CN110265442A - 显示基板及包含其的显示面板 - Google Patents
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Abstract
本申请提供一种显示基板及包含其的显示面板。所述显示基板包括依次层叠设置的第一消光件、显示结构层、第二消光件和光探测层,所述光探测层用于检测所述显示结构层的发光强度;所述第一消光件和第二消光件相对设置,且所述第一消光件与所述第二消光件配合用于消除到达所述光探测层的环境光线。该显示面板包括上述的显示基板。本申请通过设置相互配合所述第一消光件与所述第二消光件,能够消除到达光探测层的环境光线,使光探测层对发光层所发出的光线的检测不受环境光线的干扰,从而能够更为精准地检测发光层的发光强度。
Description
技术领域
本申请涉及显示技术领域,尤其涉及一种显示基板及包含其的显示面板。
背景技术
目前,大尺寸OLED显示面板的常用结构为底发射OLED显示面板,采用光探测层对OLED显示面板的发光强度进行实时的检测,OLED显示面板以此为依据进行发光以及对发光层的老化造成的显示不良进行补偿。具体地,采用阴极透光的方式,使发光层发出的光线到达光探测层,光探测层检测发光层的发光强度作为补偿依据。但由于发光层为透光器件,外界的环境光线会进入OLED显示面板内,而对光探测层接收的发光层发出的光线造成影响。
发明内容
本发明提供一种显示基板及包含其的显示面板,以消除到达光探测层的环境光线,使光探测层对发光层所发出的光线的检测不受环境光线的干扰。
根据本发明实施例的第一方面,提供一种显示基板。所述显示基板包括依次层叠设置的第一消光件、显示结构层、第二消光件和光探测层,所述光探测层用于检测所述显示结构层的发光强度;
所述第一消光件和第二消光件相对设置,且所述第一消光件与所述第二消光件配合用于消除到达所述光探测层的环境光线。
可选的,所述第一消光件包括第一偏振片,所述第二消光件包括第二偏振片,所述第一偏振片的偏振方向与所述第二偏振片的偏振方向垂直。
可选的,所述第一消光件包括层叠设置的第一偏振片和第一波片,所述第一波片位于所述第一偏振片与所述显示结构层之间;
所述第二消光件包括层叠设置的第二偏振片和第二波片,所述第二波片位于所述第二偏振片与所述显示结构层之间;
其中,所述第一波片与所述第二波片均为四分之一波片,所述第一偏振片的偏振方向与所述第二偏振片的偏振方向垂直,所述第一波片的快轴与所述第二波片的快轴垂直;
或者,所述第一偏振片的偏振方向与所述第二偏振片的偏振方向平行,所述第一波片的快轴与所述第二波片的快轴平行。
可选的,所述第一偏振片的偏振方向与所述第一波片的快轴之间所形成的锐角夹角为45度。
可选的,所述显示结构层包括由远离所述第二消光件至靠近所述第二消光件方向层叠设置的像素电路层和发光结构层,所述光探测层用于检测所述发光结构层的发光强度。
可选的,所述发光结构层包括由远离所述第二消光件至靠近所述第二消光件方向依次层叠设置的阳极、发光层和阴极,所述阴极可透光。
可选的,所述光探测层包括多个光探测单元,所述发光层包括多个按阵列排列的显示子像素,每一所述光探测单元对应于一所述显示子像素设置。
可选的,所述显示基板还包括封装基板,所述封装基板位于所述光探测层远离所述第二消光件的一侧,且所述光探测层设置于所述封装基板上。
可选的,所述显示基板还包括衬底基板,所述衬底基板位于所述显示结构层与所述第一消光件之间,或者,所述衬底基板位于所述第一消光件远离所述显示结构层的一侧。
可选的,所述第二消光件中靠近所述显示结构层的一面覆设有粘接层,所述粘接层用于固定所述第二消光件与所述显示结构层。
根据本发明实施例的第二方面,提供一种显示面板,所述显示面板包括如上所述的显示基板。
上述实施例的显示基板及包含其的显示面板,通过设置相互配合所述第一消光件与所述第二消光件,能够消除到达光探测层的环境光线,使光探测层对发光层所发出的光线的检测不受环境光线的干扰,即达到屏蔽环境光线的效果,从而能够更为精准地检测发光层的发光强度。
附图说明
图1是本发明实施例1的显示基板的剖面结构示意图。
图2是本发明实施例1的偏振片的工作原理图。
图3是本发明实施例2的显示基板的剖面结构示意图。
附图标记说明
第一消光件10
第一偏振片11
第一波片12
衬底基板20
显示结构层30
像素电路层31
发光结构层32
发光层321
显示子像素3211
阴极322
第二消光件40
第二偏振片41
第二波片42
光探测层50
光探测单元51
封装基板60
粘接层70
箭头方向A
偏振片B
箭头方向D
箭头方向O
光线L
具体实施方式
这里将详细地对示例性实施例进行说明,其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时,除非另有表示,不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反,它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置的例子。
在本申请使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的,而非旨在限制本申请。除非另作定义,本申请使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本申请说明书以及权利要求书中使用的“一个”或者“一”等类似词语也不表示数量限制,而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似词语意指出现在“包括”或者“包含”前面的元件或者物件涵盖出现在“包括”或者“包含”后面列举的元件或者物件及其等同,并不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接,而且可以包括电性的连接,不管是直接的还是间接的。“多个”包括两个,相当于至少两个。在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解,本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。
实施例1
请结合图1予以理解,本实施案例提供一种显示基板。所述显示基板包括依次层叠设置的第一消光件10、衬底基板20、显示结构层30、第二消光件40、光探测层50和封装基板60。
显示结构层30包括由远离第二消光件40至靠近第二消光件40方向层叠设置的像素电路层31和发光结构层32。发光结构层32包括由远离第二消光件40至靠近第二消光件40方向依次层叠设置的阳极、发光层321和阴极322,阴极322可透光。
光探测层50设置于封装基板60上。光探测层50用于检测显示结构层30的发光强度。具体地,光探测层50用于检测发光结构层32的发光层321的发光强度。在本实施例中,光探测层50包括多个光探测单元51,发光层321包括多个按阵列排列的显示子像素3211,每一光探测单元51对应于一显示子像素3211设置。这样,通过光探测单元对应于显示子像素设置,能够更好对其发光强度进行检测。
第一消光件10和第二消光件40相对设置,且第一消光件10与第二消光件40配合用于消除到达光探测层50的环境光线。第二消光件40中靠近显示结构层30的一面覆设有粘接层70,粘接层70用于固定第二消光件40与显示结构层30。粘接层70的材料为透明光学胶。
在本实施例中,第一消光件10包括第一偏振片11,第二消光件40包括第二偏振片41,第一偏振片11的偏振方向与第二偏振片41的偏振方向垂直。第一偏振片11和第二偏振片41均为偏振片。偏振片作为一种光学器件,可以将自然光变成线偏振光。每个偏振片都有一个透光轴,自然光经过偏振片后会变成偏振方向平行于透光轴方向的线偏振光。偏振片的工作原理如图2所示,箭头方向A表示偏振片B的偏振方向,当图中左边带有X轴及Y轴方向的光线通过偏振片B后,将变成与该偏振片B的偏振方向相同的Y轴方向的光线。对于线偏振光,如果它的偏振方向平行于透光轴,就可以完全透过偏振片;如果它的偏振方向垂直于透光轴,则不能透过偏振片。偏振片的透光轴方向可以通过旋转偏振片来改变。
当环境光线由显示基板的外部沿图1中的箭头方向O进入显示基板内部时,会依次通过第一偏振片11和第二偏振片41,而由于第一偏振片11和第二偏振片41的偏振方向垂直,从而环境光线无法通过,而避免了环境光线到达光探测层50。而对于发光层321发出的光线L,由于光线L通过第二偏振片41仍然能够到达光探测层50,因此,光探测层50能够对光线L进行测试。另外,图1中的箭头方向D为显示基板的显示方向。
在本实施例中,第一偏振片11和第二偏振片41不限于是光学膜材的偏振片,也可以是金属栅状结构等其他可以实现线偏振光的偏振效果的结构。
在制作显示基板时,在衬底基板20形成显示结构层30,再通过胶材将第一消光件10与衬底基板20粘接在一起;在封装基板60上形成光探测层50,再通过胶材将第二消光件40与光探测层50粘接在一起;通过粘接层70将显示结构层30与第二消光件40粘接在一起。所述胶材为透明光学胶。即,本实施例是通过封装基板60作为光探测层50的搭载载体,利用通过阴极322的发光层321所发出的光线进行发光检测。这样,在衬底基板20形成显示结构层30的工艺与在封装基板60上形成光探测层50的工艺可以不同,从而可以采用漏电流较小的像素电路层31的设计方案,而不需要同时考虑形成光探测层50的工艺。
在其他实施例中,衬底基板20也可以位于第一消光件10远离显示结构层30的一侧。即,在衬底基板20上先贴覆第一消光件10,再在第一消光件10上形成显示结构层30。也就是说,第一消光件10可以位于衬底基板20的外侧,也可以位于衬底基板20与显示结构层30之间。
本实施例还提供一种显示面板,所述显示面板包括如上所述的显示基板。
实施例2
如图3所示,本实施例的显示基板的整体结构基本和实施例1中的结构相同,其不同的之处在于,第一消光件10包括层叠设置的第一偏振片11和第一波片12,第一波片12位于第一偏振片11与显示结构层30之间。第二消光件40包括层叠设置的第二偏振片41和第二波片42,第二波片42位于第二偏振片41与显示结构层30之间。其中,第一波片12与第二波片42均为四分之一波片,第一偏振片11的偏振方向与第二偏振片41的偏振方向垂直,第一波片12的快轴与第二波片42的快轴垂直。第一偏振片11的偏振方向与第一波片12的快轴之间所形成的锐角夹角为45度,从而,通过第一偏振片11的线偏振光经过第一波片12后变为圆偏振光。
在显示基板的结构中,由于像素电路层31的材质一般为金属,当环境光线由外部入射进入显示基板的内部时,像素电路层31会对入射的环境光线产生反射而使该部分的环境光线显示在显示基板的外部,而干涉显示基板的显示效果。通过设置第一偏振片11和第一波片12可以避免入射的环境光线再被像素电路层31反射至外部。这是由于,入射进入显示基板的环境光线先经过第一偏振片11使变成与第一偏振片11偏振方向相同的线偏振光,该线偏振光通过第一波片12后变成圆偏振光,该圆偏振光被素电路层反射后再一次通过第一波片12又变为线偏振光,但由于偏振光线通过两次相同的四分之一波片后,其偏振方向会发生90度的转向,则该线偏振光变为与第一偏振片11偏振方向垂直的偏振光线,从而没有办法再通过第一偏振片11而反射至显示基板的外部。
为了消除继续进入显示基板的内部的环境光线(O箭头的方向),将第二波片42的快轴方向设置成与第一波片12的快轴方向垂直,这样在变成圆偏振光的环境光线在经过第二波片42后又变为线偏振光,由于偏振光线通过快轴垂直的两个四分之一波片后,其偏振方向不发生改变,则该线偏振光与第一偏振片11偏振方向是相同的,而与第二偏振片41的偏振方向垂直,从而无法通过第二偏振片41。这样,通过第一消光件10和第二消光件40的配合,屏蔽了环境光线到达光探测层50。而对于发光层321发出的光线L,由于光线L通过第二波片42和第二偏振片41仍然到达光探测层50,因此,光探测层50能够对光线L进行测试而不受环境光线的干扰,从而能够更为精准地检测发光层的发光强度。
需要说明的是,上述仅以第一偏振片11的偏振方向与第一波片12的快轴之间所形成的锐角夹角为45度为例对本申请实施例的消除环境光线到达光探测层50的技术方案进行说明,但本申请实施例并不限定于此,例如,第一偏振片的偏振方向与该第一波片的快轴之间所形成的锐角夹角还可以为30度等其他角度,也能够得到同样消除环境光线到达光探测层50的技术效果。还需要说明的是,在本申请实施例中第一波片12与第二波片42可以分别是由多块波片组合而成的四分之一波片,或者,也可以分别为一块单独的四分之一波片,本申请实施例对此不作特别限定。
在另一实施例中,也可以通过设置第一偏振片11的偏振方向与第二偏振片41的偏振方向平行,第一波片12的快轴与第二波片42的快轴平行,来实现屏蔽环境光线到达光探测层50。线偏振光通过第一波片12后变成圆偏振光,该圆偏振光通过第二波片42后又变为线偏振光,但由于偏振光线通过快轴平行的两个四分之一波片后,其偏振方向会发生90度的转向,则该线偏振光变为与第一偏振片11偏振方向垂直的偏振光线,而与第二偏振片41的偏振方向也垂直,从而该线偏振光没有办法通过第二偏振片41。而对于发光层321发出的光线L,由于光线L通过第二波片42和第二偏振片41仍然到达光探测层50,因此,光探测层50能够对光线L进行测试而不受环境光线的干扰,从而能够更为精准地检测发光层的发光强度。
以上所述仅为本申请的较佳实施例而已,并不用以限制本申请,凡在本申请的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请保护的范围之内。
Claims (11)
1.一种显示基板,其特征在于,所述显示基板包括依次层叠设置的第一消光件、显示结构层、第二消光件和光探测层,所述光探测层用于检测所述显示结构层的发光强度;
所述第一消光件和第二消光件相对设置,且所述第一消光件与所述第二消光件配合用于消除到达所述光探测层的环境光线。
2.如权利要求1所述的显示基板,其特征在于,所述第一消光件包括第一偏振片,所述第二消光件包括第二偏振片,所述第一偏振片的偏振方向与所述第二偏振片的偏振方向垂直。
3.如权利要求1所述的显示基板,其特征在于,
所述第一消光件包括层叠设置的第一偏振片和第一波片,所述第一波片位于所述第一偏振片与所述显示结构层之间;
所述第二消光件包括层叠设置的第二偏振片和第二波片,所述第二波片位于所述第二偏振片与所述显示结构层之间;
其中,所述第一波片与所述第二波片均为四分之一波片,所述第一偏振片的偏振方向与所述第二偏振片的偏振方向垂直,所述第一波片的快轴与所述第二波片的快轴垂直;
或者,所述第一偏振片的偏振方向与所述第二偏振片的偏振方向平行,所述第一波片的快轴与所述第二波片的快轴平行。
4.如权利要求3所述的显示基板,其特征在于,所述第一偏振片的偏振方向与所述第一波片的快轴之间所形成的锐角夹角为45度。
5.如权利要求1所述的显示基板,其特征在于,所述显示结构层包括由远离所述第二消光件至靠近所述第二消光件方向层叠设置的像素电路层和发光结构层,所述光探测层用于检测所述发光结构层的发光强度。
6.如权利要求5所述的显示基板,其特征在于,所述发光结构层包括由远离所述第二消光件至靠近所述第二消光件方向依次层叠设置的阳极、发光层和阴极,所述阴极可透光。
7.如权利要求6所述的显示基板,其特征在于,所述光探测层包括多个光探测单元,所述发光层包括多个按阵列排列的显示子像素,每一所述光探测单元对应于一所述显示子像素设置。
8.如权利要求1所述的显示基板,其特征在于,所述显示基板还包括封装基板,所述封装基板位于所述光探测层远离所述第二消光件的一侧,且所述光探测层设置于所述封装基板上。
9.如权利要求1所述的显示基板,其特征在于,所述显示基板还包括衬底基板,所述衬底基板位于所述显示结构层与所述第一消光件之间,或者,所述衬底基板位于所述第一消光件远离所述显示结构层的一侧。
10.如权利要求1所述的显示基板,其特征在于,所述第二消光件中靠近所述显示结构层的一面覆设有粘接层,所述粘接层用于固定所述第二消光件与所述显示结构层。
11.一种显示面板,其特征在于,所述显示面板包括如权利要求1-10中任意一项所述的显示基板。
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