CN110244212B - 有机发光二极管器件寿命测试系统和方法、光线测量装置 - Google Patents

有机发光二极管器件寿命测试系统和方法、光线测量装置 Download PDF

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Abstract

本发明公开一种有机发光二极管器件寿命测试系统和方法、光线测量装置。有机发光二极管器件寿命测试系统包括：导光组件，包括多个导光单元，各导光单元用于将对应的待测有机发光二极管器件的出射光导出；光线测量器，多个导光单元选择性连接至光线测量器，光线测量器用于测试连接至自身的导光单元的导出光线的绝对亮度；寿命分析仪，根据各导光单元的导出光线的绝对亮度得到各待测有机发光二极管器件的亮度变化曲线，以分析待测有机发光二极管器件的寿命。采用本发明实施例能够提高OLED器件寿命测试设备的测试准确度。

Description

有机发光二极管器件寿命测试系统和方法、光线测量装置
技术领域
本发明涉及有机发光二极管测试技术领域，尤其涉及一种有机发光二极管测试装置、寿命测试系统和寿命测试方法。
背景技术
目前，针对有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)器件的寿命测试设备主要采用光电二极管来探测OLED器件的相对亮度的衰减变化曲线。由于OLED器件存在差异性，各OLED器件的相对亮度的衰减变化曲线的起点亮度与寿命测试要求的初始亮度存在偏差。而OLED器件的寿命测试要求：探测OLED器件从初始亮度衰减至一个指定亮度的变化曲线，这里的亮度指的是OLED器件的真实亮度或者绝对亮度，因此，上述偏差会导致OLED器件寿命测试设备的测试准确度降低。
发明内容
本发明实施例提供了一种有机发光二极管器件寿命测试系统和方法、光线测量装置，能够提高OLED器件寿命测试设备的测试准确度。
第一方面，本发明实施例提供一种有机发光二极管器件寿命测试系统，该寿命测试系统包括：
导光组件，包括多个导光单元，各导光单元用于将对应的待测有机发光二极管器件的出射光导出；
光线测量器，多个导光单元选择性连接至光线测量器，光线测量器用于测试连接至自身的导光单元的导出光线的绝对亮度；
寿命分析仪，根据各导光单元的导出光线的绝对亮度得到各待测有机发光二极管器件的亮度变化曲线，以分析待测有机发光二极管器件的寿命。
在第一方面的一种可能的实施方式中，寿命测试系统进一步包括多路控制选用阀，用于将多个导光单元选择性连接至光线测量器。
在第一方面的一种可能的实施方式中，多路控制选用阀具有多个入口和一个出口，其中，多个入口与多个导光单元一一对应连接，出口与光线测量器连接；或者，多路控制选用阀具有多个子阀，每个子阀具有一个入口和一个出口，其中，入口与一个导光单元连接，出口与光线测量器连接。
在第一方面的一种可能的实施方式中，导光单元为光纤。
在第一方面的一种可能的实施方式中，寿命测试系统进一步包括光纤信号放大器，用于将光纤的导出光线进行信号放大。
在第一方面的一种可能的实施方式中，寿命测试系统进一步包括亮度校准模块，用于对光线测量器测得的导光单元的导出光线的绝对亮度进行亮度校准。
在第一方面的一种可能的实施方式中，光线测量器还用于测试连接至自身的导光单元的导出光线的色坐标。
在第一方面的一种可能的实施方式中，寿命测试系统进一步包括箱体，箱体具有多个密闭腔室，各密闭腔室与对应的导光单元连通，并将对应的待测有机发光二极管器件的出射光与相邻腔室隔离。
第二方面，本发明实施例提供一种有机发光二极管器件光线测试装置，该光线测试装置包括：导光组件，包括多个导光单元，各导光单元用于将对应的待测有机发光二极管器件的出射光导出；光线测量器，多个导光单元选择性连接至光线测量器，光线测量器用于测试连接至自身的导光单元的导出光线的绝对亮度。
第三方面，本发明实施例提供一种有机发光二极管器件寿命测试方法，用于如上所述的有机发光二极管器件寿命测试系统，该寿命测试方法包括：利用各导光单元将对应的待测有机发光二极管器件的出射光导出；由光线测量器测试连接至自身的导光单元的导出光线的绝对亮度；若绝对亮度与寿命测试要求的初始亮度的偏差超出预设偏差允许范围，则调整对应的待测有机发光二极管器件的驱动参数，直到绝对亮度与寿命测试要求的初始亮度的偏差处于预设偏差允许范围；保持调整后的驱动参数不变，根据各导光单元的导出光线的绝对亮度得到各待测有机发光二极管器件的亮度变化曲线，以分析待测有机发光二极管器件的寿命。
本发明实施例采用了光线测量器进行亮度测量，与光电二极管相比，由于光线测量器输出的是绝对亮度，因此，可以在开始寿命测试之前，直接将光线测量器输出的绝对亮度与寿命测试要求的初始亮度进行对比，如果光线测量器输出的绝对亮度与寿命测试要求的初始亮度的偏差超出预设允许范围时，可以及时对OLED器件的驱动参数进行调整，使光线测量器输出的绝对亮度与寿命测试要求的初始亮度的偏差处于预设范围内，从而满足寿命测试要求，提高OLED器件寿命测试设备的测试准确度。
另外，由于本发明实施例采用了导光组件，且导光组件包括多个导光单元，从而可以同时对多个OLED器件展开寿命测试，并且，通过选择性连接的方式，这多个OLED器件可以共用一个光线测量器，从而能够在测试准确度较高的前提下，占用较小的体积。
此外，本发明实施例中多个OLED器件共用一个光线测量器还能够达到节约成本，保证测量结果具有统一性的效果。
附图说明
从下面结合附图对本发明的具体实施方式的描述中可以更好地理解本发明，其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征。
图1为本发明第一实施例提供的OLED器件寿命测试系统的结构示意图；
图2为本发明第二实施例提供的OLED器件寿命测试系统的结构示意图；
图3为本发明第三实施例提供的OLED器件寿命测试系统的结构示意图；
图4为本发明第四实施例提供的OLED器件寿命测试系统的结构示意图；
图5为本发明第五实施例提供的OLED器件寿命测试系统的结构示意图；
图6为本发明第六实施例提供的OLED器件寿命测试系统的结构示意图；
图7为本发明第七实施例提供的OLED器件寿命测试系统的结构示意图；
图8为本发明实施例提供的OLED器件光线测试系统的结构示意图；
图9为本发明实施例提供的OLED器件寿命测试方法的流程示意图。
具体实施方式
下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例。在下面的详细描述中，提出了许多具体细节，以便提供对本发明的全面理解。
本发明实施例提供一种有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)器件寿命测试系统和方法、光线测量装置，采用本发明实施例中的技术方案，能够提高OLED器件寿命测试设备的测试准确度。
图1为本发明第一实施例提供的OLED器件寿命测试系统的结构示意图。如图1所示，该OLED器件寿命测试系统100包括导光组件101、光线测量器102和寿命分析仪103。
具体地，参看图2，导光组件101包括多个导光单元(1011～101n)，各导光单元用于将对应的待测OLED器件的出射光导出。这里的导光单元的数量反映了可同时展开寿命测试的OLED器件的数量。例如，假设导光单元的数量为10，则可同时对10个OLED器件展开寿命测试。
多个导光单元(1011～101n)可选择性连接至光线测量器102。
光线测量器102用于测试连接至自身的导光单元的导出光线的绝对亮度。与光电二极管不同，光电二极管仅能够测得光电流并需要通过光电流和亮度之间的映射关系将光电流转换为相对亮度，这里的光线测量器102输出的是绝对亮度，比如，1000cd/m2。
寿命分析仪103可以根据各导光单元的导出光线的绝对亮度得到各待测OLED器件的亮度变化曲线，以分析待测OLED器件的寿命。
例如，OLED器件的寿命测试要求：探测OLED器件从初始亮度衰减至一个指定亮度的变化曲线，这里的亮度指的是OLED器件的真实亮度或者绝对亮度。假设OLED器件的初始亮度为1000cd/m2，寿命指标T50表示基于恒定驱动电流(比如5mA)，OLED器件的亮度从1000cd/m2衰减至500cd/m2所用的时长，同理，寿命指标T90表示OLED器件的亮度从初始值100％衰减至90％所用的时长，比如从初始亮度值1000cd/m2衰减至900cd/m2所用的时长。
如上所述，本发明实施例采用了光线测量器102对OLED器件进行亮度测量，与光电二极管相比，由于光线测量器102输出的是绝对亮度，因此，可以在开始寿命测试之前，将光线测量器102输出的绝对亮度与寿命测试要求的初始亮度进行对比，如果光线测量器102输出的绝对亮度与寿命测试要求的初始亮度的偏差超出预设允许范围时，就可以通过及时对OLED器件的驱动参数进行调整，使光线测量器102输出的绝对亮度与寿命测试要求的初始亮度的偏差处于预设范围内，从而满足寿命测试要求，提高OLED器件寿命测试设备的测试准确度。
这里根据OLED器件驱动方式不同，驱动参数可以为电流或者电压。
另外，由于本发明实施例采用了导光组件101，且导光组件101包括多个导光单元(1011～101n)，从而可以同时对多个OLED器件展开寿命测试，并且，通过选择性连接的方式，这多个OLED器件可以共用一个光线测量器102，从而能够在测试准确度较高的前提下，占用较小的体积。
此外，多个OLED器件共用一个光线测量器102还能够达到节约成本，保证测量结果具有统一性的效果。
在一些实施例中，光线测量器102还能够测试连接至自身的导光单元的导出光线的色坐标。对应地，可以根据各导光单元的导出光线的色坐标得到各待测OLED器件的色坐标变化曲线，原则上，寿命测试期间色坐标应该保持不变，通过分析各待测OLED器件的色坐标变化曲线，可以反过来对OLED的工艺调整提供数据参考。
比如，亮度计就是一种测光和测色的计量仪器，其主要采用一对有一定距离的光孔接收固定立体角、固定投光面积的光通量，被测光源经物镜后在带孔(前光孔)反射镜上成像，其中一部分光经过反射镜上的小孔经后光孔到达接收器，并通过指针或数字表头显示亮度值(绝对亮度)和色坐标值。
图3为本发明第三实施例提供的OLED器件寿命测试系统的结构示意图。图3中的OLED器件寿命测试系统100进一步包括多路控制选用阀104，用于将多个导光单元(1011～101n)选择性连接至光线测量器102。
图3中示出的多路控制选用阀104具有多个入口(P1～Pn)和一个出口Po。其中，多个入口(P1～Pn)与多个导光单元(1011～101n)一一对应连接，一个出口Po与光线测量器102连接。多路控制选用阀104每次选择接通一个导光单元，并将该导光单元连接至光线测量器102。具体实施时，可以在多路控制选用阀104内部设置轮询规则，并按照预设的轮询规则每次选择接通一个导光单元。
在一些实施例中，如图4所示，多路控制选用阀104也可以具有多个子阀(1041～104n)，每个子阀具有一个入口和一个出口，每个子阀的入口与一个导光单元连接，出口与光线测量器102连接。具体实施时，多个子阀默认为关闭状态，每次可以选择打开一个子阀，以将该子阀对应的导光单元连接至光线测量器102。
在一些实施例中，导光单元可以为光纤。由于光纤具有一定的柔韧性，可弯曲，并能够灵活调整对空间的占用情况，因此，将光纤作为导光单元能够在空间有限的情况下，实现同时对多个OLED器件展开寿命测试。
图5为本发明第五实施例提供的OLED器件寿命测试系统的结构示意图。图5中示出的OLED器件寿命测试系统100进一步包括光纤信号放大器105，用于将光纤的导出光线进行信号放大，以补偿OLED器件的发射光在光纤中发生的衰减量，从而提高OLED器件寿命测试的准确度。
图6为本发明第六实施例提供的OLED器件寿命测试系统的结构示意图。图6中示出的OLED器件寿命测试系统100进一步包括亮度校准模块106，用于对光线测量器102测得的导光单元的导出光线的绝对亮度进行亮度校准。
例如，在选定光纤的型号和长度后，可以利用标准光源对光纤进行校准，得到OLED器件的发射光在光纤中发生的衰减量。假设衰减量为30％，且测得对应的导光单元的导出光线的绝对亮度为700cd/m2，可以亮度校准模块106将绝对亮度的输出结果调整至1000cd/m2，从而提高OLED器件寿命测试的准确度。
结合图5和图6可知，光纤信号放大器105和亮度校准模块106分别从不同角度对OLED器件的发射光在光纤中发生的衰减量进行补偿(校准)，本领域技术人员可以根据实际情况选择合适的补偿(校准)方式，此处不做限定。
图7为本发明第七实施例提供的OLED器件寿命测试系统的结构示意图。图7中示出的OLED器件寿命测试系统进一步包括箱体107，箱体107具有多个密闭腔室，各密闭腔室与对应的导光单元连通，并将对应的待测OLED器件的出射光与相邻腔室隔离。
这里的箱体107及其密闭腔室应可以采用全反射不透光材料，从而达到将对应的待测OLED器件的出射光与相邻腔室隔离的目的，避免相邻待测OLED器件的出射光发生串扰，影响OLED器件寿命测试的准确度。
具体实施时，箱体107、导光组件101、光线测量器102和寿命分析仪103可以是可拆卸设计，也可以是集成式设计，前者对体积占用更加灵活，后者的测试结果更具有稳定性，本领域技术人员可以根据实际情况选择合适的设计式，此处不做限定。
图8为本发明实施例提供的OLED器件光线测试装置的结构示意图，如图8所示，OLED器件光线测试装置800包括导光组件101和光线测量器102。
其中，导光组件101包括多个导光单元(1011～101n)，各导光单元用于将对应的待测OLED器件的出射光导出。多个导光单元(1011～101n)可选择性连接至光线测量器102，光线测量器102用于测试连接至自身的导光单元的导出光线的绝对亮度。
由于寿命分析仪103可以通过上位机或者处理器的形式实现，因此，与图1相比，图8省略了寿命分析仪103部分，这样基于导光组件101和光线测量器102组成的OLED器件光线测试装置就可以作为独立的实体设备，十分便携，该OLED器件光线测试装置能够测量OLED器件的绝对亮度，并支持同时对多个OLED器件展开亮度测试。
当有寿命测试需求时，该OLED器件光线测试装置也可以通过与上位机或者处理器连接，将各导光单元的导出光线的绝对亮度输出至所述上位机或者处理器，得到各待测OLED器件的亮度变化曲线，以分析待测OLED器件的寿命，十分方便。
图9为本发明实施例提供的OLED器件寿命测试方法的流程示意图，用于如上文所述的OLED器件寿命测试系统100。如图9所示，该寿命测试方法包括步骤901至步骤904。
在步骤901中，利用各导光单元将对应的待测OLED器件的出射光导出。
在步骤902中，由光线测量器102测试连接至自身的导光单元的导出光线的绝对亮度。
在步骤903中，若绝对亮度与寿命测试要求的初始亮度的偏差超出预设偏差允许范围，则调整对应的待测OLED器件的驱动参数，直到绝对亮度与寿命测试要求的初始亮度的偏差处于预设偏差允许范围。
在步骤904中，保持调整后的驱动参数不变，根据各导光单元的导出光线的绝对亮度得到各待测OLED器件的亮度变化曲线，以分析待测OLED器件的寿命。
如上所述，本发明实施例采用了光线测量器102对OLED器件进行亮度测量，与光电二极管相比，由于光线测量器102输出的是绝对亮度，因此，可以在开始寿命测试之前，将光线测量器102输出的绝对亮度与寿命测试要求的初始亮度进行对比，如果光线测量器102输出的绝对亮度与寿命测试要求的初始亮度的偏差超出预设允许范围时，就可以通过及时对OLED器件的驱动参数进行调整，使光线测量器102输出的绝对亮度与寿命测试要求的初始亮度的偏差处于预设范围内，从而满足寿命测试要求，提高OLED器件寿命测试设备的测试准确度。
需要明确的是，本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同或相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。对于装置实施例而言，相关之处可以参见方法实施例的说明部分。本发明实施例并不局限于上文所描述并在图中示出的特定步骤和结构。本领域的技术人员可以在领会本发明实施例的精神之后，作出各种改变、修改和添加，或者改变步骤之间的顺序。并且，为了简明起见，这里省略对已知方法技术的详细描述。
以上所述的结构框图中所示的功能块可以实现为硬件、软件、固件或者它们的组合。当以硬件方式实现时，其可以例如是电子电路、专用集成电路(ASIC)、适当的固件、插件、功能卡等等。当以软件方式实现时，本发明实施例的元素是被用于执行所需任务的程序或者代码段。程序或者代码段可以存储在机器可读介质中，或者通过载波中携带的数据信号在传输介质或者通信链路上传送。“机器可读介质”可以包括能够存储或传输信息的任何介质。机器可读介质的例子包括电子电路、半导体存储器设备、ROM、闪存、可擦除ROM(EROM)、软盘、CD-ROM、光盘、硬盘、光纤介质、射频(RF)链路，等等。代码段可以经由诸如因特网、内联网等的计算机网络被下载。
本发明实施例可以以其他的具体形式实现，而不脱离其精神和本质特征。例如，特定实施例中所描述的算法可以被修改，而系统体系结构并不脱离本发明实施例的基本精神。因此，当前的实施例在所有方面都被看作是示例性的而非限定性的，本发明实施例的范围由所附权利要求而非上述描述定义，并且，落入权利要求的含义和等同物的范围内的全部改变从而都被包括在本发明实施例的范围之中。

Claims (8)

1.一种有机发光二极管器件寿命测试系统，其特征在于，包括：
导光组件，包括多个导光单元，各所述导光单元用于将对应的待测有机发光二极管器件的出射光导出，所述导光单元为光纤；
光线测量器，所述多个导光单元选择性连接至所述光线测量器，所述光线测量器用于测试连接至自身的所述导光单元的导出光线的绝对亮度，其中，在开始寿命测试之前，所述光线测量器输出的绝对亮度与寿命测试要求的初始亮度的偏差在预设范围内；
寿命分析仪，根据各所述导光单元的导出光线的绝对亮度得到各所述待测有机发光二极管器件的亮度变化曲线，以分析所述待测有机发光二极管器件的寿命；
光纤信号放大器，用于将所述光纤的导出光线进行信号放大，以补偿所述待测有机发光二极管器件的发射光在所述光纤中发生的衰减量。
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，进一步包括多路控制选用阀，用于将所述多个导光单元选择性连接至所述光线测量器。
3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，
所述多路控制选用阀具有多个入口和一个出口，其中，所述多个入口与所述多个导光单元一一对应连接，所述出口与所述光线测量器连接；
或者，
所述多路控制选用阀具有多个子阀，每个子阀具有一个入口和一个出口，其中，所述入口与一个导光单元连接，所述出口与所述光线测量器连接。
4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，进一步包括亮度校准模块，用于对所述光线测量器测得的所述导光单元的导出光线的绝对亮度进行亮度校准。
5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述光线测量器还用于测试连接至自身的所述导光单元的导出光线的色坐标。
6.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，进一步包括箱体，所述箱体具有多个密闭腔室，各所述密闭腔室与对应的导光单元连通，并将对应的待测有机发光二极管器件的出射光与相邻腔室隔离。
7.一种有机发光二极管器件光线测试装置，其特征在于，包括：
导光组件，包括多个导光单元，各所述导光单元用于将对应的待测有机发光二极管器件的出射光导出，所述导光单元为光纤；
光线测量器，所述多个导光单元选择性连接至所述光线测量器，所述光线测量器用于测试连接至自身的所述导光单元的导出光线的绝对亮度，其中，在开始寿命测试之前，所述光线测量器输出的绝对亮度与寿命测试要求的初始亮度的偏差在预设范围内；
光纤信号放大器，用于将所述光纤的导出光线进行信号放大，以补偿所述待测有机发光二极管器件的发射光在所述光纤中发生的衰减量。
8.一种有机发光二极管器件寿命测试方法，其特征在于，用于如权利要求1-6任意一项所述的有机发光二极管器件寿命测试系统，所述方法包括：
利用各所述导光单元将对应的待测有机发光二极管器件的出射光导出；
由所述光线测量器测试连接至自身的所述导光单元的导出光线的绝对亮度；
若所述绝对亮度与寿命测试要求的初始亮度的偏差超出预设偏差允许范围，则调整对应的待测有机发光二极管器件的驱动参数，直到所述绝对亮度与寿命测试要求的初始亮度的偏差处于所述预设偏差允许范围；
保持调整后的驱动参数不变，根据各所述导光单元的导出光线的绝对亮度得到各所述待测有机发光二极管器件的亮度变化曲线，以分析所述待测有机发光二极管器件的寿命。
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