CN110006312B - 采用粗微调方式对物件进行高精度尺寸测量对比方法 - Google Patents

Abstract

本发明公布了采用粗微调方式对物件进行高精度尺寸测量对比方法，其步骤在于：使用者将物件移至与参照盘抵触，而后通过旋转粗调转筒进行粗调，直至粗调数据接近物件待测量尺寸；使用者通过旋转微调转筒进行微调，直至粗调同步机构与参照盘之间的距离与物件待测量尺寸相吻合，此时使用者可根据粗调数据与微调数据计算得出物件待测量尺寸；使用者通过对粗调机构进行粗调、对微调机构进行微调，且根据显示机构读取粗调/微调数据并计算出粗调同步机构与参照盘之间的距离，最终使得粗调同步机构与参照盘之间的距离等物件待对比尺寸；使用者将物件移至与参照盘抵触，并通过粗调同步机构与参照盘之间的距离对比物件尺寸是否达到实际生产要求。

Description

采用粗微调方式对物件进行高精度尺寸测量对比方法

技术领域

本发明涉及检测领域，具体涉及一种物件尺寸测量对比方法。

背景技术

长度检测是机械加工中最常用的一种零件尺寸检测，目前用于长度检测的有游标卡尺、刻度尺、卷尺等，但在具体检测过程中，由于人工目测存在较大的偏差，导致其检测尺寸误差大，对于使用场合要求不高的零部件，完全能够满足其测量要求，但对于长度要求高、精度准的零部件，却无法满足其测量要求，除此之外，对于大批量物件的尺寸检测，往往是人工测量，测量效率低，且测量时人为因素较多，存在一定偏差；因此，为解决上述问题，本发明提供一种长度检测对比仪器。

发明内容

为解决现有技术的不足，本发明的目的是提供一种物件尺寸测量对比方法，整个测量过程复位粗调与微调两部分，使得本检测仪的测量精度更高，并可快速对大批量的物件进行尺寸对比。

为实现上述技术目的，本发明所采用的技术方案如下。

采用粗微调方式对物件进行高精度尺寸测量对比方法，其步骤在于：

（一）测量阶段；

S1：使用者将物件移至与测量对比装置接触，并旋转调整装置；

所述的调整装置包括粗调机构、微调机构、显示机构，粗调机构用于快速粗略调整测量对比装置的伸长量，微调机构用于微调测量对比装置的伸长量并提高其测量/对比精度，显示机构用于显示粗调机构与微调机构的调整数据；

所述的粗调机构包括用于被使用者粗调转动的粗调转筒、用于传递并显示粗调结果数据的粗调显示构件，所述的微调机构包括用于被使用者微调转动的微调转筒、用于传递并显示微调结果数据的微调显示构件；

所述的测量对比装置包括用于与物件接触并提供参照作用的参照盘、用于根据粗调机构的粗调数据改变自身与参照盘之间距离的粗调同步机构、用于根据微调机构的微调数据改变粗调同步机构与参照盘之间距离的微调同步机构；

使用者将物件移至与参照盘抵触，而后通过旋转粗调转筒进行粗调，粗调过程中，粗调同步机构将根据粗调数据改变自身与参照盘之间的距离， 同时使用者可通过显示机构与粗调显示构件的配合实时读取粗调数据，即粗调同步机构与参照盘之间的距离，直至粗调数据接近物件待测量尺寸；

S2：使用者通过旋转微调转筒进行微调，微调过程中，微调同步机构将根据微调数据改变粗调同步机构与参照盘之间的距离，同时使用者可通过显示机构与微调显示构件的配合实时读取微调数据，直至粗调同步机构与参照盘之间的距离与物件待测量尺寸相吻合，此时使用者可根据粗调数据与微调数据计算得出物件的待测量尺寸；

（二）对比阶段；

S3：使用者通过对粗调机构进行粗调、对微调机构进行微调，且根据显示机构读取粗调/微调数据并计算出粗调同步机构与参照盘之间的距离，最终使得粗调同步机构与参照盘之间的距离等物件待对比尺寸；

S4：使用者将物件移至与参照盘抵触，并通过粗调同步机构与参照盘之间的距离对比物件尺寸是否达到实际生产要求。

作为本技术方案的进一步改进。

所述的显示机构包括安装外壳、显示盘，安装外壳为两端开口的壳体结构，显示盘固定安装于安装外壳外表面，安装外壳上开设有穿设孔a，且显示盘上开设有与穿设孔a同轴布置的穿设孔b。

作为本技术方案的进一步改进。

所述的粗调机构包括用于被使用者粗调转动的粗调转筒、用于传递并显示粗调结果数据的粗调显示构件；

所述的粗调转筒为由两组呈半圆柱筒体的粗调转壳构成的圆柱筒体结构，且粗调转筒两端开口，粗调转筒的一开口端与安装外壳的一开口端之间活动安装，且粗调转筒可绕自身轴向转动；

所述的粗调显示构件包括粗调齿圈、中间齿轮a、齿轮轴a，粗调齿圈与粗调转筒之间设置有固定件且两者之间通过固定件进行同轴固定连接，齿轮轴a轴向平行于粗调转筒轴向，齿轮轴a活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动，中间齿轮a固定套接于齿轮轴a外部并与粗调齿圈啮合；

所述的粗调显示构件还包括中间蜗杆、中间涡轮、齿轮轴b，中间蜗杆与齿轮轴a之间同轴固定连接，齿轮轴b轴向垂直于粗调转筒轴向，齿轮轴b活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动，中间涡轮固定套接于齿轮轴b外部并与中间蜗杆啮合；

所述的粗调显示构件还包括中间齿轮b、粗调齿轮、粗调转轴，中间齿轮b固定套接于齿轮轴b外部，粗调转轴轴向平行于齿轮轴b轴向，粗调转轴活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动，且粗调转轴的一端穿过穿设孔a、穿设孔b并位于显示盘背离安装外壳的一侧，并且该端设置有粗调指针，粗调齿轮固定套接于粗调转轴外部并与中间齿轮b啮合。

作为本技术方案的进一步改进。

所述的微调机构设置于粗调机构背离安装外壳的一侧，微调机构包括用于被使用者微调转动的微调转筒、用于传递并显示微调结果数据的微调显示构件；

所述的微调转筒为由两组成半圆柱筒体的微调转壳构成的圆柱筒体结构，且微调转筒两端开口，微调转筒的一开口端与粗调转筒背离安装外壳的开口端之间同轴活动连接，且微调转筒可绕自身轴向转动；

所述的微调显示构件包括传递蜗杆、传递涡轮、齿轮轴c，传递蜗杆与微调转筒同轴布置，传递蜗杆的一端位于安装外壳内、另一端与微调转筒背离粗调转筒的开口端之间以键连接方式进行动力连接传递，齿轮轴c轴向平行于粗调转轴轴向，齿轮轴c活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动，传递涡轮固定套接于齿轮轴c外部并与传递蜗杆啮合；

所述的微调显示构件还包括传递齿轮a、传递齿轮b、齿轮轴d，齿轮轴d的轴向平行于粗调转轴轴向，齿轮轴d活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动，传递齿轮a固定套接于齿轮轴c外部，传递齿轮b固定套接于齿轮轴d外部并与传递齿轮a啮合；

所述的微调显示构件还包括传递齿轮c、微调齿轮、微调转轴，微调转轴为环形柱体结构，微调转轴同轴活动套设于粗调转轴外部且两者各自转动互不干涉，微调转轴的一端穿过穿设孔a、穿设孔b并位于显示盘背离安装外壳的一侧，且该端设置有微调指针，传递齿轮c固定套接于齿轮轴d外部，微调齿轮固定套接于微调转轴外部并与传递齿轮c啮合。

作为本技术方案的进一步改进。

所述的参照盘为环形柱体结构，且参照盘与粗调转筒同轴布置，参照盘固定安装于安装外壳背离粗调转筒的开口端，参照盘背离安装外壳的一端设置有参照台阶。

作为本技术方案的进一步改进。

所述的粗调同步机构包括粗调螺旋套、测量轴，测量轴为环形柱体结构，测量轴同轴活动套接于传递蜗杆外部，且测量轴上开设有用于传递蜗杆与传递涡轮之间啮合的避让孔；

所述的测量轴与安装外壳之间设置有导向部件一，导向部件一为设置于安装外壳内部的导向凸起一、设置于测量轴外部的导向孔一，导向凸起一与导向孔一之间构成引导方向平行于测量轴轴向的滑动导向配合；

所述的测量轴背离微调机构的一端设置有参照块，参照块位于参照盘内，且参照块背离微调机构的侧面与设置于参照盘的参照台阶位于同一平面内，参照块与参照盘之间构成滑动导向配合；

所述的粗调螺旋套为环形柱体结构，且粗调螺旋套同轴套设于测量轴外部，测量轴与粗调螺旋套之间设置有螺纹件一且两者之间通过螺纹件一进行连接，螺纹件一包括设置于粗调螺旋套内部的内螺纹一、设置于测量轴外部的外螺纹一；

所述的粗调螺旋套与粗调转筒之间设置有导向部件二，导向部件二包括设置于粗调转筒内部的导向凸起二、设置于粗调螺旋套外部的导向孔二，导向凸起二与导向孔二之间构成引导方向平行于粗调螺旋套轴向的滑动导向配合；

所述的粗调螺旋套朝向微调机构的端部与微调同步机构连接。

作为本技术方案的进一步改进。

所述的微调同步机构设置于微调转筒内，微调同步机构包括微调螺旋套、连动套，连动套为环形柱体结构，连动套与粗调螺旋套之间设置有连接件且两者之间通过连接件进行同轴连接，连接件为半环形柱体结构，连接件的一端与粗调螺旋套同轴固定、另一端位于粗调螺旋套朝向连动套的一侧且该端设置有内置台阶，连接件设置有两组且关于粗调螺旋套轴向呈对称分布，两组内置台阶与粗调螺旋套之间的区域为连接区，连动套的一端位于连接区内且该端设置有外置台阶，外置台阶与连接区之间构成转动配合，粗调螺旋套转动不受连动套干涉；

所述的连动套还同轴套接于测量轴外部，连动套与测量轴之间设置有导向部件三，导向部件三包括设置于连动套内部的导向凸起三、设置于测量轴外部的导向孔三，导向凸起三与导向孔三之间构成引导方向平行于测量轴轴向的滑动导向配合；

所述的微调螺旋套为环形柱体结构，微调螺旋套与连动套之间设置有螺纹件二且两者之间通过螺纹件二进行连接，螺纹件二包括设置于微调螺旋套内部的内螺纹二、设置于连动套外部的外螺纹二；

所述的微调螺旋套还同轴固定安装于微调转筒内。

本发明与现有技术相比的有益效果在于，使用者可通过粗调机构与微调机构的配合调整测量对比装置的伸长量至与物件待测量尺寸相匹配，此时使用者可通过显示机构读取粗调/微调数据，并最终得出物件待测量尺寸的大小，整个测量过程分为粗调与微调两部分，使得本检测仪的测量精度更高，除此之外，使用者还可预先调整测量对比装置的伸长量至合适数值，而后使用者可快速将物件安放至与测量对比装置接触并对比其是否符合生产要求，该种对比方式快速便捷，适用于大批量的物件尺寸对比。

附图说明

图1为本发明的结构示意图。

图2为本发明的局部结构示意图。

图3为本发明的粗调转筒与微调转筒的配合图。

图4为本发明的微调传递构件与粗调传递构件的配合图。

图5为本发明的粗调传递构件的结构示意图。

图6为本发明的微调传递构件的结构示意图。

图7为本发明的微调传递构件的结构示意图。

图8为本发明的测量对比装置的结构示意图。

图9为本发明的粗调同步机构的结构示意图。

图10为本发明的微调同步机构的结构示意图。

具体实施方式

采用粗微调方式对物件进行高精度尺寸测量对比方法，其步骤在于：

（一）测量阶段；

S1：使用者将物件移至与测量对比装置300接触，并旋转调整装置；

所述的调整装置包括粗调机构100、微调机构200、显示机构，粗调机构100用于快速粗略调整测量对比装置300的伸长量，微调机构200用于微调测量对比装置300的伸长量并提高其测量/对比精度，显示机构用于显示粗调机构100与微调机构200的调整数据；

所述的粗调机构100包括用于被使用者粗调转动的粗调转筒110、用于传递并显示粗调结果数据的粗调显示构件120，所述的微调机构200包括用于被使用者微调转动的微调转筒210、用于传递并显示微调结果数据的微调显示构件220；

所述的测量对比装置300包括用于与物件接触并提供参照作用的参照盘330、用于根据粗调机构100的粗调数据改变自身与参照盘330之间距离的粗调同步机构310、用于根据微调机构200的微调数据改变粗调同步机构310与参照盘330之间距离的微调同步机构320；

使用者将物件移至与参照盘330抵触，而后通过旋转粗调转筒110进行粗调，粗调过程中，粗调同步机构310将根据粗调数据改变自身与参照盘330之间的距离， 同时使用者可通过显示机构与粗调显示构件120的配合实时读取粗调数据，即粗调同步机构310与参照盘330之间的距离，直至粗调数据接近物件待测量尺寸；

S2：使用者通过旋转微调转筒210进行微调，微调过程中，微调同步机构320将根据微调数据改变粗调同步机构310与参照盘330之间的距离，同时使用者可通过显示机构与微调显示构件220的配合实时读取微调数据，直至粗调同步机构310与参照盘330之间的距离与物件待测量尺寸相吻合，此时使用者可根据粗调数据与微调数据计算得出物件的待测量尺寸；

（二）对比阶段；

S3：使用者通过对粗调机构100进行粗调、对微调机构200进行微调，且根据显示机构读取粗调/微调数据并计算出粗调同步机构310与参照盘330之间的距离，最终使得粗调同步机构310与参照盘330之间的距离等物件待对比尺寸；

S4：使用者将物件移至与参照盘330抵触，并通过粗调同步机构310与参照盘330之间的距离对比物件尺寸是否达到实际生产要求。

本发明通过测量对比装置对物件进行尺寸测量的优越性在于，使用者可通过粗调机构与微调机构的配合调整测量对比装置的伸长量至与物件待测量尺寸相匹配，此时使用者可通过显示机构读取粗调/微调数据，并最终得出物件待测量尺寸的大小，整个测量过程分为粗调与微调两部分，使得本检测仪的测量精度更高，除此之外，使用者还可预先调整测量对比装置的伸长量至合适数值，而后使用者可快速将物件安放至与测量对比装置接触并对比其是否符合生产要求，该种对比方式快速便捷，适用于大批量的物件尺寸对比。

双显定长检测仪，包括调整装置、测量对比装置300，测量对比装置300用于对物件进行尺寸测量或为大批量物件提供对比参照作用，调整装置用于调整测量对比装置300的伸长量。

所述的调整装置包括粗调机构100、微调机构200、显示机构，粗调机构100用于快速粗略调整测量对比装置300的伸长量，微调机构200用于微调测量对比装置300的伸长量并提高其测量/对比精度，显示机构用于显示粗调机构100与微调机构200的调整数据。

使用者将物件安放至与测量对比装置300接触，而后使用者可通过对粗调机构100进行粗调、对微调机构200进行微调，并通过显示机构读取粗调/微调数据，直至测量对比装置300的伸长量与物件所需测量尺寸相吻合，此时显示机构显示的数据即为物件所需测量尺寸；除此之外，使用者可事先调整测量对比装置300的伸长量至与物件的待对比尺寸相吻合，而后使用者可快速将物件安放至与测量对比装置300接触并对比其是否符合生产要求，该种对比方式快速便捷，适用于大批量的物件尺寸对比。

所述的显示机构包括安装外壳、显示盘，安装外壳为两端开口的壳体结构，显示盘固定安装于安装外壳外表面，安装外壳上开设有穿设孔a，且显示盘上开设有与穿设孔a同轴布置的穿设孔b。

所述的粗调机构100包括用于被使用者粗调转动的粗调转筒110、用于传递并显示粗调结果数据的粗调显示构件120。

所述的粗调转筒110为由两组呈半圆柱筒体的粗调转壳构成的圆柱筒体结构，且粗调转筒110两端开口，粗调转筒110的一开口端与安装外壳的一开口端之间活动安装，且粗调转筒110可绕自身轴向转动。

所述的粗调显示构件120包括粗调齿圈121、中间齿轮a122、齿轮轴a，粗调齿圈121与粗调转筒110之间设置有固定件且两者之间通过固定件进行同轴固定连接，齿轮轴a的轴向平行于粗调转筒110的轴向，齿轮轴a活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动，中间齿轮a122固定套接于齿轮轴a外部并与粗调齿圈121啮合。

所述的粗调显示构件120还包括中间蜗杆123、中间涡轮124、齿轮轴b，中间蜗杆123与齿轮轴a之间同轴固定连接，齿轮轴b的轴向垂直于粗调转筒110的轴向，齿轮轴b活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动，中间涡轮124固定套接于齿轮轴b外部并与中间蜗杆123啮合。

所述的粗调显示构件120还包括中间齿轮b125、粗调齿轮126、粗调转轴127，中间齿轮b125固定套接于齿轮轴b外部，粗调转轴127的轴向平行于齿轮轴b的轴向，粗调转轴127活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动，且粗调转轴127的一端穿过穿设孔a、穿设孔b并位于显示盘背离安装外壳的一侧，并且该端设置有粗调指针，粗调齿轮126固定套接于粗调转轴127外部并与中间齿轮b125啮合。

粗调机构100的粗调过程，具体表现为：使用者转动粗调转筒110，粗调转筒110转动并最终使得粗调转轴127绕自身轴向转动，粗调转轴127转动并牵引粗调指针同步转动，使用者可根据粗调指针在显示盘上的位置读取出粗调数据。

所述的微调机构200设置于粗调机构100背离安装外壳的一侧，微调机构200包括用于被使用者微调转动的微调转筒210、用于传递并显示微调结果数据的微调显示构件220。

所述的微调转筒210为由两组成半圆柱筒体的微调转壳构成的圆柱筒体结构，且微调转筒210两端开口，微调转筒210的一开口端与粗调转筒311背离安装外壳的开口端之间同轴活动连接，且微调转筒210可绕自身轴向转动。

所述的微调显示构件220包括传递蜗杆221、传递涡轮222、齿轮轴c，传递蜗杆221与微调转筒210同轴布置，传递蜗杆221的一端位于安装外壳内、另一端与微调转筒210背离粗调转筒110的开口端之间以键连接方式进行动力连接传递，齿轮轴c的轴向平行于粗调转轴127的轴向，齿轮轴c活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动，传递涡轮222固定套接于齿轮轴c外部并与传递蜗杆221啮合。

所述的微调显示构件220还包括传递齿轮a223、传递齿轮b224、齿轮轴d，齿轮轴d的轴向平行于粗调转轴127轴向，齿轮轴d活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动，传递齿轮a223固定套接于齿轮轴c外部，传递齿轮b224固定套接于齿轮轴d外部并与传递齿轮a223啮合。

所述的微调显示构件220还包括传递齿轮c225、微调齿轮226、微调转轴227，微调转轴227为环形柱体结构，微调转轴227同轴活动套设于粗调转轴127外部且两者各自转动互不干涉，微调转轴227的一端穿过穿设孔a、穿设孔b并位于显示盘背离安装外壳的一侧，且该端设置有微调指针，传递齿轮c225固定套接于齿轮轴d外部，微调齿轮226固定套接于微调转轴227外部并与传递齿轮c225啮合。

微调机构200的微调过程，具体表现为：使用者转动微调转筒210，微调转筒210转动并最终使得微调转轴227绕自身轴向转动，微调转轴227转动并牵引微调指针同步转动，使用者可根据微调指针在显示盘上的位置读取出微调数据；

使用者通过粗调机构100与微调机构200的相互配合使得测量对比装置300的伸长量与物件所需测量尺寸/对比尺寸相吻合，并可根据粗调指针/微调指针在显示盘上的位置实时读取测量对比装置300的伸长量。

所述的测量对比装置300包括用于与物件接触并提供参照作用的参照盘330、用于根据粗调机构100的粗调数据改变自身与参照盘330之间距离的粗调同步机构310、用于根据微调机构200的微调数据改变粗调同步机构310与参照盘330之间距离的微调同步机构320。

所述的参照盘330为环形柱体结构，且参照盘330与粗调转筒110同轴布置，参照盘330固定安装于安装外壳背离粗调转筒110的开口端，参照盘330背离安装外壳的一端设置有参照台阶。

所述的粗调同步机构310包括粗调螺旋套311、测量轴312，测量轴312为环形柱体结构，测量轴312同轴活动套接于传递蜗杆221外部，且测量轴312上开设有用于传递蜗杆221与传递涡轮222之间啮合的避让孔。

所述的测量轴312与安装外壳之间设置有导向部件一，具体的，导向部件一为设置于安装外壳内部的导向凸起一、设置于测量轴312外部的导向孔一，导向凸起一与导向孔一之间构成引导方向平行于测量轴312轴向的滑动导向配合。

所述的测量轴312背离微调机构200的一端设置有参照块313，参照块313位于参照盘330内，且参照块313背离微调机构200的侧面与设置于参照盘330的参照台阶位于同一平面内，参照块313与参照盘330之间构成滑动导向配合。

所述的粗调螺旋套311为环形柱体结构，且粗调螺旋套312同轴套设于测量轴312外部，测量轴312与粗调螺旋套311之间设置有螺纹件一且两者之间通过螺纹件一进行连接，具体的，螺纹件一包括设置于粗调螺旋套311内部的内螺纹一、设置于测量轴312外部的外螺纹一。

所述的粗调螺旋套311与粗调转筒110之间设置有导向部件二，具体的，导向部件二包括设置于粗调转筒110内部的导向凸起二、设置于粗调螺旋套311外部的导向孔二，导向凸起二与导向孔二之间构成引导方向平行于粗调螺旋套311轴向的滑动导向配合。

所述的粗调螺旋套311朝向微调机构200的端部与微调同步机构320连接。

粗调同步机构310的同步过程，具体表现为：粗调机构100的粗调过程中，使用者手握安装外壳或参照盘330，粗调转筒110转动并牵引粗调螺旋套311同步转动，同时由于粗调螺旋套311与微调同步机构320连接、使用者手握安装外壳或参照盘330，使得粗调螺旋套311转动并牵引测量轴312沿自身延伸方向运动，从而改变参照块313与参照盘330之间的距离。

所述的微调同步机构320设置于微调转筒210内，微调同步机构320包括微调螺旋套321、连动套322，连动套322为环形柱体结构，连动套322与粗调螺旋套311之间设置有连接件323且两者之间通过连接件323进行同轴连接，具体的，连接件323为半环形柱体结构，连接件323的一端与粗调螺旋套311同轴固定、另一端位于粗调螺旋套311朝向连动套322的一侧且该端设置有内置台阶，连接件323设置有两组且关于粗调螺旋套311轴向呈对称分布，两组内置台阶与粗调螺旋套311之间的区域为连接区，连动套322的一端位于连接区内且该端设置有外置台阶，外置台阶与连接区之间构成转动配合，粗调螺旋套311转动不受连动套322干涉。

所述的连动套322还同轴套接于测量轴312外部，连动套322与测量轴312之间设置有导向部件三，具体的，导向部件三包括设置于连动套322内部的导向凸起三、设置于测量轴312外部的导向孔三，导向凸起三与导向孔三之间构成引导方向平行于测量轴312轴向的滑动导向配合。

所述的微调螺旋套321为环形柱体结构，微调螺旋套321与连动套322之间设置有螺纹件二且两者之间通过螺纹件二进行连接，具体的，螺纹件二包括设置于微调螺旋套321内部的内螺纹二、设置于连动套322外部的外螺纹二。

所述的微调螺旋套321还同轴固定安装于微调转筒321内。

微调同步机构320的同步过程，具体为：微调机构320微调过程中，微调转筒210转动并牵引微调螺旋套321同步转动，微调螺旋套321转动并牵引连动套322沿自身延伸方向运动，连动套322运动并牵引粗调螺旋套331同步运动，从而使得测量轴312同步运动，并改变参照块313与参照盘330之间的距离；

使用者可通过对粗调机构100进行粗调、对微调机构200进行微调，从而使得参照块313与参照盘330之间的距离等于物件的待测量尺寸，使用者可通过显示盘与粗调/微调指针相配合读取数据。

Claims (2)

1.采用粗微调方式对物件进行高精度尺寸测量对比方法，其步骤在于：

（一）测量阶段；

S1：使用者将物件移至与测量对比装置接触，并旋转调整装置；

所述的调整装置包括粗调机构、微调机构、显示机构，粗调机构用于快速粗略调整测量对比装置的伸长量，微调机构用于微调测量对比装置的伸长量并提高其测量/对比精度，显示机构用于显示粗调机构与微调机构的调整数据；

所述的粗调机构包括用于被使用者粗调转动的粗调转筒、用于传递并显示粗调结果数据的粗调显示构件，所述的微调机构包括用于被使用者微调转动的微调转筒、用于传递并显示微调结果数据的微调显示构件；

所述的测量对比装置包括用于与物件接触并提供参照作用的参照盘、用于根据粗调机构的粗调数据改变自身与参照盘之间距离的粗调同步机构、用于根据微调机构的微调数据改变粗调同步机构与参照盘之间距离的微调同步机构；

所述的粗调转筒为由两组呈半圆柱筒体的粗调转壳构成的圆柱筒体结构，且粗调转筒两端开口，粗调转筒的一开口端与安装外壳的一开口端之间活动安装，且粗调转筒可绕自身轴向转动；

所述的粗调显示构件包括粗调齿圈、中间齿轮a、齿轮轴a，粗调齿圈与粗调转筒之间设置有固定件且两者之间通过固定件进行同轴固定连接，齿轮轴a轴向平行于粗调转筒轴向，齿轮轴a活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动，中间齿轮a固定套接于齿轮轴a外部并与粗调齿圈啮合；

所述的粗调显示构件还包括中间蜗杆、中间涡轮、齿轮轴b，中间蜗杆与齿轮轴a之间同轴固定连接，齿轮轴b轴向垂直于粗调转筒轴向，齿轮轴b活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动，中间涡轮固定套接于齿轮轴b外部并与中间蜗杆啮合；

所述的粗调显示构件还包括中间齿轮b、粗调齿轮、粗调转轴，中间齿轮b固定套接于齿轮轴b外部，粗调转轴轴向平行于齿轮轴b轴向，粗调转轴活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动，且粗调转轴的一端穿过穿设孔a、穿设孔b并位于显示盘背离安装外壳的一侧，并且该端设置有粗调指针，粗调齿轮固定套接于粗调转轴外部并与中间齿轮b啮合；

所述的微调机构设置于粗调机构背离安装外壳的一侧；

所述的微调转筒为由两组成半圆柱筒体的微调转壳构成的圆柱筒体结构，且微调转筒两端开口，微调转筒的一开口端与粗调转筒背离安装外壳的开口端之间同轴活动连接，且微调转筒可绕自身轴向转动；

所述的微调显示构件包括传递蜗杆、传递涡轮、齿轮轴c，传递蜗杆与微调转筒同轴布置，传递蜗杆的一端位于安装外壳内、另一端与微调转筒背离粗调转筒的开口端之间以键连接方式进行动力连接传递，齿轮轴c轴向平行于粗调转轴轴向，齿轮轴c活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动，传递涡轮固定套接于齿轮轴c外部并与传递蜗杆啮合；

所述的微调显示构件还包括传递齿轮a、传递齿轮b、齿轮轴d，齿轮轴d的轴向平行于粗调转轴轴向，齿轮轴d活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动，传递齿轮a固定套接于齿轮轴c外部，传递齿轮b固定套接于齿轮轴d外部并与传递齿轮a啮合；

所述的微调显示构件还包括传递齿轮c、微调齿轮、微调转轴，微调转轴为环形柱体结构，微调转轴同轴活动套设于粗调转轴外部且两者各自转动互不干涉，微调转轴的一端穿过穿设孔a、穿设孔b并位于显示盘背离安装外壳的一侧，且该端设置有微调指针，传递齿轮c固定套接于齿轮轴d外部，微调齿轮固定套接于微调转轴外部并与传递齿轮c啮合；

所述的参照盘为环形柱体结构，且参照盘与粗调转筒同轴布置，参照盘固定安装于安装外壳背离粗调转筒的开口端，参照盘背离安装外壳的一端设置有参照台阶；

所述的粗调同步机构包括粗调螺旋套、测量轴，测量轴为环形柱体结构，测量轴同轴活动套接于传递蜗杆外部，且测量轴上开设有用于传递蜗杆与传递涡轮之间啮合的避让孔；

所述的测量轴与安装外壳之间设置有导向部件一，导向部件一为设置于安装外壳内部的导向凸起一、设置于测量轴外部的导向孔一，导向凸起一与导向孔一之间构成引导方向平行于测量轴轴向的滑动导向配合；

所述的测量轴背离微调机构的一端设置有参照块，参照块位于参照盘内，且参照块背离微调机构的侧面与设置于参照盘的参照台阶位于同一平面内，参照块与参照盘之间构成滑动导向配合；

所述的粗调螺旋套为环形柱体结构，且粗调螺旋套同轴套设于测量轴外部，测量轴与粗调螺旋套之间设置有螺纹件一且两者之间通过螺纹件一进行连接，螺纹件一包括设置于粗调螺旋套内部的内螺纹一、设置于测量轴外部的外螺纹一；

所述的粗调螺旋套与粗调转筒之间设置有导向部件二，导向部件二包括设置于粗调转筒内部的导向凸起二、设置于粗调螺旋套外部的导向孔二，导向凸起二与导向孔二之间构成引导方向平行于粗调螺旋套轴向的滑动导向配合；

所述的粗调螺旋套朝向微调机构的端部与微调同步机构连接；

所述的微调同步机构设置于微调转筒内，微调同步机构包括微调螺旋套、连动套，连动套为环形柱体结构，连动套与粗调螺旋套之间设置有连接件且两者之间通过连接件进行同轴连接，连接件为半环形柱体结构，连接件的一端与粗调螺旋套同轴固定、另一端位于粗调螺旋套朝向连动套的一侧且该端设置有内置台阶，连接件设置有两组且关于粗调螺旋套轴向呈对称分布，两组内置台阶与粗调螺旋套之间的区域为连接区，连动套的一端位于连接区内且该端设置有外置台阶，外置台阶与连接区之间构成转动配合，粗调螺旋套转动不受连动套干涉；

所述的连动套还同轴套接于测量轴外部，连动套与测量轴之间设置有导向部件三，导向部件三包括设置于连动套内部的导向凸起三、设置于测量轴外部的导向孔三，导向凸起三与导向孔三之间构成引导方向平行于测量轴轴向的滑动导向配合；

所述的微调螺旋套为环形柱体结构，微调螺旋套与连动套之间设置有螺纹件二且两者之间通过螺纹件二进行连接，螺纹件二包括设置于微调螺旋套内部的内螺纹二、设置于连动套外部的外螺纹二；

所述的微调螺旋套还同轴固定安装于微调转筒内；

使用者将物件移至与参照盘抵触，而后通过旋转粗调转筒进行粗调，粗调过程中，粗调同步机构将根据粗调数据改变自身与参照盘之间的距离， 同时使用者可通过显示机构与粗调显示构件的配合实时读取粗调数据，即粗调同步机构与参照盘之间的距离，直至粗调数据接近物件待测量尺寸；

S2：使用者通过旋转微调转筒进行微调，微调过程中，微调同步机构将根据微调数据改变粗调同步机构与参照盘之间的距离，同时使用者可通过显示机构与微调显示构件的配合实时读取微调数据，直至粗调同步机构与参照盘之间的距离与物件待测量尺寸相吻合，此时使用者可根据粗调数据与微调数据计算得出物件的待测量尺寸；

（二）对比阶段；

S3：使用者通过对粗调机构进行粗调、对微调机构进行微调，且根据显示机构读取粗调/微调数据并计算出粗调同步机构与参照盘之间的距离，最终使得粗调同步机构与参照盘之间的距离等于物件待对比尺寸；

S4：使用者将物件移至与参照盘抵触，并通过粗调同步机构与参照盘之间的距离对比物件尺寸是否达到实际生产要求。

2.根据权利要求1所述的采用粗微调方式对物件进行高精度尺寸测量对比方法，所述的显示机构包括安装外壳、显示盘，安装外壳为两端开口的壳体结构，显示盘固定安装于安装外壳外表面，安装外壳上开设有穿设孔a，且显示盘上开设有与穿设孔a同轴布置的穿设孔b。

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