CN110412016B - 等离子体光谱分析方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种等离子体光谱分析方法。在给药了meso‑2,3‑二巯基丁二酸(DMSA)后采集的检测体中,能够通过等离子体光谱分析方法准确地测定出例如铅离子那样的特定重金属离子。等离子体光谱分析方法的特征在于,包括:预备添加工序,向从给药了meso‑2,3‑二巯基丁二酸(DMSA)的活体采集的检测体添加除了上述DMSA以外的、能够与分析对象重金属离子键合的键合剂;浓缩工序,通过向一对电极施加电压,而使上述检测体中的分析对象重金属离子浓缩于一个电极附近;及检测工序,通过向上述一对电极施加电压而产生等离子体,检测通过该等离子体而产生的上述分析对象重金属离子的发光。

Description

等离子体光谱分析方法
技术领域
本公开涉及一种等离子体光谱分析方法。
背景技术
在下述专利文献1中报告了一种等离子体光谱分析方法,包括:对存在于样品中的一对电极施加电压而使分析对象物浓缩的工序;及相同地施加电压而产生等离子体,并检测通过等离子体而产生的分析对象物的发光的检测工序。更具体地说,公开了如下的方法,通过汽提法使检测体中的重金属离子向电极上浓缩,接着使大电流流向电极间,使该重金属离子产生等离子体发光,通过其发光量来计量检测体中的重金属离子。
另一方面,为了排出蓄积在活体内的重金属,确立有向患者给药螯合剂来促进重金属排出的治疗方法(螯合作用)。为了检验该治疗方法的效果,测定在螯合剂给药后从患者采集的检测体(例如,尿液)中含有的重金属离子时,由于螯合剂的作用,排出到尿液中的某种物质(共存物质)有时会影响重金属离子的测定。具体地说,有时测定检测体中的重金属离子的浓度比实际低。
为了减小这样的共存物质的影响,如下述专利文献2那样,在等离子体光谱分析方法的上述浓缩工序中,周期性地反复使为了浓缩而流动的电流接通/断开的方法是有效的。在该专利文献中报告有如下的内容:此时,在浓缩工序中,以在电流接通的期间使在电极间流动的电流恒定的方式进行控制,由此与浓缩相关的电子的交换恒定,因此能够减轻例如由于存在上述共存物质等的检测体的状态所引起的误差。
现有技术文献
专利文献1:日本特开2016-130734号公报
专利文献2:日本特开2018-21902号公报
发明内容
发明要解决的技术问题
在利用上述等离子体光谱分析方法对给药了作为螯合剂的meso-2,3-二巯基丁二酸(DMSA)的患者的尿液中的重金属离子进行测定的情况下,有时特定的重金属离子(例如铅离子)的测定灵敏度下降或者不能测定。
鉴于上述问题,本件发明的实施方式的课题为,能够利用等离子体光谱分析方法在DMSA给药后采集的检测体中准确地测定例如铅离子那样的特定的重金属离子。
用于解决技术问题的技术方案
本公开的等离子体光谱分析方法包括:预备添加工序,向从给药了meso-2,3-二巯基丁二酸即DMSA的活体采集的检测体中添加除了上述DMSA以外的、能够与分析对象重金属离子键合的键合剂;浓缩工序,通过向一对电极施加电压,而使上述检测体中的分析对象重金属离子浓缩于一个电极附近;及检测工序,通过向上述一对电极施加电压而产生等离子体,检测通过该等离子体而产生的上述分析对象重金属离子的发光。
发明效果
在本公开的等离子体光谱分析方法中,能够在给药了作为螯合剂的DMSA后采集的检测体中,准确地测定出例如铅离子的特定重金属离子,而灵敏度不下降。
附图说明
图1A是在本实施方式中使用的测定容器的主要部分的示意透视立体图。
图1B是从图1A中的I-I方向观察的示意剖视图。
图2A是示出使用了图1A的测定容器的等离子体光谱分析中的浓缩工序的概要的示意剖视图。
图2B是示出使用了图1A的测定容器的等离子体光谱分析中的检测工序的概要的示意剖视图。
图3示出基于等离子体光谱分析的铅离子的发光光谱。
图4用曲线图示出各检测体的基于等离子体光谱分析的铅离子的测定结果与基于GF/AAS的测定值之间的相关关系。
具体实施方式
本公开的等离子体光谱分析方法包括如下的工序:预备添加工序,向从作为螯合剂而给药了meso-2,3-二巯基丁二酸(DMSA)的活体采集的检测体中添加作为除了上述DMSA以外的螯合剂的辅助螯合剂;浓缩工序,通过向在导入有检测体的测定容器中设置的一对电极施加电压,而使上述检测体中的分析对象重金属离子在一个电极附近浓缩,上述检测体中添加有上述辅助螯合剂;及检测工序,在上述浓缩工序之后,通过向上述一对电极施加电压而产生等离子体,检测通过该等离子体而产生的上述分析对象重金属离子的发光。
本方式的等离子体光谱分析方法为,对在导入有检测体的测定容器中设置的一对电极施加预定的电压(汽提),首先,使分析对象重金属离子在一个电极附近浓缩,然后例如以产生比该汽提时更大的电流的方式施加电压,由此产生来自浓缩后的分析对象重金属离子的等离子体发光,根据该等离子体发光的发光量来计量该分析对象重金属离子。
在上述系统中,作为测定对象的检测体是来源于活体的检测体,只要是在测定的时间点具有液体的性状的检测体即可,不特别限定其性状和来源。检测体可以是供测定的液体的原液,或者是将其悬浊、分散或溶解于液体介质中的稀释液。另外,检测体也可以是将供测定的固体悬浊、分散或溶解于液体介质中的稀释液。此外,检测体还可以是将供测定的气体溶解于液体介质中的溶液。另外,作为液体介质只要是能够使检测体悬浊、分散或者溶解的介质即可,没有特别限制,例如可列举水或者缓冲液等。如上所述,检测体是来源于活体的液体或者固体。作为上述来源于活体的液体或者固体例如可列举尿液、血液、唾液、汗液或毛发、皮肤、组织或指甲等,优选的是尿液。上述活体例如是人或者非人的动物,具体地说是患者或者患病动物。
作为上述分析对象重金属离子,可列举例如砷(As)、铋(Bi)、镉(Cd)、铅(Pb)、汞(Hg)、镍(Ni)、钯(Pd)、铂(Pt)、碲(Te)、铊(Tl)、钍(Th)、锡(Sn)、钨(W)或者铀(U)等金属离子,但优选的是铅离子。
另外,上述检测体在向活体给药了作为螯合剂的meso-2,3-二巯基丁二酸(DMSA)后采集。在此,以排出活体内的重金属为目的,在作为螯合剂而向患者给药例如乙二胺四乙酸(EDTA)的情况下,通过静脉滴注来进行,因此给药花费时间。另一方面,作为这样的螯合剂的DMSA能够口服给药,因此容易使用。
例如,在口服给药了DMSA的情况下,之后的24小时,会促进重金属离子向尿液中排出。尤其是,在口服给药后的6个小时,较强地促进重金属离子向尿液中排出。因此,通常,将包含口服给药后24小时内的尿液、尤其是口服给药后6小时内的尿液的尿液作为DMSA给药后的检测体,用于检验螯合作用效果的测定。
但是,有时无法从在DMSA给药后采集的检测体尤其是尿液检测体正常地检测出分析对象重金属离子,尤其是铅离子。尤其是,有时至少无法从在DMSA给药后6小时的期间从活体排出的尿液检测体正常地检测出分析对象重金属离子,尤其是铅离子。其理由目前尚不清楚,但是推测为在DMSA给药后采集的检测体中包含的特有的成分对铅离子的浓缩工序及检测工序产生了某种影响。作为该特有的成分,推测为例如DMSA本身、DMSA的代谢物或者因服用DMSA而诱导活体排泄的某种成分。但是,不清楚在检测体中是否实际包含这样的特有的成分,即使包含,也不清楚铅离子是否与该特有的成分键合或者吸附于该特有的成分。
在上述预备添加工序中,向该检测体添加作为除了DMSA以外的螯合剂的辅助螯合剂。作为辅助螯合剂例如能够使用柠檬酸或EDTA,尤其优选的是使用EDTA。能够通过向在DMSA给药后采集的检测体给与该辅助螯合剂(尤其是EDTA),而正常地测定出分析对象重金属离子(尤其是铅离子)。这样,虽然不清楚通过添加EDTA而变得能够测定的理由,但推测是因EDTA具有与铅离子键合的性质引起的。在本说明书中,为了避免混同理解向检测体添加的辅助螯合剂与在螯合疗法中向活体给药的螯合剂,将辅助螯合剂也称为键合剂。键合剂具有能够通过化学键合而与分析对象重金属键合的性质。键合剂具有通过与分析对象金属配位键合、离子键合、共有键合等而与分析对象重金属离子化学键合的官能团。键合剂优选的是具有与分析对象金属配位的多个配位基,与分析对象重金属离子通过配位键合而键合,而与金属形成络合物的化合物。也就是说,键合剂优选的是对于分析对象重金属离子具有螯合效果(chelate effect)的化合物。
上述尿液检测体例如可以在上述预备添加工序前后调整pH。这种情况下的pH只要是有助于汞或者铅的检测即可,没有特别限制。能够利用例如碱性试剂、酸性试剂等pH调整试剂来调整上述尿液检测体的pH。
上述碱性试剂例如可列举碱或者其水溶液等。碱没有特别限制,例如可列举氢氧化钠、氢氧化锂、氢氧化钾、氨等。上述碱的水溶液例如可列举用水或者缓冲液将碱稀释了的溶液。在上述碱的水溶液中,上述碱的浓度没有特别限制,例如是0.01~5mol/L。
上述酸性试剂例如可列举酸或者其水溶液等。上述酸没有特别限制,例如可列举盐酸、硫酸、乙酸、硼酸、磷酸、柠檬酸、苹果酸、琥珀酸、硝酸等。上述酸的水溶液例如可列举用水或者缓冲液将酸稀释的溶液。在上述酸的水溶液中,上述酸的浓度没有特别限制,例如是0.01~5mol/L。
浓缩工序是将上述预备添加工序后的检测体导入测定容器,并向设置于该测定容器中的一对电极施加电压,从而使上述尿液检测体中的上述分析对象重金属离子在一个电极附近浓缩的工序。
一对电极是指电解中的阳极与阴极的组合。上述电极是固体电极,作为具体例可列举棒电极等。上述电极的材料没有特别限制,只要是固体导电材料即可,例如,能够根据上述分析对象重金属离子的种类而适当决定。上述电极的材料例如可以是非金属,也可以是金属,也可以是它们的混合物。在上述电极的材料包含非金属的情况下,上述电极的材料例如可以包含一种非金属,也可以包含两种以上的非金属。上述非金属例如可列举碳等。在上述电极的材料包含金属的情况下,上述电极的材料例如可以包含一种金属,也可以包含两种以上的金属。上述金属例如可列举金、铂、铜、锌、锡、镍、钯、钛、钼、铬、铁等。在上述电极的材料包含两种以上的金属的情况下,上述电极的材料也可以是合金。上述合金例如可列举黄铜、钢、因科内尔(注册商标)、镍铬合金、不锈钢等。上述一对电极例如可以是相同的材料,也可以是不同的材料。
上述电极的大小只要至少上述电极的一部分收纳于上述测定容器内即可,没有特别限制。另外,例如在想要使上述测定容器能够量产的盒化的情况下,优选的是使上述测定容器的大小尽可能地小型化。在该情况下,根据该测定容器的大小,上述电极也变得小型化。另外,该一对电极中的一个或者两个可以作为单元预先安装于上述测定容器内,或者也可以在测定时适当地插入于上述测定容器内。
上述一个电极是上述分析对象重金属离子浓缩一侧的电极,在该情况下是阴极。
例如能够通过电压来调节上述分析对象重金属离子的浓缩。因此,只要是本领域技术人员,就能够适当设定发生上述浓缩的电压(以下,也称为“浓缩电压”)。上述浓缩电压例如是1mV以上,优选的是400mV以上,其上限没有特别限制。上述浓缩电压例如可以恒定,也可以变动。
施加上述浓缩电压的时间没有特别限制,能够根据上述浓缩电压而适当设定。施加上述浓缩电压的时间例如为0.2~40分钟,优选的是5~20分钟。向上述一对电极的电压施加例如可以连续地施加,也可以非连续地施加。上述非连续的施加例如可列举脉冲施加。在上述浓缩电压的施加是非连续的情况下,施加上述浓缩电压的时间例如可以是仅施加上述浓缩电压的时间的合计时间,也可以是施加上述浓缩电压的时间与不施加上述浓缩电压的时间的合计时间。
作为向上述一对电极施加电压的单元的电压施加单元没有特别限制,例如只要能够向上述一对电极间施加预定的电压即可,作为公知的单元能够使用电压器等。在上述浓缩工序中,在上述一对电极之间流动的电流例如设定为0.01~200mA,优选的是设定为10~60mA,更优选的是设定为10~40mA。
在上述检测工序中,如上所述,通过以使例如电流大于上述浓缩工序时的方式对上述一对电极施加电压来产生等离子体,并对通过上述等离子体而产生的上述分析对象重金属离子的发光进行检测。
在此,上述检测工序中的电流方向可以与上述浓缩工序时的电流方向相同。但是,作为上述电压施加单元使用能够切换施加电压时的电流方向的电压施加单元,优选的是产生上述等离子体时的电流方向与上述浓缩工序时的电流方向相反。
具体地说,在上述浓缩工序中,具有正的电荷的上述分析对象重金属离子在作为阴极的上述一个电极的附近浓缩,因此在上述检测工序中,只要以该一个电极为阳极的方式设定来自上述电压施加单元的电流方向即可。
上述检测工序可以与上述浓缩工序连续地进行,也可以非连续地进行。在前者的情况下,上述检测工序在上述浓缩工序结束的同时进行上述检测工序。在后者的情况下,上述检测工序在从上述浓缩工序结束后的预定时间内进行检测工序。上述预定时间例如是上述浓缩工序后的0.001~1,000秒钟,优选的是1~10秒钟。
在上述检测工序中,“产生等离子体”是指实质性地产生等离子体,具体地说,表示在等离子体发光的检测中实质上能够检测到的发光的等离子体的产生。作为具体例子,能够通过等离子体发光的检测器检测出等离子体发光。
例如能够通过电压来调节实质性的等离子体的产生。因此,只要是本领域技术人员,就能够适当设定用于产生表示实质上能够检测出的发光的等离子体的电压(以下,也称为“等离子体产生电压”)。上述等离子体产生电压例如是10V以上,优选的是100V以上,其上限没有特别限制。产生上述等离子体的电压例如与引起上述浓缩的电压相比是相对高的电压。因此,上述等离子体产生电压优选是高于上述浓缩电压的电压。上述等离子体产生电压例如可以恒定,也可以变动。
施加上述等离子体产生电压的时间没有特别限制,能够根据上述等离子体产生电压而适当设定。施加上述等离子体产生电压的时间例如是0.001~0.02秒钟,优选的是0.001~0.01秒钟。对于上述一对电极的离子体产生电压,例如可以连续地施加,也可以非连续地施加。作为上述非连续的施加,例如可列举脉冲施加。在上述等离子体产生电压的施加是非连续的情况下,施加上述等离子体产生电压的时间例如可以是施加一次上述等离子体产生电压的时间,也可以是施加上述等离子体产生电压的时间的合计时间,也可以是施加上述等离子体产生电压的时间与不施加上述等离子体产生电压的时间的合计时间。
在上述检测工序中,产生的上述等离子体发光例如可以连续地检测出,也可以非连续地检测出。上述发光的检测例如可列举有无发光的检测、发光强度的检测、特定波长的检测、光谱的检测等。上述特定波长的检测例如可列举在上述分析对象重金属离子进行等离子体发光时产生的特有波长的检测。上述发光的检测方法没有特别限制,例如能够利用CCD(Charge Coupled Device:电荷耦合器件)或者光谱仪等公知的光学测定仪器。
上述检测工序中的上述等离子体产生电压向上述一对电极的施加,能够由在上述浓缩工序中使用的电压施加单元以更高的电压,优选的是使其电流方向相反地进行。在上述检测工序中,上述等离子体产生电压与上述浓缩电压相比相对较高,因此上述电极之间的电流与上述浓缩工序相比相对较大,例如能够设定为0.01~100,000mA,优选的是设定为50~2,000mA。
在上述检测工序中通过上述等离子体发光而得到的发光光谱能够表示为标示有与遍及预定的波长范围的各波长对应的发光量的曲线图。优选的是根据该发光光谱求出与适于计测上述分析对象重金属离子的波长即上述分析波长对应的净发光量。
在此,上述净发光量,是该分析波长中仅因上述分析对象重金属离子的存在而产生的发光量,是对该分析波长中的表现出的发光量通过作为与该分析对象重金属离子的等离子体发光没有关系的发光量的基础发光亮进行修正而得到的发光量。将该净发光量的值称为光量修正值。
能够根据作为上述发光光谱所得到的曲线图的类型,来适当确定上述基础发光量或其计算方法。例如,作为发光光谱,例如得到与特定波长对应的峰值发光量作为曲线图的从平坦部分立起的部分的情况下,能够将该平坦部分的发光量确定为上述基础发光量。
参照附图来对在本实施方式中使用的测定容器的一个例子进行说明。另外,在附图中,为了便于说明,有时将各部的构造适当简化地示出,各部的尺寸比等有时与实际不同,示意性地示出。
图1A是在本实施方式中使用的测定容器10的示意透视立体图,图1B是在图1A中从I-I方向观察的示意剖视图。如图1A及图1B所示,在本实施方式中使用的测定容器10的内部包含作为一对电极的等离子体产生电极20及碳电极30。测定容器10呈侧面的一部分呈平面状地刮去而成的大致圆筒形状,在其平面部分包括圆形的透光部11。在测定容器10的外部配置有以能够经过透光部11接收上述分析对象金属重金属离子的发光的方式配置的受光部40,上述分析对象金属重金属离子的发光通过向等离子体产生电极20及碳电极30施加电压而产生。另外,等离子体产生电极20与检测体60的液面61平行地配置,其前端以与透光部11抵接的方式配置。圆筒形状的碳电极30以碳电极30的侧面的一部分与铅锤方向成直角地相交的方式配置于测定容器10的侧面的与上述透光部11相向的一侧,碳电极30的一部分在测定容器10的内部露出。即,碳电极30的长度方向和等离子体产生电极20的长度方向位于相互扭转的位置。等离子体产生电极20的表面的大部分被绝缘体22覆盖。并且,没有被绝缘体22覆盖的部分成为镍铬合金线等金属线露出的露出部分21。
在本实施方式中,等离子体产生电极20的露出部分21与透光部11接触,但本发明不限定于此,例如,等离子体产生电极20也可以与透光部11分离地配置。等离子体产生电极20与透光部11之间的距离没有特别限制,例如为0~0.5cm。
透光部11的材质没有特别限制,例如只要是使通过向等离子体产生电极20及碳电极30施加电压而产生的发光透过的材料即可,能够根据上述发光的波长适当设定。透光部11的材料例如可列举石英玻璃、丙烯酸树脂(PMMA)、硼硅酸盐玻璃、聚碳酸酯(PC)、环烯烃聚合物(COP)、甲基戊烯聚合物(TPX(注册商标))等。透光部11的大小没有特别限制,只要是能够使通过向等离子体产生电极20及碳电极30施加电压而产生的发光透过的大小即可。
在本实施方式中,测定容器10是将侧面的一部分沿着长度方向切为平面状的形状的有底圆筒状,但测定容器10的形状不限定于此,也可以设为任意形状。测定容器10的材料没有特别限制,例如可列举丙烯酸树脂(PMMA)、聚丙烯(PP)、聚乙烯(PE)、聚氯乙烯(PVC)、聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)、聚苯乙烯(PS)等。在测定容器10是有底筒状的情况下,测定容器10的直径例如是0.3~1cm,其高度例如是0.9~5cm。在该测定容器10中能够收纳0.3~0.8cm3的检测体60。
受光部40是在上述检测工序的说明中提及的公知的光学测定仪器的一部分。受光部40例如可以是向上述光学测定仪器传送上述发光的传送装置。作为上述传送装置例如可列举光纤等传送路径。
测定容器10的制造方法没有特别限制,例如可以通过注射成型等制造成型体,也可以通过在板等基材上形成凹部来制造。另外,测定容器10的制造方法除此以外例如还可列举光刻、切削加工等。
在此,对以从DMSA给药患者采集的尿液为检测体60,以该尿液中含有的铅离子为分析对象重金属离子的情况下的本实施方式的等离子体光谱分析方法的概要进行说明。
首先,作为上述预备添加工序,向检测体60添加EDTA作为辅助螯合剂。
在将添加有该EDTA的检测体60导入了测定容器10的状态下,作为上述浓缩工序,如图2A所示,通过电压施加单元50以等离子体产生电极20为阴极且碳电极30为阳极的方式施加电压。于是,存在于检测体60中的铅离子被吸引到作为阴极的等离子体产生电极20的露出部分21。
接着,作为上述检测工序,如图2B所示,通过电压施加单元50而本次以等离子体产生电极20为阳极且碳电极30为阴极的方式施加电压。于是,从通过之前的浓缩工序而被吸引到等离子体产生电极20的露出部分21周边的铅离子产生等离子体发光,该离子体发光通过透光部11被受光部40接收并检测。
图3示出在该检测工序中得到的铅离子的发光光谱。在该发光光谱中的用图中箭头示出的波长368.3nm附近,观察到铅离子的异常峰值。将该异常峰值的计数值作为峰值发光量。另外,能够将该异常峰值上升的附近(例如,波长367nm附近)的计数值作为基础发光量。认为该基础发光量与铅离子的发光没有关系,所以作为铅离子的净发光量,求出峰值发光量除以基础发光量而得到的值作为光量修正值。另外,光量修正值也可以是求出峰值发光量减去基础发光量得到的值。
实施例
以下,说明本公开的实施例。另外,本发明不受下述的实施例限制,这是不言而喻的。
(1)等离子体光谱分析装置
准备上述实施方式所示的测定容器10。等离子体产生电极20使用直径为0.1mm的镍铬合金线,露出部分21的长度为0.5mm。另外,碳电极30使用直径为4.0mm且长度为15mm的碳棒。透光部11使用石英玻璃。等离子体产生电极20及碳电极30与作为电压施加单元50的恒电流仪连接。受光部40使用直径为400μm的单芯光纤。另外,该光纤与凹面光栅式光谱仪(内部制造)连接。
(2)检测体
分别给7个试验者单次口服给药5个包含100mg的DMSA的胶囊。将采集上述试验者各自的给药后6小时内的尿液并全部混合而形成的收集尿液作为检测体。
在实施例中,作为上述预备添加工序,向该检测体495μL添加5μL作为辅助螯合剂的0.5mol/L的EDTA溶液(pH8.0),此外以成为2mol/L的方式溶解氢氧化锂。由此,实施例的检测体中的EDTA浓度是5mmol/L。另外,作为比较例而调整出不添加上述EDTA溶液,而在检测体中以形成2mol/L的方式添加有氢氧化锂的检测体作为对照。
(3)石墨炉加热原子吸光法
关于上述各检测体,利用石墨炉加热原子吸光法(Graphite Furnace AtomicAbsorption Spectrometry,GF/AAS)测定铅离子浓度(单位:ppb)。
(4)等离子体光谱分析
作为上述浓缩工序,对上述各检测体以等离子体产生电极20为阴极且碳电极30为阳极的方式,以下述的浓缩条件通电,使铅离子在等离子体产生电极20附近浓缩。另外,在下述的浓缩条件中,“施加时间”表示在浓缩工序中通电的时间与不通电的时间的合计时间。另外,在下述的浓缩条件中,对两电极之间施加成为下述的电流值那样的电压。
(浓缩条件)
电流:10~40mA
施加时间:1,200sec
施加开关周期:0.25μsec
施加开关占空比:50~80%
在上述浓缩工序紧后,作为上述检测工序,以上述等离子体产生电极20为阳极且碳电极30为阴极的方式,以下述的等离子体产生条件通电,测定出了波长368.3nm附近的峰值发光量(计数值)。另外,在下述的等离子体产生条件中,“施加时间”表示在检测工序中通电的时间与不同通电的时间的合计时间。另外,在下述的等离子体产生条件下,使电流在两电极之间流动,以产生下述的电压值。
(等离子体产生条件)
电压:500V
施加时间:2.5ms
施加开关周期:50μsec
施加开关占空比:50%
(5)结果
下述表1及图4示出各检测体通过上述GF/AAS及等离子体光谱分析测定的铅离子的测定结果。另外,GF/AAS的值是各检测体都进行两次测定的平均值。另外,等离子体光谱分析的值用峰值发光量除以基础发光量而得到的光量修正值表示。
【表1】
首先,根据上述表1可知,越是通过GF/AAS测定的铅离子浓度高的检测体,与比较例的光量修正值之间的乖离越大。由此可知,在不添加作为辅助螯合剂的EDTA的比较例中,未准确地进行基于等离子体光谱分析的铅离子的测定。
另一方面,在添加有作为辅助螯合剂的EDTA的实施例中,可以确认实施例的光量修正值的高低与通过GF/AAS测定的测定值的高低大致一致。在使上述表1的测定值曲线化的图4中也明确地示出这一情况。
即,在图中用三角符号表示的比较例的光量修正值的回归线(图中虚线)的斜率大致接近零,几乎不能反映由通过GF/AAS测定的测定值表示的铅离子浓度的增加。并且,该回归线的决定系数(R2)是0.052,作为该平方根的相关系数(R)是0.2280。
另一方面,可以确认到,在图中用圆符号表示的实施例的光量修正值的回归线(图中实线)表示为向右上倾斜,反映了铅离子浓度的增加。另外,该回归线的决定系数(R2)是0.9521,作为该平方根的相关系数(R)是0.9758。
根据以上,可以确认到,通过向检测体添加作为辅助螯合剂的EDTA,而利用等离子体光谱分析对DMSA给药后的尿液检测体的铅离子浓度进行测定的灵敏度急剧上升。
工业实用性
本发明能够应用于使用从活体获得的检测体的重金属离子特别是铅离子的等离子体光谱分析。尤其是,在该活体中能够应用于给药了DMSA的螯合作用的效果判定。
附图标记的说明
10 测定容器
11 透光部
20 等离子体产生电极
21 露出部分
22 绝缘体
30 碳电极
40 受光部
50 电压施加单元
60 检测体
61 液面

Claims (2)

1.一种等离子体光谱分析方法,其特征在于,包括如下的工序:
预备添加工序,向从给药了meso-2,3-二巯基丁二酸即DMSA的活体采集的检测体中添加除了所述DMSA以外的、能够与分析对象重金属离子键合的键合剂;
浓缩工序,通过向一对电极施加电压,而使所述检测体中的分析对象重金属离子浓缩于一个电极附近;及
检测工序,通过向所述一对电极施加电压而产生等离子体,检测通过该等离子体而产生的所述分析对象重金属离子的发光,并根据所述分析对象重金属离子的发光量来计量该分析对象重金属离子,
所述键合剂是乙二胺四乙酸即EDTA,所述分析对象重金属离子是铅离子。
2.根据权利要求1所述的等离子体光谱分析方法,其特征在于,
所述检测体是尿液。
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104880358A (zh) * 2014-02-28 2015-09-02 爱科来株式会社 金属的回收方法以及金属的回收试剂
EP3045895A1 (en) * 2015-01-13 2016-07-20 ARKRAY, Inc. Plasma spectrochemical analysis method and plasma spectrochemical analyzer
CN105987994A (zh) * 2015-03-23 2016-10-05 爱科来株式会社 尿试样中的分析对象物量的预测方法
CN107643279A (zh) * 2016-07-22 2018-01-30 爱科来株式会社 等离子体分光分析方法及等离子体分光分析装置
EP3306314A1 (en) * 2016-10-07 2018-04-11 ARKRAY, Inc. Plasma spectroscopic analysis method and inhibitor of plasma emission derived from non-target
CN107917906A (zh) * 2016-10-07 2018-04-17 爱科来株式会社 等离子体分光分析方法和来自非靶材的等离子体发光的抑制剂

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5217594A (en) * 1992-01-15 1993-06-08 Enzyme Technology Research Group, Inc. Convenient determination of trace lead in whole blood and other fluids
JP4189821B2 (ja) 2004-07-06 2008-12-03 独立行政法人産業技術総合研究所 ろ過膜及びそれを用いた鉛イオンの簡易定量方法
JP5098843B2 (ja) 2007-06-29 2012-12-12 Jfeスチール株式会社 金属試料中の着目元素の固溶含有率を求める方法
JP5889060B2 (ja) * 2011-04-04 2016-03-22 アークレイ株式会社 金属の回収方法
JP5899085B2 (ja) * 2011-09-22 2016-04-06 アークレイ株式会社 重金属の回収方法およびそれに使用する重金属回収用試薬
JP6179918B2 (ja) 2013-02-08 2017-08-16 三菱ケミカル株式会社 水質監視方法
JP2015025680A (ja) 2013-07-24 2015-02-05 株式会社島津製作所 分離方法および分離用デバイス
JP6656931B2 (ja) 2015-01-13 2020-03-04 アークレイ株式会社 プラズマ分光分析方法およびプラズマ分光分析装置
US11199497B2 (en) 2016-02-24 2021-12-14 Ohio Northern University Fluorescent compounds as sensing agents
JP2018021902A (ja) 2016-07-22 2018-02-08 アークレイ株式会社 プラズマ分光分析方法及びプラズマ分光分析装置
JP2018131659A (ja) * 2017-02-16 2018-08-23 アークレイ株式会社 電気分解装置
JP6754326B2 (ja) * 2017-07-05 2020-09-09 アークレイ株式会社 プラズマ分光分析方法
JP6823555B2 (ja) * 2017-07-05 2021-02-03 アークレイ株式会社 プラズマ分光分析方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104880358A (zh) * 2014-02-28 2015-09-02 爱科来株式会社 金属的回收方法以及金属的回收试剂
EP3045895A1 (en) * 2015-01-13 2016-07-20 ARKRAY, Inc. Plasma spectrochemical analysis method and plasma spectrochemical analyzer
CN105784675A (zh) * 2015-01-13 2016-07-20 爱科来株式会社 等离子体分光分析方法和等离子体分光分析装置
CN105987994A (zh) * 2015-03-23 2016-10-05 爱科来株式会社 尿试样中的分析对象物量的预测方法
CN107643279A (zh) * 2016-07-22 2018-01-30 爱科来株式会社 等离子体分光分析方法及等离子体分光分析装置
EP3306314A1 (en) * 2016-10-07 2018-04-11 ARKRAY, Inc. Plasma spectroscopic analysis method and inhibitor of plasma emission derived from non-target
CN107917906A (zh) * 2016-10-07 2018-04-17 爱科来株式会社 等离子体分光分析方法和来自非靶材的等离子体发光的抑制剂

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