CN110333050A - 杂光检测设备 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种杂光检测设备。杂光检测设备包括相互独立设置的搬运机构和检测机构，搬运机构包括：来料模块，来料模块包括来料盘和来料承台，来料盘用于承载镜头，来料盘固定在来料承台上；排料模块，排料模块将来料盘中的镜头送至检测机构中，以使检测机构对镜头进行杂光检测；接料模块，排料模块将检测机构检测完成的镜头送至接料模块中。本发明解决了现有技术中对手机镜头进行杂光检测的设备存在自动化低的问题。

Description

杂光检测设备

技术领域

本发明涉及手机镜头检测设备技术领域，具体而言，涉及一种杂光检测设备。

背景技术

当代，手机已是必不可少的通讯设备，而手机镜头是现代手机重要的组成部件，手机镜头在进行完组装后需进入检测工序，来验证每颗镜头解析力的好坏，这是非常重要的一环；现在所有的镜头生产厂商都是产线化作业，镜头都是批量生产，因此需要配套的杂光检测设备要有较高的检测效率和检测准确率，其结构主要由自行搭建的搬运平台和检测平台构成。

现国内外只有单步骤的排料、检测、分料机台，只能进行单工序使用，需要人工进行取放和搬运，既费时又影响镜头外观品质，检测效率低。

也就是说，现有技术中对手机镜头进行杂光检测的设备存在自动化低的问题。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种杂光检测设备，以解决现有技术中对手机镜头进行杂光检测的设备存在自动化低的问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种杂光检测设备，包括相互独立设置的搬运机构和检测机构，搬运机构包括：来料模块，来料模块包括来料盘和来料承台，来料盘用于承载镜头，来料盘固定在来料承台上；排料模块，排料模块将来料盘中的镜头送至检测机构中，以使检测机构对镜头进行杂光检测；接料模块，排料模块将检测机构检测完成的镜头送至接料模块中。

进一步地，排料模块包括：真空发生器；至少一个排料吸嘴，真空发生器为排料吸嘴提供吸附力，排料吸嘴具有缓冲结构，排料吸嘴吸取来料盘中的镜头送至检测机构中。

进一步地，搬运机构包括视觉系统，排料吸嘴吸取镜头移动至视觉系统处，视觉系统对镜头进行位置补偿后，排料吸嘴将镜头送至检测机构中。

进一步地，来料模块还包括多个第一固定块，来料盘通过第一固定块固定在来料承台上，第一固定块内设置有第一磁铁，第一固定块通过第一磁铁吸附在来料承台上，第一固定块呈L形，且第一固定块卡接在来料盘的角部处。

进一步地，接料模块包括：接料承台；接料盘；接料盘用于接收检测完成的镜头；第二固定块，接料盘通过第二固定块固定在接料承台上，第二固定块内设置有第二磁铁，第二固定块通过第二磁铁吸附在接料承台上，第二固定块呈L形，且第二固定块卡接在接料盘的角部处。

进一步地，检测机构包括：检测芯片；检测盘，检测盘具有多个用于盛放镜头的检测孔；检测盘传输机构，检测盘具有上料位置、检测位置和下料位置，检测盘传输机构将检测盘在上料位置、检测位置和下料位置之间传输，当检测盘传输机构将检测盘运输到检测位置时，检测芯片对镜头进行检测。

进一步地，检测机构还包括用于调节检测芯片位置的调节机构，调节机构包括：滑杆；主体部，主体部具有通孔，滑杆滑动设置在通孔处，检测芯片安装在主体部上；电动滑台，电动滑台位于主体部的下方，电动滑台带动主体部沿滑杆滑动以调节检测芯片Z轴方向的位置。

进一步地，主体部的第一端具有XY滑台，XY滑台调节检测芯片的X轴方向和Y轴方向的位置，主体部的第二端具有倾斜滑台，倾斜滑台用于校准检测芯片的水平，倾斜滑台的上方安装有安装板和检测承台，检测芯片安装在检测承台上，检测承台通过球头调节螺钉及第三磁铁固定在安装板上。

进一步地，检测机构还包括内视场结构，内视场结构包括：第一导轨，第一导轨具有多个向检测机构伸出的连接脚，各连接脚分别与检测机构连接；滑移机构，滑移机构可沿第一导轨滑动，滑移机构包括燕尾槽滑台和向远离搬运机构伸出的连接板，连接板沿燕尾槽滑台纵向滑动第一电机，第一电机位于第一导轨的下方且与滑移机构电连接，第一电机为滑移机构提供动力；内视场光源板，内视场光源板连接在连接板朝向检测机构的底座的一侧，内视场光源板为镜头提供内视场光源。

进一步地，检测机构包括外视场结构，外视场结构包括：框架，框架具有顶架、底架和多个立置的侧棱，侧棱的第一端与顶架连接，侧棱的第二端与底架连接，多个侧棱沿底架的周向间隔设置，侧棱具有滑移孔，滑移孔沿侧棱的高度方向延伸；多个万向云台，多个万向云台安装在侧棱的滑移孔处；多个点光源，点光源固定在万向云台上，点光源与万向云台一一对应设置，点光源为镜头提供外视场光源；第二电机，第二电机安装在顶架上，电机为万向云台提供旋转动力。

应用本发明的技术方案，杂光检测设备包括相互独立设置的搬运机构和检测机构，搬运机构包括来料模块、排料模块和接料模块，其中，来料模块包括来料盘和来料承台，来料盘用于承载镜头，来料盘固定在来料承台上，排料模块将来料盘中的镜头送至检测机构中，以使检测机构对镜头进行杂光检测，排料模块将检测机构检测完成的镜头送至接料模块中。

通过设置相互独立的搬运机构和检测机构使得检测机构在对镜头进行检测时可以减少搬运机构的动作对检测机构的影响，增加了检测机构检测的准确性。排料模块的设置增加了杂光检测设备的自动化程度，减少了人工搬运镜头和排布镜头，减少了人工操作对镜头的损坏，增加了镜头的外观品质，并且减少了人工成本。

附图说明

构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1示出了本发明的一个可选实施例的杂光检测设备的整体结构示意图；以及

图2示出了图1中搬运机构的整体结构示意图；

图3示出了图1中检测机构的整体结构示意图；

图4示出了图1中杂光检测设备的内部结构示意图；

图5示出了图4中排料模块的整体结构示意图；

图6示出了图4中外视场结构的整体结构示意图；

图7示出了图4中外视场结构与芯片的位置关系示意图；

图8示出了图3中内视场结构示意图；

图9示出了图3中内视场结构与芯片的位置关系示意图；

图10示出了图4的平面图；

图11示出了图4中芯片与调节机构的位置关系示意图。

其中，上述附图包括以下附图标记：

10、搬运机构；11、第二导轨；12、第三导轨；13、运动机构；20、检测机构；21、外视场结构；22、框架；221、顶架；222、底架；223、侧棱；224、滑移孔；23、万向云台；24、点光源；25、第二电机；26、内视场结构；261、第一导轨；262、连接脚；263、滑移机构；264、燕尾槽滑台；265、连接板；266、第一电机；267、内视场光源板；30、来料模块；31、来料盘；32、来料承台；33、第一固定块；34、第一传感器；40、排料模块；41、真空发生器；42、排料吸嘴；50、接料模块；51、接料盘；52、接料承台；53、第二固定块；54、第二传感器；60、视觉系统；70、检测芯片；80、检测盘；90、检测盘传输机构；100、调节机构；101、滑杆；102、主体部；103、电动滑台；104、XY滑台；105、倾斜滑台；106、安装板；107、球头调节螺钉；108、检测承台；110、人机界面；120、按钮；130、报警灯；140、风机过滤单元；150、电控柜。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

需要指出的是，除非另有指明，本申请使用的所有技术和科学术语具有与本申请所属技术领域的普通技术人员通常理解的相同含义。

在本发明中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上、下、顶、底”通常是针对附图所示的方向而言的，或者是针对部件本身在竖直、垂直或重力方向上而言的；同样地，为便于理解和描述，“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内、外，但上述方位词并不用于限制本发明。

为了解决现有技术中对手机镜头进行杂光检测的设备存在自动化低的问题，本发明提供了一种杂光检测设备。

如图1至图11所示，杂光检测设备包括相互独立设置的搬运机构10和检测机构20，搬运机构10包括来料模块30、排料模块40和接料模块50，其中，来料模块30包括来料盘31和来料承台32，来料盘31用于承载镜头，来料盘31固定在来料承台32上，排料模块40将来料盘31中的镜头送至检测机构20中，以使检测机构20对镜头进行杂光检测，排料模块40将检测机构20检测完成的镜头送至接料模块50中。

通过设置相互独立的搬运机构10和检测机构20使得检测机构20在对镜头进行检测时可以减少搬运机构10的动作对检测机构20的影响，增加了检测机构20检测的准确性。排料模块40的设置增加了杂光检测设备的自动化程度，减少了人工搬运镜头和排布镜头，减少了人工操作对镜头的损坏，增加了镜头的外观品质，并且减少了人工成本。

如图5所示，排料模块40包括真空发生器41和至少一个排料吸嘴42，真空发生器41为排料吸嘴42提供吸附力，排料吸嘴42具有缓冲结构，排料吸嘴42吸取来料盘31中的镜头送至检测机构20中。排料模块40是可移动的，排料吸嘴42将镜头吸起送至检测机构中，缓冲结构的设置可以减少排料吸嘴42在吸取镜头时排料吸嘴42的边缘碰撞镜头。

需要说明的是，在本申请中排料模块40具有两个并列设置的排料吸嘴42，在对镜片进行吸取时，两个排料吸嘴42同时工作，增加了排料模块的工作效率。当然，排料模块40中的排料吸嘴42可以大于两个，但是排料吸嘴42过多的情况下，不易控制排料吸嘴42吸取和放置的准确性。当然，可以对多个排料吸嘴42的工作状态进行设置，仅有一个排料吸嘴42工作或者几个排料吸嘴42同时工作。

如图4和图5所示，搬运机构10包括视觉系统60，排料吸嘴42吸取镜头移动至视觉系统60处，视觉系统60对镜头进行位置补偿后，排料吸嘴42将镜头送至检测机构20中。由于排料吸嘴42在吸取镜头时，镜头的位置会有所偏差，通过视觉系统60对镜头的位置做一些补偿，以使排料吸嘴42将镜头准确地送至检测机构20中，减少了镜头错位的情况，增加了镜头检测的准确性，同时也减少了镜头错位后镜头易碎易掉的风险，减小了镜头的碎片率。

如图4所示，来料模块30还包括多个第一固定块33，来料盘31通过第一固定块33固定在来料承台32上，第一固定块33内设置有第一磁铁，第一固定块33通过第一磁铁吸附在来料承台32上，第一固定块33呈L形，且第一固定块33卡接在来料盘31的角部处。第一固定块33与来料承台32之间采用磁吸设置便于将第一固定块33取下来安装来料盘31，便于来料盘31的安装，增加了来料盘31安装的便利性，增加了第一固定块33与来料盘31、来料承台32之间连接的紧密性。将第一固定块33设计成L形可以阻挡来料盘31的晃动，增加了来料盘31在来料承台32上放置的稳定性。来料盘31的角部处与L形的第一固定块33适配，以使第一固定块33与来料盘31的两个边缘处发生止挡，增加来料盘31工作的稳定性。

需要说明的是，在本申请中每个来料盘31均使用一个第一固定块33固定，而来料盘31未与第一固定块33接触的边缘可以用其他结构件止挡，例如可以增加止挡沿等结构对来料盘31进行止挡。

如图4所示，接料模块50包括接料承台52、接料盘51和第二固定块53，接料盘51用于接收检测完成的镜头，接料盘51通过第二固定块53固定在接料承台52上，第二固定块53内设置有第二磁铁，第二固定块53通过第二磁铁吸附在接料承台52上，第二固定块53呈L形，且第二固定块53卡接在接料盘51的角部处。接料盘51中有多个用于盛放镜头的接料孔位，各接料孔位等间隔设置，镜头经检测机构20检测完成后，排料吸嘴42将镜头从检测机构20中吸取送至接料盘51中。第二固定块53与接料承台52之间采用磁吸设置便于将第二固定块53取下来安装接料盘51，便于接料盘51的安装，增加了接料盘51安装的便利性，增加了第二固定块53与接料盘51、接料承台52之间连接的紧密性。将第二固定块53设计成L形可以阻挡接料盘51的晃动，增加了接料盘51在接料承台52上放置的稳定性。接料盘51的角部处与L形的第二固定块53适配，以使第二固定块53与接料盘51的两个边缘处发生止挡，增加接料盘51工作的稳定性。

需要说明的是，在来料承台32上具有多个第一传感器34，多个第一传感器34与来料盘31一一对应设置，第一传感器34用于检测其上部区域是否有来料盘31。在接料承台52上具有多个第二传感器54，多个第二传感器54与接料盘51一一对应设置，第二传感器54用于检测其上部区域是否有接料盘51。

在本申请中，来料盘31和接料盘51均具有多个。

如图10所示，检测机构20包括检测芯片70、检测盘80和检测盘传输机构90，检测盘80具有多个用于盛放镜头的检测孔位，检测盘80具有上料位置、检测位置和下料位置，检测盘传输机构90将检测盘80在上料位置、检测位置和下料位置之间传输。当检测盘传输机构90将检测盘80运输到检测位置时，检测芯片70对镜头进行检测。

当检测盘80位于上料位置时，排料模块40的排料吸嘴42吸取来料盘31中的镜头移动至视觉系统60处进行坐标捕捉，完成后根据位置补偿将镜头排入检测盘80中，当检测盘80中的检测孔位被镜头填满后，检测盘传输机构90运动至上料位置将检测盘80运送至检测位置，检测芯片70对检测盘80中的镜头进行检测，检测完毕后，检测盘传输机构90运动至检测位置将检测盘80运送至下料位置，检测芯片70将每一个镜头的检测结果反馈给控制机构，控制机构根据检测结构控制排料吸嘴42将不同频率的杂光镜头分别送至对应频率的接料盘51中。

需要说明的是为了提升检测效率，一般在检测盘80放置在检测位置进行检测时，检测盘传输机构90会带动另一个检测盘80移动至上料位置对其进行上料，当检测盘80移动至下料位置时，另一个检测盘80移动至检测位置。这样会大大节省时间，减少了检测芯片70的空档期，增加了检测芯片70的利用率。

需要说明的是，检测芯片70位于检测位置处，检测盘80位于检测位置时，检测盘80在检测芯片70的上方。

在本申请中，来料承台32与接料承台52相邻设置，来料承台32和接料承台52均是矩形结构，且来料承台32的长边与接料承台52的短边相邻设置。

如图11所示，检测机构20还包括用于调节检测芯片70位置的调节机构100，调节机构100包括滑杆101、主体部102和电动滑台103，主体部102具有通孔，滑杆101滑动设置在通孔处，检测芯片70安装在主体部102上，电动滑台103位于主体部102下方，电动滑台103带动主体部102沿滑杆101滑动以调节检测芯片70在Z轴方向的位置。通过在主体部102上开设通孔，以使主体部102可沿滑杆101滑动，进而调节检测芯片70沿Z轴方向上的位置，以调整检测芯片70与镜头之间的距离。需要说明的是，滑杆101是立置在检测机构20的底座上的。

如图11所示，主体部102的第一端具有XY滑台104，XY滑台104调节检测芯片70的X轴方向和Y轴方向的位置，主体部102的第二端具有倾斜滑台105，倾斜滑台105用于校准检测芯片70的水平，倾斜滑台105的上方安装有安装板106和检测承台108，检测芯片70安装在检测承台108上，检测承台108通过球头调节螺钉107及第三磁铁固定在安装板106上。通过调节倾斜滑台105的倾斜角度，进而校准检测芯片70的水平。检测芯片70水平放置检测到的数据比较可靠。倾斜滑台105的设置增加而来检测芯片70检测的准确性。需要说明的是XY滑台104为手动精密微调光学平台，采用千分尺头进行手动微调，在杂光检测设备进行安装调试期间，将XY滑台104的位置调整好，以使检测芯片70的XY方向的位置固定，在后期对镜头进行杂光检测的过程中无需再对XY滑台104进行调节。

需要说明的是，X轴、Y轴和Z轴相交与一点，彼此垂直且沿不同方向延伸的线。

如图8所示，检测机构20还包括内视场结构26，内视场结构26包括第一导轨261、滑移机构263、第一电机266和内视场光源板267，第一导轨261具有多个向检测机构20伸出的连接脚262，各连接脚262分别与检测机构20连接，滑移机构263可沿第一导轨261滑动，滑移机构263包括燕尾槽滑台264和向远离搬运机构10伸出的连接板265，连接板265沿燕尾槽滑台264纵向滑动，第一电机266位于第一导轨261的下方且与滑移机构263电连接，第一电机266为滑移机构263提供动力，内视场光源板267连接在连接板265朝向检测机构20的底座的一侧，内视场光源板267为镜头提供内视场光源。滑移机构263在第一导轨261上滑动可改变内视场光源板267的水平位置，而燕尾槽滑台264可以改变内视场光源板267的高度，这样设置可以让设备自行调节内视场光源板267与镜头之间的位置关系。

如图4所示，搬运机构10还包括两个第二导轨11和一个第三导轨12，两个第二导轨11位于搬运机构10的底座上，且来料模块30、排料模块40和接料模块50均位于搬运机构10的底座上，来料模块30、排料模块40和接料模块50位于两个第二导轨11之间，且与两个第二导轨11位于同一平面内。第三导轨12可沿第二导轨11滑动，第三导轨12上具有运动机构13，运动机构13在驱动力的作用下沿第三导轨12滑动，而排料模块40安装在运动机构13上，这样就可以实现排料模块40进行两个维度上的运动。

需要说明的是，两个第二导轨11并不完全相同，为了节省搬运机构10上的空间，将两个第二导轨11分为一个主导轨和一个辅导轨，主导轨的宽度要大于辅导轨，驱动第三导轨12运动的驱动机构设置在主导轨的一侧。为了第三导轨12的第一端和第三导轨12的第二端在运动时处于同一水平线上，一般在第三导轨12与辅导轨连接的一端设置有滑轮，这样在驱动机构驱动第二导轨运动时，使得第一导轨261的各位置处于同一水平面。

在本身申请中，第二导轨11与第三导轨12垂直设置，这样便于第三导轨12在第二导轨11上滑动。

如图6所示，检测机构20包括外视场结构21，外视场结构21包括框架22、多个万向云台23、多个点光源24和第二电机25，框架22具有顶架221、底架222和多个立置的侧棱223，侧棱223的第一端与顶架221连接，侧棱223的第二端与底架222连接，多个侧棱223沿底架222的周向间隔设置，侧棱223具有滑移孔224，滑移孔224沿侧棱223的高度方向延伸；多个万向云台23安装在侧棱223的滑移孔224处；点光源24固定在万向云台23上，点光源24与万向云台23一一对应设置，点光源24为镜头提供外视场光源；第二电机25安装在顶架221上，电机为万向云台23提供旋转动力。框架22的设置使得万向云台23和点光源24可以安装在框架22的不同方向、不同位置上，进而使得多个点光源24共同形成立体光源，以对镜片形成立体光源的照射。由于不同型号的镜片对立体光源的需求不同，滑移孔224的设置使得点光源24和万向云台23的高度可调节，以适配不同型号的镜片对立体光源的需求。需要说明的是，多个点光源24分别位于多个侧棱223上，点光源24与侧棱223一一对应设置。多个万向云台23分别位于多个侧棱223上，万向云台23与侧棱223一一对应设置。在本申请中多个点光源24位于侧棱223的同一高度处，多个万向云台23也位于侧棱223的同一高度处，以形成立体光源，减少点光源之间的差异性。

在检测芯片70对镜头进行检测时，镜头上方会分别用内视场光源板267和点光源24对镜头进行照射，检测芯片70会分别对镜头进行图像采集，再通过一定的算法对采集的图像进行解析处理，进而判断杂光是否NG(No Good)。在图7中，镜头位于点光源24与检测芯片70之间，点光源24为镜头提供立体光，以使检测芯片70对杂光进行检测。在图9中镜头位于内视场光源板267与检测芯片70之间，内视场光源板267为镜头提供平面光，以使检测芯片70对杂光进行检测。

在本申请中，搬运机构10还具有人机界面110和按钮120，按钮120用于启动设备、暂停设备或者紧急停止，人机界面110可以用于检测设备的运行状态，可以通过人机界面110观测设备的运行状态和一下气体流量、压力值等，便于对设备的监测。在搬运机构10的顶部具有报警灯130和风机过滤单元140，报警灯130用于设备故障时报警以提示操作人员设备故障及时解决故障进行生产，风机过滤单元140用于对设备排出的风进行过滤，以使设备所在的空间的空气洁净，以保证操作人员的环境安全。在搬运机构10的底座具有电控柜150，电控柜150盛放一些电器元件，以为搬运机构10进行供电。

显然，上述所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、工作、器件、组件和/或它们的组合。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施方式能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种杂光检测设备，其特征在于，包括相互独立设置的搬运机构(10)和检测机构(20)，所述搬运机构(10)包括：

来料模块(30)，所述来料模块(30)包括来料盘(31)和来料承台(32)，所述来料盘(31)用于承载镜头，所述来料盘(31)固定在所述来料承台(32)上；

排料模块(40)，所述排料模块(40)将所述来料盘(31)中的镜头送至所述检测机构(20)中，以使所述检测机构(20)对所述镜头进行杂光检测；

接料模块(50)，所述排料模块(40)将所述检测机构(20)检测完成的镜头送至所述接料模块(50)中。

2.根据权利要求1所述的杂光检测设备，其特征在于，所述排料模块(40)包括：

真空发生器(41)；

至少一个排料吸嘴(42)，所述真空发生器(41)为所述排料吸嘴(42)提供吸附力，所述排料吸嘴(42)具有缓冲结构，所述排料吸嘴(42)吸取所述来料盘(31)中的镜头送至所述检测机构(20)中。

3.根据权利要求2所述的杂光检测设备，其特征在于，所述搬运机构(10)包括视觉系统(60)，所述排料吸嘴(42)吸取镜头移动至所述视觉系统(60)处，所述视觉系统(60)对所述镜头进行位置补偿后，所述排料吸嘴(42)将所述镜头送至检测机构(20)中。

4.根据权利要求1所述的杂光检测设备，其特征在于，所述来料模块(30)还包括多个第一固定块(33)，所述来料盘(31)通过所述第一固定块(33)固定在所述来料承台(32)上，所述第一固定块(33)内设置有第一磁铁，所述第一固定块(33)通过所述第一磁铁吸附在所述来料承台(32)上，所述第一固定块(33)呈L形，且所述第一固定块(33)卡接在所述来料盘(31)的角部处。

5.根据权利要求1所述的杂光检测设备，其特征在于，所述接料模块(50)包括：

接料承台(52)；

接料盘(51)；所述接料盘(51)用于接收检测完成的镜头；

第二固定块(53)，所述接料盘(51)通过所述第二固定块(53)固定在所述接料承台(52)上，所述第二固定块(53)内设置有第二磁铁，所述第二固定块(53)通过所述第二磁铁吸附在所述接料承台(52)上，所述第二固定块(53)呈L形，且所述第二固定块(53)卡接在所述接料盘(51)的角部处。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的杂光检测设备，其特征在于，所述检测机构(20)包括：

检测芯片(70)；

检测盘(80)，所述检测盘(80)具有多个用于盛放所述镜头的检测孔；

检测盘传输机构(90)，所述检测盘(80)具有上料位置、检测位置和下料位置，所述检测盘传输机构(90)将所述检测盘(80)在所述上料位置、所述检测位置和所述下料位置之间传输，当所述检测盘传输机构(90)将所述检测盘(80)运输到所述检测位置时，所述检测芯片(70)对所述镜头进行检测。

7.根据权利要求6所述的杂光检测设备，其特征在于，所述检测机构(20)还包括用于调节所述检测芯片(70)位置的调节机构(100)，所述调节机构(100)包括：

滑杆(101)；

主体部(102)，所述主体部(102)具有通孔，所述滑杆(101)滑动设置在所述通孔处，所述检测芯片(70)安装在所述主体部(102)上；

电动滑台(103)，所述电动滑台(103)位于所述主体部(102)的下方，所述电动滑台(103)带动所述主体部(102)沿所述滑杆(101)滑动以调节所述检测芯片(70)Z轴方向的位置。

8.根据权利要求7所述的杂光检测设备，其特征在于，所述主体部(102)的第一端具有XY滑台(104)，所述XY滑台(104)调节所述检测芯片(70)的X轴方向和Y轴方向的位置，所述主体部(102)的第二端具有倾斜滑台(105)，所述倾斜滑台(105)用于校准所述检测芯片(70)的水平，所述倾斜滑台(105)的上方安装有安装板(106)和检测承台(108)，所述检测芯片(70)安装在所述检测承台(108)上，所述检测承台(108)通过球头调节螺钉(107)及第三磁铁固定在所述安装板(106)上。

9.根据权利要求1所述的杂光检测设备，其特征在于，所述检测机构(20)还包括内视场结构(26)，所述内视场结构(26)包括：

第一导轨(261)，所述第一导轨(261)具有多个向所述检测机构(20)伸出的连接脚(262)，各所述连接脚(262)分别与所述检测机构(20)连接；

滑移机构(263)，所述滑移机构(263)可沿所述第一导轨(261)滑动，所述滑移机构(263)包括燕尾槽滑台(264)和向远离所述搬运机构(10)伸出的连接板(265)，所述连接板(265)沿所述燕尾槽滑台(264)纵向滑动；

第一电机(266)，所述第一电机(266)位于所述第一导轨(261)的下方且与所述滑移机构(263)电连接，所述第一电机(266)为所述滑移机构(263)提供动力；

内视场光源板(267)，所述内视场光源板(267)连接在所述连接板(265)朝向所述检测机构(20)的底座的一侧，所述内视场光源板(267)为所述镜头提供内视场光源。

10.根据权利要求8所述的杂光检测设备，其特征在于，所述检测机构(20)包括外视场结构(21)，所述外视场结构(21)包括：

框架(22)，所述框架(22)具有顶架(221)、底架(222)和多个立置的侧棱(223)，所述侧棱(223)的第一端与所述顶架(221)连接，所述侧棱(223)的第二端与所述底架(222)连接，多个所述侧棱(223)沿所述底架(222)的周向间隔设置，所述侧棱(223)具有滑移孔(224)，所述滑移孔(224)沿所述侧棱(223)的高度方向延伸；

多个万向云台(23)，多个所述万向云台(23)安装在所述侧棱(223)的滑移孔(224)处；

多个点光源(24)，所述点光源(24)固定在所述万向云台(23)上，所述点光源(24)与所述万向云台(23)一一对应设置，所述点光源(24)为所述镜头提供外视场光源；

第二电机(25)，所述第二电机(25)安装在所述顶架(221)上，所述第二电机(25)为所述万向云台(23)提供旋转动力。