CN110238086B - 一种电子元件检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电子元件检测装置，包括机架、上料装置、检测机构和分拣机构，检测机构上设置有检测轨道，在检测轨道上通过输送装置对电子元件进行抓取输送，从而将电子元件沿检测轨道依次移动至与每组检测探针位置相对应，检测探针可检测电子元件的引脚电极，通过多组检测探针，将电子元件的所有引脚电极组合进行检测。之后电子元件移动至分拣机构上，通过系统控制分拣夹具夹持电子元件移动，如果电子元件存在质量问题，电子元件会在分拣夹具的作用下落入对应的分装箱内，而检测合格的电子元件会被分拣夹具直接输送出去，从而完成检测全过程。通过本方案，检测的过程全程自动化进行，省时省力，节省了大量的人力成本。

Description

一种电子元件检测装置

技术领域

本发明涉及检测领域，特别是一种电子元件检测装置。

背景技术

现在在电子领域内，各种电子元件是常用的零部件，这些电子元件大多都是将主要部件先进行封装，然后伸出电极引脚与其他元器件相连从而进行工作。然而存在的一个问题是，在电子元件生产完成后，不能确定电子元件的每个引脚是否都可以导通，如果存在某条引脚无法导通的话，这电子元件就是一个不良品。现有技术中，对电子元件的引脚电极进行检测一般是通过工人手持电极夹，然后对电子元件的引脚进行夹持判定，这种方式会消耗大量人力，而且存在误判的风险。而且判定的速度取决于每个工人的手速和经验。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明的目的在于提供一种可以自动对电子元件引脚电极的导通与否进行检测的电子元件检测装置。

本发明为解决问题所采用的技术方案是：一种电子元件检测装置，包括：

机架；

上料装置，所述上料装置位于机架的一侧；

检测机构，所述检测机构位于机架上，所述检测机构位于上料装置后方，所述检测机构上设置有一个承料台，所述上料装置用于将电子元件按规定的顺序输送至承料台上；

检测轨道，所述检测轨道位于检测机构上，所述承料台可将电子元件按规定方式运输至检测轨道上，所述检测轨道上设置有一输送装置，所述输送装置可抓取电子元件并驱动电子元件在检测轨道上移动，所述检测轨道下方设置有若干组检测探针，每组检测探针可与电子元件不同的引脚组合抵接；

分拣机构，所述分拣机构设置于检测机构后方，所述分拣机构上设置有分装箱，所述分拣机构上设置有分拣夹具，所述分拣夹具可带动电子元件在分拣机构上移动至相应的分装箱上，所述分装箱用于分装存在不同问题的电子元件。

作为上述技术方案的进一步改进，所述检测探针底部设置有升降结构，所述升降结构用于驱动检测探针上下移动，从而抵接或远离电子元件的引脚。

作为上述技术方案的进一步改进，所述上料装置与检测轨道错位布置，所述承料台设置于上料装置与检测轨道之间并可在其间进行往复运动，所述承料台靠近上料装置的一侧设置有至少一个承料槽，所述承料槽用于承接电子元件，所述承料槽的宽度不大于一个电子元件的宽度，承料槽在同一时间内只会与上料装置或检测轨道中的一个相配合，所述承料台的另一侧可封堵所述上料装置的末端。

作为上述技术方案的进一步改进，所述输送装置包括：

第一夹具，所述第一夹具上设置有至少两组夹持槽，所述夹持槽朝向下方，所述第一夹具可夹持电子元件并限制电子元件向上移动；

驱动装置，所述驱动装置可驱动第一夹具移动，所述驱动装置包括：

水平驱动器，所述第一夹具位于水平驱动器上，所述水平驱动器可带动第一夹具沿检测轨道的长度方向上移动；

垂直驱动器，所述水平驱动器设置于垂直驱动器上，所述垂直驱动器可带动水平驱动器沿竖直方向运动。

作为上述技术方案的进一步改进，所述检测轨道包括：

骑跨轨道，骑跨轨道两侧设置有依靠轨道，依靠轨道与骑跨轨道之间设置有容置槽，所述电子元件骑跨于所述骑跨轨道上，电子元件的引脚位于所述容置槽内。

作为上述技术方案的进一步改进，所述分拣机构包括一条分拣轨道，所述分拣轨道与检测轨道相接洽，所述分拣轨道的一侧或两侧沿长度方向设置有若干活动板，所述活动板与分拣轨道之间形成用于承接电子元件的承接槽，所述电子元件的两侧可承接于承接槽的两侧边，所述活动板可相对分拣轨道做前后运动从而扩大或缩小所述承接槽的宽度，所述分装箱位于所述承接槽下方，所述分装箱上设置有若干分装格，每个分装格与一块活动板相配合。

作为上述技术方案的进一步改进，所述分装箱位于机架下方，所述机架上设置有贯通上下的贯通槽，所述分拣轨道位于机架上方。

作为上述技术方案的进一步改进，所述分拣夹具包括：

驱动器；

第二夹具，所述第二夹具设置于驱动器上，所述驱动器可驱动第二夹具夹持电子元件并带动电子元件沿分拣轨道移动。

作为上述技术方案的进一步改进，所述第二夹具包括：

夹持板，所述夹持板一端连接在驱动器上，所述夹持板另一端开设有若干道夹槽，所述夹槽可将电子元件卡入其中并带动其沿分拣轨道移动。

作为上述技术方案的进一步改进，还包括一下料轨道，所述下料轨道与分拣轨道相接洽，所述下料轨道用于输送检测完成后质量达标的电子元件。

本发明的有益效果是：通过上料装置将待检测的电子元件运输至承料台上，然后承料台按规定的数量以及时间间隔将电子元件移动运输至检测轨道上，在检测轨道上通过输送装置对电子元件进行抓取输送，从而将电子元件沿检测轨道依次移动至与每组检测探针位置相对应，每组检测探针可检测一种排列组合的电子元件的引脚电极，通过多组检测探针，从而将电子元件的所有引脚电极组合进行检测。之后电子元件移动至分拣机构上，然后通过系统控制分拣夹具夹持电子元件移动，如果电子元件存在质量问题，当分拣夹具夹持电子元件移动至相应的分装箱上方时，电子元件会落入对应的分装箱内，而检测合格的电子元件会被分拣夹具直接输送出去，从而完成检测全过程。通过本方案，使检测的过程全程自动化进行，而且可以对存在不同问题的电子元件进行分类分装，省时省力，节省了大量的人力成本，而且速度更加稳定。

附图说明

下面结合附图说明和具体实施方式对本发明做进一步解释说明。

图1为本发明优选实施方式的结构示意图；

图2为本发明优选实施方式除去遮挡门的结构示意图；

图3为图2的E处局部放大结构示意图；

图4为本发明优选实施方式的正视图；

图5为图4的A-A方向剖解面结构示意图；

图6为图5的F处局部放大结构示意图；

图7为图4的B-B方向剖解面结构示意图；

图8为图7的G处局部放大结构示意图；

图9为图4的C-C方向剖解面结构示意图；

图10为图9的H处局部放大结构示意图；

图11为图4的D-D方向剖解面结构示意图；

图12为本发明优选实施方式中承料台的结构示意图；

图13为本发明优选实施方式中第一夹具的结构示意图；

图14为本发明优选实施方式中第二夹具的结构示意图。

具体实施方式

本部分将详细描述本发明的具体实施例，本发明之较佳实施例在附图中示出，附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述，使人能够直观地、形象地理解本发明的每个技术特征和整体技术方案，但其不能理解为对本发明保护范围的限制。

在本发明的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。

本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。

参照图1至图14，一种电子元件检测装置，包括：

机架50；

上料装置10，所述上料装置10位于机架50的一侧；

检测机构20，所述检测机构20位于机架50上，所述检测机构20位于上料装置10后方，所述检测机构20上设置有一个承料台201，所述上料装置10用于将电子元件60按规定的顺序输送至承料台201上；

检测轨道，所述检测轨道位于检测机构20上，所述承料台201可将电子元件60按规定方式运输至检测轨道上，所述检测轨道上设置有一输送装置，所述输送装置可抓取电子元件60并驱动电子元件60在检测轨道上移动，所述检测轨道下方设置有若干组检测探针，每组检测探针可与电子元件60不同的引脚组合抵接；

分拣机构30，所述分拣机构30设置于检测机构20后方，所述分拣机构30上设置有分装箱80，所述分拣机构30上设置有分拣夹具，所述分拣夹具可带动电子元件60在分拣机构30上移动至相应的分装箱80上，所述分装箱80用于分装存在不同问题的电子元件60。

通过上料装置10将待检测的电子元件60运输至承料台201上，然后承料台201按规定的数量以及时间间隔将电子元件60移动运输至检测轨道上，在检测轨道上通过输送装置对电子元件60进行抓取输送，从而将电子元件60沿检测轨道依次移动至与每组检测探针位置相对应，每组检测探针可检测一种排列组合的电子元件60的引脚电极，通过多组检测探针，从而将电子元件60的所有引脚电极组合进行检测。之后电子元件60移动至分拣机构30上，然后通过系统控制分拣夹具夹持电子元件60移动，如果电子元件60存在质量问题，当分拣夹具夹持电子元件60移动至相应的分装箱80上方时，电子元件60会落入对应的分装箱80内，而检测合格的电子元件60会被分拣夹具直接输送出去，从而完成检测全过程。通过本方案，使检测的过程全程自动化进行，而且可以对存在不同问题的电子元件60进行分类分装，省时省力，节省了大量的人力成本，而且速度更加稳定。

进一步进行改进，如果输送装置带动电子元件60在检测轨道上移动的同时，就能不断的每组检测探针相触碰，容易出现电子元件60的引脚被检测探针打弯的现象。为了防止电子元件60的引脚被检测探针打弯，在所述检测探针底部设置有升降结构71，所述升降结构71用于驱动检测探针上下移动，从而抵接或远离电子元件60的引脚。这样，当输送装置带动电子元件60移动至一组检测探针上方时，升降结构71带动检测探针上移，从而与电子元件60的引脚相接触，进而对电子元件60的引脚导通进行判断，判断完成后，升降结构71带动检测探针下移，从而远离引脚，之后输送装置再带动电子元件60移动至下一组检测探针的上方。从而可以防止电子元件60的引脚被检测探头70打弯，也可以防止电子元件60引脚长度不足时，检测探头70触碰不到引脚从而产生的误判。进一步进行改进，优选在检测探头70顶部还设置有一个压敏传感器，这样可以对检测探头70是否接触电子元件60引脚，以及对引脚产生多大的推力进行判断，防止检测探头70上移的量过大。

在上述说明中，所述输送装置优选为包括：

第一夹具202，所述第一夹具202上设置有至少两组夹持槽203，所述夹持槽203朝向下方，所述第一夹具202可夹持电子元件60并限制电子元件60向上移动；

驱动装置204，所述驱动装置204可驱动第一夹具202移动，所述驱动装置204包括：

水平驱动器304，所述第一夹具202位于水平驱动器304上，所述水平驱动器304可带动第一夹具202沿检测轨道的长度方向上移动；

垂直驱动器304，所述水平驱动器304设置于垂直驱动器304上，所述垂直驱动器304可带动水平驱动器304沿竖直方向运动。

使用时，驱动装置204带动第一夹具202做往复运动，第一夹具202上的第一组夹持槽203从承料台201上夹取第一组电子元件60，由于夹持槽203两侧板的限制作用，使驱动装置204带动第一夹具202做水平运动时，夹持槽203会带动电子元件60沿检测轨道的长度方向上运动，从而先将电子元件60移动至第一组检测探头70上方，检测探头70上移从而抵推电子元件60，这个时候，夹持槽203的底部起到了一个阻挡电子元件60继续上移的作用，从而防止检测探头70将电子元件60推出检测轨道上。当检测完成后，第一夹具202抬起，复位，使第一组夹持槽203回到承料台201上抓取下一组电子元件60，此时，第二组夹持槽203刚好与第一组电子元件60相配合，然后第一夹具202下移，从而使第二组夹持槽203夹持第一组电子元件60继续移动至第二组检测探头70上方进行第二组检测。通过这种往复运动，使整个过程中，每一组检测探头70都在对一组电子元件60进行检测，检测的效率更高。而且驱动装置204的运动更为简单，只需要做一个带有停顿性的往复运动即可，而夹持槽203的数量优选与检测探头70的组数相同。这种夹具也可以变种为在检测轨道旁边设置有一个环形传送带，传送带高于检测轨道，并且下半部分的传送带与检测轨道平行，传送带表面设置有上述的夹持槽203，然后传动带转动的同时，带动夹持槽203移动，传动带的一端刚好与承料台201的位置相对应，使从传动带一端的夹持槽203从传送带上半部分向下半部分移动时刚好夹持住承料台201上的电子元件60，然后移动至传送带的下半部分，在传动带的带动下，从而带动电子元件60在检测轨道上移动并进行检测。当然，输送装置也可以选用一个机械手抓取电子元件60，然后依次移动至每组检测探头70上进行检测，不过这种方式会产生较多的效率浪费。

进一步进行改进，所述上料装置10与检测轨道错位布置，所述承料台201设置于上料装置10与检测轨道之间并可在其间进行往复运动，所述承料台201靠近上料装置10的一侧设置有至少一个承料槽，所述承料槽用于承接电子元件60，所述承料槽的宽度不大于一个电子元件60的宽度，承料槽在同一时间内只会与上料装置10或检测轨道中的一个相配合，所述承料台201的另一侧可封堵所述上料装置10的末端，如图12所示。工作时，承料台201先移动至承料槽与上料装置10的末端，此时由于承料槽的存在，电子元件60会通过上料装置10的推动作用移动至承料槽内，然后承料台201移动，使承料台201的另一侧移动至上料装置10的末端，通过承料台201另一侧的表面对电子元件60进行限制，使电子元件60无法进一步移动，此时承料槽移动至与检测轨道相对应的位置，从而使电子元件60可以在第一夹具202的作用下，沿检测轨道移动，此时承料台201复位，使承料槽继续移动至上料装置10末端，从而承接下一组电子元件60。通过承料台201，有效的防止了上料装置10一次上料过多的问题。

进一步进行改进，所述检测轨道优选为包括：

骑跨轨道210，骑跨轨道210两侧设置有依靠轨道211，依靠轨道211与骑跨轨道210之间设置有容置槽212，所述电子元件60骑跨于所述骑跨轨道210上，电子元件60的引脚位于所述容置槽212内，如图6所示，从而可以良好的将电子元件60置于检测轨道上，使电子元件60的位置进一步被限制。

进一步进行改进，所述上料装置10包括上料轨道，上料轨道内设置有一道上料槽，所述上料槽内设置有上料传送带，上料传送带与上料槽的两个侧面不抵接，电子元件60通过上料装置10进行上料时，刚好可以骑跨在上料传送带上，如图1所示。

进一步进行改进，所述分拣机构30包括一条分拣轨道301，所述分拣轨道301与检测轨道相接洽，所述分拣轨道301的一侧或两侧沿长度方向设置有若干活动板302，所述活动板302与分拣轨道301之间形成用于承接电子元件60的承接槽303，所述电子元件60的两侧可承接于承接槽303的两侧边，所述活动板302可相对分拣轨道301做前后运动从而扩大或缩小所述承接槽303的宽度，所述分装箱80位于所述承接槽303下方，所述分装箱80上设置有若干分装格，每个分装格与一块活动板302相配合，此时检测轨道与承接槽303相接洽。当电子元件60经过检测后，沿检测轨道末端移动至承接槽303内，分拣夹具带动电子元件60在承接槽303内移动，此时电子元件60两端被承接槽303的两侧端缘限制，如果电子元件60的某些引脚存在问题，则当分拣夹具带动电子元件60移动至对应的分装格上时，与分装格对应的活动板302会相对于分拣轨道301向后移动，从而增大承接槽303的宽度，使电子元件60没办法再被承接槽303的两端缘抵接，从而落入分装格内，如果电子元件60没有问题的话，该电子元件60经过的路程上，所有的活动板302都不会移动，从而通过分拣夹具将电子元件60移动出分拣机构30。优选所述分装箱80位于机架50下方，所述机架50上设置有贯通上下的贯通槽，所述分拣轨道301位于机架50上方。

考虑到电子元件60的稳定性，优选在承接槽303的两个侧壁都设置有一个承接台阶，既活动板302和分拣轨道301相向的两个侧面各设置有一个承接台阶，电子元件60此时两端是骑在承接台阶上。

所述活动板302可相对于分拣轨道301移动的方式可以选择为在活动板302后方设置有一个驱动气缸，通过驱动气缸来驱动活动板302的移动。也可选择其他方式来进行驱动，比如通过涡轮蜗杆传动的方式带动活动板302移动等。

对于上述方案中，分拣夹具优选为包括：

驱动器304；

第二夹具，所述第二夹具设置于驱动器304上，所述驱动器304可驱动第二夹具夹持电子元件60并带动电子元件60沿分拣轨道301移动，第二夹具优选为夹持板305，所述夹持板305一端连接在驱动器304上，所述夹持板305另一端开设有若干道夹槽306，所述夹槽306可将电子元件60卡入其中并带动其沿分拣轨道301移动，如图14所示。在驱动过程中，驱动器304同样是带动加持板做往复运动，和第一夹具202的运动状态相同，再此不再做过多赘述。所述第二夹具在选用时，也可以选择与第一夹具202相同。

所述第二夹具也可以选择为通过机械臂将电子元件60夹持至与之匹配的分装格内。

进一步优选，还包括一下料轨道40，所述下料轨道40与分拣轨道301相接洽，所述下料轨道40用于输送检测完成后质量达标的电子元件60。所述下料轨道40可以选择与上料轨道相同的结构，只不过下料轨道40是将电子元件60向外输送，也可以选择现有技术中其他的下料轨道40方式。

在本方案中，考虑到分拣轨道301两侧都可以设置依靠轨道211，从而可以形成两道承接槽303，而且考虑到生产效率的问题，优选在检测机构20上设置有两道检测轨道，而与检测轨道对应的承料台201上也设置有两个承料槽，上料装置10上也设置有两道上料传送带。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (5)

1.一种电子元件检测装置，其特征在于，包括：机架(50)；上料装置(10)，所述上料装置(10)位于机架(50)的一侧；检测机构(20)，所述检测机构(20)位于机架(50)上，所述检测机构(20)位于上料装置(10)后方，所述检测机构(20)上设置有一个承料台(201)，所述上料装置(10)用于将电子元件(60)按规定的顺序输送至承料台(201)上；检测轨道，所述检测轨道位于检测机构(20)上，所述承料台(201)可将电子元件(60)按规定方式运输至检测轨道上，所述检测轨道上设置有一输送装置，所述输送装置可抓取电子元件(60)并驱动电子元件(60)在检测轨道上移动，所述检测轨道下方设置有若干组检测探针，每组检测探针可与电子元件(60)不同的引脚组合抵接；分拣机构(30)，所述分拣机构(30)设置于检测机构(20)后方，所述分拣机构(30)上设置有分装箱(80)，所述分拣机构(30)上设置有分拣夹具，所述分拣夹具可带动电子元件(60)在分拣机构(30)上移动至相应的分装箱(80)上，所述分装箱(80)用于分装存在不同问题的电子元件(60)；

所述检测探针底部设置有升降结构(71)，所述升降结构(71)用于驱动检测探针上下移动，从而抵接或远离电子元件(60)的引脚；

所述上料装置(10)与检测轨道错位布置，所述承料台(201)设置于上料装置(10)与检测轨道之间并可在其间进行往复运动，所述承料台(201)靠近上料装置(10)的一侧设置有至少一个承料槽，所述承料槽用于承接电子元件(60)，所述承料槽的宽度不大于一个电子元件(60)的宽度，承料槽在同一时间内只会与上料装置(10)或检测轨道中的一个相配合，所述承料台(201)的另一侧可封堵所述上料装置(10)的末端；

所述输送装置包括：第一夹具(202)，所述第一夹具(202)上设置有至少两组夹持槽(203)，所述夹持槽(203)朝向下方，所述第一夹具(202)可夹持电子元件(60)并限制电子元件(60)向上移动；驱动装置(204)，所述驱动装置(204)可驱动第一夹具(202)移动，所述驱动装置(204)包括：水平驱动器，所述第一夹具(202)位于水平驱动器上，所述水平驱动器可带动第一夹具(202)沿检测轨道的长度方向上移动；垂直驱动器，所述水平驱动器设置于垂直驱动器上，所述垂直驱动器可带动水平驱动器沿竖直方向运动；

所述检测轨道包括：骑跨轨道(210)，骑跨轨道(210)两侧设置有依靠轨道(211)，依靠轨道(211)与骑跨轨道(210)之间设置有容置槽(212)，所述电子元件(60)骑跨于所述骑跨轨道(210)上，电子元件(60)的引脚位于所述容置槽(212)内；

所述分拣机构(30)包括一条分拣轨道(301)，所述分拣轨道(301)与检测轨道相接洽，所述分拣轨道(301)的一侧或两侧沿长度方向设置有若干活动板(302)，所述活动板(302)与分拣轨道(301)之间形成用于承接电子元件(60)的承接槽(303)，所述电子元件(60)的两侧可承接于承接槽(303)的两侧边，所述活动板(302)可相对分拣轨道(301)做前后运动从而扩大或缩小所述承接槽(303)的宽度，所述分装箱(80)位于所述承接槽(303)下方，所述分装箱(80)上设置有若干分装格，每个分装格与一块活动板(302)相配合。

2.如权利要求1所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：所述分装箱(80)位于机架(50)下方，所述机架(50)上设置有贯通上下的贯通槽，所述分拣轨道(301)位于机架(50)上方。

3.如权利要求1所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：所述分拣夹具包括：驱动器；第二夹具，所述第二夹具设置于驱动器上，所述驱动器可驱动第二夹具夹持电子元件(60)并带动电子元件(60)沿分拣轨道(301)移动。

4.如权利要求3所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：所述第二夹具包括：夹持板(305)，所述夹持板(305)一端连接在驱动器上，所述夹持板(305)另一端开设有若干道夹槽(306)，所述夹槽(306)可将电子元件(60)卡入其中并带动其沿分拣轨道(301)移动。

5.如权利要求1所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：还包括一下料轨道(40)，所述下料轨道(40)与分拣轨道(301)相接洽，所述下料轨道(40)用于输送检测完成后质量达标的电子元件(60)。