CN110288929B - 平板显示器 - Google Patents

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Abstract

平板显示器包括：包括显示区域以及布置在显示区域的外部的非显示区域的基板；布置在显示区域中的显示图像的显示单元，布置在非显示区域中的接收用于驱动显示单元的驱动信号的多个第一焊盘，布置在非显示区域中的接收用于检查显示单元的检查信号的多个第二焊盘，布置在非显示区域中的接收用于确认对齐的对齐确认信号的多个第三焊盘，以及耦接在多个第三焊盘中的至少两个第三焊盘之间的电阻器。

Description

平板显示器
相关申请的交叉引用
本申请要求2018年3月19日提交的第10-2018-0031426号韩国专利申请的优先权，该申请的公开通过引用整体合并于此。
技术领域
示例性实施例涉及具有用于检查显示单元的检查焊盘的平板显示器。
背景技术
诸如液晶显示器(LCD)和有机发光二极管显示器(OLED)的平板显示器在结构和功能上是复杂的，并且制造昂贵。因此，期望在制造工艺早期检测平板显示器中的缺陷。因此，正在开发技术以减少检查时间并提高检查精度。
发明内容
本发明的示例性实施例提供了一种能够有效地并且准确地检测在检查装置的探针与平板显示器的检查焊盘之间的未对齐的平板显示器。
本发明的示例性实施例提供了一种能够通过有效地检测在检查装置的探针与平板显示器的检查焊盘之间的未对齐来降低制造工艺中的缺陷率的平板显示器。
根据本发明的示例性实施例，平板显示器包括：包括显示区域以及布置在显示区域的外部的非显示区域的基板，布置在显示区域中的显示图像的显示单元，布置在非显示区域中的接收用于驱动显示单元的驱动信号的多个第一焊盘，布置在非显示区域中的接收用于检查显示单元的检查信号的多个第二焊盘，布置在非显示区域中的接收用于确认对齐的对齐确认信号的多个第三焊盘，以及耦接在多个第三焊盘中的至少两个第三焊盘之间的电阻器。
在示例性实施例中，显示单元包括：在第一方向上排列的多条扫描线，在与第一方向相交的第二方向上排列的多条数据线；以及耦接到多条扫描线和多条数据线的多个像素。每个像素包括发光元件以及耦接到发光元件的薄膜晶体管。
在示例性实施例中，显示单元进一步包括触摸感测单元，并且用于检查显示单元的检查信号包括用于检查触摸感测单元的信号。
在示例性实施例中，多个第三焊盘被布置在多个第二焊盘的两侧。
在示例性实施例中，多个第三焊盘包括第一组第三焊盘和第二组第三焊盘，第一组第三焊盘和第二组第三焊盘彼此分离地被布置，并且多个第二焊盘中的一些被布置在第一组第三焊盘与第二组第三焊盘之间。
在示例性实施例中，检查装置的多个探针接触多个第二焊盘和多个第三焊盘，并且电阻器的电阻值大于检查装置的探针的电阻值。
在示例性实施例中，多个第三焊盘包括接收对齐确认信号中的一个对齐确认信号的第一个第三焊盘和输出所接收的一个对齐确认信号的第二个第三焊盘。
根据本发明的示例性实施例，平板显示器包括：包括显示区域以及布置在显示区域的外部的非显示区域的基板、被布置在显示区域中的显示图像的显示单元、多个第一焊盘、多个第二焊盘、多个第三焊盘和电阻器。多个第一焊盘被布置在非显示区域中并且耦接到多条驱动信号线。驱动信号线被布置在非显示区域中并且连接到显示单元，并且将用于驱动显示单元的多个驱动信号从第一焊盘传输到显示单元。多个第二焊盘被布置在非显示区域中并且耦接到多条检查信号线。检查信号线被布置在非显示区域中并且连接到显示单元，并且将用于检查显示单元的多个检查信号从第二焊盘传输到显示单元。多个第三焊盘被布置在非显示区域中。电阻器耦接在多个第三焊盘中的至少两个第三焊盘之间。
在示例性实施例中，多个第三焊盘被布置在多个第二焊盘的两侧。
在示例性实施例中，多个第三焊盘包括第一组第三焊盘和第二组第三焊盘。第一组第三焊盘和第二组第三焊盘彼此分离地被布置，并且多个第二焊盘中的一些被布置在第一组第三焊盘与第二组第三焊盘之间。
在示例性实施例中，检查信号通过检查装置的多个探针接触第二焊盘而通过探针被施加到第二焊盘。
在示例性实施例中，显示单元包括触摸感测单元，并且检查信号包括用于检查触摸感测单元的信号。
在示例性实施例中，第三焊盘通过检查装置的多个探针接触第三焊盘来接收用于确认探针与第二焊盘之间的对齐的多个对齐确认信号。
在示例性实施例中，多个第三焊盘包括：接收对齐确认信号中的一个对齐确认信号的第一个第三焊盘和输出所接收的一个对齐确认信号的第二个第三焊盘。
在示例性实施例中，电阻器的电阻值大于检查装置的探针的电阻值。
在示例性实施例中，检查信号线包括断开的端部。
在示例性实施例中，第二焊盘和第三焊盘以预定间隔沿基板的一侧排列。
根据本发明的示例性实施例，检查平板显示器的缺陷的方法包括：通过多个第二焊盘将多个检查信号施加到平板显示器；以及通过使检查装置的多个探针中的第一探针与来自多个第三焊盘中的第一个第三焊盘接触，将对齐确认信号施加到第一个第三焊盘。平板显示器包括显示区域以及布置在显示区域的外部的非显示区域。多个第一焊盘、多个第二焊盘和多个第三焊盘被布置在非显示区域中。该方法进一步包括：通过使多个探针中的第二探针与来自多个第三焊盘中的第三个第三焊盘接触，将参考信号施加到第三个第三焊盘。该方法进一步包括：检测在来自多个第三焊盘中的第二个第三焊盘处的电压。第二个第三焊盘通过电阻器电连接到第一个第三焊盘。该方法进一步包括：将在第二个第三焊盘处检测到的电压与参考值进行比较；响应于在第二个第三焊盘处检测到的电压低于参考值，确定多个探针和第二焊盘未对齐；并且响应于在第二个第三焊盘处检测到的电压至少等于参考值，确定多个探针和第二焊盘对齐。
在示例性实施例中，施加到第三个第三焊盘的参考信号为接地电压。
在示例性实施例中，电阻器的电阻值大于多个探针的电阻值。
附图说明
通过参考附图具体描述本发明的示例性实施例，本发明的上述和其它特征将变得更显而易见，附图中：
图1是根据本发明的示例性实施例的平板显示器的平面图。
图2是沿图1的线X1-X2截取的截面图。
图3是图示根据本发明的示例性实施例的图1中所示的像素的截面图。
图4是图示根据本发明的示例性实施例的印刷电路板的平面图。
图5是图示根据本发明的示例性实施例的检查装置的示意性平面图。
图6至图8是图示根据本发明的示例性实施例的第二焊盘单元和第三焊盘单元的平面图。
图9至图12是图示根据本发明的示例性实施例的第二焊盘单元和第三焊盘单元的平面图。
图13是图示根据本发明的示例性实施例的第二焊盘单元和第三焊盘单元的平面图。
具体实施方式
下文将参考附图更充分地描述本发明的示例性实施例。在整个附图中，相同的附图标记可以指代相同的元件。
将理解，当一组件被称为在另一组件“上”、“连接到”、“耦接到”或“邻近”另一组件时，该组件可以直接在该另一组件上、直接连接到、直接耦接到或直接邻近该另一组件，或者也可以存在中间组件。还将理解，当组件被称为在两个组件“之间”时，该组件可以是该两个组件之间的唯一组件，或者也可以存在一个或多个中间组件。此外，如本文中使用的，单数形式的“一”和“该”旨在也包括复数形式，除非上下文另有明确说明。
将理解，本文中使用术语“第一”、“第二”、“第三”等以将一个元件与另一元件区分开，并且元件不受这些术语的限制。因此，在一个示例性实施例中的“第一”元件在另一示例性实施例中可以被描述为“第二”元件。
图1是根据本发明的示例性实施例的平板显示器的平面图。图2是沿图1的线X1-X2截取的截面图。
参考图1和图2，在示例性实施例中，平板显示器包括显示图像的显示单元120a。
在示例性实施例中，显示单元120a包括像素阵列121。在示例性实施例中，显示单元120a进一步包括触摸感测单元220，触摸感测单元220允许用户通过触摸平板显示器的屏幕来输入命令。触摸感测单元220可以包括感测触摸位置(例如，感测屏幕上的触摸的定位)的多个感测电极以及耦接到多个感测电极的多条感测信号线。
在示例性实施例中，像素阵列121被布置在第一基板100与第二基板200之间，并且用密封材料260密封。在示例性实施例中，触摸感测单元220被布置在第二基板200的一侧上，以便与像素阵列121重叠。在示例性实施例中，薄密封膜代替第二基板200。
第一基板100和第二基板200可以各自是由例如玻璃、石英、塑料等制成的刚性基板，并且可以是板的形式，或者第一基板100和第二基板200中的每个可以是由例如塑料膜制成的柔性基板。
第一基板100包括显示区域120和布置在显示区域120的外部的非显示区域140。例如，非显示区域140可以被定义为围绕显示区域120的区域。
像素阵列121被布置在显示区域120中。在示例性实施例中，像素阵列121包括在第一方向上排列的多条扫描线122、在与第一方向相交的第二方向上排列的多条数据线124、以及耦接到多条扫描线122和多条数据线124的多个像素125。多个像素125可以例如以矩阵形式被排列。
在示例性实施例中，多个像素125中的每个像素包括发光元件和驱动发光元件的像素电路。像素电路可以包括例如将信号传输到发光元件的薄膜晶体管以及保持信号的电容器。
图3是图示根据本发明的示例性实施例的图1中所示的像素125的截面图。
像素125被布置在第一基板100的显示区域120中。
在示例性实施例中，缓冲层10被布置在第一基板100上。缓冲层10阻挡外部空气的渗透，并且平坦化表面。薄膜晶体管20被布置在缓冲层10上。
薄膜晶体管20包括半导体层21、栅电极23、以及源电极和漏电极26，半导体层21提供源区、漏区和沟道区，栅电极23被布置在沟道区的半导体层21上并且通过栅绝缘层22与半导体层21电绝缘，并且源电极和漏电极26电耦接到源区和漏区的半导体层21。
源电极和漏电极26可以通过形成在层间绝缘层24中的接触孔而电耦接到源区和漏区的半导体层21。
在示例性实施例中，层间绝缘层24包括第一层间绝缘层24a和布置在第一层间绝缘层24a上的第二层间绝缘层24b。
在示例性实施例中，包括在像素电路中的电容器包括布置在第一层间绝缘层24a与第二层间绝缘层24b之间以便与栅电极23重叠的电容器电极25。在示例性实施例中，电容器由被布置以便彼此重叠的栅电极23、第一层间绝缘层24a和电容器电极25形成。
在示例性实施例中，发光元件40被布置在包括薄膜晶体管20和电容器的第一基板100的上部。发光元件40可以包括例如有机发光二极管(OLED)。
在示例性实施例中，平坦化层30被提供在包括薄膜晶体管20和电容器的第一基板100上。第一电极41被布置在平坦化层30上。第一电极41可以是例如阳极电极。第一电极41可以通过形成在平坦化层30中的通孔电耦接到源电极或漏电极26。
在示例性实施例中，像素限定层42被布置在第一电极41和平坦化层30上，使得发光区域的第一电极41被暴露。在示例性实施例中，有机层43被布置在暴露的第一电极41上。
有机层43可以包括例如空穴注入层、空穴传输层、有机发光层、电子传输层和电子注入层。有机层43可以进一步包括例如辅助层或中间层。
在示例性实施例中，第二电极44被布置在有机层43和像素限定层42上。第二电极44可以是例如阴极电极。
尽管根据上述示例性实施例的平板显示器被描述为有机发光显示器，但是本发明的示例性实施例并不限于此。例如，根据示例性实施例，平板显示器可以是液晶显示器。
在示例性实施例中，第一焊盘单元142、第二焊盘单元144和第三焊盘单元146被布置在第一基板100的非显示区域140中。第一焊盘单元142接收用于驱动显示单元120a的驱动信号，第二焊盘单元144接收用于检查显示单元120a(例如，检查显示单元120a的缺陷)的检查信号，并且第三焊盘单元146接收用于确认对齐的对齐确认信号。驱动信号、检查信号和对齐确认信号从显示单元120a的外部分别被施加到第一焊盘单元142、第二焊盘单元144和第三焊盘单元146。
第一焊盘单元142在本文中也可以被称为第一焊盘组，第二焊盘单元144在本文中也可以被称为第二焊盘组，并且第三焊盘单元146在本文中也可以被称为第三焊盘组。如图1所示，第一焊盘组至第三焊盘组中的每个焊盘组被单独地布置在非显示区域140中的不同区域中。例如，第二焊盘组和第三焊盘组与第一焊盘组相比被布置得更靠近第一基板100的边缘，第一焊盘组被布置在显示单元120a与第二焊盘组和第三焊盘组之间。在示例性实施例中，焊盘组中的每个焊盘组之间的间隔大于在焊盘组中的每个焊盘组内的焊盘之间的间隔。
在示例性实施例中，第一焊盘单元142被布置为与第一基板100的边缘相邻。结果是，从显示单元120a的外部提供的信号可以方便地被提供到显示单元120a。在示例性实施例中，第一焊盘单元142包括多个第一焊盘142a，多个第一焊盘142a接收用于显示图像的各种驱动信号。由第一焊盘142a接收的驱动信号可以包括例如扫描信号、数据信号、驱动电压等。
在示例性实施例中，多个第一焊盘142a通过多条驱动信号线143电耦接到显示单元120a。驱动信号线143被布置在非显示区域140中并且连接到显示单元120a。驱动信号线143将用于驱动显示单元120a的驱动信号从第一焊盘142a传输到显示单元120a。
图4是图示根据本发明的示例性实施例的电耦接到第一焊盘单元142的印刷电路板300的平面图。
在示例性实施例中，印刷电路板300包括与多个第一焊盘142a对应的多个焊盘320。印刷电路板300电耦接到第一焊盘单元142，使得多个焊盘320与多个第一焊盘142a对应。
如图1所示，在示例性实施例中，第二焊盘单元144被布置在第一基板100的边缘处，以使与从外部提供的检查装置的探针接触容易。例如，如图1所示，在示例性实施例中，第二焊盘单元144与第一焊盘单元142相比被布置得更靠近第一基板100的边缘。在示例性实施例中，第二焊盘单元144包括多个第二焊盘144a，多个第二焊盘144a接收用于检查显示单元120a(例如，用于检查显示单元120a的缺陷)的各种检查信号。多个第二焊盘144a通过多条检查信号线145电耦接到显示单元120a。检查信号线145被布置在非显示区域140中并且连接到显示单元120a。检查信号线145将用于检查显示单元120a的检查信号从第二焊盘144a传输到显示单元120a。
在示例性实施例中，第三焊盘单元146被布置为与第二焊盘单元144相邻。第三焊盘单元146用于确认检查装置的探针与多个第二焊盘144a之间的对齐。例如，在示例性实施例中，第二焊盘单元144和第三焊盘单元146以预定间隔沿第一基板100的一侧排列。第三焊盘单元146包括多个第三焊盘146a。
图5是图示根据本发明的示例性实施例的电耦接到第二焊盘单元144和第三焊盘单元146的检查装置400的示意性平面图。
在示例性实施例中，检查装置400包括分别与多个第二焊盘144a和多个第三焊盘146a对应的多个探针420和440。当检查装置400用于检查平板显示器时，探针420和440分别接触第二焊盘144a和第三焊盘146a。结果是，检查装置400电连接到第二焊盘单元144和第三焊盘单元146。
在示例性实施例中，检查装置400包括控制单元460。控制单元460输出用于确认对齐、检查显示单元120a等的信号，并且根据通过探针440检测到的信号控制各种检查操作。例如，检查装置400的控制单元460输出被施加到第二焊盘144a以检查显示单元120a的检查信号，并且输出被施加到第三焊盘146a以确认检查装置400的探针420与第二焊盘144a之间的对齐的对齐确认信号。
图6是更具体地图示根据本发明的示例性实施例的第三焊盘单元146的平面图。
在示例性实施例中，第三焊盘单元146包括第三焊盘146a-1、第三焊盘146a-2和第三焊盘146a-3，第三焊盘146a-1接收用于确认对齐的对齐确认信号，第三焊盘146a-2输出用于确认对齐的对齐确认信号，并且第三焊盘146a-3接收参考信号。电阻器R电耦接在第三焊盘146a-1与第三焊盘146a-2之间。
图6示出了第三焊盘单元146包括三个第三焊盘146a-1、146a-2和146a-3的配置。然而，应当理解，本发明的示例性实施例并不限于此。例如，根据示例性实施例，包括在焊盘单元146中的第三焊盘的数量可以增加。
在示例性实施例中，第一焊盘单元142和驱动信号线143、第二焊盘单元144和检查信号线145、以及第三焊盘单元146和耦接到电阻器R的信号线在形成薄膜晶体管20的电极23和26以及电容器电极25的工艺中形成。
在示例性实施例中，电阻器R在形成薄膜晶体管20的半导体层21的工艺中形成。例如，可以通过在形成半导体层21的源区和漏区的工艺中控制要被掺杂的掺杂剂的浓度来控制电阻器R的电阻值。
在示例性实施例中，驱动显示单元120a的至少一个驱动电路单元被布置在第一基板100的非显示区域140中。驱动电路单元可以在形成显示单元120a的工艺中形成在第一基板100的非显示区域140中。可替代地，驱动电路单元可以被提供为单独的半导体集成电路(IC)芯片并且被安装在第一基板100的非显示区域140中。
在示例性实施例中，至少一个驱动电路单元以平板显示器外部的印刷电路板300的形式被提供，并且通过第一焊盘单元142电耦接到显示单元120a。
参考图1，在示例性实施例中，至少一个驱动电路单元包括扫描驱动器160。扫描驱动器160具有分别电耦接到第一焊盘单元142和扫描线122的输入端子和输出端子。
参考图4，在示例性实施例中，数据驱动器340被提供在印刷电路板300上。印刷电路板300的多个焊盘320电耦接到平板显示器的多个第一焊盘142a。结果是，数据驱动器340通过驱动信号线143电耦接到数据线124。
在示例性实施例中，数据驱动器340被布置在显示单元120a与多个第一焊盘142a之间。结果是，在示例性实施例中，驱动信号线143的中间部分被断开，并且数据驱动器340的输入端子和输出端子分别电耦接到断开的端部。
在示例性实施例中，平板显示器进一步包括控制单元。控制单元可以从外部接收图像信号，生成数据信号，并且向数据驱动器340提供所生成的数据信号。此外，控制单元可以从外部接收同步信号和时钟信号，产生控制信号，并且向扫描驱动器160和数据驱动器340提供控制信号。
像素125被通过扫描线122提供的扫描信号选择，并且流过像素125的电流被通过数据线124提供的数据信号控制。结果是，像素125发射与数据信号对应的预定亮度的光。
在示例性实施例中，平板显示器的制造工艺包括检查显示单元120a的步骤。
在示例性实施例中，为了检查显示单元120a，检查装置400被移动到一位置，使得探针420和440分别与平板显示器的第二焊盘单元144和第三焊盘单元146对应。探针420和440然后被降低并分别被压在第二焊盘单元144和第三焊盘单元146上。
如果探针420与多个第二焊盘144a未对齐，则在检查工艺期间电信号可被错误地施加到显示单元120a，从而导致显示单元120a中的缺陷。因此，在检查显示单元120a之前，确认检查装置400的探针420与多个第二焊盘144a的对齐。也就是说，在执行检查工艺之前，首先确认检查装置400的探针420与多个第二焊盘144a对齐。
在示例性实施例中，通过确认检查装置400的探针440与多个第三焊盘146a之间对齐的程度来确认探针420与第二焊盘144a的对齐。
参考图6，在示例性实施例中，使检查装置400的探针440-1与第三焊盘146a-1接触，使检查装置400的探针440-2与第三焊盘146a-2接触，并且使检查装置400的探针440-3与第三焊盘146a-3接触。电压通过探针440-1和440-3被施加以确认对齐。例如，在示例性实施例中，+5V的电压通过探针440-1被施加为用于确认对齐的检查信号，并且接地电压通过探针440-3被施加为参考信号。
在示例性实施例中，通过探针440-1施加的检查信号依次经由第三焊盘146a-1、电阻器R和第三焊盘146a-2由探针440-2检测，并且通过电阻器R下降的电压由探针440-2检测。
例如，在示例性实施例中，通过将由探针440-2检测到的电压(例如，+4.7V)与参考值(例如，+4.5V)进行比较来确定对齐(或未对齐)。当检测到的电压低于参考值时，控制单元460确定存在未对齐。
例如，如图7所示，当探针440在朝向右侧的方向上未对齐时，作为电压未被探针440-2检测到的结果，未对齐被确定。可替代地，甚至当探针440在朝向左侧的方向上未对齐时，作为电压未被探针440-2检测到的结果，未对齐被确定。
如图8所示，在示例性实施例中，当第三焊盘146a-1、146a-2和146a-3中的全部由于探针440-1、440-2和440-3的未对齐而电短路时，由于接地电压被探针440-2检测到，未对齐被确定。
如上所述，当检查装置400的探针420与平板显示器的第二焊盘单元144之间的未对齐被确定时，可以向左或向右微调检查装置400的探针420的位置。也就是说，当未对齐被检测到时，在继续进行检查工艺之前，探针420的位置在朝向左侧或右侧的方向上被调整，直到实现对齐。
在示例性实施例中，通过重复上述过程，检查装置400的探针420与平板显示器的第二焊盘单元144被正确地对齐。
一旦探针420和第二焊盘单元144被正确地对齐，检查装置400就通过探针420向第二焊盘单元144提供信号以检查显示单元120a。通过检查工艺，可以确定显示单元120a上是否存在缺陷。
在示例性实施例中，用于检查显示单元120a的信号包括用于检查触摸感测单元220的信号。因此，在示例性实施例中，通过触摸输入可以确定在触摸感测单元220中是否存在缺陷。
连接到第二焊盘单元144的第二焊盘144a的检查信号线145可以被断开，以阻挡第二焊盘144a与显示单元120a的电连接。例如，通过将激光引导到检查信号线145的预定部分上可以断开检查信号线145。检查信号线145可以包括由激光产生的断开的端部Y1-Y2(参见图6)。
在示例性实施例中，第三焊盘单元146的多个第三焊盘146a分别被布置在第二焊盘单元144的两侧。
在示例性实施例中，检查平板显示器的缺陷的方法包括：通过第二焊盘144a将检查信号施加到平板显示器；以及通过使检查装置400的多个探针440中的第一探针(例如图6中的440-1)与第一个第三焊盘(例如图6中的146a-1)接触，将对齐确认信号施加到来自多个第三焊盘146a中的第一个第三焊盘(例如图6中的146a-1)。该方法进一步包括：通过使多个探针440中的第二探针(例如图6中的440-3)与第三个第三焊盘146a-3接触，将参考信号(例如，接地电压)施加到来自多个第三焊盘146a中的第三个第三焊盘(例如图6中的146a-3)；检测在来自多个第三焊盘146a中的第二个第三焊盘(例如图6中的146a-2)处的电压；并且将在第二个第三焊盘(例如图6中的146a-2)处检测到的电压与参考值进行比较。在示例性实施例中，当在第二个第三焊盘(例如图6中的146a-2)处检测到的电压(例如，通过电阻器R下降的电压)低于参考值时，确定多个探针440与第三焊盘146a未对齐。可替代地，在示例性实施例中，当在第二个第三焊盘(例如图6中的146a-2)处检测到的电压(例如，通过电阻器R下降的电压)至少等于参考值时，确定多个探针440与第三焊盘146a对齐。
图9至图12是图示根据本发明的示例性实施例的第二焊盘单元144和第三焊盘单元146的平面图。
参考图9，在示例性实施例中，一个第三焊盘146a-1被布置在第二焊盘单元144的左侧，并且两个第三焊盘146-2和146-3被布置在第二焊盘单元144的右侧。检查装置400的探针440-1、440-2和440-3被排列，使得探针440-1、440-2和440-3的位置分别与第三焊盘146a-1、146a-2和146a-3对应。
图10示出了探针440在朝向右侧的方向上未对齐的情形。图11示出了探针440在朝向左侧的方向上未对齐的情形。
用于确认检查装置400的探针440与多个第三焊盘146a之间的对齐的过程与上面参考图6至图8描述的相同。因此，为便于说明，将省略该过程的进一步的描述。
然而，当检查装置400的探针440与多个第三焊盘146a轻微不对齐时，例如，如图12所示，如果探针440在朝向右侧的方向上轻微不对齐，则可以分别在探针440-1、440-2和440-3与第三焊盘146a-1、146a-2和146a-3之间建立小接触区域。
在示例性实施例中，第一焊盘单元142、第二焊盘单元144和第三焊盘单元146在形成薄膜晶体管20的电极23和26以及电容器电极25的工艺中一起被形成。第一焊盘单元142、第二焊盘单元144和第三焊盘单元146可以由包括例如Ag、Mg、Al、Pt、Pd、Au、Ni、Nd、Ir、Cr、Li、Ca、Mo、Ti、W和Cu的金属或合金形成。在示例性实施例中，第一焊盘单元142、第二焊盘单元144和第三焊盘单元146相对于探针440具有小的电阻值。
当电阻器R被省略或电阻值非常小时，通过探针440-1施加的检查信号(例如，+5V)可以通过第三焊盘146a-1和146a-2传输到探针440-2。
检查信号的电压可以下降多达第三焊盘146a-1和146a-2与探针440-1和440-2之间的小接触区域的预定接触电阻那么多。然而，由于接近大约+5V的电压可由探针440-2检测到，因此检查装置400的控制单元460可以确定存在对齐。
然而，当电阻器R具有比探针440-1和440-2的固有电阻值高的电阻值时，由电阻器R和接触电阻引起的电压降(例如，大约+4V)可以由探针440-2检测到，并且检查装置400的控制单元460可以确定存在未对齐。
在示例性实施例中，电阻器R具有比探针440-1和440-2高的电阻值。然而，当电阻器R的电阻值过大时，由于过量的电压降，可能难以精确地确定对齐度。因此，在示例性实施例中，在确定电阻器R的电阻值时可以考虑该关系。
图13是图示根据本发明的示例性实施例的第二焊盘单元144和第三焊盘单元146的平面图。
当检查装置400的探针420和440被压在第二焊盘单元144和第三焊盘单元146上时，归因于取决于第一基板100的位置或材料的在压力上的差异，部分不同的拉力可被施加到第一基板100。对齐的程度可以基于张力的大小而部分地变化。
在示例性实施例中，多个第三焊盘146a被提供为两组，并且这两组中的多个第三焊盘146a可以在第二焊盘单元144的多个第二焊盘144a之间彼此分离地被布置。例如，两个第三焊盘单元146可以被单独地布置在第二焊盘单元144的多个第二焊盘144a之间。例如，如图13所示，在示例性实施例中，多个第三焊盘146a包括第一组第三焊盘146a和第二组第三焊盘146a。第一组第三焊盘146a和第二组第三焊盘146a彼此分离地被布置，并且多个第二焊盘144a中的一些被布置在第一组第三焊盘146a与第二组第三焊盘146a之间。
参考图13，在示例性实施例中，两个第三焊盘单元146被布置在第二焊盘单元144中，以便彼此隔开。
由于可以通过使用两个第三焊盘单元146来确认对齐的程度，因此即使对齐的程度部分地改变，也可以精确地确定未对齐。结果是，可以减少由于未对齐导致的缺陷率。
根据本发明的示例性实施例的平板显示器包括检查焊盘单元，检查焊盘单元用于在制造工艺期间检查显示单元和触摸感测单元。检查焊盘单元包括检查焊盘和连接在检查焊盘之间的电阻器，检查焊盘用于确认检查装置的探针与检查焊盘之间对齐的程度。可以使用电阻器精确地确定检查装置的探针和检查焊盘之间的未对齐。
本发明的示例性实施例改进检查焊盘的排列结构，以有效地确认未对齐，从而降低缺陷率。
尽管已经参考本发明的示例性实施例具体示出和描述了本发明，但是本领域普通技术人员将理解，在不背离如所附的权利要求限定的本发明的精神和范围的情况下可以对本发明的形式和细节进行各种改变。

Claims (9)

1.一种平板显示器，包括：
基板，包括显示区域以及布置在所述显示区域的外部的非显示区域；
显示单元，布置在所述显示区域中，其中所述显示单元显示图像；
多个第一焊盘，布置在所述非显示区域中并且耦接到多条驱动信号线，
其中所述驱动信号线被布置在所述非显示区域中并且连接到所述显示单元，并且所述驱动信号线将用于驱动所述显示单元的多个驱动信号从所述第一焊盘传输到所述显示单元；
多个第二焊盘，布置在所述非显示区域中并且耦接到多条检查信号线，
其中所述检查信号线被布置在所述非显示区域中并且连接到所述显示单元，并且所述检查信号线将用于检查所述显示单元的多个检查信号从所述第二焊盘传输到所述显示单元；
多个第三焊盘，布置在所述非显示区域中；以及
电阻器，耦接在所述多个第三焊盘中的至少两个第三焊盘之间，
其中，所述多个第三焊盘包括第一组第三焊盘和第二组第三焊盘，所述第一组第三焊盘和所述第二组第三焊盘被彼此分离地布置，并且所述多个第二焊盘中的一部分被布置在所述第一组第三焊盘与所述第二组第三焊盘之间。
2.根据权利要求1所述的平板显示器，其中，所述多个第三焊盘被布置在所述多个第二焊盘的两侧。
3.根据权利要求1所述的平板显示器，其中，所述检查信号通过检查装置的多个探针接触所述第二焊盘而经由所述探针被施加到所述第二焊盘。
4.根据权利要求3所述的平板显示器，其中，所述显示单元包括触摸感测单元，并且所述检查信号包括用于检查所述触摸感测单元的信号。
5.根据权利要求1所述的平板显示器，其中，所述第三焊盘通过检查装置的多个探针接触所述第三焊盘来接收用于确认所述探针与所述第二焊盘之间的对齐的多个对齐确认信号。
6.根据权利要求5所述的平板显示器，其中，所述多个第三焊盘包括：接收所述对齐确认信号中的一个对齐确认信号的第一个第三焊盘、和输出所接收的一个对齐确认信号的第二个第三焊盘。
7.根据权利要求5所述的平板显示器，其中，所述电阻器的电阻值大于所述检查装置的所述探针的电阻值。
8.根据权利要求1所述的平板显示器，其中，所述检查信号线包括断开的端部。
9.根据权利要求1所述的平板显示器，其中，所述第二焊盘和所述第三焊盘以预定间隔沿所述基板的一侧排列。
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