CN110057548A - 一种测量系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供了一种测量系统及测量方法，包括控制模块以及与控制模块相连的漏光检测模块；所述漏光检测模块用于对待测器件进行漏光检测，并将检测到的漏光数据发送到所述控制模块；所述控制模块用于控制所述漏光检测模块工作，并接收所述漏光检测模块发送的漏光数据。本发明实现自动化测试，测试的准确性高，测试效率快。

Description

一种测量系统及方法

技术领域

本发明涉及激光器技术领域，特别是涉及一种测量系统及一种测量方法。

背景技术

目前，对激光器的检测有如下不足：

1、需要高度依赖操作人员进行操作，而且测试的重复性差，导致测试的一致性差，并且获取的测试结果判断主观，无法作定量分析；

2、存在因测试异常导致人员受伤的风险，尤其对于中高功率激光器，对人身安全具有极大的破坏性。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种测量系统和相应的一种测量方法。

为了解决上述问题，本发明实施例公开了一种测量系统，包括控制模块以及与所述控制模块连接的漏光检测模块；

所述漏光检测模块，用于对待测器件进行漏光检测，并将检测到的漏光数据发送到所述控制模块；

所述控制模块，用于控制所述漏光检测模块工作，并接收所述漏光检测模块发送的漏光数据。

可选地，所述测量系统还包括与所述控制模块相连的测试机框，所述测试机框为待测器件或用于承载所述待测器件，所述待测器件包括光路模块、电路模块和QBH输出器件；

所述电路模块用于为所述光路模块提供电源，所述光路模块用于生成激光，所述QBH输出器件用于输出所述光路模块生成的激光。

可选地，所述测量系统还包括与所述控制模块相连的测试模块，所述测试模块用于对所述QBH输出器件输出的激光进行多项参数检测，并将参数数据发送给所述控制模块，所述控制模块用于控制所述测试模块工作，并接收所述测试模块发送的参数数据。

可选地，所述测量系统还包括待测试盘；

所述待测试盘，用于放置光学元件，所述光路模块给所述光学元件提供运作的光路并生成激光。

可选地，所述待测试盘正反面复用，所述待测试盘包括走线槽和温度监测模块，所述走线槽包括防窜烧模块和防损毁模块。

可选地，所述漏光检测模块包括移动轴和探测模块，所述探测模块设在移动轴上，所述探测模块至少包括热像仪、光功率探头和CCD/CMOS相机中的一种，所述移动轴用于在X、Y、Z轴方向上移动。

若探测模块使用CCD/CMOS相机探测，将生成漏光数据发送给所述控制模块，所述控制模块将所述漏光数据生成漏光参数。

可选地，所述测试模块包括QBH接口、激光参数检测器和测试移动轴，所述QBH接口和所述QBH输出器件相连，用于接收所述QBH输出器件输出的激光，并将激光输出至所述激光参数检测器；

所述激光参数检测器用于检测激光的参数；

所述测试移动轴与所述激光参数检测器相连，用于控制所述激光参数检测器在X、Y、Z轴方向上移动。

可选地，还包括与所述控制模块相连的扩展模块；

所述扩展模块用于对待测器件或所述测试机框进行扩展检测并生成扩展测试结果，所述扩展测试包括M²测试、光斑测试和外观检测测试中的至少一种。

可选地，还包括与所述控制模块相连的显示模块，所述显示模块至少包括CCD/CMOS相机、显示器、热像仪、警告显示模块和温度计中的一种，所述显示模块用于显示所述控制模块的测试操作过程与测试结果。

可选地，还包括与所述控制模块相连的存储分析模块，所述存储分析模块用于存储测试结果，对测试结果进行保存、调用与分析。

可选地，所述控制模块包括终端、通信板卡和部署在终端的测试软件，所述终端与所述存储分析模块相连，终端将所述控制模块收集到的参数数据与漏光数据再发送给存储分析模块。

可选地，还包括载物平台，所述载物平台用于装载测试机框、待测试盘、漏光检测模块和测试模块。

可选地，还包括用于防止测试过程中激光泄露的保护模块，所述保护模块包括防护罩、报警装置、漏电保护器、散热保护器和安全观测窗。

可选地，所述防护罩设在所述测试机框的外表层，包裹着所述测试机框，所述散热保护器搭载在所述测试机框的光路模块上，所述报警装置和漏电保护器分别设在控制模块的预设终端上，所述散热保护器搭载在所述测试机框内，所述安全观测窗设在整个测量系统的外表层，包裹着测量系统；

所述防护罩用于防止激光泄露；

所述散热保护器用于对所述测试机框进行散热；

所述安全观察窗用于测量系统隔离与内部照明观察。

本发明实施例还提出了一种测量方法，应用于测量系统，述测量系统包括控制模块以及与控制模块相连的漏光检测模块，该方法具体包括以下步骤：

所述控制模块接收启动指令，并根据所述启动指令控制所述漏光检测模块启动工作；

所述漏光检测模块对待测器件进行漏光检测，并将检测到的漏光数据发送到所述控制模块；

所述控制模块接收所述漏光数据。

可选地，所述测量系统还包括分别与所述控制模块相连的测试模块和测试机框，所述测试机框为待测器件或用于承载所述待测器件，所述待测器件包括光路模块、电路模块和QBH输出器件；

所述电路模块用于为所述光路模块提供电源，所述光路模块用于生成激光，所述QBH输出器件用于输出所述光路模块生成的激光；

该方法具体还包括以下步骤：

所述控制模块根据所述启动指令控制所述测试机框、所述测试模块启动工作；

所述测试模块对所述测试机框的输出激光进行参数检测，并将参数数据发送给控制模块；

所述控制模块接收所述参数数据。

可选地，所述测试模块对所述测试机框的输出激光进行参数检测包括：

所述测试模块判断所述测试机框是否满足所述测试模块预设的测试条件；

若满足测试条件，所述测试模块对所述测试机框继续参数检测；

若不满足测试条件，所述测试模块停止对所述测试机框进行参数检测。

可选地，所述参数检测包括红光检测、光功率检测、光谱测试、脉冲检测中的至少一种，所述测试模块对所述测试机框继续参数检测包括：

所述测试模块对所述测试机框进行红光检测、光功率检测、光谱测试、脉冲检测中的至少一种；

若所述参数检测获取的参数数据满足预设的数据标准，所述测试模块继续进行测试；

若所述参数检测获取的参数数据不满足预设的数据标准，所述测试模块停止检测。

可选地，所述测量系统还包括与所述控制模块相连的扩展模块，所述方法还包括：

所述控制模块控制所述扩展模块工作；

所述扩展模块对所述测试机框进行扩展测试并生成扩展测试结果；所述扩展测试包括M²测试、光斑测试和外观检测测试中的至少一种。

可选地，所述测量系统还包括与所述控制模块相连的存储分析模块，所述方法还包括：

所述控制模块将获取的所述漏光数据与所述参数数据分别发送到所述存储分析模块；

所述存储分析模块接收并存储所述漏光参数和所述参数数据，根据所述漏光参数和所述参数数据进行判定分级；

所述存储分析模块根据所述判定分级确定产品等级。

本发明还提出了一种装置，包括：

一个或多个处理器；和

其上存储有指令的一个或多个机器可读介质，当由所述一个或多个处理器执行时，使得所述装置执行如上所述的一个或多个的方法。

本发明还提出了一个或多个机器可读介质，其上存储有指令，当由一个或多个处理器执行时，使得所述处理器执行如上所述的一个或多个的方法

本发明提出的一种测量系统，通过控制模块控制漏光检测模块与测量模块进行工作，由漏光检测模块与测量模块进行检测，将检测结果发送到控制模块中，再将测试结果发送存储分析模块进行存储，调用与分析，实现自动化测试，可以提高对激光器测试的准确性，尤其是中高功率激光器的光纤漏光检测的准确度、一致性；同时提高激光器功率等参数测试的便捷性，通过对多个参数实现自动化集成检测，还可以对测试过程中的操作人员人身安全进行有效防护。

附图说明

图1是本发明的一种测量系统一实施例的结构框图；

图2是本发明的一种测量方法一实施例的步骤流程图；

图3是本发明一实施例中测试模块对测试机框的输出激光进行参数检测的步骤流程图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

本发明一实施例提供了一种测量系统，包括控制模块以及与所述控制模块相连漏光检测模块；

所述漏光检测模块，用于对待测器件进行漏光检测，并将检测到的漏光数据发送到所述控制模块；

所述控制模块，用于控制所述漏光检测模块工作，并接收所述漏光检测模块发送的漏光数据。

在一实施例中，所述测量系统还包括与所述控制模块相连的测试机框，所述测试机框为待测器件或用于承载所述待测器件，所述待测器件包括光路模块、电路模块和QBH输出器件；

所述电路模块用于为所述光路模块提供电源，所述光路模块用于生成激光，所述QBH输出器件用于输出所述光路模块生成的激光。

在一实施例中，所述测量系统还包括与所述控制模块相连的测试模块，所述测试模块用于对所述QBH输出器件输出的激光进行多项参数检测，并将参数数据发送给所述控制模块，所述控制模块用于控制所述测试模块工作，并接收所述测试模块发送的参数数据。可选地，所述测试模块与所述漏光检测模块可以同时工作，也可以先后工作。

参照图1，示出了本发明的一种测量系统一实施例的结构框图，具体可以包括控制模块101、测试模块102、测试机框103和漏光检测模块104，所述控制模块101分别与测试模块102、测试机框103、漏光检测模块104相连。

所述测试模块102，用于对所述QBH输出器件的输出激光进行多项参数检测，并将检测到的参数数据发送给所述控制模块101；

所述测试机框103为待测器件或用于承载所述待测器件，所述待测器件包括光路模块、电路模块和QBH输出器件；

所述电路模块用于给光路模块提供工作电源，所述光路模块用于生成激光，所述QBH输出器件用于输出所述光路模块生成的激光；

所述漏光检测模块104，用于对所述测试机框103进行漏光检测，并将检测到的漏光数据发送到所述控制模块101；

所述控制模块101，用于控制所述漏光检测模块104和所述测试模块102工作，并接收所述漏光检测模块104发送的漏光数据和所述测试模块102的参数数据。若漏光检测模块104没有将漏光数据生成漏光参数，所述控制模块101可以将漏光数据生成漏光参数。本实施例中，若漏光检测模块104使用高灵敏或高精度的漏光检测仪器，控制模块101接收的漏光数据可以直接作为技术人员对被测产品进行判断分析的漏光参数，若漏光检测模块104使用低灵敏度或低精度的漏光检测仪器，控制模块101对接收的漏光数据进行计算，再生成漏光参数。控制模块101是否对漏光数据进行计算生成漏光参数，可以根据漏光检测模块104所使用的检查仪器进行调整。

将需要进行测试的产品存放在测试机框103内，由光路模块搭建测试产品的光路，由QBH输出器件输出激光，通过控制模块101控制漏光检测模块104和测试模块102工作，漏光检测模块104对测试机框103进行巡逻式的漏光检测，并将检测到的漏光数据发送到控制模块101中，漏光检测模块104可以自行将漏光数据生成漏光参数再发送给控制模块101，或控制模块101根据漏光数据生成漏光参数，同时测试模块102对测试机框103进行多项参数检测，将参数检测得到的数据发送给控制模块101，测试模块102可以对激光器进行定量测试，使得测试结果更加准确。而光路模块与电路模块连接稳定，可以稳定输出激光，输出的激光功率大小可以根据实际应用进行调整，在本实施例中，开始以待测产品的正常输出功率的5％开始，然后不断以10％的输出功率逐渐增加，直到加到待测产品100％的输出功率。另外，当待测器件为未封盖激光器时，可以将待测器件本身作为测试机框。

通过控制模块101控制漏光检测模块104与测试模块102工作，能对测试机框103进行光纤漏光检测，又能对测试机框103进行更加全面有效的检测，而且测试过程中，操作人员通过操作控制模块101进行工作，大大减轻了人手操作的负担，实现自动化检测，也能降低测试过程中激光对人体的破坏，降低了受伤的风险。

在本实施例中，测量系统还包括待测试盘；

所述待测试盘用于放置光学元件，所述光路模块给所述光学元件提供运作的光路并生成激光，将生成的激光从QBH输出器件输出。所述光学元件可以是测试机框内的测试的产品(如激光器)的组成部件或需要测试某一个特定光学元件。

所述待测试盘正反面均可使用，所述待测试盘包括走线槽和温度监测模块，所述走线槽包括防窜烧模块和防损毁模块。

温度检测模块采用测温冗余设计，包括热像仪热敏电阻、工业测温数显模块、监测光学部件、冷水板等部件，使得待测试盘能模拟光学元件的工作环境；而且走线槽设有防窜烧模块和防损毁模块，使得光学元件在测试时，放置更加稳定，测试更加准确。

加入了待测试盘后，可以对测试机框内的待测产品的特定光学元件进行检测，使得测试更加准确，也拓宽了测试的功能。在本实施例中，待测试盘可以与测试机框同步进行检测，尤其是当待测试盘上光学元件是未封盖的整机的时候，测试机框也是待测产品时；当待测试盘上的光学元件是外来元件时，检验或者其它测试的时候，首先针对的是待测试盘上的元件进行检测，测试机框此时也可以被测试，但是结果不优先显示在最终结果里。

待测试盘的待测光学元件可以是待测YB/GDF光纤(掺镱光纤)；光纤光栅/合束器/CPS(包层光功率剥除器)等光学物料(盘)，也可以是未封盖激光整机。

另外，测试机框的光路面和待测试盘的光路面可设计为等高面，可有效降低漏光检测模块以及挂载其上的监测设备的设计或选型等难度。

在本实施例中，漏光检测模块104包括了移动轴和探测模块，所述探测模块设在移动轴上，所述探测模块包括热像仪、光功率探头和CCD/CMOS相机等等，所用的探测仪器可以多个同时使用也可以单个单独使用，所述移动轴用于在X、Y、Z轴方向上移动。漏光检测模块104用于检测在测试机框103或待测试盘上的产品或元件在工作过程中，是否有泄露光，且漏光检测模块104将检测到的漏光数据发送给控制模块生成漏光参数，使得测试结果在同一标准下，避免了操作人员对漏光数据作出主观判断，提高了检测的准确性。

在本实施例中，若探测模块使用低精度或低灵敏度的探测仪时，如CCD/CMOS相机，在生成漏光数据发送给控制模块101后，控制模块101再对漏光数据进行计算，将漏光数据生成漏光参数；若探测模块使用高精度或高灵敏度的探测仪时，如热像仪、光功率探头，在生成漏光数据发送给控制模块后，控制模块可以不对漏光数据进行计算，可以以漏光数据作为漏光参数，技术人员可以直接根据漏光数据对被测产品进行漏光评测。控制模块101是否对漏光数据进行计算，可以根据探测模块具体使用的探测仪器再判断。

而漏光检测模块104所用的移动轴是机械集成的移动轴，由控制模块101控制探测模块在移动轴中自由移动，从而对测试机框103或待测试盘进行漏光检测，漏光检测模块104在移动轴上的移动范围更广，使得漏光检测模块104的检测可以完全覆盖待测试盘和测试机框103，扩大测试范围。可以将移动轴设置手动操控，技术人员通过控制控制模块，操作漏光检测模块进行检查。

在本实施例中，所述测试模块102包括QBH接口、激光参数检测器和测试移动轴，所述QBH接口与QBH输出器件相连。待测试盘和测试机框输出的激光从QBH输出器件发送，测试模块从QBH接口接收激光，并将激光发送到激光参数检测器中，由激光参数检测器检测激光的参数，生成参数数据。而测试移动轴与激光参数检测器相连，用于控制激光参数检测器从不同的方向或不同角度接收待测试盘和测试机框输出的激光，在本实施例中，所用的测试移动轴与漏光检测模块104的移动轴相同，均可以在X、Y、Z轴方向上移动，实现不同角度的激光接收。

在本实施中，激光参数检测器对待测试盘和测试机框输出的激光可以进行激光功率测试、红光功率测试、脉冲测试和光谱测试等测试，并将检测到的参数数据发送给控制模块。可以根据实际应用需求自由调整测试模块的测试项目，并调整测试项目的测试顺序，若测试项目为多个的时候，若有测试项目不满足测试的参数标准，可以停止测试。在本实施例中，依次进行激光功率测试、红光功率测试、脉冲测试和光谱测试四种测试，在测试过程中，当某一种测试获得的参数数据不满足标准，测试模块停止测试。参数数据的数据标准可以根据实际进行调节，可以在控制模块或测试模块上调整。

另外，测试模块102与漏光检测模块104可以在控制模块101启动工作后，同时进行检查，也可以测试模块102先进行测试，漏光检测模块104再进行检查，测试的顺序可以根据实际在控制模块中进行调整。

使用测试模块102能取代人手操作测试，避免人为的重复测试，提高测试效率与测试准确性，也降低了测试过程中测试对人员的伤害。

在本实施例中，控制模块101包括终端、通信板卡和部署在终端的测试软件，测试软件包括设置模块和视像模块，在进行测量时由控制模块101操作设置模块和视像模块两个模块，可以通过设置模块对测试机框和待测试盘进行激光参数、器件温度读取设置、漏光定量读取设置、水压读取设置；可以通过视像模块可以对测试机框和待测试盘进行影像监测、温度监测、漏光图样监测、热像图样监测。整个操作工程在控制模块101中进行，无需人手对测试机框与待测试盘进行操作。而终端上设有多个连接端口，方便技术人员随时从控制模块中抽取数据进行比对。另外，控制模块101可以进行权限设置，从而区分操作人员同管理人员。

在本实施中，控制模块101还包括扩展模块，扩展模块用于对待测器件、测试机框和/或待测试盘输出的激光进行扩展测试，扩展模块可以设在测试模块或漏光检测模块或控制模块等等上，可以根据实际应用需要进行调整。扩展测试包括M²测试、光斑测试和外观检测测试，并生成扩展测试结果。扩展测试的测试项目可以根据实际应用需求进行调整，加入扩展模块能覆盖测试模块未涵盖的其他测试项目，从而提高测试的功能，提高测试的准确性，也大大提高了本系统的实用性。

在本实施例中，还包括显示模块，显示模块与控制模块相连，显示模块包括CCD/CMOS相机、显示器、热像仪、警告显示模块和温度计、可视化漏光测定表头和探头，显示模块用于显示控制模块的操作过程与测试结果，让操作人员可以通过显示模块了解到操作工程，更加高效。CCD/CMOS相机包括近红外监测漏光图样CCD/CMOS相机，CCD/CMOS相机可以在测试机框与待测试盘的不同位置或不同角度布放，从而检测到测试机框与待测试盘内的光路运行状态，运行图样可接入体外同一显示器或分屏显示，也能实时显示漏光图样，而可视化漏光测定表头和探头可以实时测定值，测定值可集成在外挂显示器或工控PC软件显示界面上，实时显示。在整个测试过程中，得到的数据或参数可以在同一显示器上显示，也可以独立显示。另外警告显示模块可以单独设在测试机框、漏光检测模块、测试模块与控制模块上，也可以设在整个测量系统上，另外警告显示模块发送警报时可以进行整体警报也可以单独警报。

在本实施例中，还包括存储分析模块，存储分析模块分别与控制模块101的终端和扩展模块相连，存储分析模块用于接收扩展模块的扩展测试结果、控制模块101接收到的漏光参数和参数数据，并进行保存、调用与分析。存储分析模块包括数据库，使用数据库可以调用数据，操作人员可以通过调用数据，分析测试产品的质量，对测试产品进行评级，从而确定产品等级，并且数据库对测试结果进行定量分析，而每次的测试结果均保存在存储分析模块上，确保数据不会丢失。并且数据库上的数据可以联合调用，方便技术人员或管理人员进行系统适配。

在本实施例中，可以根据存储分析模块接收的扩展模块的扩展测试结果、控制模块101的漏光参数和测试模块生成的多项参数测试的参数数据，对测试的产品进行分级，判定分级主要可以根据各参数的测量结果如温度值、漏光值、激光功率、脉冲结果等，对测试产品进行等级划分，从而确定不同等级的产品。

在本实施例中，还包括载物平台，测试机框、待测试盘、漏光检测模块和测试模块装载在载物平台上，载物平台包括支撑架、架构仪器、夹具、调试平台等；整个支撑架是防震气垫设计，底部设有伸缩脚，方便拆装，同时支撑架划分不同空间部分、适配不同功能模块。

在本实施例中，还包括保护模块，保护模块包括防护罩、报警装置、漏电保护器、散热保护器和安全观测窗，防护罩设在所述测试机框的外表层，包裹着所述测试机框，散热保护器搭载在所述测试机框的光路模块和/或电路模块上，报警装置和漏电保护器设在控制模块的终端上，安全观测窗设在整个测量系统的外表层，包裹着整个测量系统；

防护罩用于防止测试机框激光泄露，也可以给测试机框静电防护和漏电保护；散热保护器用于对所述待测试盘和所述测试机框进行散热；安全观察窗用于测量系统隔离与内部照明观察。

在本实施例中，还包括警报机制，所述警报机制可以设在控制模块101的终端上，本实施例中测量系统的任意模块状态异常或警报响起，控制模块101根据警报机制控制所有模块停止工作并发出警报，同时再切断其他模块的供电电源。

本实施例提出的一种测量系统，可以提高对激光器测试的准确性，尤其是中高功率激光器的光纤漏光检测的准确度、一致性；同时提高激光器功率等参数测试的便捷性，通过对多个参数实现自动化集成检测，还可以对测试过程中的操作人员人身安全进行有效防护。

本发明一实施例提供了一种测量方法，应用于测量系统，所述测量系统包括控制模块以及与控制模块相连的漏光检测模块，该方法具体包括以下步骤：

所述控制模块接收启动指令，并根据所述启动指令控制所述漏光检测模块启动工作；

所述漏光检测模块对待测器件进行漏光检测，并将漏光数据发送给所述控制模块；

所述控制模块分别接收所述漏光数据。

可选地，所述测量系统还包括分别与所述控制模块相连的测试模块和测试机框，所述测试机框为待测器件或用于承载所述待测器件，所述待测器件包括光路模块、电路模块和QBH输出器件；

所述电路模块用于为所述光路模块提供电源，所述光路模块用于生成激光，所述QBH输出器件用于输出所述光路模块生成的激光；

该方法具体还包括以下步骤：

所述控制模块根据所述启动指令控制所述测试机框、所述测试模块启动工作；

所述测试模块对所述测试机框的输出激光进行参数检测，并将参数数据发送给控制模块；

所述控制模块接收所述参数数据。

参照图2，示出了本发明的一种测量方法一实施例的步骤流程图，该方法应用于测量系统，所述测量系统包括控制模块以及分别与控制模块相连的测试机框、漏光检测模块和测试模块，该方法具体包括以下步骤；

步骤201，所述控制模块接收启动指令，并根据所述启动指令控制所述测试机框、所述测试模块和所述漏光检测模块启动工作；

步骤202，所述测试模块对所述测试机框的输出激光进行参数检测，并将参数数据发送给控制模块；

测试模块可以对测试机框输出的激光进行多角度测试，也可以自行调节测试模块的测试项目，从而提高测试准确性。

参照图3为本发明一实施例中测试模块对测试机框的输出激光进行参数检测的步骤流程图，在本发明实施例中，所述步骤202可以包括如下子步骤：

子步骤2021，所述测试模块判断所述测试机框是否满足所述测试模块预设的测试条件；

在本实施例中，测试模块可以判断所述测试机框是否满足测试模块预设的测试机框的测试项目标准条件，如测试模块判断测试机框需检测项目与测试模块的可检测项目是否相同，测试模块的测试项目是否设定有测试标准等等；

在本实施例中，测试模块也可以判断所述测试机框是否满足测试模块预设待测产品的产品信息条件，如测试模块判断测试机框的序列信息、编号信息与待测产品的序列信息、编号信息相同；

在本实施例中，测试模块也可以判断所述测试机框是否满足测试环境条件，如测试模块判断测试机框是否闭合，测试机框电源是否导通等等。

子步骤2022，若满足测试条件，所述测试模块对所述测试机框继续参数检测；

在本发明实施例中，子步骤2022所述测试模块对所述测试机框继续参数检测的步骤具体可以包括：

所述测试模块对所述测试机框进行红光检测、光功率检测、光谱测试、脉冲检测中的至少一种；

若所述参数检测获取的参数数据满足预设的数据标准，所述测试模块继续进行测试；

若所述参数检测获取的参数数据不满足预设的数据标准，所述测试模块停止检测。

测试模块在进行测试时，如果检测到的参数不满足预设的参数数据标准，将停止测试，后续的测试不再进行。预设的参数标准按照实际应用需要进行修改。测试模块的测试项目也可以根据实际应用需要进行调整，当进行测试的项目中有一项参数不满足预设的参数标准，可以停止测试，提高测试的效率。

子步骤2023，若不满足测试条件，所述测试模块停止对所述测试机框进行参数检测。

在不满足测试条件时，如测试项目不符，产品与产品所对应的产品信息不符或者测试环境不满足时，测试模块停止进行测试，提高测试的准确性。

在本实施例中，测量系统还可以包括扩展模块；

控制模块可以控制扩展模块工作；扩展模块可以对待测器件、测试机框和/或待测试盘进行扩展测试并生成扩展测试结果；扩展模块可以将扩展测试结果发送至控制模块。

在本实施例中，所述扩展测试包括M²测试、光斑测试和外观检测测试中的至少一种。

加入扩展模块可以扩展测试模块的测试范围，提高测试的准确性。扩展模块的扩展测试可以在测试模块所进行的测试项目中均满足预设的参数标准后进行测试，扩展模块也可以在测试模块对测试机框进行测试前先进行，扩展测试的测试项目可以根据实际应用需要进行调整。在本实施例中，扩展测试在测试模块进行完所有测试后进行。

步骤203，所述漏光检测模块对所述测试机框进行漏光检测，并将漏光数据发送给所述控制模块；

在本实施例中，漏光检测模块可以搭载高精密度的漏光检测仪器，生成漏光数据，以漏光数据作为漏光参数，漏光检测模块也可以搭载中低精密度的漏光检测仪器，降低检测成本，再对生成的漏光数据进行计算，得到漏光参数。

步骤204，所述控制模块分别接收所述漏光数据与所述参数数据。

在启动控制模块开始测试前需检查各个信息，确保满足的测试前的条件，检查信息包括：测试的产品信息、产品名称、测试人员身份是否在数据库中合法、控制模块与各个模块之间的连接是否正常、产品的摆放是否符合要求、涂胶是否可以目视、借助的CCD、CMOS相机在外挂显示器上显示是否正常等等，在检查正常后再启动控制模块，再对各个模块进行供电启动。

在本实施例中，测量系统还可以包括与控制模块相连的存储分析模块。所述控制模块将获取的所述漏光数据与所述参数数据分别发送到所述存储分析模块；

所述存储分析模块接收并存储所述漏光参数和所述参数数据，根据所述漏光参数和所述参数数据进行判定分级；

所述存储分析模块根据所述判定分级确定产品等级。

在本实施例中，通过扩展模块的扩展测试生成的测试结果也可以发送存储到存储分析模块中，而存储分析模块通过测试结果、漏光参数和参数数据可以对测试机框或待测试盘存放的待测产品或光学元件进行分级，在根据分级确定待测产品或光学元件的产品等级。并且存储分析模块在存储数据后，操作人员可以通过调用数据，提高了测试的质量。

为了使本领域技术人员能够更好地理解本发明实施例，下面通过一个例子对本发明实施例加以说明。本发明实施例公开了一种测量方法的操作步骤，操作步骤具体如下：

1、操作人员给各个模块和设备上电，启动控制模块的终端主控PC，打开测试界面；输入初始化指令，完成待测试产品的基本信息读取及测试设备、运动监测单元等初始化；

2、将待测产品放上测试机框或待测试盘特定的位置上，然后接上测试所需的光路；

3、操作人员在控制模块上输入待测物产品的产品信息，产品SN、PN信息以及测试人员工号信息等，并提交测试请求；

4、操作人员开始测试，并等待测试结果；

5、测试完成后，各个设备模块下电，操作人员从测试机框或待测试盘上取下产品，继续测试下一产品

在本实施例中，第3步中，控制模块的测试软件可以使用本地数据库或者调用数据库(BPM/MEMS等)中需要有对应标准信息，在特殊情况下可手动建立对应信息或连接，从而确定是否可以进行测试。

在本实施例中，第5步中，测试完成后，数据即刻保存到本地/数据库(或BPM/MEMS系统)，然后操作人员按下“结束测试”按钮，各个模块与设备复位，进入“待测试状态”。

在本实施例中，第5步中，测试完成后，测试数据可以由打印设备随测试产品附送至下一工序，同时测试数据由数据库传递各部或工站作下一步的分析。

对于装置实施例而言，由于其与方法实施例基本相似，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

本发明实施例还提供了一种装置，包括：

一个或多个处理器；和

其上存储有指令的一个或多个机器可读介质，当由所述一个或多个处理器执行时，使得所述装置执行本发明实施例所述的方法。

本发明实施例还提供了一个或多个机器可读介质，其上存储有指令，当由一个或多个处理器执行时，使得所述处理器执行本发明实施例所述的方法。

需要说明的是，对于方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明实施例并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明实施例，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作并不一定是本发明实施例所必须的。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。

本领域内的技术人员应明白，本发明实施例的实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此，本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明实施例是参照根据本发明实施例的方法、终端设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理终端设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理终端设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理终端设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理终端设备上，使得在计算机或其他可编程终端设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程终端设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

尽管已描述了本发明实施例的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明实施例范围的所有变更和修改。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。

以上对本发明所提供的一种测量系统和一种测量方法，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种测量系统，其特征在于，包括控制模块以及与所述控制模块相连的漏光检测模块；

所述漏光检测模块，用于对待测器件进行漏光检测，并将检测到的漏光数据发送到所述控制模块；

所述控制模块，用于控制所述漏光检测模块工作，并接收所述漏光检测模块发送的漏光数据。

2.根据权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述测量系统还包括与所述控制模块相连的测试机框，所述测试机框为待测器件或用于承载所述待测器件，所述待测器件包括光路模块、电路模块和QBH输出器件；

所述电路模块用于为所述光路模块提供电源，所述光路模块用于生成激光，所述QBH输出器件用于输出所述光路模块生成的激光；

所述测量系统还包括与所述控制模块相连的测试模块；

所述测试模块用于对所述QBH输出器件输出的激光进行多项参数检测，并将参数数据发送给所述控制模块；

所述控制模块用于控制所述测试模块工作，并接收所述测试模块发送的参数数据。

3.根据权利要求2所述的测量系统，其特征在于，所述漏光检测模块包括移动轴和探测模块，所述探测模块设在移动轴上，所述探测模块至少包括热像仪、光功率探头和CCD/CMOS相机中的一种，所述移动轴用于在X、Y、Z轴方向上移动；

若探测模块使用CCD/CMOS相机探测，将生成漏光数据发送给所述控制模块，所述控制模块将所述漏光数据生成漏光参数；

所述测试模块包括QBH接口、激光参数检测器和测试移动轴，所述QBH接口与QBH输出器件相连，用于接收所述QBH输出器件输出的激光，并将激光输出至所述激光参数检测器；

所述激光参数检测器用于检测激光的参数；

所述测试移动轴与所述激光参数检测器相连，用于控制所述激光参数检测器在X、Y、Z轴方向上移动。

4.根据权利要求2所述的测量系统，其特征在于，还包括与所述控制模块相连的扩展模块和存储分析模块；

所述扩展模块用于对待测器件或所述测试机框进行扩展测试并生成扩展测试结果，所述扩展测试包括M²测试、光斑测试和外观检测测试中的至少一种。

所述控制模块包括终端、通信板卡和部署在终端的测试软件；所述存储分析模块与所述终端相连；

所述存储分析模块用于存储测试结果，对测试结果进行保存、调用与分析。

5.根据权利要求2所述的测量系统，其特征在于，还包括待测试盘和用于防止测试过程中激光泄露的保护模块，所述保护模块包括防护罩、报警装置、散热保护器和安全观测窗，所述防护罩设在所述测试机框的外表层，包裹着所述测试机框，所述报警装置设在所述控制模块的预设终端上，所述散热保护器搭载在所述测试机框内，所述安全观察窗设在整个测量系统的外表层，包裹着测量系统；

所述防护罩用于防止激光泄露；

所述散热保护器用于对所述测试机框进行散热；

所述安全观察窗用于测量系统隔离与内部照明观察；

所述待测试盘用于放置光学元件，所述光路模块给所述光学元件提供运作的光路并生成激光。

6.一种测量方法，其特征在于，应用于测量系统，所述测量系统包括控制模块以及与控制模块相连的漏光检测模块，该方法具体包括以下步骤：

所述控制模块接收启动指令，并根据所述启动指令控制所述漏光检测模块启动工作；

所述漏光检测模块对待测器件进行漏光检测，并将漏光数据发送给所述控制模块；

所述控制模块接收所述漏光数据。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述测量系统还包括分别与所述控制模块相连的测试模块和测试机框，所述测试机框为待测器件或用于承载所述待测器件，所述待测器件包括光路模块、电路模块和QBH输出器件；

所述电路模块用于为所述光路模块提供电源，所述光路模块用于生成激光，所述QBH输出器件用于输出所述光路模块生成的激光；

该方法具体还包括以下步骤：

所述控制模块根据所述启动指令控制所述测试机框、所述测试模块启动工作；

所述测试模块对所述测试机框的输出激光进行参数检测，并将参数数据发送给控制模块；

所述控制模块接收所述参数数据。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述测试模块对所述测试机框的输出激光进行参数检测，包括：

所述测试模块判断所述测试机框是否满足所述测试模块预设的测试条件；

若满足测试条件，所述测试模块对所述测试机框继续参数检测；

若不满足测试条件，所述测试模块停止对所述测试机框进行参数检测。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述参数检测包括红光检测、光功率检测、光谱测试、脉冲检测中的至少一种，所述测试模块对所述测试机框继续参数检测包括：

所述测试模块对所述测试机框进行红光检测、光功率检测、光谱测试、脉冲检测中的至少一种；

若所述参数检测获取的参数数据满足预设的数据标准，所述测试模块继续进行测试；

若所述参数检测获取的参数数据不满足预设的数据标准，所述测试模块停止检测。

10.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述测量系统还包括与所述控制模块相连的存储分析模块；所述方法还包括：

所述控制模块将获取的所述漏光数据与所述参数数据分别发送到所述存储分析模块；

所述存储分析模块存储所述漏光参数和所述参数数据，并根据所述漏光参数和所述参数数据进行判定分级；

所述存储分析模块根据所述判定分级确定产品等级。