CN110400530A - 液晶显示器中的导电胶的检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种液晶显示器中的导电胶的检测方法，包括：S10提供一液晶显示器，包括一第一基板及一第二基板，所述第一基板上涂布有一导电胶以贴合所述第一基板与所述第二基板；S20提供一测量分析改善系统(Measurement，Analysis and Improvement system，MAI)，其中在所述MAI中，建立一所述导电胶的检测选单，在所述检设选单中设定所述导电胶的一压合正常规格和及一压合异常规格；以及S30将贴合后的所述第一基板及第二基板送入MAI，以进行所述导电胶的一封装检测，其中当所述封装检测的结果为导电胶边缘呈现两种灰阶时，则判断封装合格；当所述封装检测的结果为导电胶边缘呈现三种以上灰阶时，则判断封装不合格。
Description
技术领域
本发明涉及一种液晶显示器中的导电胶的检测方法，尤其涉及一种判断液晶显示器中上下板之间的导电胶接触是否良好的检测方法。
背景技术
在LCD制作过程中，有一道工序是对液晶做配向制程，使液晶有一定的预倾角，即在上下基板加入一定的电压，液晶感受到电压，发生偏转，再照射一定的紫外光，对液晶进行配向，形成预倾角，其中一种方法为聚合物稳定配向(Polymer Stabilized Alignment，PSA)。
在给盒板加电时只能给一侧基板加电，另一侧基板的电压是通过导电胶导通，则另一侧的基板有没有加上电或者加入电压稳不稳定，取决于导电胶是否和上下板接触良好(即导电胶是否导通)，最终影响到基板能否点亮，液晶配向是否正常。
引脚跨接在芯片上固化(LOC Curing)技术为加电探针给彩膜基板加电，因导电胶与上下板接触是否良好关系到数组能否加电，所以导电胶的压合至关重要，目前引脚跨接在芯片上固化(LOC Curing)技术中没有导电胶压合是否良好的判断机制，量产中出现配向异常降等或者报废风险很大。图1A为导电胶压合正常的示意图，图1B为导电胶压合异常的示意图，参见图1A及1B，当导电胶100压合良好即正常压合后的导电胶100为单个胶宽W1，小圆点10为均匀分布，粒径大约在几微米；压合异常：压合不良的导电胶100会出现双胶宽W1,W2现象，即俯视可以看到外围两条边界S1,S2，内部两条边界S3,S4，边界清晰可见，此为导电胶内缩现象，导电胶100接触不良风险很高。
为了解决上述问题，亟需一种导电胶压合情况自动检测方法，如果发现导电胶有检测异常，系统自动报警，并将结果反馈给前面制程，前制程进行参数确认与调整，避免重复发生此类情况。
发明内容
有鉴于此，本发明提供一种导电胶的检测方法，如果发现导电胶有检测异常，系统自动报警，并将结果反馈给前面制程，前制程进行参数确认与调整，避免重复发生导电胶压和异常所造成的配向不良，进而提升良率，降低报废。
据此，依据本发明的一实施例，本发明提供了一种液晶显示器中的导电胶的检测方法，包括：
S10提供一液晶显示器，包括一第一基板及一第二基板，所述第一基板上涂布有一导电胶以贴合所述第一基板与所述第二基板；
S20提供一测量分析改善系统(Measurement，Analysis and Improvementsystem，MAI)，其中在所述MAI中，建立一所述导电胶的检测选单，在所述检设选单中设定所述导电胶的一压合正常规格和及一压合异常规格；以及
S30将贴合后的所述第一基板及第二基板送入MAI，以进行所述导电胶的一封装检测，其中当所述封装检测的结果为导电胶边缘呈现两种灰阶时，则判断封装合格；当所述封装检测的结果为导电胶边缘呈现三种以上灰阶时，则判断封装不合格。
在本发明之一实施例中，步骤10包括以下步骤：S11在所述第一基板上涂布一导电胶；S12将所述液晶显示器进行一液晶滴下制程；S13贴合所述第一基板与所述第二基板；S13利用一紫外线固化液晶；以及S14加热固化所述导电胶。
在本发明之一实施例中，在步骤S30中当所述封装检测的结果判断封装合格时，更包括步骤S40a将判断封装合格之液晶显示器送入后续制程。
在本发明之一实施例中，在步骤S30中当所述封装检测的结果判断封装不合格时，更包括步骤S40b所述MAI产生一警报讯号。
在本发明之一实施例中，所述导电胶包括下列至少一者：一聚酯类聚氨酯胶(polyester urethane，PU)、含有Au、Ag、Cu、及/或Ni的导电胶、及其组合。
在本发明之一实施例中，所述导电胶的形状包括：各种几何形状或不规则形。
在本发明之一实施例中，所述压合异常规格为导电胶边缘呈现三种灰阶。
在本发明之一实施例中，当所述导电胶的形状为矩形时，在步骤S30中，当所述封装检测的结果为导电胶边缘呈现两种灰阶时，导电胶的两侧会出现两条边界，则判断封装合格；当所述封装检测的结果为导电胶边缘呈现三种灰阶时，导电胶的两侧会出现四条边界，则判断封装不合格。
在本发明之一实施例中，当在步骤S30中判断封装合格时，表示所述导电胶压合正常，此时压合后的导电胶呈现多个小圆点均匀分布于一单一胶宽的范围内，每个小圆点的粒径为几微米。
在本发明之一实施例中，当在步骤S30中判断封装不合格时，表示所述导电胶压合异常，此时压合后的导电胶呈现双胶宽，于俯视图中，所述导电胶出现一内缩现象，其中所述导电胶的两侧出现四条边界，包括靠近外围的两条边界以及靠近内部的两条边界。
附图说明
为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1A为导电胶压合正常的示意图。
图1B为导电胶压合异常的示意图。
图2为依据本发明的一实施例之液晶显示器中的导电胶的检测方法的流程图。
图3为依据本发明的一实施例之液晶显示器的示意图。
图4A为依据本发明的一实施例之液晶显示器中的导电胶压合正常的示意图。
图4B为依据本发明的一实施例之液晶显示器中的导电胶压合异常的示意图。
图5为依据本发明的一实施例之液晶显示器的形成方法的流程图。
图6为依据本发明的另一实施例之液晶显示器中的导电胶的检测方法的流程图。
具体实施方式
为让本发明的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合所附图式作详细说明。
在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本发明的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
本发明说明书中使用的术语仅用来描述特定实施方式，而并不意图显示本发明的概念。除非上下文中有明确不同的意义，否则，以单数形式使用的表达涵盖复数形式的表达。在本发明说明书中，应理解，诸如“包括”、“具有”以及“含有”等术语意图说明存在本发明说明书中揭示的特征、数字、步骤、动作或其组合的可能性，而并不意图排除可存在或可添加一个或多个其他特征、数字、步骤、动作或其组合的可能性。附图中的相同参考标号指代相同部分。
本发明供一种导电胶的检测方法，如果发现导电胶有检测异常，系统自动报警，并将结果反馈给前面制程，前制程进行参数确认与调整，避免重复发生导电胶压和异常所造成的配向不良，进而提升良率，降低报废。
据此，依据本发明的一实施例，本发明提供了一种液晶显示器中的导电胶的检测方法，参见图2至图3。图2为依据本发明的一实施例之液晶显示器中的导电胶的检测方法的流程图。图3为依据本发明的一实施例之液晶显示器的示意图。如图2及图3所示，具体而言，本发明之导电胶的检测方法，包括以下步骤：S10提供一液晶显示器1(参见图3)包括一第一基板11及一第二基板12，所述第一基板11上涂布有一导电胶200以贴合所述第一基板11与所述第二基板12；S20提供一测量分析改善系统(Measurement，Analysis and Improvementsystem，MAI)2，其中在所述MAI 2中，建立一所述导电胶的检测选单，在所述检设选单中设定所述导电胶的一压合正常规格和及一压合异常规格；以及S30将贴合后的所述第一基板11及第二基板12送入MAI 2，以进行所述导电胶200的一封装检测。
参见图4A及图4B，图4A为依据本发明的一实施例之液晶显示器中的导电胶压合正常的示意图。图4B为依据本发明的一实施例之液晶显示器中的导电胶压合异常的示意图。如图4A及图4B所示，在上述实施例中，当所述封装检测的结果为导电胶200边缘呈现两种灰阶时G1,G2，则判断封装合格(OK)；当所述封装检测的结果为导电胶200边缘呈现三种以上灰阶G1,G2,G3…时，则判断封装不合格(NG)。
在本发明之一实施例中，所述导电胶包括下列至少一者：一聚酯类聚氨酯胶(polyester urethane，PU)、含有Au、Ag、Cu、及/或Ni的导电胶、及其组合。
在本发明之一实施例中，所述导电胶的形状包括：各种几何形状或不规则形。
参见图4A，在本发明之一实施例中，当在步骤S30中判断封装合格(OK)时，表示所述导电胶200压合正常，此时压合后的导电胶200呈现多个小圆点20均匀分布于一单一胶宽W1的范围内，每个小圆点20的粒径为几微米。
参见图4B，在本发明之一实施例中，所述压合异常规格为导电胶200边缘呈现三种灰阶G1,G2,G3。
继续参见图4B，在本发明之一实施例中，当所述导电胶200的形状为矩形时，在步骤S30中，当所述封装检测的结果为导电胶200边缘呈现两种灰阶G1,G2时，导电胶200的两侧会出现两条边界S1,S2，则判断封装合格(OK)；当所述封装检测的结果为导电胶边缘呈现三种灰阶G1,G2,G3时，导电胶的两侧会出现四条边界S1,S2,S3,S4，则判断封装不合格(NG)。
继续参见图4B，在本发明之一实施例中，当在步骤S30中判断封装不合格(NG)时，表示所述导电胶压200合异常，此时压合后的导电胶200呈现双胶宽W1,W2，于俯视图中，所述导电胶出现一内缩现象，其中所述导电胶的两侧出现四条边界S1,S2,S3,S4，包括靠近外围的两条边界S1,S2以及靠近内部的两条边界S3,S4。
一并参见图3及图5，图5为依据本发明的一实施例之液晶显示器的形成方法的流程图。如图3及图5所示，具体而言，在本发明之一实施例中，步骤10包括以下步骤：S11在所述第一基板11上涂布一导电胶200；S12将所述液晶显示器1进行一液晶滴下制程；S13贴合所述第一基板11与所述第二基板12；S13利用一紫外线固化液晶13；以及S14加热固化所述导电胶200。
参见图6，图6为依据本发明的另一实施例之液晶显示器中的导电胶的检测方法的流程图。如图6所示，具体而言，在本发明之一实施例中，在步骤S30中当所述封装检测的结果判断封装合格(OK)时，本发明之导电胶的检测方法更包括步骤S40a将判断封装合格之液晶显示器送入后续制程；当在步骤S30中当所述封装检测的结果判断封装不合格(NG)时，本发明之导电胶的检测方法更包括步骤S40b所述MAI产生一警报讯号。
依据前述实施例可知，本发明提供了一种导电胶的检测方法，如果发现导电胶有检测异常，系统自动报警，并将结果反馈给前面制程，前制程进行参数确认与调整，避免重复发生导电胶压和异常所造成的配向不良，进而提升良率，降低报废。
综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。
Claims (10)
1.一种液晶显示器中的导电胶的检测方法，包括：
S10提供一液晶显示器，包括一第一基板及一第二基板，所述第一基板上涂布有一导电胶以贴合所述第一基板与所述第二基板；
S20提供一测量分析改善系统(Measurement，Analysis and Improvement system，MAI)，其中在所述MAI中，建立一所述导电胶的检测选单，在所述检设选单中设定所述导电胶的一压合正常规格和及一压合异常规格；以及
S30将贴合后的所述第一基板及第二基板送入MAI，以进行所述导电胶的一封装检测，其中当所述封装检测的结果为导电胶边缘呈现两种灰阶时，则判断封装合格；当所述封装检测的结果为导电胶边缘呈现三种以上灰阶时，则判断封装不合格。
2.根据权利要求1所述的液晶显示器中的导电胶的检测方法，其中步骤10包括以下步骤：
S11在所述第一基板上涂布一导电胶；
S12将所述液晶显示器进行一液晶滴下制程；
S13贴合所述第一基板与所述第二基板；
S13利用一紫外线固化液晶；以及
S14加热固化所述导电胶。
3.根据权利要求1所述的液晶显示器中的导电胶的检测方法，其中在步骤S30中当所述封装检测的结果判断封装合格时，更包括步骤S40a将判断封装合格之液晶显示器送入后续制程。
4.根据权利要求1所述的液晶显示器中的导电胶的检测方法，其中在步骤S30中当所述封装检测的结果判断封装不合格时，更包括步骤S40b所述MAI产生一警报讯号。
5.根据权利要求1所述的液晶显示器中的导电胶的检测方法，其中所述导电胶包括下列至少一者：一聚酯类聚氨酯胶(polyester urethane，PU)、含有Au、Ag、Cu、及/或Ni的导电胶、及其组合。
6.根据权利要求1所述的液晶显示器中的导电胶的检测方法，其中所述导电胶的形状包括：各种几何形状或不规则形。
7.根据权利要求1所述的液晶显示器中的导电胶的检测方法，所述压合异常规格为导电胶边缘呈现三种灰阶。
8.根据权利要求1所述的液晶显示器中的导电胶的检测方法，其中当所述导电胶的形状为矩形时，在步骤S30中，当所述封装检测的结果为导电胶边缘呈现两种灰阶时，导电胶的两侧会出现两条边界，则判断封装合格；当所述封装检测的结果为导电胶边缘呈现三种灰阶时，导电胶的两侧会出现四条边界，则判断封装不合格。
9.根据权利要求8所述的液晶显示器中的导电胶的检测方法，当在步骤S30中判断封装合格时，表示所述导电胶压合正常，此时压合后的导电胶呈现多个小圆点均匀分布于一单一胶宽的范围内，每个小圆点的粒径为几微米。
10.根据权利要求8所述的液晶显示器中的导电胶的检测方法，当在步骤S30中判断封装不合格时，表示所述导电胶压合异常，此时压合后的导电胶呈现双胶宽，于俯视图中，所述导电胶出现一内缩现象，其中所述导电胶的两侧出现四条边界，包括靠近外围的两条边界以及靠近内部的两条边界。
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|---|---|
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Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1889243A (zh) * | 2006-07-24 | 2007-01-03 | 友达光电股份有限公司 | 对位精度检测装置 |
| CN101034068A (zh) * | 2007-04-28 | 2007-09-12 | 友达光电股份有限公司 | 胶材的检测方法及检测装置 |
| CN101271238A (zh) * | 2008-05-06 | 2008-09-24 | 友达光电股份有限公司 | 利用具检查标记的基板确认导电胶涂布情况的方法及基板 |
| TW200944786A (en) * | 2008-04-23 | 2009-11-01 | Au Optronics Corp | A substrate including check marks and a method of monitoring conductive glue on the substrate thereof |
| CN202771124U (zh) * | 2012-09-13 | 2013-03-06 | 赵林 | 一种液晶屏质检设备的连接装置 |
| CN108922918A (zh) * | 2018-09-10 | 2018-11-30 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种oled显示面板及其制作方法、oled显示装置 |
-
2019
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Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1889243A (zh) * | 2006-07-24 | 2007-01-03 | 友达光电股份有限公司 | 对位精度检测装置 |
| CN101034068A (zh) * | 2007-04-28 | 2007-09-12 | 友达光电股份有限公司 | 胶材的检测方法及检测装置 |
| TW200944786A (en) * | 2008-04-23 | 2009-11-01 | Au Optronics Corp | A substrate including check marks and a method of monitoring conductive glue on the substrate thereof |
| CN101271238A (zh) * | 2008-05-06 | 2008-09-24 | 友达光电股份有限公司 | 利用具检查标记的基板确认导电胶涂布情况的方法及基板 |
| CN202771124U (zh) * | 2012-09-13 | 2013-03-06 | 赵林 | 一种液晶屏质检设备的连接装置 |
| CN108922918A (zh) * | 2018-09-10 | 2018-11-30 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种oled显示面板及其制作方法、oled显示装置 |
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| CB02 | Change of applicant information | ||
| CB02 | Change of applicant information |
Address after: 9-2 Tangming Avenue, Guangming New District, Shenzhen City, Guangdong Province Applicant after: TCL China Star Optoelectronics Technology Co.,Ltd. Address before: 9-2 Tangming Avenue, Guangming New District, Shenzhen City, Guangdong Province Applicant before: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co.,Ltd. |
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| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20191101 |