CN109991251A - 一种基于多层扇束扫描的工业ct扫描方法 - Google Patents

一种基于多层扇束扫描的工业ct扫描方法 Download PDF

Info

Publication number
CN109991251A
CN109991251A CN201910274886.1A CN201910274886A CN109991251A CN 109991251 A CN109991251 A CN 109991251A CN 201910274886 A CN201910274886 A CN 201910274886A CN 109991251 A CN109991251 A CN 109991251A
Authority
CN
China
Prior art keywords
indicate
linear array
array detector
projection
scanning
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201910274886.1A
Other languages
English (en)
Inventor
王远
陈云斌
胡栋材
石正军
张成鑫
刘清华
张小丽
李寿涛
涂国锋
李敬
李世根
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Institute of Applied Electronics of CAEP
Original Assignee
Institute of Applied Electronics of CAEP
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Institute of Applied Electronics of CAEP filed Critical Institute of Applied Electronics of CAEP
Priority to CN201910274886.1A priority Critical patent/CN109991251A/zh
Publication of CN109991251A publication Critical patent/CN109991251A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/03—Investigating materials by wave or particle radiation by transmission
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/10—Different kinds of radiation or particles
    • G01N2223/101—Different kinds of radiation or particles electromagnetic radiation
    • G01N2223/1016—X-ray
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/33—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts
    • G01N2223/3303—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts object fixed; source and detector move
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60—Specific applications or type of materials
    • G01N2223/646—Specific applications or type of materials flaws, defects

Abstract

本发明涉及一种基于多层扇束扫描的工业CT扫描方法，属于无损检测技术领域，所述工业CT扫描方法为：令投影角度为β，X射线源和线阵探测器在Z＝Zdown扫描并采集投影数据，X射线源和线阵探测器沿着Z轴由Z＝Zdown同步平移至Z＝Zup，采集投影数据，X射线源和线阵探测器同步旋转Δβ并沿着‑Z轴由Z＝Zup同步平移至Z＝Zdown，采集投影数据，重复，直至投影角度满足π+2γ≤β≤2π，本发明线阵探测器和X射线源组成二维扇束扫描平面，同时，线阵探测器和X射线源在固定投影角度下平移，实现了扫描视野的纵向覆盖，本发明所述扫描方法的旋转角度不超过360°即可完成对被扫描物体的整体扫描，相比于螺旋扫描和旋转‑平移扫描，降低了线阵探测器和X射线源的旋转角度范围，进而降低了系统设计难度。

Description

一种基于多层扇束扫描的工业CT扫描方法
技术领域
本发明属于无损检测技术领域，具体地说涉及一种基于多层扇束扫描的工业CT扫描方法。
背景技术
工业CT扫描(计算机断层扫描)视野通常用一个圆柱体表示，记为Ф×h，其中，圆柱体直径Ф表示扫描视野的横向覆盖范围，圆柱体高度h表示扫描视野的纵向覆盖范围。
目前，工业CT大视野扫描方式及重建算法研究多集中在如何扩大扫描视野的横向覆盖范围，包括探测器偏置扫描、转台偏置扫描、探测器分次扫描进行投影拼接、转台多次偏置扫描等方式。对于扩大扫描视野的纵向覆盖范围，有两种扫描方式可供选择，分别是螺旋扫描方式和旋转-平移扫描方式。实现螺旋扫描方式的常见方法有两种，一种是扫描对象作平动，同时射线源和探测器作圆周运动，比如医疗用的诊断CT；另一种是扫描对象作圆周运动，同时射线源和探测器作平动，比如工业CT。旋转-平移扫描方式与螺旋扫描方式类似，区别在于螺旋扫描方式的旋转运动与平动是同步进行，而旋转-平移扫描方式的旋转运动与平动是异步进行。
在工业无损检测领域，扫描对象由于特殊条件限制既不能作平动，也不能作圆周旋转运动，此时，需要射线源和探测器完成平动和旋转。以旋转-平移扫描方式为例，如图1所示，X射线源和线阵探测器首先在Z＝zdown处作圆周扫描，获得Z＝zdown处的断层图像；然后，如图2所示，X射线源和线阵探测器沿着Z轴平移至Z＝zdown+Δz处，再作圆周扫描，获得Z＝zdown+Δz处的断层图像，同理，可获得Z＝zdown+iΔz处的断层图像。这样，X射线源和线阵探测器需要作多次圆周旋转运动。但是，对于大尺寸和高密度扫描对象，常规X光机能量难以穿透扫描物体，需采用加速器作为X射线源，而加速器体积较大，包括水机、控制柜、高压电源、线缆等附属部件繁多，为平动和旋转增加了技术难度。
发明内容
针对现有技术的种种不足，为了解决上述问题，现提出一种基于多层扇束扫描的工业CT扫描方法，以扩大扫描视野的纵向覆盖范围，同时，降低X射线源旋转的技术难度。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种基于多层扇束扫描的工业CT扫描方法，工业CT扫描装置至少包括X射线源和线阵探测器，所述工业CT扫描方法包括以下步骤：
S1：令投影角度为β，X射线源和线阵探测器在Z＝Zdown扫描并采集投影数据；
S2：X射线源和线阵探测器沿着Z轴由Z＝Zdown同步平移至Z＝Zup，其中，平移速度为采集投影数据；
S3：X射线源和线阵探测器同步旋转Δβ；
S4：X射线源和线阵探测器沿着-Z轴由Z＝Zup同步平移至Z＝Zdown，其中，平移速度为采集投影数据；
S5：重复步骤S1至步骤S4，直至投影角度满足π+2γ≤β≤2π，其中，γ表示X射线源发出的射线与线阵探测器形成的扇束半张角。
进一步，对于单圆圆周扫描而言，投影角度为2π，对于短扫描而言，投影角度不小于π+2γ。
进一步，对于单圆圆周扫描而言，X射线源和线阵探测器同步旋转形成等距扇束，将等距扇束投影记为P(β,s)，其中，β∈(0,2π)表示投影角度，s∈(-sm,sm)表示线阵探测器坐标，采用标准扇束重建算法获得被扫描物体的重建图像，则：
其中，P′(β,s)表示经过几何加权后的投影数据，h()表示滤波函数，f(x,y)表示重建图像，S表示X射线源焦点位置，O表示旋转中心位置，M表示重建坐标(x,y)在射线上的投影位置，|SM|表示S和M之间的距离，|SO|表示S和O之间的距离。
进一步，对于被扫描物体而言，沿着Z轴方向是扫描方式的拓展，则被扫描物体的拓展重建图像为：
其中，P′(β,s，z)表示经过几何加权后的投影数据，h()表示滤波函数，f(x,y，z)表示拓展重建图像，S表示X射线源焦点位置，O表示旋转中心位置，M表示重建坐标(x,y，z)在射线上的投影位置，|SM|表示S和M之间的距离，|SO|表示S和O之间的距离。
进一步，对于短扫描而言，将扇束投影数据重排成平行束，采用平行束重建算法获得重建图像，则：其中，表示经过重排后平行束投影数据，表示重排后的平行束投影角度，t∈(-tm,tm)表示重排后平行束投影坐标，h()表示滤波函数，f(x,y)表示重建图像。
进一步，对于被扫描物体而言，沿着Z轴方向是扫描方式的拓展，则被扫描物体的拓展重建图像为：
其中，表示经过重排后平行束投影数据，表示重排后的平行束投影角度，t∈(-tm,tm)表示重排后平行束投影坐标，h()表示滤波函数，f(x,y，z)表示重建图像。
本发明的有益效果是：
线阵探测器和X射线源组成二维扇束扫描平面，同时，线阵探测器和X射线源在固定投影角度下平移，实现了扫描视野的纵向覆盖，本发明所述扫描方法的旋转角度不超过360°即可完成对被扫描物体的整体扫描，相比于螺旋扫描和旋转-平移扫描，降低了线阵探测器和X射线源的旋转角度范围，进而降低了系统设计难度。
附图说明
图1是现有技术中旋转-平移扫描方式的示意图；
图2是现有技术中旋转-平移扫描方式的示意图；
图3是本发明的扫描方法示意图；
图4是本发明的扫描方法示意图；
图5是扇束扫描示意图；
图6是扇束投影示意图；
图7是平行束投影示意图；
图8(a)是实施例二中第i幅投影示意图；
图8(b)是实施例二中第i+1幅投影示意图；
图9(a)是实施例二最终得到的断层图像示意图；
图9(b)是实施例二最终得到的冠状面图像示意图。
附图中：1-X射线源、2-线阵探测器、3-X射线源、4-线阵探测器。
具体实施方式
为了使本领域的人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合本发明的附图，对本发明的技术方案进行清楚、完整的描述，基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的其它类同实施例，都应当属于本申请保护的范围。此外，以下实施例中提到的方向用词，例如“上”“下”“左”“右”等仅是参考附图的方向，因此，使用的方向用词是用来说明而非限制本发明创造。
实施例一：
一种基于多层扇束扫描的工业CT扫描方法，工业CT扫描装置至少包括X射线源3和线阵探测器4。其中，采用线阵探测器4作为投影数据传感器，相比较于面阵探测器，线阵探测器4具有更好的防散射性能，可以补偿投影数据量减少引起的重建图像质量下降。同时，线阵探测器4帧频较高，可以配合快速机械运动，实现对扫描视野纵向范围的覆盖。
如图3和图4所示，所述工业CT扫描方法包括以下步骤：
S1：令投影角度为β，X射线源3和线阵探测器4在Z＝Zdown扫描并采集投影数据；
S2：X射线源3和线阵探测器4沿着Z轴由Z＝Zdown同步平移至Z＝Zup，其中，平移速度为采集投影数据；
S3：X射线源3和线阵探测器4同步旋转Δβ；
S4：X射线源3和线阵探测器4沿着-Z轴由Z＝Zup同步平移至Z＝Zdown，其中，平移速度为采集投影数据；
S5：重复步骤S1至步骤S4，直至投影角度满足π+2γ≤β≤2π，其中，γ表示X射线源3发出的射线与线阵探测器4形成的扇束半张角。
本实施例中，沿着Z轴方向，所述Z＝Zdown位于被扫描物体底点所在的平面，所述Z＝Zup位于被扫描物体顶点所在的平面。同时，线阵探测器4和X射线源3组成二维扇束扫描平面。给定投影角度β，为了扩大扫描视野的纵向覆盖范围，将X射线源3和线阵探测器4沿着被扫描物体的纵向方向平移并采集投影数据，相当于获得了一幅H×W的平面投影数据，这里H表示X射线源3和线阵探测器4的平移距离，W表示线阵探测器4宽度。本发明所述扫描方法的旋转角度(即投影角度)不超过360°即可完成对被扫描物体的整体扫描，相比于螺旋扫描和旋转-平移扫描，降低了X射线源的旋转角度范围。具体的，对于单圆圆周扫描而言，投影角度为2π，对于短扫描而言，投影角度不小于π+2γ。也就是说，本发明所述扫描方法实际上是扇束扫描方式在Z轴方向的扩展，形成多层扇束扫描。单层扫描遵循严格的扇束扫描方式，因此，重建算法可沿用扇束扫描重建算法。
具体的，如图5所示，对于单圆圆周扫描而言，X射线源3和线阵探测器4同步旋转形成等距扇束，将等距扇束投影记为P(β,s)，其中，β∈(0,2π)表示投影角度，s∈(-sm,sm)表示线阵探测器4坐标，Φ表示某射线的平行束投影角度。采用标准扇束重建算法获得被扫描物体的重建图像，则：
其中，P′(β,s)表示经过几何加权后的投影数据，h()表示滤波函数，f(x,y)表示重建图像，S表示X射线源焦点位置，O表示旋转中心位置，M表示重建坐标(x,y)在射线上的投影位置，|SM|表示S和M之间的距离，|SO|表示S和O之间的距离。对于被扫描物体而言，沿着Z轴方向是扫描方式的拓展，则被扫描物体的拓展重建图像为：
其中，P′(β,s，z)表示经过几何加权后的投影数据，h()表示滤波函数，f(x,y，z)表示拓展重建图像，S表示X射线源焦点位置，O表示旋转中心位置，M表示重建坐标(x,y,z)在射线上的投影位置，|SM|表示S和M之间的距离，|SO|表示S和O之间的距离。
为了获得完备的投影数据，短扫描获取的投影数据依然存在冗余现象。根据扇束或平行束投影数据的共轭关系，有的投影数据被采样两次，有的投影数据被采样一次。如图6和图7所示，短扫描获得的扇束投影数据，重排到平行束地址区间，四边形ABCD内的阴影部分为完备的投影数据，而空白部分为冗余数据。在进行短扫描重建时，为了将投影数据对重建图像的贡献进行归一化，首先将扇束投影数据重排成平行束，并严格选取[0,π]范围的投影数据进行滤波反投影。
具体的，采用平行束重建算法获得重建图像，则：
其中，表示经过重排后平行束投影数据，表示重排后的平行束投影角度，t∈(-tm,tm)表示重排后平行束投影坐标，h()表示滤波函数，f(x,y)表示重建图像。对于被扫描物体而言，沿着Z轴方向是扫描方式的拓展，则被扫描物体的拓展重建图像为： 表示经过重排后平行束投影数据，表示重排后的平行束投影角度，t∈(-tm,tm)表示重排后平行束投影坐标，h()表示滤波函数，f(x,y,z)表示重建图像。
实施例二：
本实施例与实施例一相同的部分不再赘述，不同的是：
采用线阵探测器和450kV X光机进行验证性实验，扫描参数如表1所示。
表1：扫描参数
由表1参数可以看出，给定投影角度β，线阵探测器和X光机沿着Z轴同步平动的过程中，采集的投影行数为2000行。设定线阵探测器积分时间为20ms，则线阵探测器在投影角度β下的投影采集时间为20ms×2000行＝40s。线阵探测器和X光机的匀速平动距离为40s×5.5mm/s＝220mm。在线阵探测器的单帧采集周期内，线阵探测器和X光机的平动距离为20ms×5.5mm/s＝0.11mm。
为了提高扫描效率，线阵探测器和X光机在相邻投影角度β+iΔβ、β+(i+1)Δβ内的平动速度方向相反，第i幅投影如图8(a)所示，第i+1幅投影如图8(b)所示。由图8可以看出，相邻投影角度下的投影数据存储顺序刚好相反。在进行图像重建时，需要对投影数据进行重组，最终得到的重建图像如图9(a)和图9(b)所示。
以上已将本发明做一详细说明，以上所述，仅为本发明之较佳实施例而已，当不能限定本发明实施范围，即凡依本申请范围所作均等变化与修饰，皆应仍属本发明涵盖范围内。

Claims (6)

1.一种基于多层扇束扫描的工业CT扫描方法，其特征在于，工业CT扫描装置至少包括X射线源和线阵探测器，所述工业CT扫描方法包括以下步骤：
S1：令投影角度为β，X射线源和线阵探测器在Z＝Zdown扫描并采集投影数据；
S2：X射线源和线阵探测器沿着Z轴由Z＝Zdown同步平移至Z＝Zup，其中，平移速度为采集投影数据；
S3：X射线源和线阵探测器同步旋转Δβ；
S4：X射线源和线阵探测器沿着-Z轴由Z＝Zup同步平移至Z＝Zdown，其中，平移速度为采集投影数据；
S5：重复步骤S1至步骤S4，直至投影角度满足π+2γ≤β≤2π，其中，γ表示X射线源发出的射线与线阵探测器形成的扇束半张角。
2.根据权利要求1所述的工业CT扫描方法，其特征在于，对于单圆圆周扫描而言，投影角度为2π，对于短扫描而言，投影角度不小于π+2γ。
3.根据权利要求2所述的工业CT扫描方法，其特征在于，对于单圆圆周扫描而言，X射线源和线阵探测器同步旋转形成等距扇束，将等距扇束投影记为P(β,s)，其中，β∈(0,2π)表示投影角度，s∈(-sm,sm)表示线阵探测器坐标，采用标准扇束重建算法获得被扫描物体的重建图像，则：
其中，P′(β,s)表示经过几何加权后的投影数据，h()表示滤波函数，f(x,y)表示重建图像，S表示X射线源焦点位置，O表示旋转中心位置，M表示重建坐标(x,y)在射线上的投影位置，|SM|表示S和M之间的距离，|SO|表示S和O之间的距离。
4.根据权利要求3所述的工业CT扫描方法，其特征在于，对于被扫描物体而言，沿着Z轴方向是扫描方式的拓展，则被扫描物体的拓展重建图像为：
其中，P′(β,s，z)表示经过几何加权后的投影数据，h()表示滤波函数，f(x,y，z)表示拓展重建图像，S表示X射线源焦点位置，O表示旋转中心位置，M表示重建坐标(x,y，z)在射线上的投影位置，|SM|表示S和M之间的距离，|SO|表示S和O之间的距离。
5.根据权利要求2所述的工业CT扫描方法，其特征在于，对于短扫描而言，将扇束投影数据重排成平行束，采用平行束重建算法获得重建图像，则：其中，表示经过重排后平行束投影数据，表示重排后的平行束投影角度，t∈(-tm,tm)表示重排后平行束投影坐标，h()表示滤波函数，f(x,y)表示重建图像。
6.根据权利要求5所述的工业CT扫描方法，其特征在于，对于被扫描物体而言，沿着Z轴方向是扫描方式的拓展，则被扫描物体的拓展重建图像为：
其中，表示经过重排后平行束投影数据，表示重排后的平行束投影角度，t∈(-tm,tm)表示重排后平行束投影坐标，h()表示滤波函数，f(x,y,z)表示重建图像。
CN201910274886.1A 2019-04-08 2019-04-08 一种基于多层扇束扫描的工业ct扫描方法 Pending CN109991251A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910274886.1A CN109991251A (zh) 2019-04-08 2019-04-08 一种基于多层扇束扫描的工业ct扫描方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910274886.1A CN109991251A (zh) 2019-04-08 2019-04-08 一种基于多层扇束扫描的工业ct扫描方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN109991251A true CN109991251A (zh) 2019-07-09

Family

ID=67131217

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910274886.1A Pending CN109991251A (zh) 2019-04-08 2019-04-08 一种基于多层扇束扫描的工业ct扫描方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109991251A (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110353716A (zh) * 2019-07-25 2019-10-22 沈阳开普医疗影像技术有限公司 双能ct短程扫描协议中的数字域分解方法
CN113533392A (zh) * 2021-07-12 2021-10-22 重庆大学 一种组合扫描cl成像方法
CN114820430A (zh) * 2022-02-18 2022-07-29 成都飞机工业（集团）有限责任公司 一种多光源协同曝光的3d打印无损检测方法
WO2023280216A1 (zh) * 2021-07-07 2023-01-12 同方威视技术股份有限公司 检查系统和方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101393145A (zh) * 2008-10-22 2009-03-25 重庆大学 大尺寸物体的锥束双螺旋ct扫描成像方法
CN102590243A (zh) * 2012-02-17 2012-07-18 重庆大学 一种铁路铸件全身ct扫描成像方法
CN104502382A (zh) * 2015-01-09 2015-04-08 天津三英精密仪器有限公司 一种新型岩心三维ct成像装置及用途
CN104809750A (zh) * 2015-05-04 2015-07-29 重庆大学 一种直线扫描ct系统及图像重建方法
CN106408541A (zh) * 2016-09-30 2017-02-15 重庆大学 基于锥束ct的工业部件三维图像表面平滑方法
CN107271463A (zh) * 2017-06-16 2017-10-20 重庆大学 一种辐射态下核燃料元件的ct检测装置
EP3454050A2 (en) * 2017-09-11 2019-03-13 The Boeing Company High speed pipe inspection system
CN109579750A (zh) * 2017-09-29 2019-04-05 本田技研工业株式会社 电解质膜的膜厚测定方法及其装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101393145A (zh) * 2008-10-22 2009-03-25 重庆大学 大尺寸物体的锥束双螺旋ct扫描成像方法
CN102590243A (zh) * 2012-02-17 2012-07-18 重庆大学 一种铁路铸件全身ct扫描成像方法
CN104502382A (zh) * 2015-01-09 2015-04-08 天津三英精密仪器有限公司 一种新型岩心三维ct成像装置及用途
CN104809750A (zh) * 2015-05-04 2015-07-29 重庆大学 一种直线扫描ct系统及图像重建方法
CN106408541A (zh) * 2016-09-30 2017-02-15 重庆大学 基于锥束ct的工业部件三维图像表面平滑方法
CN107271463A (zh) * 2017-06-16 2017-10-20 重庆大学 一种辐射态下核燃料元件的ct检测装置
EP3454050A2 (en) * 2017-09-11 2019-03-13 The Boeing Company High speed pipe inspection system
CN109579750A (zh) * 2017-09-29 2019-04-05 本田技研工业株式会社 电解质膜的膜厚测定方法及其装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
陈平: "《扇形束CT重建》", 31 December 2015, 中国科学技术出版社 *

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110353716A (zh) * 2019-07-25 2019-10-22 沈阳开普医疗影像技术有限公司 双能ct短程扫描协议中的数字域分解方法
CN110353716B (zh) * 2019-07-25 2023-06-27 沈阳开普医疗影像技术有限公司 双能ct短程扫描协议中的数字域分解方法
WO2023280216A1 (zh) * 2021-07-07 2023-01-12 同方威视技术股份有限公司 检查系统和方法
CN113533392A (zh) * 2021-07-12 2021-10-22 重庆大学 一种组合扫描cl成像方法
CN113533392B (zh) * 2021-07-12 2022-08-26 重庆大学 一种组合扫描cl成像方法
CN114820430A (zh) * 2022-02-18 2022-07-29 成都飞机工业（集团）有限责任公司 一种多光源协同曝光的3d打印无损检测方法
CN114820430B (zh) * 2022-02-18 2023-10-03 成都飞机工业（集团）有限责任公司 一种多光源协同曝光的3d打印无损检测方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109991251A (zh) 一种基于多层扇束扫描的工业ct扫描方法
CN100435733C (zh) X-ct扫描系统
JP4282302B2 (ja) Ｘ線ｃｔ装置
CN102793552B (zh) Ct图像采集装置及ct扫描成像系统
CN101983034B (zh) 基于在用于锥束体积ct乳房x线照相术成像的连续管移动期间无焦斑运动的旋转步进-扫描图像采集的快速断层合成扫描器装置和基于ct的方法
AU2002215340B2 (en) System and method for cone beam volume computed tomography using circle-plus-multiple-ARC orbit
US8031828B1 (en) Method and apparatus for computed tomography
CN103384498B (zh) 探测装置
US20050265523A1 (en) C-arm device with adjustable detector offset for cone beam imaging involving partial circle scan trajectories
EP1713392B1 (en) Computed tomography imaging with pixel staggering and focal spot modulation
JPH07178079A (ja) コンピュータ化された断層像撮像方法および断層像撮像装置
JP2000197627A (ja) Ｘ線ｃｔ装置
JP2013510643A (ja) 計算機式断層写真法撮像の装置及び方法
US7529335B2 (en) Voxel-driven spiral reconstruction for cone-beam computer tomography
US6925141B2 (en) Method for imaging in the computer tomography of a periodically moved object to be examined and CT device for carrying out the method
JP2002045355A (ja) コンピュータ断層撮影方法
Robb X-ray computed tomography: from basic principles to applications
Hein et al. Feldkamp‐based cone‐beam reconstruction for gantry‐tilted helical multislice CT
JP2003180676A (ja) コンピュータトモグラフィ用の像再構成方法
CN202950664U (zh) X射线成像设备
JP2000316843A (ja) ３次元コンピュータライズドトモグラフィックイメージングを行うための方法及び装置
CN104698016A (zh) 一种多次平移的交错螺旋工业ct扫描成像方法
CN106097411B (zh) Ct机图像重建方法及高分辨ct扫描机
JP3917684B2 (ja) 物体の断層写真像を作成する方法及び装置
JPH06205771A (ja) 高速掃引を用いた四次元螺旋状体積撮像方法及び装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20190709