KR20150100114A - 광소자의 실시간 열화 특성 및 광학 특성의 시험을 위한 테스트 장치 - Google Patents

광소자의 실시간 열화 특성 및 광학 특성의 시험을 위한 테스트 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 광소자의 실시간 열화 특성과 광학 특성의 시험을 위한 테스트 장치에 관한 것이고, 구체적으로 일련의 자동화가 된 과정을 통하여 다수 개의 광소자의 열화 특성 및 광학 특성을 실시간으로 연속적으로 측정할 수 있도록 하는 광소자의 실시간 열화 특성 및 광학 특성의 시험을 위한 테스트 장치에 관한 것이다. 광소자의 특성 시험을 위한 테스트 장치(10)는 다수 개의 측정 슬롯(113a)이 형성된 매거진(113); 각각의 측정 슬롯(113a)에 결합 및 분리가 가능하면서 시험 대상이 되는 광소자가 배치된 소자 트레이(TB); 상기 소자 트레이(TB)를 상기 측정 슬롯(113a)으로 이송시키는 로봇 암(12); 상기 소자 트레이(TB)의 이송 경로에 설치되는 광학 측정 유닛(13); 및 제어 유닛(15)을 포함한다.

Description

광소자의 실시간 열화 특성 및 광학 특성의 시험을 위한 테스트 장치{Apparatus for Aging and Optical Test of Photonics Devices in Real Time}
본 발명은 광소자의 실시간 열화 특성과 광학 특성의 시험을 위한 테스트 장치에 관한 것이고, 구체적으로 일련의 자동화가 된 과정을 통하여 다수 개의 광소자의 열화 특성 및 광학 특성을 실시간으로 연속적으로 측정할 수 있도록 하는 광소자의 실시간 열화 특성 및 광학 특성의 시험을 위한 테스트 장치에 관한 것이다.
엘이디(LED), 유기 발광 다이오드(OLED), 레이저 다이오드(LD) 또는 포토다이오드(PD)와 같은 광소자는 개발과정이나 생산 과정에서 또는 생산된 이후, 열화 특성(aging property) 또는 광학 특성이 시험될 필요가 있다. 일반적으로 광소자 시험은 각각의 특성이 별개로 시험이 되고 그리고 다수 개의 샘플에 대하여 수작업으로 이루어지거나 자동화가 된 공정으로 이루어질 수 있다.
광소자의 검사와 관련된 선행기술로 특허공개번호 제2013-0023422호 ‘엘이디 테스트 시스템 및 엘이디 테스트 방법’이 있다. 상기 선행기술은 엘이디 온도를 변화시키는 히터 부분; 상기 히터부에 의해 변화된 상기 엘이디의 온도를 측정하는 온도 측정 부분; 상기 엘이디의 품질을 시험하는 품질 테스터 부분을 포함하고, 상기 히터는 소정의 커버를 구비한 가열 존 내부에 설치되어 상기 엘이디 하면에 접촉하여 상기 엘이디를 가열하거나 발열하도록 하는 가열 플레이트로 이루어지고, 상기 온도 측정 부분은 가열 존 내부에 설치된 파장 대역이 7.4 ㎛, 온도 분해 능력이 0.03 ℃ ~ 30 ℃, 프레임 속도가 50 내지 60 Hz가 되고 실시간으로 데이터를 전송할 수 있는 열화상 카메라가 되고, 상기 품질 테스트 부분은 구형의 적분구와 상기 적분구의 하부로 상기 엘이디를 제공하는 회전 테이블로 구성되며, 상기 적분구는 그 내면에 구비된 광 검출기에 의해 상기 엘이디에서 방출되는 광을 검출하여 이로부터 휘도, 광속, 조도, 분광 분포 또는 색온도 중 하나 이상의 광학 특성을 테스트하고, 상기 엘이디는 실리콘 돔이 제거된 상태로 테스트가 되는 것을 특징으로 하는 엘이디 테스트 시스템에 대하여 개시한다.
광소자의 검사와 관련된 다른 선행기술로 특허공개번호 제2011-0003054호 ‘엘이디 피로 테스트 시스템’이 있다. 상기 선행기술은 엘이디가 차례대로 이송되도록 경사지게 설치되는 슬라이드 장치; 상기 엘이디에 열을 가하는 가열 수단; 열에 노출된 상기 엘이디에 대하여 점등 테스트를 하는 검사 장치; 테스트 결과에 따라 정상 또는 불량을 분류하는 분류 장치; 및 제어 장치로 이루어진 엘이디 피로 테스트 시스템에 대하여 개시한다.
상기 선행기술 또는 공지 기술은 열화 특성 및 광도 특성이 동시에 시험되도록 하면서 이와 동시에 다수 개의 광소자에 대한 다양한 전기 특성이 실시간으로 동시에 시험이 가능하도록 하는 광소자 검사 방법 또는 장치에 대하여 개시하지 않는다.
본 발명은 상기 선행기술이 가진 문제점을 해결하기 위한 것으로 아래와 같은 목적을 가진다.
선행문헌1: 특허공개번호 제2013-0023422호((주)에이피텍, 2013년03월08일 공개) 엘이디 테스트 시스템 및 엘이디 테스트 방법 선행문헌2: 특허공개번호 제2011-0003054호(주식회사 한라정밀엔지니어링, 2011년01월11일 공개) 엘이디 피로 테스트 시스템
본 발명의 목적은 다수 개의 광소자의 다양한 특성의 검사가 연속적으로 또는 동시에 가능하도록 하는 광소자의 실시간 열화 특성 및 광학 특성의 시험을 위한 테스트 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 적절한 실시 형태에 따르면, 광소자의 특성 시험을 위한 테스트 장치는 다수 개의 측정 슬롯이 형성된 매거진; 각각의 측정 슬롯에 결합 및 분리가 가능하면서 시험 대상이 되는 광소자가 배치된 소자 트레이; 상기 소자 트레이를 상기 측정 슬롯으로 이송시키는 로봇 암; 상기 소자 트레이의 이송 경로에 설치되는 광학 측정 유닛; 및 제어 유닛을 포함한다.
본 발명의 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 다수 개의 측정 슬롯은 수직 방향으로 배열되고 그리고 상기 로봇 암은 상기 소자 트레이를 수직 방향으로 이동시키기 위한 제1 가이드 및 수평 방향으로 이동시키기 위한 제2 가이드를 포함한다.
본 발명의 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 상기 측정 슬롯에서 광소자의 열화 특성이 측정되고 그리고 광학 측정 유닛에 의하여 광소자의 휘도를 비롯한 다양한 광학 특성이 측정될 수 있다.
본 발명의 또 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 상기 각각의 측정 슬롯에 클램프 블록(35)이 설치되고 그리고 소자 트레이에 상기 클램프에 결합 및 분리가 가능한 결합 블록이 설치되어 소자 트레이가 각각의 측정 슬롯에 결합 또는 분리가 된다.
본 발명에 따른 장치는 광소자의 특성 시험이 연속 공정으로 이루어지도록 하는 것에 의하여 검사 효율이 향상되도록 한다는 이점을 가진다. 또한 본 발명에 따른 장치는 소자 트레이에 광소자를 고정시키고 그리고 소자 트레이를 검사 시험 모듈과 연결시키는 것에 의하여 검사 신뢰성이 향상되도록 한다는 장점을 가진다. 추가로 본 발명에 따른 장치는 광소자의 신뢰성 평가시험에서 기존에 열화 시험과 광학 특성 시험이 분리되어 많은 시간이 소요되고 테스트 샘플의 이동 과정에서 발생되는 오염 또는 특성 변화와 같은 문제점이 해결되도록 한다는 장점을 가진다. 또한 시험 과정에서 작업자의 숙련도에 의존하지 않도록 하는 것에 의하여 검사의 표준화가 가능하도록 한다는 장점을 가진다.
도 1a 및 도 1b는 본 발명에 따른 테스트 장치의 실시 예를 도시한 것이다.
도 2는 본 발명에 따른 테스트 장치의 작동 구조에 대한 실시 예를 블록 다이어그램으로 도시한 것이다.
도 3a, 3b 및 도 3c는 본 발명에 따른 테스트 장치에 적용 가능한 소자 트레이의 실시 예를 도시한 것이다.
아래에서 본 발명은 첨부된 도면에 제시된 실시 예를 참조하여 상세하게 설명이 되지만 실시 예는 본 발명의 명확한 이해를 위한 것으로 본 발명은 이에 제한되지 않는다. 아래의 설명에서 서로 다른 도면에서 동일한 도면 부호를 가지는 구성요소는 유사한 기능을 가지므로 발명의 이해를 위하여 필요하지 않는다면 반복하여 설명이 되지 않으며 공지의 구성요소는 간략하게 설명이 되거나 생략이 되지만 본 발명의 실시 예에서 제외되는 것으로 이해되지 않아야 한다.
도 1a 및 도 1b는 본 발명에 따른 테스트 장치의 실시 예를 도시한 것이다.
도 1a 및 도 1b를 참조하면, 본 발명에 따른 광소자의 특성 시험을 위한 테스트 장치(10)는 다수 개의 측정 슬롯(113a)이 형성된 매거진(113); 각각의 측정 슬롯(113a)에 결합 및 분리가 가능하면서 시험 대상이 되는 광소자가 배치된 소자 트레이(TB); 상기 소자 트레이(TB)를 상기 측정 슬롯(113a)으로 이송시키는 로봇 암(12); 상기 소자 트레이(TB)의 이송 경로에 설치되는 광학 측정 유닛(13); 및 제어 유닛(15)을 포함한다.
본 발명에 따른 테스트 장치(10)는 엘이디(LED), 유기 발광 다이오드(OLED), 레이저 다이오드(LD) 또는 포토다이오드(PD)와 같은 광소자를 포함하는 임의의 광소자 특성 시험에 적용될 수 있다. 또한 본 발명에 따른 테스트 장치(10)에서 열화 시험(aging test), 전기 특성 시험 및 광학 특성 시험을 비롯한 광소자와 관련된 임의의 시험이 진행될 수 있고 본 발명은 시험의 종류에 제한되지 않는다. 각각의 시험은 이 분야에서 공지된 방법에 따라 또는 본 발명에 따른 테스트 장치(10)의 구조에 따라 적절하게 진행될 수 있다. 또한 본 발명에 따른 테스트 장치(10)는 실시간으로 시험이 진행될 수 있도록 한다. 구체적으로 예를 들어 유기 발광 소자의 시험을 위하여 샘플이 준비될 수 있다. 그리고 준비된 샘플에 대하여 전력을 공급하여 연속적으로 열화를 시키면서 실시간으로 전기적 특성 변화를 측정하여 수명을 평가할 수 있다. 또한 필요에 따라 매거진(113) 또는 측정 슬롯(113a)의 온도가 제어될 수 있다. 온도 제어를 위하여 열풍 장치 또는 가열 플레이트가 설치될 수 있고 이와 같은 온도 제어는 전류의 인가와 동시에 이루어질 수 있다. 이후 다시 광학 장치에서 광학 특성이 시험되고 그리고 다시 열화 시험에 이루어질 수 있다. 본 발명에 따르면 이와 같은 일련의 공정이 다수 개의 샘플에 대하여 연속적으로 진행이 되고 그리고 자동으로 제어될 수 있다. 다양한 광소자에 대하여 동일 또는 유사한 방법으로 그리고 필요에 따라 서로 다른 방법으로 다양한 특성이 시험될 수 있다.
본 발명에 따른 테스트 장치(10)는 각각의 장치가 설치된 상부 하우징(H1)과 하부 하우징(H2); 상부후 하우징(H1)의 내부에 설치되는 소자 측정 모듈(11) 및 광학 측정 유닛(13); 소자 측정 모듈(11) 또는 광학 측정 유닛(12)으로 광소자를 이동시키는 로봇 암(12); 및 로봇 암(12)의 작동 및 광소자의 측정 과정을 제어하면서 각각의 장치 또는 모듈과 데이터 통신이 가능한 제어 유닛(15)을 포함할 수 있다.
상부 하우징(H1) 또는 하부 하우징(H2)은 내부에 장치의 설치가 가능한 예를 들어 육면체 구조와 같은 임의의 형상을 가질 수 있다. 상부 하우징(H1)과 하부 하우징(H2)은 설치의 편의를 위한 것으로 예를 들어 상부 하우징(H1)에 측정과 관련된 장치가 설치될 수 있고 그리고 하부 하우징(H2)에 전력 공급 유닛이 설치될 수 있다. 상부 하우징(H1) 또는 하부 하우징(H2)이 반드시 구분되어야 하는 것은 아니며 설치 편의에 따라 다양한 구조로 형성될 수 있다.
소자 측정 모듈(11)은 예를 들어 광소자의 열화 특성과 같은 것을 측정하기 위한 장치로 상부 하우징(H1)에 설치되는 고정 프레임(111), 고정 프레임(111)에 결합되고 한쪽 면이 개방된 매거진(113) 및 매거진(113)의 방향을 조절하기 위한 조정 유닛(112)을 포함할 수 있다. 고정 프레임(111)은 매거진(113)의 고정 및 방향 조절이 가능한 임의의 형상을 가질 수 있다. 그리고 매거진(113)에 다수 개의 측정 슬롯(113a)이 형성될 수 있고 각각의 측정 슬롯(113a)에 소자 트레이(TB)가 결합되어 고정될 수 있다. 매거진(113)은 소자 트레이(TB)의 결합 및 분리를 위한 개방 면을 가질 수 있고 각각의 측정 슬롯(113a)은 매거진(113)의 내부에 예를 들어 수직으로 배열될 수 있다. 매거진(113)의 구조 또는 측정 슬롯(113a)의 배열 구조는 다양한 형태로 만들어질 수 있고 본 발명은 제시된 실시 예에 제한되지 않는다. 소자 트레이(TB)는 각각의 측정 슬롯(113a)에 장착되고 그리고 소자 트레이(TB)에 배치된 각각의 광소자가 측정 슬롯(113a)에 고정된 상태에서 시험될 수 있다. 측정 슬롯(113)에 슬라이딩 가이드가 설치될 수 있고 그리고 소자 트레이(TB)는 판형 구조로 슬라이딩 가이드를 따라 이동 가능한 구조로 형성될 수 있다. 측정 슬롯(113)는 소자 트레이(TB)의 고정 및 시험이 가능한 임의의 구조를 가질 수 있고 본 발명은 제시된 실시 예에 제한되지 않는다.
소자 트레이(TB)에 측정이 되어야 할 적어도 하나의 광소자가 배치될 수 있고 그리고 소자 트레이(TB)는 로봇 암(12)에 의하여 이동될 수 있다. 로봇 암(12)에 트레이 이송 유닛(121)이 설치될 수 있고 그리고 트레이 이송 유닛(121)의 이동을 위한 가이드 유닛이 설치될 수 있다.
도 1b를 참조하면, 상부 하우징(H1)에 고정 부재(F)가 설치될 수 있고 그리고 고정 부재(F)를 따라 선형 가이드와 같은 수직 가이드(123)가 설치될 수 있다. 그리고 수직 가이드(123)를 따라 상하 이동이 가능한 수평 가이드(125)가 설치될 수 있다. 예를 들어 수평 가이드(123)는 제1 브래킷(123a)에 연결되어 수직 가이드(123)를 따라 상하 이동이 가능하도록 설치될 수 있다. 트레이 이송 유닛(121)이 제2 브래킷(125a)에 의하여 수평 가이드(125)에 결합될 수 있다. 제2 브래킷(125a)은 수평 가이드(125)를 따라 이동 가능하도록 설치될 수 있다. 그리고 매거진(113)은 조정 유닛(112)에 의하여 개방 면이 조절될 수 있다. 소자 트레이(TB)는 트레이 이송 유닛(121)에 의하여 매거진(113)에 수용되거나 또는 매거진(113)으로부터 인출될 수 있다.
로봇 암(12)은 다양한 구조로 형성될 수 있고 본 발명은 제시된 실시 예에 제한되지 않는다.
소자 트레이(TB)의 이송 경로에 광학 측정 유닛(13)이 설치될 수 있다. 광학 측정 유닛(13)은 예를 들어 휘도 측정 유닛, 조도 측정 유닛 또는 분광계와 같은 것이 될 수 있다. 광학 측정 유닛(13)에 측정 소자(131)가 설치될 수 있고 그리고 측정 소자(131)는 소자 트레이(TB)의 이송 경로의 정해진 위치에 위치하는 광소자의 특성 측정이 가능하도록 설치될 수 있다. 필요에 따라 측정 소자(131)는 상하 이동 또는 회전이 가능하도록 설치될 수 있다. 광학 측정 유닛(13)이 소자 트레이(TB)의 이송 경로에 설치되는 것은 소자 측정 모듈(11)에서 광소자가 측정되기 전, 측정 과정에서 또는 측정이 된 이후 광 특성이 측정될 수 있도록 하기 위한 것이다. 소자 트레이(TB)는 다양한 이송 경로를 통하여 이송될 수 있고 필요에 따라 광학 측정 유닛(13)에 이르는 별도의 이송 경로가 형성될 수 있다. 그러므로 본 발명은 광학 측정 유닛(13)의 배치 위치에 의하여 제한되지 않는다.
전력 공급을 위한 다양한 장치 또는 측정과 관련된 부가적인 장치가 하부 하우징(H1)에 설치될 수 있다. 다만 이와 같은 장치가 반드시 하부 하우징(H1)에 배치되어야 하는 것은 아니다. 필요에 따라 이와 같은 장치는 하우징(H1, H2)의 외부에 설치될 수 있다.
본 발명에 따른 각각의 장치 또는 모듈의 작동 제어를 위한 제어 유닛(15)이 설치될 수 있다. 제어 유닛(15)은 예를 들어 중앙 처리 장치 또는 작동을 위한 다양한 프로그램을 포함할 수 있다. 또한 제어 유닛(15)은 각각의 장치와 데이터 통신이 가능하다. 본 발명은 다양한 형태의 제어 유닛(15)을 포함할 수 있고 그리고 장치의 작동 또는 제어를 위한 임의의 프로그램을 포함할 수 있다.
아래에서 본 발명에 따른 장치의 작동 구조에 대하여 설명된다.
도 2는 본 발명에 따른 테스트 장치의 작동 구조에 대한 실시 예를 블록 다이어그램으로 도시한 것이다.
도 2를 참조하면, 광소자(E)가 배치된 소자 트레이(TB)가 로봇 암(12)에 의하여 소자 검사 모듈(11)로 이동될 수 있다. 로봇 암(12)의 작동은 제어 유닛(15)에 의하여 제어될 수 있고 로봇 암(12)은 소자 트레이(TB)를 XYZ-축을 따라 이동시킬 수 있다. 소자 트레이(TB) 또는 소자 트레이(TB)에 적재된 광소자(E)와 관련된 정보가 채널(21)을 통하여 제어 유닛(15)으로 전달될 수 있다. 소자 트레이(TB)는 광소자(E)가 배치될 수 있는 적절한 구조를 가질 수 있고 광소자 각각 또는 다수 개의 광소자가 정렬된 단위 패널이 수용될 수 있는 구조를 가질 수 있다. 필요에 따라 소자 트레이(TB)에 소자 배치 패널이 설치될 수 있고 소자 배치 패널은 소자 트레이(TB)에 분리 가능한 구조를 가질 수 있다. 소자 배치 패널은 광소자의 종류에 따른 적절한 구조로 만들어질 수 있다. 다른 한편으로 소자 트레이(TB)는 시험 과정에서 측정과 관련하여 발생되는 신호를 제어 유닛(15)으로 전달할 수 있는 회로 패턴을 가질 수 있다.
소자 트레이(TB)는 소자 검사 모듈(11)에 배치된 배열 소켓(113)의 특정 측정 슬롯(113a)에 결합될 수 있다. 소자 트레이(TB)이 앞쪽에 전기 핀(P)이 형성될 수 있고 예를 들어 포고 핀(pogo pin)과 같은 것이 배치될 수 있다. 소자 트레이(TB)와 측정 슬롯(113a)은 예를 들어 푸시 앤 릴리스(Push and Release) 방식으로 결합 및 분리가 될 수 있다. 구체적으로 압력을 가하여 소자 트레이(TB)를 측정 슬롯(113a)으로 밀어 넣으면 소자 트레이(TB)가 측정 슬롯(113a)에 결합된다. 그리고 결합된 상태에서 다시 압력을 가하면 결합 상태가 해제되어 소자 트레이(TB)가 측정 슬롯(113a)으로부터 분리되어 꺼낼 수 있게 된다. 다양한 방법으로 소자 트레이(TB)가 측정 슬롯(113a)에 결합 또는 분리될 수 있고 본 발명은 제시된 실시 예에 제한되지 않는다.
소자 트레이(TB)가 측정 슬롯(113a)에 결합되면 열화 시험에 진행될 수 있다. 소자 검사 모듈(11)은 전력 고급 모듈로부터 열화 시험에 요구되는 전력 공급을 받을 수 있고 그리고 시험 과정에서 측정된 측정 관련 신호는 소자 트레이(TB)에 배치된 회로 패턴을 통하여 제어 유닛(15)으로 전달될 수 있다.
열화 시험 과정에서 예를 들어 휘도 측정이 요구되는 경우 로봇 암(12)에 의하여 소자 트레이(TB)가 측정 슬롯(113a)으로부터 분리될 수 있다. 소자 트레이(TB)는 광학 측정 유닛(13)으로 이동될 수 있고 일정 시간의 열화 후 광소자(E)의 휘도가 측정 소자(131)에 의하여 탐지될 수 있다. 광학 측정 유닛(13)에 예를 들어 비전 카메라와 같은 장치가 설치될 수 있고 그리고 소자 정렬 유닛(132)이 설치될 수 있다. 탐지된 신호 또는 영상은 제어 유닛(15)으로 전송되고 다시 열화 시험을 위하여 소자 트레이(TB)가 소자 검사 모듈(11)로 이동될 수 있다.
소자 검사 모듈(11)에 조정 유닛(112)이 설치되어 매거진(113)의 방향을 조절할 수 있다. 구체적으로 매거진(113)은 회전축(RS)에 의하여 설치 프레임(111)에 결합될 수 있고 그리고 회전축(RS)의 회전각이 조정 유닛(112)에 의하여 제어될 수 있다. 필요에 따라 회전축(RS)에 센서 및 축 고정 브래킷이 설치될 수 있다.
열화 시험 또는 광소자와 관련된 시험이 완료되면 소자 트레이(TB)는 로봇 암(12)에 의하여 분리되어 소자 검사 모듈(11)로부터 분리되어 정해진 위치로 배출될 수 있다.
본 발명에 따른 테스트 장치(10)는 다양한 방법으로 작동될 수 있고 제시된 실시 예에 제한되지 않는다.
아래에서 소자 트레이(TB)에 대하여 설명된다.
도 3a, 3b 및 도 3c는 본 발명에 따른 테스트 장치에 적용 가능한 소자 트레이(TB)의 실시 예를 도시한 것이다.
도 3a를 참조하면, 소자 트레이(TB)는 기판(31), 소자 배치 패널(311) 및 다수 개의 핀이 배치된 연결 슬롯(312) 및 접촉 패드(313)를 포함할 수 있다. 기판(31)은 예를 들어 사각 판형이 될 수 있지만 이에 제한되지 않고 위에서 설명이 된 검사 슬롯의 구조에 따른 적절한 형상을 가질 수 있다. 기판(31)은 예를 들어 인쇄 회로 기판과 유사한 배선 구조 또는 형상을 가질 수 있고 기판(31)에 적어도 하나의 소자 배치 패널(311)이 형성될 수 있다. 소자 배치 패널(311)에 시험이 되어야 할 적어도 하나의 광소자(E)가 배치될 수 있고 각각의 광소자(E)는 기판(31)에 형성된 배선과 연결될 수 있다.
기판(31)의 앞쪽에 측정 슬롯에 결합되는 연결 슬롯(312)이 형성되어 예를 들어 열화 시험을 위한 전기 신호가 전달될 수 있다. 소자 배치 패널(311)의 수는 특별히 제한되지 않으며 각각의 소자 배치 패널(311)에 배치되는 광소자의 수 또는 종류는 적절하게 선택될 수 있다. 접촉 패드(313)는 광학 특성의 시험 과정에서 포고 핀과 같은 연결 단자가 접촉되어 전기적으로 연결될 수 있도록 하기 위한 것으로 다양한 구조로 형성될 수 있다.
도 3b를 참조하면, 기판(31)의 앞쪽에 결합 블록(34a, 34b)이 형성될 수 있고 그리고 기판(31)의 뒤쪽에 결합 홀(311a, 311b)이 형성될 수 있다. 결합 블록(34a, 35b)에 체결 핀(341)이 형성되고 그리고 체결 핀(341)에 의하여 결합 블록(34a, 34b)은 측정 슬롯에 형성된 클램프 블록(35)에 결합될 수 있다. 다른 한편으로 결합 홀(311a, 311b)에 도 1a에서 설명된 이송 유닛의 핑거가 결합될 수 있다. 결합 블록(34a, 34b)은 소자 트레이(TB)를 검사 슬롯에 고정 및 분리하기 위한 것이며 결합 홀(311a, 311b)는 핑거가 결합되어 소자 트레이(TB)를 측정 슬롯으로 밀어 넣거나 또는 꺼내기 위한 것이다.
도 3b에 도시된 것처럼, 클램프 블록(35)은 시험 슬롯의 안쪽 끝 부분에 부착되는 고정 브래킷(351) 및 고정 브래킷(351)에 형성되어 결합 블록(34a, 34b)과 체결되는 클램프(352)로 이루어질 수 있다. 클램프(352)의 아래쪽 부분에 결합 블록(34a, 34b)을 유도하기 위한 유도 통로(353) 및 유도 통로(353)의 안쪽에 형성된 조정 블록(354)이 배치될 수 있다. 유도 통로(353)는 조정 블록(354)을 기준으로 제1 통로(355a) 및 제2 통로(355b)로 나누어질 수 있다.
체결 핀(341)은 결합 블록(34a, 34b)의 위쪽 부분에 상하 이동이 가능하도록 예를 들어 스프링과 같은 탄성 수단에 의하여 고정될 수 있다. 결합 블록(34a, 34b)이 유도 통로(353)으로 유입되면서 제1 통로(355a)를 통하여 체결 핀(341)이 결합 블록(34a, 34b)의 안쪽에 위치되고 이에 따라 소자 트레이(TB)가 측정 슬롯에 고정될 수 있다. 소자 트레이(TB)의 이송은 결합 홀(311a, 311b)에 이송 수단의 핑거가 결합되고 그리고 이송 수단이 로봇 암에 의하여 이동되는 방식으로 이루어질 수 있다.
소자 트레이(TB)를 측정 슬롯으로부터 분리하기 위하여 핑거에 의하여 안쪽으로 압력이 가해지면 조정 블록(341)이 이동하게 되고 이에 따라 제2 통로(355b)가 개방되면서 체결 핀(341)이 유도 통로(353)를 통하여 이동할 수 있게 된다. 로봇 암에 의하여 이송 수단이 이동되고 이에 따라 소자 트레이(TB)가 측정 슬롯으로부터 분리될 수 있다. 이와 같이 소자 트레이(TB)는 푸시 앤 릴리스 방식으로 측정 슬롯에 결합되거나 또는 측정 슬롯으로부터 분리될 수 있다.
소자 트레이(TB)는 다양한 방식으로 측정 슬롯에 결합 및 분리가 될 수 있고 본 발명은 제시된 실시 예에 제한되지 않는다.
도 3c를 참조하면, 기판(31)에 배선(W)이 형성될 수 있고 소자 배치 패널을 대신하여 소자 배치 지그(37)이 기판에 배치될 수 있다. 소자 배치 지그(37)의 내부에 다수 개의 광소자(E)가 배치될 수 있고 소자 배치 지그(37)은 기판에 분리 가능하도록 고정될 수 있다. 각각의 광소자(37)는 배선(W)을 통하여 제어 유닛과 전기적으로 연결될 수 있다. 필요에 따라 결합 블록(34a, 34b)을 서로 연결하는 고정 부재(38)가 설치될 수 있고 기판(31)에 전기 소자(316)가 배치될 수 있다. 소자 배치 지그(37)는 미리 준비될 수 있고 검사를 위하여 기판(31)에 부착될 수 있다. 광소자(E)는 다양한 방법으로 기판(31)에 배치될 수 있고 본 발명은 제시된 실시 예에 제한되지 않는다.
본 발명에 따른 장치는 광소자의 특성 시험이 연속 공정으로 이루어지도록 하는 것에 의하여 검사 효율이 향상되도록 한다는 이점을 가진다. 또한 본 발명에 따른 장치는 소자 트레이에 광소자를 고정시키고 그리고 소자 트레이를 검사 시험 유닛과 연결시키는 것에 의하여 검사 신뢰성이 향상되도록 한다는 장점을 가진다. 추가로 본 발명에 따른 장치에 광소자의 검사에 대한 표준화된 공정이 가능하도록 한다는 이점을 가진다.
위에서 본 발명은 제시된 실시 예를 참조하여 상세하게 설명이 되었지만 이 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 제시된 실시 예를 참조하여 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위에서 다양한 변형 및 수정 발명을 만들 수 있을 것이다. 본 발명은 이와 같은 변형 및 수정 발명에 의하여 제한되지 않으며 다만 아래에 첨부된 청구범위에 의하여 제한된다.
10: 테스트 장치 11: 소자 측정 모듈
12: 로봇 암 13: 광학 측정 유닛
15: 제어 유닛 21: 채널
31: 기판 34a, 34b: 결합 블록
35: 클램프 블록 37: 광소자
38: 고정 부재 113: 매거진
113a: 측정 슬롯

Claims (4)

  1. 광소자의 특성 시험을 위한 테스트 장치에 있어서,
    다수 개의 측정 슬롯(113a)이 형성된 매거진(113);
    각각의 측정 슬롯(113a)에 결합 및 분리가 가능하면서 시험 대상이 되는 광소자가 배치된 소자 트레이(TB);
    상기 소자 트레이(TB)를 상기 측정 슬롯(113a)으로 이송시키는 로봇 암(12);
    상기 소자 트레이(TB)의 이송 경로 상에 설치되는 광학 측정 유닛(13); 및
    제어 유닛(15)을 포함하는 광소자의 실시간 열화 특성 및 광학 특성의 시험을 위한 테스트 장치.
  2. 청구항 1에 있어서, 다수 개의 측정 슬롯(113a)은 수직 방향으로 배열되고 그리고 상기 로봇 암(12)은 상기 소자 트레이(TB)를 수직 방향으로 이동시키기 위한 제1 가이드 및 수평 방향으로 이동시키기 위한 제2 가이드를 포함하는 테스트 장치.
  3. 청구항 1에 있어서, 상기 측정 슬롯(113a)에서 광소자의 열화 특성이 측정되고 그리고 광학 측정 유닛(13)에 의하여 광소자의 휘도가 측정되는 것을 특징으로 하는 테스트 장치.
  4. 청구항 1에 있어서, 상기 각각의 측정 슬롯(113a)에 클램프 블록(35)이 설치되고 그리고 소자 트레이(TB)에 상기 클램프에 결합 및 분리가 가능한 결합 블록(34a, 34b)이 설치되어 소자 트레이(TB)가 각각의 측정 슬롯(113a)에 결합 또는 분리가 되는 것을 특징으로 하는 테스트 장치.
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