CN110361301A - 一种平整/装饰表面的半固体材料的流变性能测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种平整/装饰表面的半固体材料的流变性能测试方法，采用旋转流变仪测试，包括：旋转流变仪的上夹具和下夹具的间隙逐渐减小压缩装载在下夹具上的半固体材料样品；在逐渐压缩所述的半固体材料样品的过程中，连续或间隔多次测试半固体材料样品的流变性能。本发明中模拟工人/机器施工的过程，在逐渐压缩所述的半固体材料样品的过程中，测试半固体材料的流变性能从而得到参考价值更高的流变参数，本发明针对半固体材料的实际使用情况在压缩半固体材料的过程中，测试其流变性能，从而得到更具有参考价值的流变参数。

Description

一种平整/装饰表面的半固体材料的流变性能测试方法

技术领域

本发明涉及工程材料领域，特别是一种平整/装饰表面的半固体材料的流变性能测试方法。

背景技术

现有流体的流变性测试的过程中，是通过控制旋转流变仪的上下板的间隙至一个设定的间隙后，控制其下夹具旋转，剪切夹持在上夹具和下夹具之间的流体，在该过程中，获取检测的一组原始数据，并根据该组原始数据进行数据处理得到最终的流变参数，该测试方法是最基本的测试原理，而实际上在不同的领域均采用该测试方法并不能很好的解决实际问题；

例如：在半固体材料领域，若采用传统的流变性能测试方法，即在设定的间隙处上/下夹具向一个方向旋转，在该过程中获取测试数据进行拟合得到流变参数，但是所得到的流变参数仅仅是表现半固体材料在静止状态下的状态性能参数，而无法表现该半固体材料在动态下(被压缩的过程中)的流变性能。

在实际研究半固体材料的施工性能中，我们更需要得到的是半固体材料在施工过程中所表现出的流变性能，从而得到施工者在施工过程中的施工手感，从而有针对性的改善半固体材料配方，升级产品。

我们先前提出了一种建立腻子流变参数与对应施工性能的关系模型的技术方案，来根据腻子样品的流变参数直接获取到客观的施工性能信息，然而在实际的实践过程中，采用传统的流变性能测试方法得到的流变参数与对应的施工性能的数据重复性不高，然后我们对方案进行了优化，因为实验中我们没有将实际的施工过程考虑在内，在实际的施工过程中，腻子是处于形状改变的动态过程，其流变性能与静态时不同。

另外在实际施工过程中，工人通常用批刀来回批刮腻子，而不是一直向一个方向批刮腻子，因此要得到更能反映半固体材料在施工过程中表现出的施工性能，在测试半固体材料的流变性能的过程中还需要模拟该来回批刮的过程。

最后，在实际的施工过程中，工人在批刮腻子之前，还会对腻子进行状态的调节，如采用批刀对腻子进行混合均匀处理，然后再批刮到墙面上，因此将该过程考虑到实际的测试过程中会得到更具有参考价值的测试结果。

有鉴于此特提出本发明。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于克服现有技术的不足，提供一种腻子。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案的基本构思是：

一种平整/装饰表面的半固体材料的流变性能测试方法，采用旋转流变仪测试，包括：

旋转流变仪的上夹具和下夹具的间隙逐渐减小压缩装载在下夹具上的半固体材料样品；

在逐渐压缩所述的半固体材料样品的过程中，连续或间隔多次测试半固体材料样品的流变性能。

本发明中，模拟工人或机器施工方法(施工方法包括批刮、刷涂、辊涂和喷涂)，在逐渐压缩所述的半固体材料样品的过程中，测试半固体材料的流变性能从而得到参考价值更高的流变参数，本发明针对半固体材料的实际使用情况在压缩半固体材料的过程中，测试其流变性能，从而得到更具有参考价值的流变参数。

优选的，根据上夹具和下夹具之间的距离设定有若干测试间隙，上夹具和下夹具压缩半固体材料样品至任一所述的测试间隙时，该上夹具和下夹具相对旋转剪切半固体材料样品，在剪切半固体材料样品的过程中获取若干测试数据。

在上述方案中，在上下夹具逐渐压缩半固体材料样品的过程中，在各测试间隙处开始执行测试过程，获取测试数据，从而得到了半固体材料在不同位置上的流变测试数据，从而可反映出半固体材料在施工过程中的流变性能。

优选的，在上夹具和下夹具的间隙达到任一所述的测试间隙时，上夹具和下夹具暂停竖直方向上的运动，相对旋转剪切半固体材料样品并获取测试数据，在该过程结束后，上夹具和下夹具进一步压缩半固体材料样品至下一检测间隙，并再次相对旋转剪切半固体材料样品测试其流变性能。

优选的，在上夹具和下夹具之间的距离处于Lmin-Lmax范围内，上夹具和下夹具连续或间隔多次测试半固体材料样品的流变性能；

其中，Lmin为0.1-0.6mm，Lmax为0.6-4mm。

在上述方案中，这些实验数据范围均是发明人在大量的实验中获得的劳动成果，发明人在大量实验中发现在该范围内测试的实验数据得到的流变参数更能反应出半固体材料的施工性能，因为该间隙也与实际的批刮过程中半固体材料的厚度接近。

优选的，在所述的Lmin-Lmax内每间隔L设定一检测间隙，上夹具和下夹具压缩半固体材料依次达到各检测间隙时，相对旋转剪切半固体材料样品测试其流变性能；

其中L为0.2-1.2mm。

在上述方案中，在每个较小的距离测试一次半固体材料的流变性能，将各测试过程中的测试数据综合处理得到的流变参数更能反应该半固体材料在实际施工过程中所变现的流变性能。

优选的，在相邻两检测间隙处，下夹具相对上夹具的旋转方向相反，以分别获取不同方向剪切半固体材料的测试数据。

在上述方案中，考虑到在工人实际的施工过程中，其批刮动作是来回往复的运动，因此为了模拟该过程，本发明中，在相邻两检测间隙处，下夹具相对上夹具的旋转方向相反，以分别获取不同方向剪切半固体材料的测试数据。从而得到更能反应半固体材料施工性能的流变参数。

优选的，在任一检测间隙上，上夹具和下夹具的相对转速由零逐渐升高至最大值后又逐渐下降至零，在该过程中，采集转速逐渐升高和/或转速逐渐下降的过程中的若干测试数据；

在上述方案中，因为在实际的施工过程中，工人批刮的速度也是先增速后减速，因此上夹具和下夹具也模仿该过程。

优选的，采集转速由最大值减小到零的过程的1-12个测试数据做宾汉流体模型拟合，得到屈服应力和塑性粘度参数。

优选的，在上夹具和下夹具逐渐压缩所述的半固体材料样品的过程中，上夹具和下夹具连续的相对旋转剪切半固体材料样品，在该连续旋转的过程中，获取若干测试数据，综合计算半固体材料样品的流变参数。

在上述方案中，上下夹具连续的相对旋转，在整个的过程中，一直获取测试数据，从而可得到更为精确的测试结果。

优选的，上夹具和下夹具压缩半固体材料样品的速度逐渐增大后又逐渐减小，在该过程中获取若干测试数据进行数据综合处理得到半固体材料样品的流变参数。

在上述方案中，模拟实际的施工过程，先快速压缩半固体材料样品然后减速压缩半固体材料样品，从而可得到更为有参考价值的流变参数。

本发明另一目的在于提供一种采用上述半固体材料的流变性能测试方法的流变仪，包括：

上夹具和下夹具，两者可相对旋转以剪切装载在下夹具上的半固体材料样品；

控制器，用于控制上夹具和下夹具逐渐压缩半固体材料样品，并在该过程中，连续或间隔多次获取测试数据，并根据各测试数据综合计算半固体材料样品的流变参数。

通过采用以上技术方案，本发明具有以下有益效果：

本发明中模拟工人施工的过程，在逐渐压缩所述的半固体材料样品的过程中，测试半固体材料的流变性能从而得到参考价值更高的流变参数，本发明针对半固体材料的实际使用情况在压缩半固体材料的过程中，测试其流变性能，从而得到更具有参考价值的流变参数，该流变参数能够反映出半固体材料的施工性能。

下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步详细的描述。

附图说明

附图作为本申请的一部分，用来提供对本发明的进一步的理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，但不构成对本发明的不当限定。显然，下面描述中的附图仅仅是一些实施例，对于本领域普通技术人员来说，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图。在附图中：

图1是本发明实施例一中的测试方法的测试流程图；

图2是本发明实施例二中的测试方法的测试流程图；

图3是本发明实施例三中的测试方法的测试流程图。

需要说明的是，这些附图和文字描述并不旨在以任何方式限制本发明的构思范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本发明的概念。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。

现有流体的流变性测试的过程中，是通过控制旋转流变仪的上下板的间隙至一个设定的间隙后，控制其下夹具旋转，剪切夹持在上夹具和下夹具之间的流体，在该过程中，获取检测的一组原始数据，并根据该组原始数据进行数据处理得到最终的流变参数，该测试方法是最基本的测试原理，而实际上在不同的领域均采用该测试方法并不能很好的解决实际问题，本发明提供一种平整/装饰表面的半固体材料的流变性能测试方法模拟施工过程中，半固体材料的动态过程，并在该动态过程中测试其流变性能从而得到一个可反映出半固体材料在实际施工过程中的施工性能。

本发明的半固体材料为可涂刷和批刮的建筑功能材料或装饰材料，包括：建筑腻子、砂浆、地坪、高填料或骨料含量的质感半固体材料(如真石漆、砂胶漆、岩彩等)、美缝剂、收边剂、瓷砖胶等。

实施例一

本实施例提供一种平整/装饰表面的半固体材料的流变性能测试方法，采用旋转流变仪测试，包括：

旋转流变仪的上夹具和下夹具的间隙逐渐减小压缩装载在下夹具上的半固体材料样品；

在逐渐压缩所述的半固体材料样品的过程中，连续或间隔多次测试半固体材料样品的流变性能。

本发明中，模拟工人/机器施工的过程，在逐渐压缩所述的半固体材料样品的过程中，测试半固体材料的流变性能从而得到参考价值更高的流变参数，本发明针对半固体材料的实际使用情况在压缩半固体材料的过程中，测试其流变性能，从而得到更具有参考价值的流变参数。

优选的，根据上夹具和下夹具之间的距离设定有若干测试间隙，上夹具和下夹具压缩半固体材料样品至任一所述的测试间隙时，该上夹具和下夹具相对旋转剪切半固体材料样品，在剪切半固体材料样品的过程中获取若干测试数据。

在上述方案中，在上下夹具逐渐压缩半固体材料样品的过程中，在各测试间隙处开始执行测试过程，获取测试数据，从而得到了半固体材料在不同位置上的流变测试数据，从而可反映出半固体材料在施工过程中的流变性能。

优选的，在上夹具和下夹具的间隙达到任一所述的测试间隙时，上夹具和下夹具暂停竖直方向上的运动，相对旋转剪切半固体材料样品并获取测试数据，在该过程结束后，上夹具和下夹具进一步压缩半固体材料样品至下一检测间隙，并再次相对旋转剪切半固体材料样品测试其流变性能。

优选的，在上夹具和下夹具之间的距离处于Lmin-Lmax范围内，上夹具和下夹具连续或间隔多次测试半固体材料样品的流变性能；

其中，Lmin为0.1-0.6mm，Lmax为0.6-4mm。

在上述方案中，这些实验数据范围均是发明人在大量的实验中获得的劳动成果，发明人在大量实验中发现在该范围内测试的实验数据得到的流变参数更能反应出半固体材料的施工性能，因为该间隙也与实际的批刮过程中半固体材料的厚度接近。

优选的，在所述的Lmin-Lmax内每间隔L设定一检测间隙，上夹具和下夹具压缩半固体材料依次达到各检测间隙时，相对旋转剪切半固体材料样品测试其流变性能；

其中L为0.2-1.2mm。

在上述方案中，在每个较小的距离测试一次半固体材料的流变性能，将各测试过程中的测试数据综合处理得到的流变参数更能反应该半固体材料在实际施工过程中所变现的流变性能。

优选的，在相邻两检测间隙处，下夹具相对上夹具的旋转方向相反，以分别获取不同方向剪切半固体材料的测试数据。

在上述方案中，考虑到在工人实际的施工过程中，其批刮动作是来回往复的运动，因此为了模拟该过程，本发明中，在相邻两检测间隙处，下夹具相对上夹具的旋转方向相反，以分别获取不同方向剪切半固体材料的测试数据。从而得到更能反应半固体材料施工性能的流变参数。

优选的，在任一检测间隙上，上夹具和下夹具的相对转速由零逐渐升高至最大值后又逐渐下降至零，在该过程中，采集转速逐渐升高和/或转速逐渐下降的过程中的若干测试数据；

在上述方案中，因为在实际的施工过程中，工人批刮的速度也是先增速后减速，因此上夹具和下夹具也模仿该过程。

优选的，采集转速由最大值减小到零的过程的1-12个测试数据做宾汉流体模型拟合，得到屈服应力和塑性粘度参数。

优选的，在上夹具和下夹具逐渐压缩所述的半固体材料样品的过程中，上夹具和下夹具连续的相对旋转剪切半固体材料样品，在该连续旋转的过程中，获取若干测试数据，综合计算半固体材料样品的流变参数。

在上述方案中，上下夹具连续的相对旋转，在整个的过程中，一直获取测试数据，从而可得到更为精确的测试结果。

优选的，上夹具和下夹具压缩半固体材料样品的速度逐渐增大后又逐渐减小，在该过程中获取若干测试数据进行数据综合处理得到半固体材料样品的流变参数。

在上述方案中，模拟实际的施工过程，先快速压缩半固体材料样品然后减速压缩半固体材料样品，从而可得到更为有参考价值的流变参数。

假设共有3个测试间隙；参见图1所示，下面提供一种优选的测试步骤：

S1、上夹具下压半固体材料样品至第一测试间隙；

S2、下夹具执行设定时长的第一次旋转测试过程；

S3、上夹具继续压缩半固体材料样品至第二测试间隙；

S4、下夹具执行设定时长的第二次旋转测试过程；

S5、上夹具继续压缩半固体材料样品至第三检测间隙；

S6、下夹具执行设定时长的第三次旋转测试过程；

S7、测试过程结束。

实施例二

本实施例二在实施例一的基础上进一步将施工过程中施工人员往复批刮半固体材料的过程考虑在内，提供半固体材料的流变性能测试方法。

采用旋转流变仪测试，包括：旋转流变仪的下夹具分别相对上夹具执行正向旋转以正向剪切半固体材料样品的测试过程，和反向旋转以反向剪切半固体材料样品的测试过程，在所述正向和反向地剪切半固体材料样品的测试过程中均获取测试数据，以综合计算半固体材料样品的流变参数。

在上述方案中，分别测试正向剪切半固体材料样品和反向剪切半固体材料样品的流变性能，从而得到参考价值更高的检测结果，该检测结构可反映出半固体材料的施工性能，本发明针对半固体材料的实际使用情况分别正向剪切测试和反向剪切测试半固体材料，从而得到更具有参考价值的流变参数。

优选的，上夹具和下夹具压缩半固体材料样品至设定间隙后暂停竖直方向上的运动，下夹具相对上夹具分别执行正向和反向旋转的测试过程；

或者，在上夹具和下夹具逐渐压缩所述的半固体材料样品的过程中，下夹具连续或间隔多次的相对上夹具执行正向和反向旋转的测试过程。

在上述方案中，在上夹具和下夹具逐渐压缩所述的半固体材料样品的过程中，测试半固体材料的流变性能，更能反映出半固体材料在施工过程中的流变性能，或者说是施工性能。

优选的，根据上夹具和下夹具之间的距离设定有若干测试间隙，上夹具和下夹具压缩半固体材料样品至任一所述的测试间隙时，所述下夹具相对上夹具旋转执行测试过程，其中在同一检测间隙处，下夹具分别执行相对上夹具正向旋转的测试过程和反向旋转的测试过程，或在同一检测间隙处，下夹具仅执行相对上夹具正向或反向旋转的测试过程。

在上述方案中，在半固体材料被压缩的不同位置上测试其流变性能，则得到的测试结果可反映出在施工过程中，半固体材料的施工性能。

优选的，在同一检测间隙处，下夹具仅执行相对上夹具正向或反向旋转的测试过程，在上夹具和下夹具的间隙依次达到各测试间隙的过程中，下夹具每执行N次相对上夹具反向旋转的测试过程后，执行M次相对上夹具正向旋转的测试过程；其中N为1-3，M为1-3；

优选的，在相邻两检测间隙处，下夹具分别执行相对上夹具旋转方向相反测试过程，以分别获取不同方向剪切半固体材料样品的测试数据。

优选的，在上夹具和下夹具的间隙达到任一所述的测试间隙时，上夹具和下夹具暂停竖直方向上的运动，下夹具相对上夹具执行正向/反向旋转的测试过程，在该过程结束后，上夹具和下夹具进一步压缩半固体材料样品至下一检测间隙，下夹具相对上夹具执行反向/正向旋转的测试过程。

优选的，在上夹具和下夹具之间的距离处于Lmin-Lmax范围内，下夹具分别相对上夹具执行正向旋转以正向剪切半固体材料样品的测试过程，和反向旋转以反向剪切半固体材料样品的测试过程；

其中，Lmin为0.1-0.6mm，Lmax为0.6-4mm。

在上述方案中，这些实验数据范围均是发明人在大量的实验中获得的劳动成果，发明人在大量实验中发现在该范围内测试的实验数据得到的流变参数更能反应出半固体材料的施工性能，因为该间隙也与实际的批刮过程中半固体材料的厚度接近。

优选的，在所述的Lmin-Lmax内每间隔L设定一检测间隙，上夹具和下夹具压缩半固体材料依次达到各检测间隙时，下夹具依次仅执行相对上夹具正向或反向旋转的测试过程，且在相邻两检测间隙上，下夹具相对上夹具的旋转方向相反；

其中L为0.2-1.2mm。

在上述方案中，在每个较小的距离测试一次半固体材料的流变性能，将各测试过程中的测试数据综合处理得到的流变参数更能反应该半固体材料在实际施工过程中所变现的流变性能。

优选的，在上夹具和下夹具逐渐压缩所述的半固体材料样品的过程中，下夹具连续循环的执行若干次相对上夹具正向和反向旋转的测试过程，在该过程中获取若干测试数据，以综合计算半固体材料样品的流变参数；

优选的，下夹具相对上夹具向一个方向旋转设定时长的测试过程后，直接反向旋转设定时长，下夹具循环执行该过程直至上下夹具之间的间隙为设定值时，测试过程结束。

在上述方案中，在上夹具和下夹具逐渐压缩所述的半固体材料样品的过程中连续的测试流变性能则可得到更为精确的测试结果。

优选的，下夹具相对上夹具正向旋转包括：下夹具正向旋转上夹具静止，或下夹具正向旋转上夹具反向旋转，或下夹具和上夹具均正向旋转，下夹具转速大于上夹具转速，或下夹具静止，上夹具反向旋转；

下夹具相对上夹具反向旋转包括：下夹具反向旋转上夹具静止，或下夹具反向旋转上夹具正向旋转，或下夹具和上夹具均反向旋转，下夹具转速大于上夹具转速，或下夹具静止，上夹具正向旋转；

其中，所述的正向旋转为上夹具、下夹具向第一方向旋转，所述的反向旋转为上夹具和下夹具向与第一方向相反的第二方向旋转。

假设共有4个测试间隙；参见图2所示，提供一种优选的测试步骤：

S101、上夹具下压半固体材料样品至第一测试间隙；

S102、下夹具正向转动执行设定时长的第一次旋转测试过程；

S103、上夹具继续压缩半固体材料样品至第二测试间隙；

S104、下夹具反向转动执行设定时长的第二次旋转测试过程；

S105、上夹具继续压缩半固体材料样品至第三检测间隙；

S106、下夹具正向转动执行设定时长的第三次旋转测试过程；

S107、上夹具继续压缩半固体材料样品至第四检测间隙；

S108、下夹具反向转动执行设定时长的第四次旋转测试过程；

S109、测试过程结束。

实施例三

工人在批刮半固体材料之前，还会对半固体材料进行状态的调节，如采用批刀对半固体材料进行混合均匀处理，然后再批刮到墙面上，因此将该过程考虑到实际的测试过程中会得到更具有参考价值的测试结果。

本实施例三在实施例一和二的基础上进一步将施工过程中施工人员对半固体材料进行状态调节的过程考虑在内，提供半固体材料的流变性能测试方法。

采用旋转流变仪测试，包括：在测试半固体材料样品的流变性能之前，采用旋转流变仪对半固体材料样品进行预处理的批刮前处理，将半固体材料样品调制到适于测试的状态。

在上述方案中，提供一种平整/装饰表面的半固体材料的流变性能测试方法，模拟工人/机器施工过程，在测试流变性能之前通过旋转流变仪对样品进行预处理，将样品调节到适于批刮的状态，从而有利于减少误差，获取更为精确的测试结果。

优选的，所述的批刮前处理包括：上夹具和下夹具在竖直方向上相向运动和/或相反运动，以在竖直方向上挤压和/或拉伸装载在两者之间的半固体材料样品。

优选的，所述的批刮前处理包括：上夹具和下夹具在水平方向上相对转动，以在水平方向上剪切处理装载在两者之间的半固体材料样品。

优选的，上夹具和下夹具先在竖直方向上相向运动，挤压处理装载在两者之间的半固体材料样品，然后上夹具和下夹具在水平方向上相对转动，在水平方向上剪切处理装载在两者之间的半固体材料样品。

优选的，上夹具和下夹具压缩半固体材料样品至设定间隙后暂停竖直方向上的运动，上夹具和下夹具相对旋转剪切处理所述的半固体材料样品；

或者，在上夹具和下夹具逐渐压缩所述的半固体材料样品的过程中，上夹具和下夹具连续/多次相对旋转剪切处理所述的半固体材料样品。

在上述方案中，上下夹具可以是连续的相对旋转剪切处理所述的半固体材料样品，或者是间隔的多次相对旋转剪切处理所述的半固体材料样品。

优选的，根据上夹具和下夹具之间的距离设定有若干前处理间隙，上夹具和下夹具压缩半固体材料样品至任一所述的前处理间隙时，所述上夹具和下夹具相对转动，剪切处理所述的半固体材料样品。

在上述方案中，在不同多个位置上处理半固体材料样品，有利于将半固体材料样品的状态调制到适于测试的状态，即，使得待测试的样品更加均匀平整。

优选的，上夹具和下夹具相对转动，处理所述的半固体材料样品包括：下夹具相对上夹具正向转动以正向剪切半固体材料样品的处理过程和下夹具相对上夹具反向转动以反向剪切半固体材料样品的处理过程。

优选的，在相邻两前处理间隙处，下夹具分别执行相对上夹具旋转方向相反的处理过程，以分别以不同方向剪切处理半固体材料样品。

优选的，在上夹具和下夹具之间的距离处于Rmin-Rmax范围内，上夹具和下夹具在竖直方向和/或水平方向上相对运动对装载在上夹具和下夹具之间的半固体材料样品进行挤压剪切处理，在该过程结束后，上夹具和下夹具执行测试半固体材料样品流变性能的过程；其中Rmin为1-2mm，Rmax为2.5-4mm；

优选的，在所述的Rmin-Rmax内每间隔R设定一前处理间隙，上夹具和下夹具压缩半固体材料依次达到各前处理间隙时，下夹具依次仅执行相对上夹具正向或反向旋转的剪切处理过程，且在相邻两检测间隙上，下夹具相对上夹具的旋转方向相反；

其中R为0.2-1.2mm。

假设共有4个前处理间隙；参见图3所示，下面提供一种优选的测试步骤：

S201、上夹具下压半固体材料样品至第一前处理间隙；

S202、下夹具正向转动执行设定时长的第一次前处理过程；

S203、上夹具继续压缩半固体材料样品至第二前处理间隙；

S204、下夹具反向转动执行设定时长的第二次前处理过程；

S205、上夹具继续压缩半固体材料样品至第三前处理间隙；

S206、下夹具正向转动执行设定时长的第三次前处理测试过程；

S207、上夹具继续压缩半固体材料样品至第四前处理间隙；

S208、下夹具反向转动执行设定时长的第四次前处理测试过程；

S209、流变仪执行测试半固体材料样品流变性能的测试过程；

S210、测试过程结束。

在上述方案中，相邻两前处理间隙的距离相同。

实施例四

实施例四中提供对上述实施例得到的测试结果的应用，在之前我们曾提到根据测试样品的流变参数和对应测试样品的施工性能建立流变参数与对应施工性能的关系模型，然后在后期开发半固体材料时，可将测试的流变参数与所述的关系模型相关联得到对应的施工性能，从而辅助我们调整优化新开发产品的各成分比例。其中所述的施工性能优选由本领域专业人士对测试样品进行评估得到。

我们通过传统的方式测试半固体材料的流变性能，并根据该传统的测试结果建立流变参数与对应施工性能的关系模型，然而在实践过程中，发现数据准确度和重复性均不是很好，然后我们对方案进行了优化，因为实验中我们没有将实际的施工过程考虑在内，在实际的施工过程中，腻子是处于形状改变的动态过程，其流变性能与静态时不同。因此我们采用上述实施例一、实施例二、实施例三中的方法得到流变参数，并建立关系模型，通过该关系模型得到的半固体材料样品的施工性能更接近实际情况，且数据重复性好，明显优于传统的方法。

实施例五

本实施例五提供一种采用上述实施例一、实施例二、实施例三中的测试方法的流变仪。

包括：上夹具和下夹具，两者可相对旋转以剪切装载在下夹具上的半固体材料样品；

其中，所述的下夹具包括圆形下板，下板表面边缘凸出设置有环形挡边形成用于装载测试样品的装载区，上夹具同样包括有上板，该上板和下板分别贴合测试样品的上表面和下表面。

本流变仪包括有控制器，控制器用于控制上夹具和/或下夹具的动作完成测试过程，同时该控制器还对测试过程中的得到的测试数据进行数据分析处理得到综合的流变参数。

在一种方案中，该控制器控制上夹具和/或下夹具的动作完成多次测试过程，然后将多次测试过程得到的数据分别进行数据处理分别得到流变参数，然后将各流变参数进行加权平均计算得到最终的流变参数。

当然的，控制器的数据处理过程不限于上述过程，采用其他方式对获取的测试数据进行数据综合处理均是允许的，都在本发明的保护范围内。

需要说明的是，本发明中所说的半固体材料可以是固体和液体的混合物，优选液体的含量为0-80％，包括浆状物、膏状物等等；

为了更准备的解释该半固体材料，提供以下解释：

半固体亦称准固体，虽然在某些方面类似于固体(例如可以支持自身重量、保持自身形状)，但是准固体也就有某些液体的性质，例如压力可以改变形状、低压下可以流动等等。

半固体也被称为无定形固体，因为它们和传统的结晶固体不同，在微观尺度上是无序的。

以上所述仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专利的技术人员在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述提示的技术内容做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明方案的范围内。

Claims (10)

1.一种平整/装饰表面的半固体材料的流变性能测试方法，其特征在于，采用旋转流变仪测试，包括：

旋转流变仪的上夹具和下夹具的间隙逐渐减小压缩装载在下夹具上的半固体材料样品；

在逐渐压缩所述的半固体材料样品的过程中，连续或间隔多次测试半固体材料样品的流变性能。

2.根据权利要求1所述的一种平整/装饰表面的半固体材料的流变性能测试方法，其特征在于，根据上夹具和下夹具之间的距离设定有若干测试间隙，上夹具和下夹具压缩半固体材料样品至任一所述的测试间隙时，该上夹具和下夹具相对旋转剪切半固体材料样品，在剪切半固体材料样品的过程中获取若干测试数据。

3.根据权利要求1或2所述的一种平整/装饰表面的半固体材料的流变性能测试方法，其特征在于，在上夹具和下夹具的间隙达到任一所述的测试间隙时，上夹具和下夹具暂停竖直方向上的运动，相对旋转剪切半固体材料样品并获取测试数据，在该过程结束后，上夹具和下夹具进一步压缩半固体材料样品至下一检测间隙，并再次相对旋转剪切半固体材料样品测试其流变性能。

4.根据权利要求1-3任一所述的一种平整/装饰表面的半固体材料的流变性能测试方法，其特征在于，在上夹具和下夹具之间的距离处于Lmin-Lmax范围内，上夹具和下夹具连续或间隔多次测试半固体材料样品的流变性能；

其中，Lmin为0.1-0.6mm，Lmax为0.6-4mm。

5.根据权利要求4所述的一种平整/装饰表面的半固体材料的流变性能测试方法，其特征在于，在所述的Lmin-Lmax内每间隔L设定一检测间隙，上夹具和下夹具压缩半固体材料依次达到各检测间隙时，相对旋转剪切半固体材料样品测试其流变性能；

其中L为0.2-1.2mm。

6.根据权利要求2-5任一所述的一种平整/装饰表面的半固体材料的流变性能测试方法，其特征在于，在相邻两检测间隙处，下夹具相对上夹具的旋转方向相反，以分别获取不同方向剪切半固体材料的测试数据。

7.根据权利要求1-6任一所述的一种平整/装饰表面的半固体材料的流变性能测试方法，其特征在于，在任一检测间隙上，上夹具和下夹具的相对转速由零逐渐升高至最大值后又逐渐下降至零，在该过程中，采集转速逐渐升高和/或转速逐渐下降的过程中的若干测试数据。

8.根据权利要求7所述的一种平整/装饰表面的半固体材料的流变性能测试方法，其特征在于，采集转速由最大值减小到零的过程的1-12个测试数据做宾汉流体模型拟合，得到屈服应力和塑性粘度参数。

9.根据权利要求1所述的一种平整/装饰表面的半固体材料的流变性能测试方法，其特征在于，在上夹具和下夹具逐渐压缩所述的半固体材料样品的过程中，上夹具和下夹具连续的相对旋转剪切半固体材料样品，在该连续旋转的过程中，获取若干测试数据，综合计算半固体材料样品的流变参数。

10.根据权利要求9所述的一种平整/装饰表面的半固体材料的流变性能测试方法，其特征在于，上夹具和下夹具压缩半固体材料样品的速度逐渐增大后又逐渐减小，在该过程中获取若干测试数据进行数据综合处理得到半固体材料样品的流变参数。