CN110412804A - 布线基板以及显示面板 - Google Patents

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Abstract

避免因误检查而作出不良判定。本发明的阵列基板(布线基板)(10B)包括：规则并排配置的多个第一布线(17)；配置有多个第一布线(17)的第一布线配置区域(19)；多个第一单元检查区域(21)，其被包括在第一布线配置区域(19)中、配置在相互隔开间隔的位置处并且成为检查图像的摄像对象；第二布线(18)；与第一布线配置区域(19)相邻并且配置有第二布线(18)的第二布线配置区域(20)；以及多个第二单元检查区域(22)，其被包括在第二布线配置区域(20)中、配置在相互隔开间隔的位置处并且成为检查图像的摄像对象，第二布线配置区域(20)构成为使得多个第二单元检查区域(22)为相同图案。

Description

布线基板以及显示面板
技术领域
本发明涉及一种布线基板以及显示面板。
背景技术
以往，在下述专利文献1中记载了作为能够自动生成适用于光学缺陷检查的布线图案的布线图案生成装置的一个例子的装置。该专利文献1记载的布线图案生成装置包括：信息获取单元，获取自动生成布线图案所需的信息；校正量计算单元，基于所述信息获取单元所获取的各信息，计算用相同角度的布线连接每个焊盘所需的校正量；布线处理单元，以相对于基准方向以相同角度倾斜的布线从一个焊盘组中的每个焊盘延伸，并且布线在与所述基准方向正交的方向上从另一个焊盘组中的每个焊盘延伸对应于所述校正校正量计算单元计算出的校正量的方式，确定使各焊盘之间导通的布线的布局图案。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2010-33405号公报
发明内容
本发明所要解决的技术问题
上述专利文献1公开了布线的布局图案由布线图案生成装置确定的布线基板。如果在布线基板上形成的布线的所有布局图案都是规则的，则可以通过光学缺陷检查来适当地进行检查。然而，除了成为光学缺陷的检查对象的布线之外，布线基板中还存在例如仅用于显示检查图像的布线，由于在显示通常的图像时不使用这种布线，因此不需要通过光学缺陷检查进行检查。根据光学缺陷检查装置的精度等条件，有时错误地检查原本不需要检查的布线，这样一来，存在错误地判定为不良的可能性。
本发明是基于如上情况而完成的，其目的在于避免因误检查引起的不良判定。
解决问题的方案
本发明的布线基板包括：多个第一布线，其规则并排配置；第一布线配置区域，其配置有多个所述第一布线；多个第一单元检查区域，其包括在所述第一布线配置区域中且配置在相互隔开间隔的位置处并且成为检查图像的摄像对象；第二布线；第二布线配置区域，其与所述第一布线配置区域相邻并且配置有所述第二布线；以及多个第二单元检查区域，其包括在所述第二布线配置区域中且配置在相互隔开间隔的位置处并且成为所述检查图像的摄像对象，所述第二布线配置区域构成为多个所述第二单元检查区域为相同图案。
首先，为了检查多个第一布线，对包括在第一布线配置区域中并且配置在相互隔开间隔的位置处的多个第一单元检查区域的检查图像进行摄像。将拍摄的检查图像相互比较，如果检查图像一致，则判定规则并排配置的多个第一布线适当地形成并且作出良好判定，如果检查图像不一致，则判定第一布线未适当地形成并且作出不良判定。另一方面，即使第二布线原本不是检查对象，第二布线18也配置在与第一布线配置区域相邻的第二布线配置区域中，因此根据检查装置的精度等的条件，可能错误地进行检查。在这种情况下，对包括在第二布线配置区域中并且配置在相互隔开间隔的位置处的多个第二单元检查区域的检查图像进行摄像。此处，由于第二布线配置区域构成为使得多个第二单元检查区域为相同图案，因此当被摄像的检查图像彼此进行比较时，检查图像必然一致。因此，可以避免由于错误地检查第二单元检查区域而作出不良判定，因此能够避免当检查多个该布线基板时大量布线基板被判定为不良的情况。在检查第一布线配置区域中与第二布线配置区域接近的部分的情况下，存在容易产生这种误检查的倾向，但是如果可以避免由于进行错误检查而导致的不良判定的产生，则可以检查第一布线配置区域中与第二布线配置区域接近的部分，并能够适当地检测在该部分中存在的第一布线中产生的不良。
发明效果
根据本发明，能够避免因误检测引起的不良判定。
附图说明
图1是本发明的实施方式一涉及的液晶面板的剖视图。
图2是液晶面板的俯视图。
图3是示出液晶面板的显示区域中的像素的电路图。
图4是示出构成液晶面板的阵列基板中的驱动器附近的布线结构的俯视图。
图5是示出阵列基板中的配置了第一布线以及第二布线的第一布线区域以及第二布线区域中的第一单元检查区域以及第二单元检查区域的俯视图。
图6是示出比较例涉及的阵列基板中的配置了第一布线以及第二布线的第一布线区域以及第二布线区域中的第一单元检查区域以及第二单元检查区域的俯视图。
图7是示出本发明的实施方式二涉及的阵列基板中的配置了第一布线以及第二布线的第一布线区域以及第二布线区域中的第一单元检查区域以及第二单元检查区域的俯视图。
图8是示出本发明的实施方式三涉及的阵列基板中的配置了第一布线以及第二布线的第一布线区域以及第二布线区域中的第一单元检查区域以及第二单元检查区域的俯视图。
具体实施方式
<实施方式一>
根据图1至图6说明本发明的实施方式一。本实施方式中，例示出液晶面板10及其具备的阵列基板10B。此外，在各附图的一部分中示出X轴、Y轴以及Z轴，各轴方向描绘为各附图中示出的方向。此外，在上下方向上，以图1为基准，将同图的上侧设为表侧，并且将同图的下侧设为背侧。
液晶面板10利用从未图示的背光源装置(照明装置)照射的照射光来显示图像。如图1所示，液晶面板10至少包括：大致透明且具有优异的透光性的玻璃制的一对基板10A、10B；包含液晶分子的液晶层10C，该液晶分子为配置在两基板10A、10B中相互对置的板面之间所具有的内部空间IS且随着施加电场光学特性发生变化的物质；以及密封部10D，其介于一对基板10A、10B之间以围绕内部空间IS的形式密封内部空间IS以及液晶层10C。在构成液晶面板10的一对基板10A、10B中，表侧(正面侧)为CF基板(对置基板)10A，背侧(背面侧)为阵列基板(布线基板，有源矩阵基板)10B。CF基板10A以及阵列基板10B均在玻璃基板的内表面侧上层叠各种膜而形成。密封部10D例如由紫外线固化树脂材料等的光固化性树脂材料(光固化性材料)制成。另外，在两个基板11a、11b的外表面侧分别贴附有未图示的偏振板。另外，在图2中，用虚线表示密封部10D的形成范围。此外，可以说构成液晶面板10的一对基板10A、10B均为“液晶面板用基板(显示面板用基板)”。
如图2所示，液晶面板10呈纵向长的矩形状，且其长边方向与Y轴方向一致，短边方向与X轴方向一致，板厚方向与Z轴方向一致。液晶面板10中，画面的中央侧部分为显示图像的显示区域AA，而围绕画面中的显示区域AA的边框状的外周侧部分为不显示图像的非显示区域NAA。另外，图2中用单点划线包围的范围为显示区域AA。构成液晶面板10的阵列基板10B的长边尺寸大于CF基板10A的长边尺寸，并且在一个端部在长边方向对齐的状态下贴合到CF基板10A。因此，阵列基板10B中长边方向的另一个端部为不与CF基板10A重叠的CF基板非重叠部10B1。CF基板非重叠部10B1暴露于外部而其表侧的板面不被CF基板10A覆盖，并且安装有下述的驱动器(面板驱动部件)11、柔性基板(信号传输部件)12等的部件。在CF基板非重叠部10B1中的驱动器11、柔性基板12等的安装区域中形成有各种端子。
驱动器11由内部具有驱动电路的LSI芯片制成，如图2所示，通过COG(Chip OnGlass：玻璃上芯片)安装在作为非显示区域NAA的CF基板非重叠部10B1上。驱动器11相对于下述的柔性基板12配置在Y轴方向上靠近显示区域AA的位置处，并处理通过柔性基板12传输的各种信号。柔性基板12构成为在由具有绝缘性以及可弯曲性的合成树脂材料(例如聚酰亚胺类树脂等)制成的基材上形成多个布线图案(未图示)，其一端连接到阵列基板10B的CF基板非重叠部10B1，另一端连接到未图示的控制基板(信号供给源)。从控制基板供给的各种信号经由柔性基板12传输到液晶面板10，并经过非显示区域NAA中的驱动器11处理朝向显示区域AA输出。驱动器11和柔性基板12经由未图示的各向异性导电膜(ACF：Anisotropic Conductive Film)电连接且机械连接到CF基板非重叠部10B1。
如图3所示，在阵列基板10B的显示区域AA中的内表面侧，配设有呈格子状的多条栅极布线(扫描布线)13以及源极布线(信号布线，数据布线)14，且在其各个交叉部位附近设置有作为开关元件的TFT15以及像素电极16。栅极布线13以横断显示区域AA的形式沿X轴方向延伸并连接到每个TFT15的栅极电极，而源极布线14以横断显示区域AA的形式沿Y轴方向延伸并连接到每个TFT15的源极电极。多条栅极布线13沿Y轴方向以一定间隔并排配置，而多条源极布线14沿X轴方向以一定间隔并排配置。TFT15和像素电极16沿着X轴方向以及Y轴方向以矩阵状(行列状)平面配置有多个，并且像素电极16连接到TFT15的漏极。TFT15基于供给至栅极布线13的扫描信号而被驱动，并且相应地利用基于供给至源极布线14的图像信号(信号，数据信号)的电位对像素电极16充电。与此相对，在CF基板10A的显示区域AA的内表面侧，虽然未图示，但设置有以与各像素电极16重叠的形式配置且呈红色(R)、绿色(G)、蓝色(B)三种颜色的彩色滤光片、分隔相邻的彩色滤光片的遮光部(黑矩阵)等。在该液晶面板10中，沿着X轴方向排列的R、G、B彩色滤光片和与各彩色滤光片对置的三个像素电极16构成三种颜色的像素PX。另外，在CF基板10A以及阵列基板10B中的任一个上，设置有由与像素电极16相同的透明电极材料制成并与像素电极16空开间隔并重叠配置的共用电极(未图示)。液晶面板10中，基于该共用电极和各像素电极16之间产生的电位差将规定的电场施加到液晶层10C，从而可以使各像素PX进行规定的灰度显示。
在如上所述构成的液晶面板10中所具备的驱动器11的输出信号至少包括供给至源极布线14的图像信号。如图4所示，为了将从驱动器11输出的图像信号传输到源极布线14，第一布线17在阵列基板10B上从驱动器11的安装区域布线到显示区域AA。第一布线17的一端连接到配置在驱动器11的安装区域中的端子部(未图示)，而另一端直接或间接地连接到配置在显示区域AA中的源极布线14的端部。此外，当第一布线17的另一端间接地连接到源极布线14的端部时，例如，夹设RGB开关电路部、ESD保护电路部等。另一方面，驱动器11的输出信号包含有供给至源极布线14的显示检查用图像信号。该显示检查用图像信号用于在制造液晶面板10时进行的显示检查中在液晶面板10的显示区域AA上显示显示检查图像。为了将从驱动器11输出的检查用图像信号传输到源极布线14，第二布线18在阵列基板10B上从驱动器11的安装区域布线到显示区域AA。第二布线18的一端连接到配置在驱动器11的安装区域中的端子部(未图示)，而另一端直接或间接地连接到配置在显示区域AA中的源极布线14的端部。
如图4所示，第一布线17以及第二布线18配置为在阵列基板10B中从驱动器11的安装区域沿Y轴方向接近显示区域AA时在X轴方向上向外扩展，并且整体呈扇形。多条第一布线17以及第二布线18以彼此平行的形式分别延伸。第一布线17的一端连接到驱动器11的X轴方向上的中央侧部分，而第二布线18的一端连接到驱动器11的X轴方向上的端部分。因此，在阵列基板10B中，配置有第一布线17的第一布线配置区域19位于X轴方向上的中央侧，配置有第二布线18的第二布线配置区域20位于X轴方向上的端侧。第一布线配置区域19和第二布线配置区域20为彼此相邻的位置关系。在第一布线17和第二布线18中，从驱动器11的安装区域到显示区域AA之间的部分与密封部10D重叠，并且该重叠部分成为密封重叠部17A、18A。另外，在图4中，用单点划线表示密封部10D的形成范围。
更具体地，如图5所示，配置在第一布线配置区域19中的多条第一布线的线宽和排列间隔大致相等，并且规则地排列。另外，在图5中，第一布线17以及第二布线18的形成范围以网纹状示出。另一方面，配置在第二布线配置区域20中的多条第二布线18的线宽比第一布线17的线宽更宽，并且多个狭缝18B至少开口形成在密封重叠部18A的一部分或者整个密封重叠部18A上。多个狭缝18B以与第二布线18的延伸方向平行的方式延伸并且规则地并排排列。另外，狭缝18B的宽度尺寸比第一布线17的排列间隔窄。通过狭缝18B，透射在使密封部分10D固化时照射的紫外线光，从而可以促进密封部10D的固化。另外，第二布线18的密封重叠部18A具有以横穿多个狭缝18B的方式延伸的桥接部18C。桥接部18C连接由密封重叠部18A中的多个狭缝18B分割的部分(分割第二布线)，由此确保第二导线18的冗长性。
此外，在液晶面板10的制造过程中进行的检查中，除了使用了第二布线18的显示检查之外，还由光学自动缺陷检查装置(未图示)自动地检查在阵列基板10B上形成的布线中是否存在如断开等的缺陷。在使用了该光学自动缺陷检查装置的布线检查中，至少第一布线17是检查对象，第二布线18不是检查对象。第一布线17具有在使用液晶面板10时将从驱动器11输出的图像信号传输到源极布线14的功能，并且是发挥显示图像的功能的必须的构成，因此有必要检查是否有断开等的缺陷。与此相对，虽然在液晶面板10的制造过程中进行显示检查时需要第二布线18，但在液晶面板10作为产品出厂之后，在通常使用时不使用第二布线18。因此，在上述布线检查中不需要检查第二布线18。
对布线检查进行详细说明。布线检查至少在阵列基板10B上形成各种布线的工序之后进行。因此，可以在将阵列基板10B贴合到CF基板10A之前或之后的任何阶段进行布线检查，也可以在安装驱动器11、柔性基板12之前或之后的任何阶段进行布线检查。此外，也可以在液晶面板10的制造工序中多次进行布线检查。用于布线检查的光学自动缺陷检查装置至少包括：搭载有阵列基板10B的台阶；将光照射到阵列基板10B的表面的光照射部；接收由阵列基板10B的表面反射的光的多个光接收传感器(摄像元件)；容纳有多个光接收传感器的镜筒；以及基于由多个光接收传感器拍摄的检查图像判定好坏的判定部。通过基于阵列基板10B上设置的对准标记(未图示)使阵列基板10B至少相对于镜筒移动(光接收传感器)，台阶可以相对于镜筒实现阵列基板10B的定位。在从光照射部照射用于布线检查的光的阵列基板10B的表面上，存在如下倾向：在形成由金属膜制成的布线等的范围(布线形成区域)内，反射光的量变多，而在不配置布线的范围(布线非形成区域)内，反射光的量变少。
镜筒夹着阵列基板10B与台阶呈对置状配置，以使被阵列基板10B的表面反射的光入射。容纳在该镜筒中的多个光接收传感器以隔开固定间隔并排配置，接收来自由台阶所定位的阵列基板10B的反射光，并基于所接收的光拍摄检查图像。所拍摄的检查图像具有与光量对应的灰度级，并且反应了布线形成区域和布线非形成区域。光接收传感器中，其光接收范围为一边的长度为例如约2μm至4μm的正方形。在阵列基板10B通过台阶相对于镜筒适当地被定位的状态下，阵列基板10B中第一布线配置区域19为与镜筒重叠的位置关系，并且第一布线配置区域19中的反射光由镜筒内的光接收传感器接收。此时，如图5所示，第一布线配置区域19包括通过多个光接收传感器而成为检查图像的摄像对象的多个第一单元检查区域21。此外，图5中，光接收传感器的检查图像的可拍摄范围由虚线围绕并示出，并且当适当地进行定位时的包括于第一布线配置区域19中的第一单元检查区域21由粗线围绕并示出。多个第一单元检查区域21被排列为反映多个光接收传感器的排列，具体地，在图5中，相对于X轴方向和Y轴方向两者而在倾斜方向上隔开间隔地排列。在多个第一单元检查区域21中，如果适当地形成第一布线17，则将形成第一布线17的布线形成区域和未形成第一布线17的布线非形成区域的配置、面积比例的图案设定为相同。假设在第一布线17中产生断开等不良的情况下，则多个第一单元检查区域21中的形成第一布线17的布线形成区域和未形成第一布线17的布线非形成区域的配置、面积比例的图案不同。因此，在由多个光接收传感器拍摄的多个检查图像一致的情况下，判定部判定第一布线17适当地形成并且作出良好判定，并且如果多个检查图像不一致，则判定第一布线17未适当地形成并且作出不良判定。
另一方面，在使用了光学自动缺陷检查设备的布线检查中，在产生了对准标记的读取偏差的情况、产生了由台阶的移动精度引起的位置偏差的情况下，沿着阵列基板10B的板面的方向在阵列基板10B和镜筒之间可能存在约数十μm至100μm的位置偏差。如果对第一布线配置区域19中与第二布线配置区域20相邻的一部分进行布线检查时产生这种位置偏差，则有时以镜筒与第二布线配置区域20而不是第一布线配置区域19重叠的位置关系进行布线检查。在这种情况下，在原本不需要布线检查的第二布线配置区域20中错误地进行布线检查。当进行了这样的误检查时，如图5所示，第二布线配置区域20包括通过多个光接收传感器而成为检查图像的摄像对象的多个第二单元检查区域22。此外，在图5中，当进行误检查时的包括在第二布线配置区域20中的第二单元检查区域22通过由粗线包围来示出。多个第二单元检查区域22被排列为反映多个光接收传感器的排列，具体地，在图5中，相对于X轴方向和Y轴方向两者而在倾斜方向上隔开间隔地排列。
此处，对比较例进行说明。如图6所示，在比较例中，第二布线配置区域1中的多个第二单元检查区域2具有不同的图案。具体而言，多个第二单元检查区域2包含在第二布线3的密封重叠部3A中形成有狭缝3B的部分和形成有桥接部分3C的部分，形成第二布线3的布线形成区域与未形成第二布线3的布线非形成区域的配置、面积比例的图案彼此不同。在这种情况下，对多个第二单元检查区域2进行摄像而获得的检查图像不一致。因此，当在第一布线配置区域19中进行了与第二布线配置区域1相邻的部分的布线检查的情况下错误地进行第二布线配置区域1的布线检查时，将其判定为不良，不能正常地进行第一布线配置区域19的布线检查。为了避免这种情况，可以想到停止第一布线配置区域19中的与第二布线配置区域1相邻的部分的布线检查，但是这样的话，在第一布线配置区域19中的与第二布线配置区域1相邻的部分产生断开等不良的情况下，不能检测到该不良，并且会产生不良产品流出的问题。
因此，在本实施方式中，如图5所示，多个第二单元检查区域22中，将形成第二布线18的布线形成区域和未形成第二布线18的布线非形成区域的配置、面积比例的图案设定为相同。这样，在错误地进行了第二布线配置区域20的布线检查的情况下，当比较由光接收传感器拍摄到的检查图像时，检查图像必然彼此一致，能够避免不一致的情况。因此，可以避免判定部由于错误地进行第二单元检查区域22的布线检查而导致进行不良判定。由此，在检查多个阵列基板10B的情况下，可以避免大量阵列基板10B被作出不良判定的情况。如上所述，在检查第一布线配置区域19中与第二布线配置区域20相邻的部分的情况下，存在容易产生这种误检查的倾向，但是如果可以避免由于进行错误检查而导致的不良判定的产生，则可以检查第一布线配置区域19中与第二布线配置区域20相邻的部分。由此，可以适当地检测在第一布线配置区域19中与第二布线配置区域20相邻的部分中存在的第一布线17中所产生的不良。
具体而言，如图5所示，第二布线配置区域20构成为使得第二布线18不形成在多个第二单元检查区域22中。即，第二布线18没有形成在与第一布线配置区域19相邻的特定范围内，并且该范围等于或大于在光学自动缺陷检查装置中可能产生的位置偏差量(例如，约几十μm到100μm)。这样，在错误地进行了第二布线配置区域20的检查的情况下，如果对多个第二单元检查区域22的检查图像进行摄像，则未被摄像的检查图像均不存在第二布线18，因此形成第二布线18的布线形成区域的面积比例为0％，未形成第二布线18的布线非形成区域的面积比例为100％，相互一致。由此，能够避免因进行误检查而导致的不良判定的产生。
如以上说明的本实施方式的阵列基板(布线基板)10B包括：规则并排配置的多个第一布线17；配置有多个第一布线17的第一布线配置区域19；多个第一单元检查区域21，其包括在第一布线配置区域19中并配置在相互隔开间隔的位置处且成为检查图像的摄像对象；第二布线18；与第一布线配置区域19相邻并且配置有第二布线18的第二布线配置区域20；以及多个第二单元检查区域22，其包括在第二布线配置区域20中并配置在相互隔开间隔的位置处且成为检查图像的摄像对象，第二布线配置区域20构成为使得多个第二单元检查区域22为相同图案。
首先，为了检查多个第一布线17，对包括在第一布线配置区域19中并且配置在相互隔开间隔的位置处的多个第一单元检查区域21的检查图像进行摄像。将拍摄的检查图像相互比较，如果检查图像一致，则判定规则并排配置的多个第一布线17适当地形成并且作出良好判定，如果检查图像不一致，则判定第一布线17未适当地形成并且作出不良判定。另一方面，即使第二布线18原本不是检查对象，第二布线18也配置在与第一布线配置区域19相邻的第二布线配置区域20中，因此根据检查装置的精度等的条件，可能错误地进行检查。在这种情况下，对包括在第二布线配置区域20中并且配置在相互隔开间隔的位置处的多个第二单元检查区域22的检查图像进行摄像。此处，由于第二布线配置区域20构成为使得多个第二单元检查区域22为相同图案，因此当被摄像的检查图像彼此进行比较时，检查图像必然一致。因此，可以避免由于错误地检查第二单元检查区域22而作出不良判定，因此能够避免当检查多个该阵列基板10B时大量阵列基板10B被判定为不良。在检查第一布线配置区域19中与第二布线配置区域20接近的部分的情况下，存在容易产生这种误检查的倾向，但是如果可以避免由于进行错误检查而导致的不良判定的产生，则可以检查第一布线配置区域19中与第二布线配置区域20接近的部分，并能够适当地检测在该部分中存在的第一布线17中产生的不良。
另外，第二布线配置区域20构成为使得第二布线18不形成在多个第二单元检查区域22中。这样，在错误地进行第二布线配置区域20的检查的情况下，当对多个第二单元检查区域22的检查图像进行摄像时，被拍摄的检查图像中均不存在第二布线18。
另外，包括显示图像的显示区域AA和配置于显示区域AA中的多个像素PX，多个第一布线17分别连接到多个像素PX并将用于显示图像的信号供给至多个像素PX，而第二布线18连接到多个像素PX并将用于显示检查图像的检查信号供给至多个像素PX。这样，当从多个第一布线17向多个像素PX供给信号时，显示区域AA中显示有规定的图像。另一方面，当从第二布线18向多个像素PX供给检查信号时，显示区域AA中显示有规定的检查图像。第二布线18仅用于显示的检查中，因此不是检查对象。
另外，包括：上述的阵列基板10B；以与阵列基板10B之间具有内部空间IS的方式贴合的CF基板(对置基板)10A；和由光固化性材料制成的密封部10D，其介于阵列基板10B和CF基板10A之间并以包围内部空间IS的方式密封内部空间IS；第二布线18至少部分地具有与密封部10D重叠的密封重叠部18A，密封重叠部18A至少设置有以规则排列的方式开口形成的狭缝18B，第二布线配置区域20构成为使得第二布线18不形成在多个第二单元检查区域22中。这样，介于阵列基板10B和CF基板10A之间的内部空间IS被介于两个基板之间的密封部10D围绕而被密封。在错误地进行第二布线配置区域20的检查的情况下，当对多个第二单元检查区域22的检查图像进行摄像时，被拍摄的检查图像中均不存在第二布线18。由此，可以避免由于检查图像彼此一致而错误地检查第二单元检查区域22导致的不良判定的作出。并且，由光固化性材料制成的密封部10D中，在第二布线18中与密封部10D重叠的密封重叠部18A开口形成的狭缝18B的基础上，通过没有形成第二布线18的多个第二单元检查区域22照射的用于固化的光有效地促进了固化。
<实施方式二>
通过图7说明本发明的实施方式二。在该实施方式2中，示出对第二布线配置区域120的构成进行了变更的结构。此外，对于与上述实施方式一同样的结构、作用和效果省略重复的说明。
如图7所示，本实施方式涉及的第二布线配置区域120构成为使得第二布线118在多个第二单元检查区域122中形成为规则的图案。具体而言，第二布线配置区域120构成为：第二布线118形成在距第一布线配置区域119的距离是在光学自动缺陷检查装置中可能产生的位置偏差量(例如，约几十μm到100μm)的位置处或者小于位置偏差量的位置处，但在多个第二单元检查区域122中未形成桥接部118C。更详细而言，第二布线配置区域120中，在距第一布线配置区域119的距离大于光学自动缺陷检查装置中可能产生的位置偏差量的位置处，形成将由密封重叠部118A中的多个狭缝118B分割的部分(分割第二布线)彼此连接的桥接部118C，但在距第一布线配置区域119的距离是在光学自动缺陷检查装置中可能产生的位置偏差量的位置处或者小于位置偏差量的位置处，仅形成密封重叠部118A以及狭缝118B而不形成桥接部118C。这样，在错误地进行第二布线配置区域120的检查的情况下，当对多个第二单元检查区域122的检查图像进行摄像时，被拍摄的检查图像中均存在形成为规则的图案的第二布线118，且相互一致。由此，能够避免因进行误检查而导致的不良判定的产生。
根据如以上说明的本实施方式，第二布线配置区域120构成为使得第二布线118在多个第二单元检查区域122中形成为规则的图案。这样，在错误地进行第二布线配置区域120的检查的情况下，当对多个第二单元检查区域122的检查图像进行摄像时，被拍摄的检查图像中均存在形成为具有规则图案的第二布线118，从而是一致的。
设置有：上述的阵列基板；以与阵列基板之间具有内部空间的方式贴合的CF基板；以及由光固化性材料制成的密封部，其介于阵列基板和CF基板之间并以包围内部空间的方式密封内部空间，第二布线118至少部分地具有与密封部重叠的密封重叠部118A，密封重叠部118A至少设置有以规则排列的方式开口形成的狭缝118B、以及以横穿狭缝118B的方式延伸的桥接部118C，第二布线配置区域120构成为使得桥接部118C不形成在多个第二单元检查区域122中。这样，夹在阵列基板和CF基板之间的内部空间被介于两个基板之间的密封部围绕而被密封。由光固化性材料制成的密封部中，通过第二布线18中与密封部10D重叠的密封重叠部118A中开口形成的狭缝118B照射的用于固化的光有效地促进了固化。桥接部118C以横穿第二布线118中的多个狭缝118B的方式延伸，从而能够使得由密封重叠部118A中的多个狭缝118B分割的部分彼此连接，由此确保布线118的冗长性。并且，在错误地进行第二布线配置区域120的检查的情况下，当对多个第二单元检查区域122的检查图像进行摄像时，被拍摄的检查图像中均存在开口形成有规则排列的多个狭缝118B的第二布线118，但不存在以横穿多个狭缝118B的方式延伸的桥接部118C。由此，由于检查图像彼此一致，可以避免因错误地检查第二单元检查区域122而导致作出不良判定。
<实施方式三>
通过图8说明本发明的实施方式三。在该实施方式三中，示出从上述实施方式一对第二布线配置区域220的构成进行了变更的结构。此外，对于与上述实施方式一同样的结构、作用和效果省略重复的说明。
如图8所示，本实施方式涉及的第二布线配置区域220构成为使得第二布线218在多个第二单元检查区域222中形成为整面图案。即，第二布线218整面地(整面状)形成在遍及与第一布线配置区域219相邻的特定范围内，并且该范围等于或大于在光学自动缺陷检查装置中可能产生的位置偏差量(例如，约几十μm到100μm)。这样，在错误地进行了第二布线配置区域220的检查的情况下，如果对多个第二单元检查区域222的检查图像进行摄像，则被摄像的检查图像均存在形成为整面图案的第二布线218，因此形成第二布线218的布线形成区域的面积比例为100％，未形成第二布线218的布线非形成区域的面积比例为0％，且相互一致。由此，能够避免因进行误检查而导致的不良判定的产生。
根据如以上说明的本实施方式，第二布线配置区域220构成为使得第二布线218在多个第二单元检查区域222中形成为整面图案。这样，在错误地进行第二布线配置区域220的检查的情况下，当对多个第二单元检查区域222的检查图像进行摄像时，被拍摄的检查图像中均存在形成为整面图案的第二布线218从而一致。
<其它实施方式>
本发明不限于通过上述记载和附图说明的实施方式，例如下面的实施方式也包含在本发明的技术范围中。
(1)除了上述的各实施例中的图示之外，在多个第二单元检查区域中形成第二布线的布线形成区域和未形成第二布线的布线非形成区域的与配置、面积比例相关的具体模式可以适当地改变。
(2)在上述的各实施方式中，示出了设置在第二布线中的狭缝以平行于第二布线的延伸方向的方式延伸的情况，但狭缝的延伸方向也可以是与第二布线的延伸方向交叉的关系。另外，狭缝不限于以直线状延伸的构成，狭缝也可以为以Z字形弯曲延伸的构成。
(3)在上述的各实施方式中，示出了第二布线以平行于第一布线的形式延伸布线的构成，但第二布线的至少一部分的延伸方向也可以是与第一布线的延伸方向交叉的关系。具体而言，例如，尽管第二布线的一部分与第一布线平行，但是它也可以在中间弯曲以与第一布线的延伸方向交叉。
(4)在上述的各实施方式中，示出了第二布线的线宽大于第一布线的线宽并且形成有多个狭缝、桥接部的构成的情况，但第二布线的线宽可以等于或小于第一布线的线宽，或者也可以不形成狭缝、桥接部。
(5)在上述的各实施方式中，例示了第二布线用于将从驱动器输出的显示检查用图像信号传输到源极布线的情况，但第二布线也可以用于其他用途。例如，第二布线也可以用于传输接地电位、用于传输传输电源电位。
(6)除了上述的各实施方式之外，也可以适当地变更第一布线以及第二布线的具体布线路、配置等。
(7)在上述的各实施方式中，例示了驱动器COG安装在阵列基板上的构成，但也可以是驱动器COF(Chip On Film，薄膜上芯片)安装在柔性基板上的构成。在这种情况下，第一布线以及第二布线所连接的端子部配置在阵列基板的非显示区域中的柔性基板的安装区域中。
(8)在上述的各实施方式中，例示了透射型的液晶面板，但在反射型液晶面板、半透射型的液晶面板中也能应用本发明。
(9)在上述的各实施方式中，示出了液晶面板的平面形状是纵向长的矩形的情况，但液晶面板的平面形状也可以是横向长的矩形，正方形，圆形，半圆形，椭圆形，椭圆形，梯形等。
(10)在上述的各实施方式中，对液晶面板进行了例示，但也可以是其他种类的显示面板(PDP(等离子显示面板)、有机EL面板、EPD(微胶囊型电泳显示面板)，MEMS(MicroElectro Mechanical Systems，微机电系统)显示面板)。
附图标记说明
10…液晶面板(显示面板)，10A…CF基板(对置基板)，10B…阵列基板(布线基板)，10D…密封部，17…第一布线，18、118、218…第二布线18A，118A…密封重叠部，18B、118B…狭缝，18C、118C…桥接部，19、119、219…第一布线配置区域，20、120、220…第二布线配置区域，21…第一单元检查区域，22、122、222…第二单元检查区域，AA…显示区域，IS…内部空间，PX…像素

Claims (7)

1.一种布线基板，其特征在于，包括：
第一布线，其规则地并排配置有多个；
第一布线配置区域，其配置有多个所述第一布线；
多个第一单元检查区域，其被包括在所述第一布线配置区域中，并配置在相互隔开间隔的位置处且成为检查图像的摄像对象；
第二布线；
第二布线配置区域，其与所述第一布线配置区域相邻并且配置有所述第二布线；以及
多个第二单元检查区域，其被包括在第二布线配置区域中，并配置在相互隔开间隔的位置处且成为检查图像的摄像对象，
所述第二布线配置区域构成为使得多个所述第二单元检查区域为相同图案。
2.如权利要求1所述的布线基板，其特征在于，
所述第二布线配置区域构成为使得所述第二布线不形成在多个所述第二单元检查区域中。
3.如权利要求1所述的布线基板，其特征在于，
所述第二布线配置区域构成为使得所述第二布线在多个所述第二单元检查区域中形成为规则的图案。
4.如权利要求1所述的布线基板，其特征在于，
所述第二布线配置区域构成为使得所述第二布线在多个所述第二单元检查区域中形成为整面图案。
5.如权利要求1所述的布线基板，其特征在于，包括：
显示区域，其显示图像；以及
像素，其在所述显示区域中配置有多个，
多个所述第一布线分别连接到多个所述像素以将用于显示图像的信号供给至多个所述像素，而所述第二布线连接到多个所述像素以将用于显示检查图像的检查信号供给至多个所述像素。
6.一种显示面板，其特征在于，包括：
如权利要求5所述的布线基板；
对置基板，其以与所述布线基板之间具有内部空间的方式进行贴合；以及
由光固化性材料制成的密封部，其介于所述布线基板和所述对置基板之间并以包围所述内部空间的方式密封所述内部空间，
所述第二布线至少部分地具有与所述密封部重叠的密封重叠部，所述密封重叠部至少设置有以规则排列的方式开口形成的狭缝，
所述第二布线配置区域构成为使得所述第二布线不形成在多个所述第二单元检查区域中。
7.一种显示面板，其特征在于，包括：
如权利要求5所述的布线基板；
对置基板，其以与所述布线基板之间具有内部空间的方式进行贴合；以及
由光固化性材料制成的密封部，其介于所述布线基板和所述对置基板之间并以包围所述内部空间的方式密封所述内部空间，
所述第二布线至少部分地具有与所述密封部重叠的密封重叠部，所述密封重叠部至少设置有以规则排列的方式开口形成的多个狭缝、以及以横穿所述狭缝的方式延伸的桥接部，
所述第二布线配置区域构成为使得所述桥接部不形成在多个所述第二单元检查区域中。
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