CN109946387A - 小径管相控阵超声检测对比试块及使用该试块的检测校验方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种小径管相控阵超声检测对比试块，包括中部管段（2）和两端的校验段（1）和（3），在校验段（1）的端部设有圆弧面（4）及内设有通孔（5），通孔（5）的轴线位于中部管段（2）的内孔延伸面上；校验段（3）内设有两长通孔（7）、（8）及一段弧形槽（9），长通孔（7）的轴线位于中部管段（2）外圆延伸面上，在中部管段（2）的外圆及内孔分别设有盲孔（10）、（11），在中部管段（2）的外圆还设有一段弧形槽（12）；本发明还公开了一种小径管相控阵超声检测校验方法；本发明能反应小径管内外壁对超声波声束反射影响，确保各次反射波检测灵敏度的一致性，提高缺陷定量的准确性和可靠性，并降低危害点状缺陷的漏检风险。

Description

小径管相控阵超声检测对比试块及使用该试块的检测校验 方法

技术领域

本发明涉及一种超声检测对比试块及检测校验方法，特别是用于小径管相控阵超声检测对比试块及使用该试块的检测校验方法。

背景技术

小径管（管径＜100mm）焊接接头大量存在于锅炉和压力容器中，相控阵超声检测是小径管焊接接头质量检测的重要手段，具有检测效率高、成像直观、适用性好、数字化、无辐射等优点，逐渐成为现场工况和复杂结构焊缝小径管焊接接头质量检测的主要方法，具有广阔的应用前景。为使检出缺陷得到客观统一的评定，相控阵超声检测前须在带标准人工伤（通孔或槽）的对比试块上进行校准，制作距离波幅曲线DAC或TCG，并设置适当检测灵敏度，然后在工件上进行检测，通过二者的对比评定缺陷。因小径管管径小、壁厚薄，试块须采用相同的管径及壁厚，为克服焊宽和探头前沿尺寸限制，获得较好的成像分辨率，为使整个被检焊缝区域被相控阵超声波声束全覆盖，检测时通常需要使用经过一次或多次反射的二次波、三次波或四次波进行检测；而小径管内壁对超声波反射起发散作用，外壁对超声波反射起聚集所用，因此相控阵超声所检测到的焊缝缺陷信号是包含有内壁散射和外壁聚集的综合影响，且二次波、三次波、四次波检测到同一缺陷受内壁散射和外壁聚集的综合影响完全不同，可能导致缺陷定量的较大误差，特别是大壁厚外径比的小径管定量误差更加明显。现有小径管相控阵超声检测对比试块，通常采用类似GS横通孔试块，如图1、图2所示，其端部设有圆弧面21，内设有一阶梯孔22和两排横通孔23、24，检测时，探头置于试块上下端的弧面上并移动，探头对准圆弧面21，用于探头楔块延时、前沿尺寸、角度增益补充的校准，探头对准两排横通孔23、24，用于校准制作DAC或TCG曲线；该试块校验方便，但由于整体为块状，无法反应管状工件内外壁对超声波束反射的影响，使得缺陷检测定量误差大，且只利用横通孔设置检测灵敏度，无法模拟点状缺陷，容易导致危害点状缺陷漏检。

发明内容

本发明的目的是针对现有技术的上述不足，提供一种小径管相控阵超声检测对比试块及使用该试块的检测校验方法，它能反应小径管内外壁对超声波声束反射影响，确保了各次反射波检测灵敏度的一致性，提高了缺陷定量的准确性和可靠性，并降低了危害点状缺陷的漏检风险，还可验证检测工艺的正确性及可靠性。

为了达到上述目的，本发明的小径管相控阵超声检测对比试块，包括一体相联的中部管段和两端的校验段，其中一校验段设有与中部管段外圆面相同外径并同轴的至少部分弧面，在校验段的端部设有圆弧半径与中部管段外径相同的圆弧面，且圆弧面的圆心位于中部管段外圆延伸面上，其特征在于：在校验段还内设有通孔，该通孔的轴线位于中部管段的内孔延伸面上；在另一校验段内设有两长通孔及与中部管段的内孔相通的校验孔，长通孔的轴线位于中部管段外圆延伸面上，在校验孔的内壁设有一段弧形槽；在中部管段的外圆及内孔分别设有盲孔，在中部管段的外圆还设有一段弧形槽；

本发明的圆弧面，用于探头楔块延时、前沿尺寸、角度增益补充的校准；轴线位于中部管段的内孔延伸面上的通孔，用于校准奇数次波（如一、三次波）的灵敏度；轴线位于管子外圆延伸面上的长通孔，用于校准偶数次波（如二、四次波）灵敏度，另一长通孔用于小径管角焊缝加强高区域的检测灵敏度校准和设置，位置根据被检工件角焊缝设计焊高和焊宽进行设置，其弧形槽用于模拟内壁焊缝的开口缺陷；

中部管段用于模拟被检工件，其外径、壁厚、内外径之比（r/R）均与被检工件相近，以模拟管子内外壁对声束传播过程的反射影响，其外圆及内孔的两盲孔，用于模拟危害点状缺陷，指导检测工艺的扫查灵敏度设置，其弧形槽用于模拟外壁焊缝的开口缺陷；

作为本发明的进一步改进，所述两校验段均设有平行的两侧面，两通孔及两长通孔均垂直于各自的两侧面；便于两通孔、两长通孔及圆弧面的加工、保证精度，以提高检测的准确性；

作为本发明的进一步改进，在所述校验段内还设有另一通孔，该另一通孔在轴向位于圆弧面与轴线位于中部管段的内孔延伸面上的所述通孔之间；该另一通孔可用于不同检测设备的楔块延时校准；

作为本发明的进一步改进，所述中部管段的两盲孔及一段弧形槽均位于同一径向截面上；可一次检测中部管段的各模拟缺陷；

本发明使用上述小径管相控阵超声检测对比试块的检测校验方法，包括以下步骤：A)准备：根据被检工件焊缝几何尺寸，使用模拟软件制定检测工艺，将相控阵探头和楔块组装，并连接探头和仪器，开机后依据检测工艺设置角度范围、角度步进和声程范围；

B)校准：将相控阵探头置于所述校验段的弧面上，对准其圆弧面前后移动来校准相控阵探头前沿尺寸和角度增益补偿，并校准楔块延时；

C）制作DAC或TCG曲线：

对于对接焊缝检测，将相控阵探头置于邻近通孔的中部管段的外圆上，前后移动探头，利用通孔校验奇数次波（如一、三次波）的各声束角度；将相控阵探头置于邻近长通孔的中部管段的外圆上，前后移动探头，利用长通孔校验偶数次波（如二、四次波）各声束角度，在两位置制作距离与回波幅度关系的DAC或TCG曲线；

对于角焊缝检测，将相控阵探头置于邻近通孔的中部管段的外圆上，前后移动探头，利用通孔校验奇数次波（如一、三次波）的各声束角度；将相控阵探头置于邻近长通孔的中部管段的外圆上，前后移动探头，利用长通孔校验偶数次波（如二、四次波）各声束角度；将相控阵探头置于邻近另一长通孔的中部管段的外圆上，前后移动探头并发出声束，利用另一长通孔校验角焊缝加强高区域的偶数次波（如二、四次波）各声束角度；在三位置制作距离与回波幅度关系的DAC或TCG曲线；制作的DAC或TCG曲线，作为检测工件时的判定标准；

D)相控阵超声校验确认和检测工艺确认：

（1）按照检测工艺设置声束覆盖和扫查灵敏度；

（2）对接焊缝校验确认的模拟扫查：在中部管段的外圆上通过两相控阵探头的一次对称非平行扫查和两次偏置非平行扫查来确认，三次扫查的两探头间距（S1+S2）均相同，且等于检测工艺要求值，将评定线设置为满屏的40%-80%作为预设扫查灵敏度；对称非平行扫查时，两相控阵探头相对于机加模拟缺陷左右对称布置（即S1=S2），即两相控阵探头相对于两盲孔及一段弧形槽左右对称布置，然后按既定检测工艺使得两相控阵探头与中部管段相对转动扫查一周；偏置非平行扫查分左右两次，两探头间距保持不变（S1+S2），分别将两相控阵探头同步向左或向右偏置检测区域宽度的一半，然后按既定检测工艺转动扫查一周；可实现检测焊缝左、中、右侧各不同位置的缺陷；

（3）角焊缝校验确认的模拟扫查：在中部管段的外圆上通过相控阵探头的两次非平行扫查来确认，将评定线设置为满屏的40%-80%作为预设扫查灵敏度；将相控阵探头设于中部管段的外圆上，其偏离校验段（3）的距离S3设为检测工艺探头至接管侧焊趾线的距离，按既定检测工艺相控阵探头与中部管段相对转动扫查一周，对两长通孔及一段弧形槽（9）进行检测；将相控阵探头设于中部管段的外圆上，其偏离机加模拟缺陷的距离S4设为检测工艺中探头至角焊缝根部的距离，按既定检测工艺相控阵探头与中部管段转动扫查一周，对两盲孔及一段弧形槽（12）进行检测；

（4）依据检测数据进行校验确认和检测工艺验证判定：要求步骤D中：a所有转动扫查数据显示管子周长与管子实际周长一致，可防止扫描器打滑、编码器设置错误等对检测结果的影响；b所有机加模拟缺陷（对接焊缝为两盲孔及一段弧形槽，角焊缝为两长通孔及另一段弧形槽）均被有效检出，且信噪比不低于2:1；c所有机加模拟缺陷显示的水平位置和深度位置与实际相符；d按工艺要求方法所测得的两弧形槽的长度应不小于实际尺寸，可验证测长方法对检测结果的可靠性；e两盲孔信号幅度应不低于满屏的20%；

若以上a-d中任一要求不满足，需对检测工艺进行重新调整、校验和确认；需满足a-d所有要求后方可用于产品检测；若仅有要求e不满足，可根据内外壁圆柱孔信号幅度修正检测工艺的扫查灵敏度，无需重新校验和确认。

本发明基于所设计J型对比试块，提出了一套小径管对接焊缝和角焊缝相控阵超声检测的校验方法和检测工艺确认方法，由于在DAC或TCG校准中将反射波按次数分开，体现小径管内外壁对声束反射情况，真实模拟实际检测中缺陷信号受内外壁反射的影响，确保了各次反射波检测灵敏度的一致性，提高了缺陷定量的准确性和可靠性；加上对比试块在内外壁设有盲孔模拟点状缺陷，用于点状缺陷检测灵敏度的设置，降低了危害点状缺陷的漏检风险；还在内外壁加工弧形槽和两长通孔，并采用不同偏置距离进行模拟扫查，可验证检测工艺设置的正确性，方法简单、可靠、实用。

在步骤B)中：可以将相控阵探头置于所述校验段的弧面上，对准圆弧面前后移动来校准楔块延时；也可以将相控阵探头置于所述校验段的弧面上，对准另一通孔前后来校准楔块延时；两种方式对应不同的检测设备；

综上所述，本发明能反应小径管内外壁对超声波声束反射影响，确保了各次反射波检测灵敏度的一致性，提高了缺陷定量的准确性和可靠性，并降低了危害点状缺陷的漏检风险，还可验证检测工艺的正确性及可靠性。

附图说明

图1为现有GS横通孔试块的主视图。

图2为图1的俯视图。

图3本发明对比试块实施例的主视图。

图4为图3的A-A剖面图。

图5为图3的B-B剖面图。

图6为图3的C-C剖面图。

图7为图3的D-D剖面图。

图8为本发明一检测状态的示意图。

图9为本发明另一检测状态的示意图。

图10为本发明另一检测状态的示意图。

具体实施方式

下面结合附图，对本发明作进一步详细的说明。

如图3至图7所示，该实施例的小径管相控阵超声检测对比试块，包括一体相联的中部管段2和两端的校验段1和3，校验段1设有与中部管段2外圆面相同外径并同轴的部分弧面，两校验段1、3均设有平行的两侧面，在校验段1的端部设有圆弧半径与中部管段2外径相同的圆弧面4，且圆弧面4的圆心位于中部管段2的外圆延伸面上，在校验段1内设有两通孔5、6，通孔5的轴线位于中部管段2的内孔延伸面上，通孔6在轴向位于圆弧面4与通孔5之间；校验段3内设有两长通孔7、8及与中部管段2的内孔相通的校验孔，长通孔7的轴线位于中部管段2的外圆延伸面上，在校验孔的内壁设有一段弧形槽9；两通孔5、6及两长通孔7、8均垂直于各自的两侧面；在中部管段2的外圆及内孔分别设有盲孔10、11，在中部管段2的外圆还设有一段弧形槽12，两盲孔10、11及一段弧形槽12均位于同一径向截面上；两弧形槽9、12的截面均为矩形。

本对比试块由锻件加工而成，中部管段2和两端的校验段1和3无连接焊缝；圆弧面4，用于楔块延时、前沿尺寸、角度增益补充的校准；通孔5，用于校准奇数次波（如一、三次波）的灵敏度；通孔6可用于不同检测设备的楔块延时校准；长通孔7，用于校准偶数次波（如二、四次波）灵敏度，长通孔8用于小径管角焊缝加强高区域的检测灵敏度校准和设置，其位置根据被检工件角焊缝设计焊高和焊宽进行设置，弧形槽9用于模拟内壁焊缝的开口缺陷；

中部管段2用于模拟被检工件，其外径、壁厚、内外径之比（r/R）均与被检工件相近，以模拟管子内外壁对声束传播过程的反射影响，其外圆及内孔的两盲孔10、11，用于模拟危害点状缺陷，指导检测工艺的扫查灵敏度设置，其弧形槽12用于模拟外壁焊缝的开口缺陷；

使用上述小径管相控阵超声检测对比试块的检测校验方法，包括以下步骤：A)准备：根据被检工件焊缝几何尺寸，使用模拟软件制定检测工艺，将相控阵探头和楔块组装，并连接探头和仪器，开机后依据检测工艺设置角度范围、角度步进和声程范围；

B)校准：如图8所示，将相控阵探头13置于校验段1的弧面上，对准其圆弧面4前后移动、发出声束来校准相控阵探头前沿尺寸、角度增益补偿和楔块延时；

C）制作DAC或TCG曲线：

如图8所示，对于对接焊缝检测，将相控阵探头13置于邻近通孔5的中部管段2的外圆上，前后移动探头，利用通孔5校验奇数次波（如一、三次波）的各声束角度；将相控阵探头13置于邻近长通孔7的中部管段2的外圆上，前后移动探头，利用长通孔7校验偶数次波（如二、四次波）各声束角度，在两位置制作距离与回波幅度关系的DAC或TCG曲线；

对于角焊缝检测，将相控阵探头13置于邻近通孔5的中部管段2的外圆上，前后移动探头，利用通孔5校验奇数次波（如一、三次波）的各声束角度；将相控阵探头13置于邻近长通孔7的中部管段2的外圆上，前后移动探头，利用长通孔7校验偶数次波（如二、四次波）各声束角度；将相控阵探头13置于邻近长通孔8的中部管段2的外圆上，前后移动探头利用长通孔8校验角焊缝加强高区域的偶数次波（如二、四次波）各声束角度；在三位置制作距离与回波幅度关系的DAC或TCG曲线；

D)相控阵超声校验确认和检测工艺确认：

（1）按照检测工艺设置声束覆盖和扫查灵敏度；

（2）对接焊缝校验确认的模拟扫查：如图9所示，在中部管段2的外圆上通过两相控阵探头13、14的一次对称非平行扫查和两次偏置非平行扫查来确认，三次扫查的两探头间距（S1+S2）均相同，且等于检测工艺要求值，将评定线设置为满屏的40%-80%作为预设扫查灵敏度；对称非平行扫查时，两相控阵探头13、14相对于机加模拟缺陷左右对称布置（即S1=S2），即两相控阵探头13、14相对于两盲孔10、11及一段弧形槽12左右对称布置，然后按既定检测工艺使得两相控阵探头13、14与中部管段2相对转动扫查一周；偏置非平行扫查分左右两次，两探头间距保持不变（S1+S2），分别将两相控阵探头13、14同步向左或向右偏置检测区域宽度的一半，然后按既定检测工艺转动扫查一周；可实现检测焊缝左、中、右侧各不同位置的缺陷；

（3）角焊缝校验确认的模拟扫查：在中部管段2的外圆上通过相控阵探头13的两次非平行扫查来确认，将评定线设置为满屏的40%-80%作为预设扫查灵敏度；如图10所示，将相控阵探头13设于中部管段2的外圆上，其偏离校验段3的距离S3设为检测工艺探头至接管侧焊趾线的距离，按既定检测工艺相控阵探头3与中部管段2相对转动扫查一周，对两长通孔7、8及一段弧形槽9进行检测；将相控阵探头13设于中部管段2的外圆上，其偏离机加模拟缺陷（即两盲孔10、11及一段弧形槽12）的距离S4设为检测工艺中探头至角焊缝根部的距离，按既定检测工艺相控阵探头13与中部管段2转动扫查一周，对两盲孔10、11及一段弧形槽12进行检测；

（4）依据检测数据进行校验确认和检测工艺验证判定：要求步骤D中：a所有转动扫查数据显示中部管段2周长与实际周长一致，可防止扫描器打滑、编码器设置错误等对检测结果的影响；b所有机加模拟缺陷（对接焊缝为两盲孔10、11及一段弧形槽12，角焊缝为两长通孔7、8及另一段弧形槽9）均被有效检出，且信噪比不低于2:1；c所有机加模拟缺陷显示的水平位置和深度位置与实际相符；d按工艺要求方法所测得的两弧形槽9、12的长度应不小于实际尺寸，可验证测长方法对检测结果的可靠性；e两盲孔10、11信号幅度应不低于满屏的20%；

若以上a-d中任一要求不满足，需对检测工艺进行重新调整、校验和确认；需满足a-d所有要求后方可用于产品检测；若仅有要求e不满足，可根据内外壁圆柱孔信号幅度修正检测工艺的扫查灵敏度，无需重新校验和确认。

本发明基于所设计J型对比试块，提出了一套小径管对接焊缝和角焊缝相控阵超声检测的检验方法和检测工艺确认方法，由于在DAC或TCG校准中将反射波按次数分开，体现小径管内外壁对声束反射情况，真实模拟实际检测中缺陷信号受内外壁反射的影响，确保了各次反射波检测灵敏度的一致性，提高了缺陷定量的准确性和可靠性；加上对比试块在内外壁设有盲孔10、11模拟点状缺陷，用于点状缺陷检测灵敏度的设置，降低了危害点状缺陷的漏检风险；还在内外壁加工弧形槽9、12和两长通孔7、8，并采用不同偏置距离进行模拟扫查，可验证检测工艺设置的正确性，方法简单、可靠、实用。

本发明不限于上述检测校验方法，如在在步骤B)中：如图8所示，可以将相控阵探头13置于校验段1的弧面上；对准另一通孔6前后移动校准楔块延时，此方式对应另一种检测设备。

Claims (7)

1.一种小径管相控阵超声检测对比试块，包括一体相联的中部管段（2）和两端的校验段（1）和（3），校验段（1）设有与中部管段（2）外圆面相同外径并同轴的至少部分弧面，在校验段（1）的端部设有圆弧半径与中部管段（2）外径相同的圆弧面（4），且圆弧面（4）的圆心位于中部管段（2）外圆延伸面上，其特征在于：在校验段（1）还内设有通孔（5），该通孔（5）的轴线位于中部管段（2）的内孔延伸面上；校验段（3）内设有两长通孔（7）、（8）及与中部管段（2）的内孔相通的校验孔，长通孔（7）的轴线位于中部管段（2）外圆延伸面上，在校验孔的内壁设有一段弧形槽（9）；在中部管段（2）的外圆及内孔分别设有盲孔（10）、（11），在中部管段（2）的外圆还设有一段弧形槽（12）。

2.根据权利要求1所述的小径管相控阵超声检测对比试块，其特征在于：所述两校验段（1）、（3）均设有平行的两侧面，通孔（5）及两长通孔（7）、（8）均垂直于各自的两侧面。

3.根据权利要求1或2所述的小径管相控阵超声检测对比试块，其特征在于：在所述校验段（1）内还设有另一通孔（6），该通孔（6）在轴向位于圆弧面（4）与通孔（5）之间。

4.根据权利要求3所述的小径管相控阵超声检测对比试块，其特征在于：所述中部管段（2）的两盲孔（10）、（11）及一段弧形槽（12）均位于同一径向截面上。

5.使用如权利要求1所述小径管相控阵超声检测对比试块的检测校验方法，包括以下步骤：A)准备：根据被检工件焊缝几何尺寸，使用模拟软件制定检测工艺，将相控阵探头和楔块组装，并连接探头和仪器，开机后依据检测工艺设置角度范围、角度步进和声程范围；

B)校准：将相控阵探头（13）置于所述校验段（1）的弧面上，声束对准圆弧面（4）前后移动来校准相控阵探头前沿尺寸和角度增益补偿，并校准楔块延时；

其特征在于还包括以下步骤：C）制作DAC或TCG曲线：

对于对接焊缝检测，将相控阵探头（13）置于邻近通孔（5）的中部管段（2）的外圆上，前后移动探头并发出声束，利用通孔（5）校验奇数次波（如一、三次波）的各声束角度；将相控阵探头（13）置于邻近长通孔（7）的中部管段（2）的外圆上，前后移动探头并发出声束，利用长通孔（7）校验偶数次波（如二、四次波）各声束角度，在两位置制作距离与回波幅度关系的DAC或TCG曲线；

对于角焊缝检测，将相控阵探头（13）置于邻近通孔（5）的中部管段（2）的外圆上，前后移动探头并发出声束，利用通孔（5）校验奇数次波（如一、三次波）的各声束角度；将相控阵探头（13）置于邻近长通孔（7）的中部管段（2）的外圆上，前后移动探头并发出声束，利用长通孔（7）校验偶数次波（如二、四次波）各声束角度；将相控阵探头（13）置于邻近长通孔（8）的中部管段（2）的外圆上，前后移动探头并发出声束，利用长通孔（8）校验角焊缝加强高区域的偶数次波（如二、四次波）各声束角度；在三位置制作距离与回波幅度关系的DAC或TCG曲线；

D)相控阵超声校验确认和检测工艺确认：

（1）按照检测工艺设置声束覆盖和扫查灵敏度；

（2）对接焊缝校验确认的模拟扫查：在中部管段（2）的外圆上通过两相控阵探头（13）、14的一次对称非平行扫查和两次偏置非平行扫查来确认，三次扫查的两探头间距（S1+S2）均相同，且等于检测工艺要求值，将评定线设置为满屏的40%-80%作为预设扫查灵敏度；对称非平行扫查时，两相控阵探头（13）、（14）相对于机加模拟缺陷左右对称布置（即S1=S2），即两相控阵探头（13）、（14）相对于两盲孔（10）、（11）及一段弧形槽（12）左右对称布置，然后按既定检测工艺使得两相控阵探头（13）、（14）与中部管段（2）相对转动扫查一周；偏置非平行扫查分左右两次，保持两探头间距不变（S1+S2），分别将两相控阵探头（13）、（14）同步向左或向右偏置检测区域宽度的一半，然后按既定检测工艺转动扫查一周；

（3）角焊缝校验确认的模拟扫查：在中部管段（2）的外圆上通过相控阵探头的两次非平行扫查来确认，将评定线设置为满屏的40%-80%作为预设扫查灵敏度；将相控阵探头（13）设于中部管段（2）的外圆上，其偏离校验段（3）的距离S3设为检测工艺探头至接管侧焊趾线的距离，按既定检测工艺相控阵探头（13）与中部管段（2）相对转动扫查一周，对两长通孔（7）、（8）及一段弧形槽（9）进行检测；将相控阵探头（13）设于中部管段（2）的外圆上，其偏离机加模拟缺陷的距离S4设为检测工艺中探头至角焊缝根部的距离，按既定检测工艺相控阵探头（13）与中部管段（2）转动扫查一周，对两盲孔（10）、（11）及一段弧形槽（12）进行检测；

（4）依据检测数据进行校验确认和检测工艺验证判定：要求步骤D中：a所有转动扫查数据显示管子周长与管子实际周长一致；b所有机加模拟缺陷均被有效检出，且信噪比不低于2:1；c所有机加模拟缺陷显示的水平位置和深度位置与实际相符；d按工艺要求方法所测得的两弧形槽（9）、（12）的长度应不小于实际尺寸；e两盲孔（10）、（11）信号幅度应不低于满屏的20%；

若以上a-d中任一要求不满足，需对检测工艺进行重新调整、校验和确认；需满足a-d所有要求后方可用于产品检测；若仅有要求e不满足，可根据内外壁圆柱孔信号幅度修正检测工艺的扫查灵敏度，无需重新校验和确认。

6.如权利要求5所述小径管相控阵超声检测校验方法，其特征在于：在步骤B)中：将相控阵探头（13）置于所述校验段（1）的弧面上，对准圆弧面（4）前后移动来校准楔块延时。

7.如权利要求5所述小径管相控阵超声检测校验方法，其特征在于：在步骤B)中：将相控阵探头（13）置于所述校验段（1）的弧面上，对准通孔（6）前后移动来校准楔块延时。