在所述多个第一区域中所述多个凹槽中的相邻凹槽在宽度方向上以预定间隔布置，和第二区域，所述第二区域定位在所述多个第一区域之间，并且在所述第二区域中所述多个凹槽中的相邻凹槽之间在宽度方向上的间隔不同于所述预定间隔，所述第二区域在宽度方向上布置在在校正控制中所述用于检测的调色剂图像待形成的范围之外。

本公开的其它特征和方面根据以下参考附图对实施例的描述将变得显而易见。

附图说明

图1是示出示例性成像设备的简化结构的示意性剖视图。

图2A和2B是各自示出带清洁单元的示例性结构的示意图。

图3A、3B和3C是示出浓度校正的示意图。

图4是示出中间转印构件的示例性结构的示意性放大局部剖视图。

图5A、5B和5C是示出根据第一实施例的压印处理的示意图。

图6A和6B是示出根据第一实施例的在中间转印构件的宽度方向上的凹槽深度分布和平均值的分布的图。

图7A、7B和7C是示出根据传统示例的压印处理的示意图。

图8是示出根据第一实施例的中间转印构件在宽度方向上的位置与形成用于检测的调色剂图像的位置之间的关系以及凹槽深度分布的图。

图9是示出根据第一实施例的在中间转印构件的周向方向上的相位与在第二区域中的凹槽间隔之间的关系的图。

图10A和10B是示出根据第二实施例的在中间转印构件的宽度方向上的凹槽深度分布的平均值以及在中间转印构件的周向方向上的相位与在第二区域中的凹槽间隔之间的关系的图。

具体实施方式

以下将参考附图对本公开的各种实施例进行详细描述。应注意，在以下实施例中所述的部件的尺寸、材料、形状和相对位置能够被改变为适合于本公开适用的设备的结构和各种条件，并且因此并不意图限制本公开的范围，除非另外指明。

以下将详细描述本公开的第一实施例。图1是示出根据本实施例的成像设备100的简化结构的示意性剖视图。根据本实施例的成像设备100是串联式激光束打印机，其能够使用电子照相方法形成全色图像并且采用中间转印方法。

成像设备100包括成排的四个成像单元SY、SM、SC和SK。成像单元SY、SM、SC和SK分别形成黄色(Y)、品红色(M)、青色(C)和黑色(K)图像。在本实施例中，成像单元SY、SM、SC和SK的结构和操作基本上类似，除了由成像单元SY、SM、SC和SK使用的调色剂的颜色不同之外。因此，在下文中，成像单元SY、SM、SC和SK将在没有各个结尾处的符号“Y”、“M”、“C”和“K”的情况下被共同描述，除非成像单元SY、SM、SC和SK需要进行区分，所述符号指示成像单元SY、SM、SC和SK所提供的颜色。

成像单元S包括作为图像承载构件的鼓形(圆柱形)感光鼓1。感光鼓1在图中所示出的箭头R1的方向上以预定处理速度(在本实施例中为210mm/sec)被驱动和旋转。充电辊2、曝光单元3、显影单元4和鼓清洁单元6以此次序沿着感光鼓1的旋转方向围绕感光鼓1设置。充电辊2是作为充电单元的辊形充电构件。鼓清洁单元6收集残留在感光鼓1上的残余调色剂。

显影单元4存储非磁性单组分显影剂作为显影剂且包括显影套筒41和显影剂施加刮刀42。显影套筒41是显影剂承载构件，并且显影剂施加刮刀42是显影剂管控单元。在每个成像单元S中，感光鼓1、显影单元4和鼓清洁单元6、作为作用于感光鼓1的处理单元的充电辊2集成为处理盒，所述处理盒可附接到成像设备100的本体且可从所述本体拆卸。曝光单元3包括扫描仪单元，所述扫描仪单元使用多面反射镜运用激光执行扫描，且将基于图像信号调制的扫描激光束施加到感光鼓1。

中间转印带8设置成使得中间转印带8与成像单元SY、SM、SC和SK的所有感光鼓1Y、1M、1C和1K接触，所述中间转印带形成为环状带的形状、作为可移动中间转印构件、并且在中间转印带8的宽度方向上长度为250mm且周向长度为712mm。中间转印带8被以下三个辊拉伸：驱动辊9、拉伸辊10和次级转印相对辊11(在下文中简称为“相对辊11”)。驱动辊9被驱动和旋转以由此使中间转印带8在由箭头R2示出的带传送方向上移动(旋转)。中间转印带8的宽度方向与中间转印带8的移动方向(在图中由箭头R2示出)正交，并且在图1中为深度方向。

作为初级转印构件的初级转印辊5经由中间转印带8设置在面向感光鼓1的位置处。初级转印辊5经由中间转印带8在预定压力下被压抵感光鼓1且形成初级转印部分N1(初级转印夹持部)，中间转印带8和感光鼓1在所述初级转印部分N1处接触。此外，作为次级转印构件的次级转印辊15在面向相对辊11的位置处设置在中间转印带8的外表面侧上。次级转印辊15经由中间转印带8在预定压力下被压抵相对辊11且形成次级转印部分N2(次级转印夹持部)，中间转印带8和次级转印辊15在所述次级转印部分N2处接触。

作为收集单元的带清洁单元12在面向拉伸辊10的位置处设置在中间转印带8的外表面侧上。由上述辊9、10和11支撑的中间转印带8和带清洁单元12形成为单元，并且形成可从成像设备100的本体移除的中间转印带单元13。

响应于成像操作开始，感光鼓1和中间转印带8开始以预定处理速度分别在箭头R1和R2的方向上旋转。感光鼓1的旋转表面由充电辊2基本上均匀地充电到预定极性(其在本实施例中为负)。此时，充电电源(未示出)向充电辊2施加预定充电电压。然后，感光鼓1基于对应于成像单元S的图像信息被曝光单元3曝光，因此基于感光鼓1的表面上的图像信息形成静电潜像。

显影套筒41通过显影剂施加刮刀42承载充电到调色剂的正常充电极性(在本实施例中为负)的调色剂，并且显影电源(未示出)向显影套筒41施加预定显影电压。因此，形成在感光鼓1上的潜像在感光鼓1和显影套筒41面向彼此的面向部分(显影部分)处被带负电的调色剂可视化，并且在感光鼓1上形成调色剂图像。

接下来，形成在感光鼓1上的调色剂图像在初级转印部分N1处通过初级转印辊5的作用被转印(初级转印)到被驱动和旋转的中间转印带8上。此时，初级转印电源(未示出)向初级转印辊5施加与调色剂的正常充电极性极性相反(其在本实施例中为正)的初级转印电压。例如，在形成全色图像时，静电潜像分别通过成像单元SY、SM、SC和SK形成在感光鼓1Y、1M、1C和1K中的每一个上。潜像中的每一个被显影以形成相应颜色的调色剂图像。形成在成像单元S的感光鼓1上的相应颜色的调色剂图像随后在初级转印部分N1Y、N1M、N1C和N1K中的对应的一个处被相继转印，并且相继叠加在中间转印带8上，因此在中间转印带8上形成四色调色剂图像。

转印材料P(例如堆叠在作为片材存储单元的片材进给盒24中的记录片材)由片材进给辊(未示出)和传送辊(未示出)传送到对准辊28。转印材料P与中间转印带8上的调色剂图像同步地由对准辊28传送到次级转印部分N2，所述次级转印部分N2由中间转印带8和次级转印辊15形成。承载在中间转印带8上的四色多调色剂图像通过次级转印辊15的作用在次级转印部分N2处共同转印到转印材料P上。此时，次级转印电源(未示出)向次级转印辊15施加与调色剂的正常充电极性极性相反(其在本实施例中为正)的次级转印电压。

然后，具有所转印的调色剂图像的转印材料P被传送到定影单元16。在定影单元16的定影辊和加压辊夹持和传送转印材料P的同时对通过次级转印而转印到转印材料P上的调色剂图像进行加压和加热，由此将调色剂图像定影到转印材料P，并且然后通过一对片材排出辊29将转印材料P排出到成像设备100的本体外。

在初级转印之后残留在感光鼓1上的残余调色剂通过鼓清洁单元6从感光鼓1的表面被移除。在转印材料P已经穿过次级转印部分N2之后残留在中间转印带8上的残余未转印调色剂通过带清洁单元12从中间转印带8的表面被移除，所述带清洁单元设置成经由中间转印带8面向拉伸辊10。带清洁单元12在中间转印带8的移动方向上设置在次级转印部分N2的下游。带清洁单元12包括清洁刮刀21(接触构件)，所述清洁刮刀21在面向拉伸辊10的位置处与中间转印带8的外表面接触。以下将详细描述此构造。

作为控制单元的控制基板25是其上安装有用于控制成像设备100的电路的控制基板，并且作为控制单元的中央处理单元(CPU)26安装在控制基板25上。控制基板25能够通过接收从主机装置(未示出)传输的信号来执行预编程操作，并且CPU 26控制各种单元，从而使得执行成像操作。

通过以下方式制造在本实施例中使用的调色剂：从外部向调色剂颗粒添加平均粒径为20nm的细二氧化硅颗粒，所述调色剂颗粒通过乳液聚合聚集法制造且平均粒径为6.4μm。平均粒径是指例如重均粒径且可以通过使用库尔特方法来测量。测量装置的示例是“Coulter Counter Multisizer 3”(由Beckman Coulter,Inc.制造)。用于设定测量条件和分析测量数据的附带的专用软件的示例是“Beckman Coulter Multisizer 3Version3.51”(由Beckman Coulter，Inc.制造)。用于制造调色剂颗粒的方法不限于乳液聚合聚集法，并且调色剂颗粒可以通过其它方法生产，例如粉碎法、悬浮聚合法或溶解悬浮法。

[带清洁单元12]

图2A是示出在清洁刮刀21并未发生弹性变形的情况下清洁刮刀21的附接位置的虚拟剖视图，并且图2B是示出带清洁单元12的结构的示意性剖视图。

带清洁单元12包括清洁容器17和设置在清洁容器17中的清洁作用部分20。清洁容器17被形成为包括中间转印带8的中间转印单元(未示出)的外壳的一部分。清洁作用部分20包括清洁刮刀21和支撑构件22。清洁刮刀21充当清洁构件(接触构件)。支撑构件22支撑清洁刮刀21。清洁刮刀21是由为弹性材料的聚氨酯橡胶(聚氨酯)制成的弹性刮刀，并且在清洁刮刀21结合到支撑构件22的状态下被支撑，所述支撑构件22由金属板形成的，所述金属板包括镀锌钢板作为材料。

清洁刮刀21是板形构件，所述板形构件在中间转印带8的宽度方向(清洁刮刀21的更长侧方向)上具有更长侧，所述宽度方向是与中间转印带8的移动方向(在下文中为“带传送方向”)相交的方向。在更短侧方向上，清洁刮刀21在如下状态下被固定：自由端部侧上的端部部分21a与中间转印带8接触，并且固定端部侧上的端部部分21b结合到支撑构件22。清洁刮刀21在更长侧方向上的长度为240mm，厚度为3mm，并且根据日本工业标准(JIS)K 6253的硬度为77度。

清洁作用部分20形成为使得清洁作用部分20相对于中间转印带8的表面可摆动。更具体地，支撑构件22被支撑为使得清洁作用部分20相对于中间转印带8的表面可经由固定到清洁容器17的枢转轴19摆动。支撑构件22由作为偏置单元设置在清洁容器17中的按压弹簧18按压，使得清洁作用部分20以枢转轴19为中心移动，并且清洁刮刀21被抵靠中间转印带8偏置(按压)。

拉伸辊10设置在中间转印带8的内表面侧上以面向清洁刮刀21。清洁刮刀21在相对于带传送方向的反方向上在清洁刮刀21面向拉伸辊10的位置处与中间转印带8的表面接触。具体地，清洁刮刀21与中间转印带8的表面接触，使得清洁刮刀21在更短侧方向上的自由端部侧上的端部部分21a在带传送方向上面向上游。以此方式，刮刀夹持部分23形成在清洁刮刀21与中间转印带8之间，如图2B中所示。在刮刀夹持部分23处，清洁刮刀21从移动的中间转印带8的表面刮去残余未转印调色剂，并且将所刮去的调色剂收集到清洁容器17中。

在本实施例中，清洁刮刀21的附接位置设定如下。预设角θ为24度，侵入量δ为1.5mm，并且接触压力为0.49N/cm，如图2A中所示。如本文中所使用，预设角θ是由在中间转印带8与清洁刮刀21(更具体地，清洁刮刀21在自由端部侧上的端部面)的交点处与拉伸辊10相切的切线同清洁刮刀21(更具体地，与清洁刮刀21的厚度方向基本上正交的表面中的一个)形成的角。此外，侵入量δ是在厚度方向上清洁刮刀21与拉伸辊10重叠的长度。接触压力由从清洁刮刀21作用在刮刀夹持部分23处的按压力限定(在更长侧方向上的线性压力)，并且使用膜型压力测量系统(产品名称：由Nitta Corporation制造的PINCH)测量。此构造使得能够防止或减少在高温和高湿环境下清洁刮刀21的卷曲和滑动声音，因此实现极好的清洁性能。此外，这些设定使得能够减少在低温和低湿环境下的清洁缺陷，因此实现极好的清洁性能。

一般而言，聚氨酯橡胶和合成树脂各自均具有高滑动摩擦阻力，并且清洁刮刀21的初始卷曲易于发生。因此，例如氟化石墨的初始润滑剂可以预先施加到清洁刮刀21在自由端部侧上的端部部分21a。

清洁刮刀21的橡胶硬度被选择为适合于中间转印带8的材料，并且根据JIS K6253期望地为70度以上且80度以下。如果橡胶硬度低于此范围，那么由于使用所致的磨损量可能会增加，由此降低了耐久性。另一方面，如果橡胶硬度高于此范围，那么弹性力降低且清洁刮刀21与中间转印带8之间的摩擦可能会产生碎片。清洁刮刀21的接触压力被选择为适合于中间转印带8的材料，并且期望地为0.4N/cm以上且0.8N/cm以下。如果接触压力低于此范围，那么可能不会实现极好的清洁性能。如果接触压力高于此范围，那么用于驱动和旋转中间转印带8的负荷可能会变得极高。

[检测单元27]

根据本实施例的成像设备100包括用于检测转印到中间转印带8上的用于检测的调色剂图像的检测单元27，并且能够基于检测单元27的检测结果执行校正控制以校正待形成的图像的位置和浓度。更具体地，在这种校正控制中，检测单元27获取与从感光鼓1转印到中间转印带8上的用于检测的调色剂图像相关的位置/浓度信息，并且反馈所获取的信息以校正成像条件，例如图像位置和浓度。在执行校正控制以校正成像条件(例如待由成像设备100形成的图像的位置和浓度)的情况下，CPU 26还执行处理以从检测单元27的光接收元件272接收信号。

图3A是示出检测单元27的结构的示意性剖视图。图3B是示出检测单元27的输出特性的图。图3C是示出斑点调色剂T的图案的示意图，所述斑点调色剂T作为在执行校正控制以校正图像浓度(在下文中被称为“浓度校正”)时形成在中间转印带8上的用于检测的调色剂图像。

如图3A中所示，检测单元27包括：光发射元件271，例如发光二极管(LED)；和光接收元件272，例如光电二极管。光接收元件272在将红外光从光发射元件271施加到转印到中间转印带8的斑点调色剂T时从斑点调色剂T接收镜面反射光，由此检测单元27检测斑点调色剂T的浓度。

图3B中的曲线表示检测单元27的输出特性，并且传感器输出随转印到中间转印带8的调色剂的量(在下文中被称为“所承载调色剂的量”)增加而降低。这是因为如果所承载调色剂的量增加，那么所施加光被调色剂散射，并且此时，作为背景的中间转印带8的表面被覆盖，使得来自中间转印带8的表面的镜面反射光降低。

在成像设备100中，所获取的图像的浓度由于成像设备100的周围环境中的温度和/或湿度改变或由于由长时间使用所致的成像设备100的部件中的改变而变化。因此，需要定期执行浓度校正以校正图像浓度改变。在本实施例中，如果环境温度改变5摄氏度或更多或者所打印片材的数量从先前校正开始超出1000，则执行校正。如图3C中所示，在执行浓度校正的情况下，8-mm见方斑点在中间转印带8的宽度方向上以10-mm间隔从相应颜色(Y、M、C和K)的感光鼓1形成在面向检测单元27的位置处，所述8-mm见方斑点中的每一个表示图像打印率的五个级别(浓度渐变级别)中的一个不同的级别。每个斑点与打印率(渐变级别)之间的对应如下：Y1、M1、C1和K1＝20％，Y2、M2、C2和K2＝40％，Y3、M3、C3和K3＝60％，Y4、M4、C4和K4＝80％，并且Y5、M5、C5和K5＝100％。检测单元27的光接收元件272检测来自由上述斑点形成的斑点调色剂T的反射光。控制基板25确定基于图像打印率的所承载调色剂的理想量与基于检测单元27的检测结果的所承载调色剂的检测量之间的差，并且在成像时校正图像打印率。如上文所述，执行根据本实施例的浓度校正。

[中间转印带8]

接下来，将描述本实施例特有的中间转印带8的形式。图4是示出沿着与带传送方向基本上正交的方向切割的中间转印带8(沿着带传送方向观察的中间转印带8)的示意性放大局部剖视图。

中间转印带8是包括基底层81和表面层82的环状双层带构件(或膜形构件)。如本文中所使用，术语“基底层”被定义为在中间转印带8的层当中在中间转印带8的厚度方向上最厚的层。表面层82承载从感光鼓1初级转印到中间转印带8上的调色剂图像。在本实施例中，基底层81是厚度为70μm且体积电阻率通过作为电阻管控剂的季铵盐分散在聚萘二甲酸乙二醇酯树脂中而被管控为1×10¹⁰Ω的层，其中季铵盐是离子导电剂。表面层82是厚度为约3μm的层，并且其中例如作为电阻管控剂的氧化锌分散在作为基底材料的丙烯酸树脂中。

导电剂(导电填料、电阻管控剂)可以添加到表面层82以管控电阻。电子导电剂或离子导电剂可以用作导电剂。电子导电剂的示例是呈颗粒、纤维或薄片形式的碳基导电填料，例如炭黑。另一示例是呈颗粒、纤维或薄片形式的金属基导电填料，例如银、镍、铜、锌、铝、不锈钢或铁。又一示例是呈颗粒形式的金属氧化物基导电填料，例如锑酸锌或氧化锡。离子导电剂的示例包括离子液体、导电低聚物和季铵盐。上述导电剂中的一种或多种被合适地选择，并且电子导电剂和离子导电剂可以混合使用。

虽然在本实施例中离子导电剂用作待添加到基底层81的导电剂，但待添加的导电剂不限于离子导电剂。可以添加电子导电剂以赋予导电性，或可以添加电子导电剂与离子导电剂的混合物以赋予导电性。对于离子导电剂或电子导电剂，可以使用上文所述的导电剂作为可以添加到表面层82的导电剂。

基底层81和表面层82的材料不限于上述材料，并且可以为任何其它材料。除聚萘二甲酸乙二醇酯树脂外，可以用于基底层81的材料的示例包括热塑性树脂，例如聚碳酸酯、聚偏二氟乙烯(PVDF)、聚乙烯、聚丙烯、聚甲基戊烯-1、聚苯乙烯、聚酰胺、聚砜、聚芳酯、聚对苯二甲酸乙二醇酯、聚对苯二甲酸丁二醇酯、聚萘二甲酸乙二酯、聚苯硫醚、聚醚砜、聚醚腈、热塑性聚酰亚胺、聚醚醚酮、热致性液晶聚合物和聚酰胺酸。上述材料中的两种或多于两种可以混合使用。

至于表面层82，除丙烯酸树脂外的有机材料的示例包括可固化树脂，例如三聚氰胺树脂、聚氨酯树脂、醇酸树脂、氟基可固化树脂(含氟的可固化树脂)。无机材料的示例包括烷氧基硅烷-烷氧基锆基材料和硅酸盐基材料。有机/无机混合材料的示例包括无机细颗粒分散的有机聚合物基材料、无机细颗粒分散的有机烷氧基硅烷基材料、丙烯酸硅基材料和有机烷氧基硅烷基材料。

从强度的角度(例如中间转印带8的表面层82的耐磨性和抗裂性)，树脂材料(可固化树脂)在可固化材料当中是优选的，并且通过固化含不饱和双键的丙烯酸共聚物获得的丙烯酸树脂在可固化树脂当中是优选的。

一般而言，聚氨酯橡胶和丙烯酸树脂具有高滑动摩擦阻力，并且由于清洁刮刀21的卷曲或耗损所致的磨损易于发生。因此，根据本实施例，对表面层82进行表面处理以减少清洁刮刀21的磨损，并且凹槽(凹槽形状、凹槽部分)84沿着带传送方向形成。更具体地，如图4中所示，多个凹槽84通过沿着中间转印带8的移动方向(图中箭头R2的方向)在中间转印带8的宽度方向(与中间转印带8的移动方向相交)上形成微细的凹凸结构的处理而形成。

存在用于形成微细的凹凸结构的公知方法，例如抛光处理、切割处理和压印处理。在这些方法中选择合适的方法，并且其用于获得根据本实施例的具有其中形成有凹槽84的表面的中间转印带8。在处理成本和生产率方面，期望地是使用丙烯酸树脂(作为其上执行用于形成微细的凹凸结构的处理的表面的基底材料)的可光固化属性执行压印处理。可以通过固化丙烯酸树脂且然后执行研磨处理而形成凹槽84。

根据本实施例，凹槽84通过压印处理形成在中间转印带8的表面上，其中具有微细的凹凸结构的模具(未示出)压抵中间转印带8以将模具的形状、微细的凹凸结构转印到中间转印带8的表面层82。在本实施例中，凹槽84沿着中间转印带8的移动方向形成在中间转印带8的整个环路上。

在图4中示出的宽度Wg是凹槽84的开口部分在中间转印带8的宽度方向上的宽度，并且被定义为表面层82的厚度在表面层82的最外表面中形成为更薄的凹槽的范围。例如，凹槽84各自的宽度Wg为1μm。在图4中示出的深度D被定义为在中间转印带8的厚度方向上从表面层82的不形成凹槽(开口部分)的表面到凹槽84的底部部分的深度。深度D为0.2μm或更大且小于表面层82的厚度，并且凹槽84形成为使得凹槽84不会到达基底层81且仅存在于表面层82上。

凹槽84的宽度Wg期望地小于调色剂的平均粒径的一半。将凹槽84的宽度Wg设定成小于调色剂的平均粒径使得能够防止调色剂进入凹槽84且在刮刀夹持部分23处滑过清洁刮刀21。相比之下，如果凹槽84的宽度Wg过窄，那么清洁刮刀21与中间转印带8的接触区域会变得过大。这增加了刮刀夹持部分23处的摩擦，并且可能增进清洁刮刀21的前边缘处的磨损。因此，在根据本实施例的结构中，期望地是凹槽84的宽度Wg被设定在0.5μm到3μm的范围内。

在图4中示出的间隔W是相邻凹槽84的起始点之间的测量距离，并且被定义为相邻凹槽84的开口部分的右端部分之间的间隔。在本实施例中所定义的凹槽84之间的平均间隔是多个凹槽84在中间转印带8的宽度方向上的间隔W的平均值。在本实施例中，凹槽84形成为间隔W被设定为20μm。间隔W还可以被定义为相邻凹槽84的开口部分的左端部分之间的间隔，或被定义为相邻凹槽84的开口部分的底部部分之间的间隔。

表面层82的厚度需要足够厚以使得凹槽84得以形成。换句话说，厚度需要等于或大于凹槽84的深度D。如果表面层82的厚度小于凹槽84的深度D，那么凹槽84可以到达基底层81且添加到基底层81的材料可能沉淀在表面层82的表面上，这可能会导致清洁缺陷。如果表面层82的厚度过厚，那么由丙烯酸树脂制成的表面层82可能会破裂，这可能会导致清洁缺陷。因此，在根据本实施例的结构中，期望地是表面层82的厚度被设定在1μm到5μm的范围内。考虑到在长期使用之后表面层82上的破裂，进一步期望地是表面层82的厚度被设定在1μm到3μm的范围内。

能够将固体润滑剂添加到表面层82。固体润滑剂可以从含氟颗粒当中合适地选择，例如聚四氟乙烯(PTFE)树脂粉末、乙烯基氟化物树脂石墨和石墨氟化物及其共聚物。将固体润滑剂添加到表面层减少了清洁刮刀21与中间转印带8之间的摩擦阻力。因此，可以添加固体润滑剂，作为用于管控清洁刮刀21与中间转印带8之间的摩擦阻力的辅助方法。

凹槽84通过使用在中间转印带8的宽度方向上分割开的两个模具的压印处理形成在根据本实施例的中间转印带8中。将参考图5A到5C描述根据本实施例的压印处理的细节。图5A是示出在用于中间转印带8的芯91的圆柱体轴线的方向上从顶部观察的压印处理设备的示意图(下文描述)。图5B是示出沿着平行于用于中间转印带8的芯91的圆柱体轴线的方向截取的压印处理设备的示意性剖视图。图5C是示出待在压印处理中使用的模具的剖视图。

在通过压印处理形成凹槽84的情况下，首先，将在其中表面层82形成在基底层81上的状态下的中间转印带8按压到芯91(直径为227mm，由碳素工具钢材料制成)中。第二，将直径为50mm且长度为125mm的圆柱形模具92和93布置在被按压到芯91中的中间转印带8的表面上，使得可以处理在中间转印带8的宽度方向上的宽度为250mm的整个区域。更具体地，模具92和93相位移位180度，同时芯91定位在模具92与93之间，并且位置移位125mm，使得模具92和93的端部部分在中间转印带8的宽度方向上定位在宽度的中心处。接着在2500N的按压力下使模具92和93与中间转印带8压力接触。

如图5C中所示，三角形突起以20-μm的规则间隔平行于圆柱体的周向方向形成在模具92和93的表面上。三角形突起通过切割处理形成为使得每个突起的底部的长度为2.0μm且高度为2.0μm。在于中间转印带8上形成凹槽84的情况下，模具92和93由加热器(未示出)加热到130摄氏度的温度，其比聚萘二甲酸乙二醇酯的玻璃化转变温度高5到15摄氏度。在受热模具92和93与芯91接触的情况下，芯91以264mm/s的圆周速度旋转一次，并且接着模具92和93与芯91分离。在芯91被旋转的同时，模具92和93通过芯91的旋转而被驱动和旋转。在本实施例中，如上文所述执行表面成形处理以由此在中间转印带8的表面层82上形成凹槽84。

通过如上文所述的表面成形处理形成的凹槽84的深度D和间隔W使用激光显微镜(由Keyence Corporation制造的VK-X250)来测量，并且在图6A和6B中示出。图6A是示出在中间转印带8的宽度方向上的凹槽84的深度D的分布测量的结果的图。图6B是示出在中间转印带8的宽度方向上的相应位置处的间隔W的平均值的图。在图6A和6B中的图中，中间转印带8在宽度方向上的中心处的位置被指定为零，并且在图1中的深度方向上的前侧被指定为正且后侧被指定为负。如图6A中所示，根据本实施例的中间转印带8的凹槽84的深度D在0.5μm到0.65μm的范围中，并且存在以下倾向：凹槽在模具的中心部分处更浅，并且凹槽84的深度D朝向模具的端部部分增加。

如图6B中所示，凹槽84的间隔W的平均值的分布在跨宽度方向上的整个区域上为约20μm，除了间隔W仅在宽度方向上的中心部分处增加且为约26μm之外。换句话说，根据本实施例的中间转印带8包括：多个第一区域，在所述第一区域中凹槽84周期性地形成，并且凹槽84在中间转印带8的宽度方向上的间隔W的平均值为20μm(预定间隔)；和第二区域，在所述第二区域中凹槽84的间隔W为26μm。根据本实施例的凹槽84的间隔W的平均值计算如下。首先，在200μm宽度范围中在沿宽度方向上的预定位置处测量间隔W(如图4中所示为相邻凹槽84的起始点之间的距离)的分布，并且获得平均值。接着，在中间转印带8的移动方向上的八个位置处进一步执行类似测量，并且算出测量结果的平均数以由此获得在宽度方向上的相应位置处的凹槽84的间隔W的平均值。

<与传统示例的比较>

图7A是示出在用于传统示例构造中的中间转印带108的芯191的圆柱体轴线的方向上从顶部观察的压印处理设备的示意图(下文描述)，其中压印处理在模具不分离的情况下执行。图7B是示出在传统示例中沿着平行于用于中间转印带108的芯191的圆柱体轴线的方向截取的压印处理设备的示意性剖视图。图7C是示出在传统示例中相对于中间转印带108的宽度方向的凹槽深度分布的测量结果的图。

在传统示例的构造中，使用在更长侧方向上的宽度为250mm的模具192对中间转印带108执行压印处理，其中模具192如图7B中所示未被分割开。在传统示例中，用于模具192的按压力被设定为5000N，其为本实施例中的按压力的双倍，因为在传统示例中的模具长度为在本实施例中的模具长度的双倍。在传统示例中的压印处理条件基本上类似于本实施例中的压印处理条件，除了模具192和来自模具192的按压力不同之外。因此，在以下所述的比较中省略类似点的描述。

如图7C中所示，在传统示例中凹槽形成有0.3μm到0.8μm的深度，并且与在如图6A中所示的本实施例中凹槽84的深度D的变化相比，深度变化超过三倍。在根据传统示例(其中在更长侧方向上较长的模具192被压抵芯191的圆柱体)的结构中，由于按压力强，因此模具192在压力增加时发生变形。因此，中间转印带108的端部部分与中心部分之间的凹槽深度变化增加。因此，清洁刮刀21与中间转印带108之间的摩擦系数也可能会变化，使得清洁刮刀21的磨损量随着成像操作继续也会变化。取决于变化的程度，调色剂可能滑过清洁刮刀21的受损部分，这可能会导致清洁缺陷。因此，可能变得难以充分地改善清洁刮刀21的耐久性。

相比之下，在使用如在本实施例中在中间转印带8的宽度方向上分割开的模具92和93执行压印处理的构造中，在更长侧方向上的模具长度降低，使得可以容易地向中间转印带8施加均匀的压力。这使得能够减少或防止凹槽84的深度D在中间转印带8的宽度方向上的变化，因此减少清洁刮刀21的磨损量且使得能够改善清洁刮刀21的耐久性，如上文所述。

虽然在本实施例中模具相对于250mm宽的中间转印带8被分成125mm的两个模具，但是通过使模具分割开的次数的数量增加也会产生本实施例的有利效果。例如，在其中模具被分成宽度为83.3mm的三个模具且按压力被设定为1667N的第一修改实施例中和在其中模具被分成宽度为62.5mm的四个模具且按压力被设定为1250N的另一修改实施例中，能够如在本实施例中一样减少凹槽深度变化。

虽然在本实施例中对于250mm宽的中间转印带8，模具被相等地被分成125mm的两个模具且使用所述两个模具执行处理，但构造并不限于此。还可以通过以下处理产生本实施例的类似有利效果：一个模具的位置被移位，并且在中间转印带8的表面的整个区域上执行处理。在这种情况下，例如，不使用模具93，并且使模具92在图5B中示出的位置处旋转一次且执行处理。接着使模具92与芯91分离，并且使模具92再次在从图5B中示出的位置向下移位125mm的位置处与芯91接触。使模具92旋转一次且执行处理。接着使模具92与芯91分离，由此获得凹槽深度类似于本实施例中的凹槽深度的中间转印带。

虽然在本实施例中采用压印处理作为用于在中间转印带8的表面上形成微细的凹凸结构的方法，但是也可以使用不同的处理方法产生本实施例的有利效果。例如，在根据本实施例的处理设备和根据比较实施例的处理设备中，研磨膜可以夹在中间转印带与模具之间以使用模具作为按压构件而在中间转印带的表面上形成凹凸结构，其中模具表面没有突出形状且不使用加热器进行温度控制。在芯91的模具按压力和旋转速度与本实施例和传统示例中的模具按压力和旋转速度相同的条件下使用具有粒径为6μm的磨粒的研磨膜执行所述处理，并且形成平均凹槽深度为0.5μm的凹槽。测量在中间转印带8的宽度方向上的凹槽深度的分布，并且在模具未分割开的情况下凹槽深度为约0.35μm到0.65μm，而在模具被分割开的情况下凹槽深度为约0.42μm到0.58μm，也就是说，针对模具分割开的情况获得了更小的变化。

<校正控制中的清洁>

图8是示出中间转印构件8在宽度方向上的位置与形成斑点调色剂T(用于检测的调色剂图像)的位置之间的关系以及根据本实施例的凹槽84的深度D的分布的图。在本实施例中，检测单元27中的一个不同的检测单元设置在在中间转印带8的宽度方向上与中间转印带8的中心相距±62.5mm的相应位置处。

在当在转印材料P上形成图像时进行清洁时，带清洁单元12收集在次级转印部分N2中执行从中间转印带8到转印材料P的次级转印之后残留在中间转印带8上的残余未转印调色剂。在形成斑点调色剂T的校正控制中(例如浓度校正)，转印到中间转印带8上的斑点调色剂T完全由带清洁单元12收集。换句话说，在用于校正成像条件的校正控制中，与在正常成像时相比更大量的调色剂到达清洁刮刀21处。

图9示出第二区域中由模具92在中间转印带8中形成且在宽度方向上与中心相距最短距离的凹槽与第二区域中由模具93在中间转印带8中形成且在宽度方向上与中心相距最短距离的凹槽之间的间隔相对于中间转印带8的移动方向的测量结果。换句话说，图9示出了在中间转印带8的移动方向上第二区域中的相邻凹槽之间的间隔的测量结果。如图9中所示，应理解，由模具92和93的端部部分的突起形成的凹槽之间的间隔基于中间转印带8在周向方向上的相位从0μm到100μm变化。换句话说，在第二区域中，在中间转印带8与清洁刮刀21之间产生的摩擦力在周向方向上变化。发生这种情况的原因被认为如下。在中间转印带8中形成凹槽84时，由芯91驱动和旋转的模具92和93在模具92和93的圆柱体轴方向上稍微移动，这由于芯91的旋转相位而会改变模具92与93之间的距离。

相比之下，还测量在中间转印带8的周向方向上第一区域中的凹槽84的间隔W，并且仅测量到约19.5μm到20.5μm的变化。换句话说，在第一区域中，在中间转印带8与清洁刮刀21之间产生的摩擦力不处于在周向方向上变化的状态。发生这种情况的原因在于即使模具92和93在压印处理期间在模具92和93的圆柱体轴方向上发生移动，但由于基于形成在模具92和93中的突起的间隔确定凹槽84的间隔W，因此不同于第二区域并不会发生变化。

如上文所述，在第二区域中，在中间转印带8与清洁刮刀21之间产生的摩擦力在中间转印带8的周向方向上变化。因此，在本实施例中，凹槽84在中间转印带8的表面层82上形成为使得第二区域设置在斑点调色剂T待在校正控制(例如浓度校正)中所形成的范围之外。以此方式，难以清洁的斑点调色剂T形成在凹槽84的间隔W和深度D稳定的位置处，因此使得能够减少或防止清洁缺陷，同时改善清洁刮刀21的耐久性。

[清洁性能的评估]

提供根据本实施例和第一比较实施例的结构的清洁性能的评估结果的描述。第一比较实施例不同于本实施例之处在于检测单元设置在第二区域中且在斑点调色剂T形成在根据本实施例的中间转印带8的宽度方向上的第二区域中的情况下执行浓度校正。除了检测单元的位置和待形成的斑点调色剂T的位置之外，根据第一比较实施例的结构基本上类似于根据本实施例的结构。因此，相同的部件将被给予相同的附图标记且其描述被省略。

在本实施例中，在执行浓度校正时，图3C中所示的斑点调色剂T在中间转印带8的宽度方向上形成在±62.5mm的位置处，所述位置是设置有检测单元27的位置。在第一比较实施例中，在执行浓度校正时，斑点调色剂T在中间转印带8的宽度方向上形成在±0mm的位置处，所述位置是设置有检测单元的位置。

通过检查调色剂在耐久性评估中是否滑过清洁刮刀21来执行清洁性能评估，并且基于在发生清洁缺陷时所打印片材的总数来评估清洁性能，在所述耐久性评估中文本图像以5％的打印率形成在多个转印材料P上。更具体地，在整个耐久性评估中，重复以5％的打印率在1000张转印材料P上连续形成图像且接着执行浓度校正的操作。通过检查是否发生条纹形图像缺陷来确定是否发生清洁缺陷，所述条纹形图像缺陷是调色剂已经滑过紧接在执行浓度校正之后其上形成图像的转印材料P的标志。在上述评估中，在30摄氏度温度和80％湿度下使用A4大小的GF-C081纸(由Canon Inc.制造)。

表1

	调色剂滑过的时刻
		第一比较实施例	在121,000张片材之后
第一实施例	在243,000张片材之后

表1示出本实施例和第一比较实施例的清洁性能评估结果。如表1中所示，应理解，调色剂滑过清洁刮刀21的时刻在根据本实施例的结构中迟于在第一比较实施例中的时刻，且通过耐久性实现了高的清洁性能。此外，在调色剂滑过的时刻观察根据第一比较实施例和第一实施例的结构中的每一个中的清洁刮刀21的橡胶边缘。在观察时，与第二区域相对应地在宽度方向上的中心部分处发现约20μm的碎片，并且与第一区域相对应地在宽度方向上±50mm到±75mm的位置处发现约10μm的碎片，并且因此调色剂滑过。

在宽度方向上在中间转印带8中±50mm到±75mm的位置处的区域是凹槽84的深度D为约0.5μm且相对较浅的区域。因此，在此区域中，中间转印带8与清洁刮刀21之间的摩擦相对较大，因此认为清洁刮刀21破碎。相比之下，如图6A中所示，与第二区域相对地在宽度方向上的中心部分中的凹槽84的深度D为约0.65μm，其是较深的区域。然而，在第二区域中，如图6B中所示，凹槽84的间隔W的平均值较宽且为约26μm，使得认为在清洁刮刀21与中间转印带8之间产生的摩擦力变强，并且因此出现20μm的碎片。

因此，在第二区域中，清洁刮刀21易于碎裂。在清洁残留在中间转印带8上的大量残余调色剂(例如斑点调色剂T)的情况下，调色剂很有可能滑过且很有可能出现清洁缺陷。因此，如在本实施例中，将第二区域设置在待形成斑点调色剂T的范围之外使得能够减少清洁缺陷，同时提高清洁刮刀21的耐久性。

虽然在本实施例中模具相对于250mm宽的中间转印带8被相等地分成125mm的两个模具，但是即使模具92和93的宽度不相等也能产生本实施例的有利效果。例如，已经核实了如下构造中的效果，在所述构造中模具被分成宽度为100mm的模具和宽度为150mm的模具，并且以2000N的按压力和3000N的按压力执行处理。接着执行评估处理。在每个结构中，调色剂在243,000张片材之前不会滑过。

虽然已经参考图像浓度管控操作描述了本实施例，但是如果采用了根据本实施例的结构则在以下情况中也能形成类似的有利效果：在所述情况中通过检测转印到中间转印带8上的用于检测的调色剂图像的位置且接着校正成像时的偏差来执行管控操作。

[第二实施例]

以下将描述本公开的第二实施例。在第一实施例中，提供对如下中间转印带8的描述，所述中间转印带8包括：多个第一区域，在所述第一区域中由模具92和93形成的凹槽84的间隔W为20μm；和第二区域，所述第二区域形成在多个第一区域之间且在所述第二区域中由模具92和93形成的凹槽的间隔为26μm。相比之下，在第二实施例中，位于中间转印带208在中间转印带208的宽度方向上的中心处且与从模具92和93转印的凹槽形状的接合部相对应的第二区域中的凹槽的间隔被设定成比第一实施例中更短。更具体地，在图5B中，在模具93移位成更靠近模具92 0.1mm的情况下执行压印处理，使得待用模具92处理的区域与待用模具93处理的区域重叠。以此方式，形成了第二区域。根据本实施例的结构基本上类似于根据第一实施例的结构，除了第二区域中的凹槽的间隔不同于第一实施例中的间隔之外。因此，相同的部件将被给予相同的附图标记且其描述被省略。

图10A是示出在中间转印带208的宽度方向上的位置处的凹槽284的间隔W的平均值的分布的图。图10B示出了在第二区域中由模具92和93在中间转印带8中形成的凹槽284的重叠量在中间转印带208的移动方向上的测量结果。换句话说，图10B示出了在第二区域中的相邻凹槽的间隔在中间转印带8的移动方向上的测量结果。

如图10A中所示，在本实施例中，在中间转印带208的宽度方向上设置凹槽284在其中重叠的第二区域以由此消除根据第一实施例的凹槽84的间隔在第二区域中较宽的部分。此构造使得能够减少在第二区域中在中间转印带208与清洁刮刀21之间产生的摩擦力，由此减少或防止清洁刮刀21碎裂。

如图10A中所示，凹槽284的间隔W的平均值的分布几乎跨整个区域在宽度方向上为约20μm，但间隔W在宽度方向上的中心部分处较窄且为约13μm。换句话说，根据本实施例的中间转印带208包括：多个第一区域，在所述第一区域中凹槽284的间隔W的平均值为20μm(预定间隔)；和第二区域，在所述第二区域中凹槽284在中间转印带208的宽度方向上的间隔为13μm。

如图10B中所示，同样地在本实施例中，凹槽284的重叠量基于在对应于第二区域且其中由模具92和93形成的凹槽284重叠的区域中周向方向上的相位而变化。更具体地，凹槽284的间隔变得比第一实施例中的间隔短100μm，并且基于周向方向上的相位在-100μm到0μm的范围内变化。凹槽284的间隔为负值的部分处于压印处理被执行两次的状态下，并且由于凹槽线的数目翻倍，相邻凹槽之间的间隔变得短于20μm。

[清洁性能的评估]

如果第二区域形成在形成斑点调色剂T的区域之外，根据本实施例的结构也可以产生由第一实施例产生的优点。表2示出本实施例和第一比较实施例的清洁性能评估结果。如表1中所示出，应理解，调色剂滑过的时刻在根据本实施例的结构中迟于在第一比较实施例中的时刻，并且通过耐久性实现了高的清洁性能。清洁评估方法类似于第一实施例中的方法，因此省略其描述。

表2

	调色剂滑过的时刻
		第一比较实施例	在121,000张片材之后
第二实施例	在201,000张片材之后

如在第一比较实施例和第一实施例中，在调色剂在201,000张转印材料P之后滑过的时刻检查根据第二实施例的结构中的清洁刮刀21的橡胶边缘。如在第一实施例中，与第二区域相对应地在宽度方向上的中心部分处发现约5μm的碎片，并且在与第一区域相对应的区域中在宽度方向上在±50mm到±75mm的位置处发现约10μm的碎片。由于约10μm的碎片在121,000张转印材料P经过的时刻出现在根据第一比较实施例的结构中，因此发现，根据本实施例的将凹槽284重叠在第二区域中可以减少清洁刮刀21中的碎片。

同时，由于凹槽84的线的数量在根据本实施例的结构中翻倍，因此可能存在以下情形：在第二区域中在中间转印带208与清洁刮刀21之间产生的摩擦力变得过低。换句话说，如果具有大量调色剂的斑点调色剂T被传送到对应于第二区域的刮刀夹持部分23，那么清洁缺陷可能由于由碎片所致的性能降低和过低的摩擦状态的组合而发生。

因此，在根据本实施例的结构中，将第二区域设置在形成斑点调色剂T的范围之外使得难以清洁的斑点调色剂T能够在凹槽284的间隔W和深度D稳定的位置处形成。如在第一实施例中，这使得能够减少清洁缺陷，同时改善清洁刮刀21的耐久性。

虽然本实施例中模具相对于250mm宽的中间转印带8被相等地分成125mm的两个模具，但这不是限制性的情况。如上文在第一实施例中所述，如果模具被分割开的次数的数量进一步增加或模具被布置成使得待从模具转印到中间转印带的凹槽形状彼此重叠，也能够产生类似于由本实施例产生的效果的有利效果。

虽然在本实施例中模具相对于250mm宽的中间转印带8被相等地分成125mm的两个模具且使用所述两个模具执行处理，但这不是限制性的情况。例如，如果一个模具的位置发生移位以由此在中间转印带的整个表面上形成凹槽或如果模具发生移位且随后其中先前形成有凹槽的区域和凹槽随后待形成在其中的区域被布置成重叠和处理，也能够产生本实施例的有利效果。

此外，虽然在本实施例中模具相对于250mm宽的中间转印带8被相等地分成125mm的两个模具，但这不是限制性的情况。如上文在第一实施例中所述，如果模具92和93的宽度不相等或模具布置成使得待从模具转印到中间转印带的凹槽形状彼此重叠，也能够产生本实施例的有利效果。

虽然已经参考实施例描述了本公开，但是应理解，本公开不限于所公开的实施例。所附权利要求的范围应被赋予最广泛的解释，以包括所有此类修改和等同的结构和功能。

Claims (13)

1.一种成像设备，所述成像设备包括：

图像承载构件，所述图像承载构件构造成承载调色剂图像；

中间转印构件，所述中间转印构件能够移动，并且与所述图像承载构件接触，承载在所述图像承载构件上的调色剂图像被初级转印到所述中间转印构件上；

收集单元，所述收集单元在所述中间转印构件的移动方向上设置在次级转印部分的下游，在所述次级转印部分中所述中间转印构件上的初级转印的调色剂图像从所述中间转印构件被次级转印到转印材料上，其中所述收集单元包括与所述中间转印构件接触的接触构件，并且构造成在所述调色剂图像穿过所述次级转印部分之后使用所述接触构件收集残留在所述中间转印构件上的调色剂；

检测单元，所述检测单元构造成检测用于检测的调色剂图像，所述用于检测的调色剂图像从所述图像承载构件被转印到所述中间转印构件上；和

控制单元，所述控制单元构造成基于所述检测单元的检测结果执行校正控制以校正用于使用所述调色剂图像形成图像的成像条件，

其中，所述中间转印构件在其与所述图像承载构件和所述接触构件接触的表面上包括多个凹槽，所述多个凹槽相对于所述中间转印构件的宽度方向沿着移动方向形成，所述宽度方向与所述移动方向相交，并且

其中，所述中间转印构件包括：

多个第一区域，在所述多个第一区域中所述多个凹槽中的相邻凹槽在宽度方向上以预定间隔布置，和

第二区域，所述第二区域定位在所述多个第一区域之间，并且在所述第二区域中所述多个凹槽中的相邻凹槽之间在宽度方向上的间隔不同于所述预定间隔，所述第二区域在宽度方向上布置在在校正控制中所述用于检测的调色剂图像待形成的范围之外。

2.根据权利要求1所述的成像设备，其中，在所述多个第一区域中所述相邻凹槽在宽度方向上以所述预定间隔周期性地布置，并且相对于所述宽度方向，所述第一区域的宽度比所述第二区域的宽度更宽。

3.根据权利要求1所述的成像设备，其中，在所述第二区域中所述相邻凹槽之间的间隔比所述预定间隔更宽。

4.根据权利要求1所述的成像设备，其中，在所述第二区域中所述相邻凹槽之间的间隔比所述预定间隔更窄。

5.根据权利要求1所述的成像设备，其中，在所述第二区域中形成有多个凹槽，其中所述多个凹槽中的相邻凹槽之间的间隔基于在所述中间转印构件的移动方向上的相位而变化。

6.根据权利要求1到5中任一项所述的成像设备，其中，所述中间转印构件包括基底层和表面层，所述基底层是中间转印构件的多个层当中在所述中间转印构件的厚度方向上的最厚的层，并且其上形成有所述多个凹槽的层是形成在所述基底层的表面上的表面层。

7.根据权利要求6所述的成像设备，其中，所述基底层是添加了离子导电剂的层。

8.根据权利要求6所述的成像设备，其中，所述表面层的厚度为1μm以上且5μm以下。

9.根据权利要求8所述的成像设备，其中，所述表面层的厚度为3μm以下。

10.根据权利要求6所述的成像设备，其中，所述表面层是添加了固体润滑剂的层。

11.根据权利要求1所述的成像设备，其中，所述接触构件是由聚氨酯制成的刮刀。

12.根据权利要求1所述的成像设备，其中，根据日本工业标准K 6253，所述接触构件的橡胶硬度为70度以上且80度以下。

13.根据权利要求1所述的成像设备，其中，针对所述中间转印构件，所述接触构件的接触压力为0.4N/cm以上且0.8N/cm以下。