CN109900968B - 静电电容检测装置 - Google Patents
静电电容检测装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN109900968B CN109900968B CN201811405758.8A CN201811405758A CN109900968B CN 109900968 B CN109900968 B CN 109900968B CN 201811405758 A CN201811405758 A CN 201811405758A CN 109900968 B CN109900968 B CN 109900968B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- switch
- potential
- capacitor
- controlled
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V3/00—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation
- G01V3/08—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices
- G01V3/088—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices operating with electric fields
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C27/00—Electric analogue stores, e.g. for storing instantaneous values
- G11C27/02—Sample-and-hold arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/94—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
- H03K17/945—Proximity switches
- H03K17/955—Proximity switches using a capacitive detector
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/125—Discriminating pulses
- H03K5/1252—Suppression or limitation of noise or interference
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
- G01R27/2605—Measuring capacitance
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K2217/00—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
- H03K2217/94—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00 characterised by the way in which the control signal is generated
- H03K2217/96—Touch switches
- H03K2217/9607—Capacitive touch switches
- H03K2217/96071—Capacitive touch switches characterised by the detection principle
- H03K2217/960715—Rc-timing; e.g. measurement of variation of charge time or discharge time of the sensor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Geology (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Geophysics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Networks Using Active Elements (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Abstract
使电容器的静电电容的变化的检测精度提高。在第一电容器(11)以及第二开关(SW2)间的连接节点(14)与比较器(32)之间设有滤波电路(40)以及取样保持电路(50)。滤波电路(40)不使连接节点(14)的电位VM中特定的频率的电位透过。取样保持电路(50)在第二开关(SW2)被控制为接通的情况下，将滤波电路(40)的输出电位亦即滤波后电位VMF作为保持电位VMH输出到比较器(32)。取样保持电路(50)在第二开关(SW2)被控制为断开的情况下，保持第二开关被控制为断开时的滤波后电位VMF，并将该滤波后电位VMF作为保持电位VMH输出到比较器，直至接下来第二开关被控制为接通为止。
Description
技术领域
本发明涉及静电电容检测装置。
背景技术
专利文献1所公开的静电电容检测装置具备串联连接在第一电源与第二电源之间的第一电容器以及第二电容器。在第一电容器的两端子间连接有第一开关。在第一电容器与第二电容器之间连接有第二开关。在第二电容器的两端子间连接有第三开关。
在该静电电容检测装置中，首先，仅将第一开关控制为接通。由此第一电容器进行放电，该第一电容器的两端子的电位均成为第一电源的电位。之后，仅将第二开关控制为接通。由此，第一开关的第二电容器侧的端子的电位降低，并且第二电容器被充电。之后，仅将第三开关控制为接通。由此，第二电容器进行放电。通过交替地反复将第二开关接通的控制和将第三开关接通的控制，第一电容器中的第二电容器侧的端子的电位逐渐降低。基于到该电位下降到参照电位以下为止的期间第二开关被控制为接通的次数，来检测第二电容器的静电电容的变化。
专利文献1：日本特开2005－106665号公报
在专利文献1那样的静电电容检测装置的电路有混入电磁噪声的情况。若假设由于电磁噪声而第一电容器中的第二电容器侧的端子的电位变动，则有随着该变动，误判定为该电位达到参照电位，或者误判定为未达到参照电位的可能。若有这样的误判定，则第二电容器的电容变化的检测精度恶化。
发明内容
用于解决上述课题的静电电容检测装置是具备：第一电容器以及第二电容器，它们串联连接在电源与检测电极之间；第一开关，其连接在上述第一电容器的两端子之间；第二开关，其连接在上述第一电容器与上述第二电容器之间；第三开关，其连接在上述第二电容器的两端子之间；以及控制电路，其对上述第一开关、上述第二开关、以及上述第三开关进行接通断开控制，并且连接在上述第一电容器以及上述第二开关间的连接节点来基于该连接节点的电位检测上述第二电容器的静电电容的变化的静电电容检测装置，具备：滤波电路，其连接在上述第二电容器的上述第二开关侧的端子与上述控制电路之间，使包含上述第二开关以及上述第三开关的开关频率的频率的电位透过且不使其它的特定的频率的电位透过；以及取样保持电路，其连接在上述滤波电路与上述控制电路之间，并且连接在上述连接节点与上述控制电路之间。上述取样保持电路在上述第二开关被控制为接通的情况下，输出与上述滤波电路的输出对应的电位，在上述第二开关被控制为断开的情况下，保持并输出上述第二开关被控制为断开时的上述滤波电路的输出所对应的电位，直至接下来上述第二开关被控制为接通为止。
在上述构成中，通过滤波电路，能够过滤特定的频率的电位的变动。而且，取样保持电路输出的电位是该过滤后的电位。因此，在控制电路输入抑制了起因于电磁噪声的变动的信号。另外，在上述构成中，在第二开关被控制为断开的情况下，取样电路持续保持一定的电位。若像这样持续保持一定的电位，则在取样保持电路保持的电位不反映电磁噪声的影响。因此，能够从在控制电路检测第二电容器的静电电容的变化时使用的连接节点的电位除去电磁噪声的影响。其结果，第二电容器的静电电容的变化的检测精度提高。
在静电电容检测装置中，也可以上述取样保持电路在上述第二开关被控制为断开的情况下，将与从上述第二开关被控制为断开的时刻延迟了规定时间后的延迟时刻的上述滤波电路的输出对应的电位作为上述第二开关被控制为断开时的电位进行保持并输出。
可能在第二开关被控制为断开之后到连接节点的电位完全稳定为止有一点时滞。对于这一点，在上述构成中，在取样保持电路保持从第二开关被控制为断开的时刻延迟了规定时间后的延迟时刻的连接节点的电位。因此，能够抑制取样保持电路保持并输出不稳定的状态的连接节点的电位。
在静电电容检测装置中，也可以在上述取样保持电路与上述控制电路之间设有对上述取样保持电路输出的电位和预先决定的参照电位进行比较，并将基于其比较结果的输出信号输出给上述控制电路的比较器。而且，也可以上述控制电路在上述第二开关被控制为断开的期间中的与该期间的中央的时刻相比后半侧的时刻，基于上述比较器的输出信号检测上述第二电容器的静电电容的变化。
在输入到比较器的电位刚刚变化之后，在比较器的内部电路中反映输入电位需要时间，或者电位变得不稳定。因此，在输入到比较器的电位刚刚变化之后，比较器的比较结果的输出的可靠性较差。根据上述构成，基于第二开关被控制为断开的期间的后半侧这样的认为比较结果的可靠性较高的期间的比较器的输出信号检测第二电容器的静电电容的变化。因此，在基于比较器的比较结果检测第二电容器的静电电容的变化时，能够期待其检测精度的提高。
根据本发明，电容器的静电电容的变化的检测精度提高。
附图说明
图1是静电电容检测装置的电路图。
图2是静电电容检测装置中的各信号的时序图。
附图标记说明
11…第一电容器，12…第二电容器，14…连接节点，31…控制电路，32…比较器，40…滤波电路，50…取样保持电路，SW1…第一开关，SW2…第二开关，SW3…第三开关，V1…第一电源(电源)，VM…电位。
具体实施方式
以下，参照附图对静电电容检测装置的一实施方式进行说明。此外，静电电容检测装置例如内置于车辆的车门把手，检测用户触摸车门把手。
如图1所示，静电电容检测装置具备直流的第一电源V1。在第一电源V1连接有第一电容器11的一个端子。第一电容器11具有一定的静电电容。在第一电容器11串联连接有第二电容器12。第二电容器12的静电电容比第一电容器11的静电电容小。在第二电容器12中，在与连接有第一电容器11的一侧相反侧的端子连接有第二电源V2。在本实施方式中，第二电源V2是配置在自由空间的板状的检测电极。而且，第二电源V2的电位大致为接地(ground)电平。另外，在导电体(例如，人的手指)接近检测电极的情况下，第二电容器12的静电电容变化。即，第二电容器12作为可变电容发挥作用。
在第一电容器11中的第一电源V1侧的端子与第一电容器11中的第二电容器12侧的端子之间连接有第一开关SW1。在第一电容器11中的第二电容器12侧的端子与第二电容器12中的第一电容器11侧的端子之间连接有第二开关SW2。在第二电容器12中的第一电容器11侧的端子与第二电容器12中的第二电源V2侧的端子之间连接有第三开关SW3。第一开关SW1、第二开关SW2、以及第三开关SW3例如是MOS晶体管，根据来自控制电路31的控制信号控制接通断开。
在第一电容器11与第二开关SW2之间的连接节点14(以下，简称为连接节点14。)连接有滤波电路40的输入端子。滤波电路40是所谓的低通滤波器，使规定频率(例如20MHz)以下的频率的电位透过，不使超过规定频率的频率的电位透过。此外，第二开关SW2以及第三开关SW3的开关频率在上述规定频率以下。在滤波电路40的输出端子连接有取样保持电路50的输入端子。
取样保持电路50与第二开关SW2的接通断开控制配合地进行动作。具体而言，取样保持电路50在第二开关SW2被控制为接通时，不使滤波电路40的输出电位亦即滤波后电位VMF变化而直接作为保持电位VMH输出。另外，取样保持电路50在第二开关SW2被控制为断开时，保持第二开关SW2被控制为断开时的滤波后电位VMF，并将该滤波后电位VMF作为保持电位VMH输出，直至接下来第二开关SW2被控制为接通为止。此外，在该实施方式中，取样保持电路50保持从第二开关SW2被控制为断开的时刻延迟了规定时间的延迟时刻的滤波后电位VMF并作为保持电位VMH输出。该规定时间设定与第二开关SW2以及第三开关SW3的开关周期相比足够短的时间，例如数纳秒～数十纳秒。
在取样保持电路50的输出端子连接有比较器32的非反转输入端子。在比较器32的反转输入端子连接有第三电源V3。第三电源V3是恒电位电源，作为其电位的参照电位Vth比第一电源V1的电位低，且比第二电源V2的电位高。比较器32在输入到非反转输入端子的保持电位VMH在输入到反转输入端子的参照电位Vth以上时，输出低电平的输出信号Vout。而且，比较器32在输入到非反转输入端子的保持电位VMH比输入到反转输入端子的参照电位Vth低时，输出高电平的输出信号Vout。比较器32的输出端子与控制电路31连接。
控制电路31通过对第一开关SW1、第二开关SW2、以及第三开关SW3进行接通断开控制，检测第二电容器12的静电电容的变化。另外，控制电路31控制取样保持电路50，切换该取样保持电路50直接输出输入的电位，还是保持在规定的时刻输入的电位并输出。
控制电路31基于比较器32的输出信号Vout，检测第二电容器12的静电电容的变化。以下对此时的流程进行说明。
如图2所示，控制电路31若在时刻t1，开始第二电容器12的静电电容的变化的检测处理，则首先，仅将第一开关SW1控制为接通，将第二开关SW2和第三开关SW3控制为断开。由此，第一电容器11被放电，连接节点14的电位VM成为第一电源V1的电位亦即初始电位。该初始电位通过滤波电路40作为滤波后电位VMF输出到取样保持电路50。取样保持电路50不使滤波后电位VMF变化而直接作为保持电位VMH输出到比较器32。比较器32对保持电位VMH与参照电位Vth进行比较，作为其比较结果将低电平的输出信号Vout输出到控制电路31。
其后，控制电路31在时刻t2，仅将第二开关SW2控制为接通，将第一开关SW1和第三开关SW3控制为断开。由此，连接节点14的电位VM降低，并且对第二电容器12进行充电。在第二开关SW2被控制为接通的期间，滤波电路40将对连接节点14的电位VM进行了滤波后的滤波后电位VMF输出到取样保持电路50。取样保持电路50不使该滤波后电位VMF变化而直接作为保持电位VMH输出到比较器32。比较器32对保持电位VMH与参照电位Vth进行比较，作为其比较结果将低电平的输出信号Vout输出到控制电路31。
其后，控制电路31在时刻t3，仅将第三开关SW3控制为接通，将第一开关SW1和第二开关SW2控制为断开。由此，第二电容器12被放电。在第二开关SW2被控制为断开的期间，滤波电路40将对连接节点14的电位VM进行了滤波后的滤波后电位VMF输出到取样保持电路50。取样保持电路50保持第二开关SW2被控制为断开时的滤波后电位VMF，并将该滤波后电位VMF作为保持电位VMH输出到比较器32，直至下一次第二开关SW2被控制为接通为止。比较器32对保持电位VMH与参照电位Vth进行比较，作为其比较结果将低电平的输出信号Vout输出到控制电路31。
其后，控制电路31交替地反复仅将第二开关SW2接通的控制、和仅将第三开关SW3接通的控制。由此，连接节点14的电位VM逐渐降低。与此同时，取样保持电路50输出到比较器的保持电位VMH也逐渐降低。保持电位VMH最终低于参照电位Vth。在保持电位VMH低于参照电位Vth的时刻t4，比较器32的输出信号Vout成为高电平。
这里，控制电路31每当第二开关SW2被控制为断开，则获取比较器32的输出信号Vout。详细而言，控制电路31在第二开关SW2被控制为断开的期间中，在与中央的时刻相比后半侧的时刻获取输出信号Vout。
控制电路31计算在从开始第二电容器12的静电电容的变化的检测到获取高电平的输出信号Vout为止，重复几次第二开关SW2的接通断开控制。控制电路31对其计算结果和预先决定的基准次数进行比较，在两者之差在规定次数以上的情况下，检测出第二电容器12的静电电容变化。此外，上述基准次数作为导电体未接近检测电极的状况下的到获取高电平的输出信号Vout为止的第二开关SW2的接通断开控制的次数，试验性地求出。
接下来，对控制电路31检测第二电容器12的静电电容的变化时的、滤波电路40以及取样保持电路50的作用进行说明。
有在静电电容检测装置的电路混入电磁噪声的情况。作为电磁噪声，例如有第二电容器12、第二电源V2(检测电极)拾取的电磁噪声。具体而言，由于第二电容器12的各端子、第二电源V2为导电体，所以如天线那样发挥作用而可拾取电磁噪声。而且，若拾取这样的电磁噪声，则第二电容器12的端子电压变动。因此，在第二开关SW2被控制为接通的情况下，该电磁噪声使连接节点14的电位VM变动。
另外，作为其它的电磁噪声，例如有在第一电源V1生成电压时产生的电磁噪声、混入到从第一电源V1到第一电容器11的布线的电磁噪声。若拾取这些电磁噪声，则第一电容器11的端子电压变动。因此，即使第二开关SW2被控制为断开，该电磁噪声也使连接节点14的电位VM变动。
在连接节点14的电位VM包含上述那样的电磁噪声的情况下，若直接在比较器32将该电位VM与参照电位Vth进行比较，则可能产生以下那样的问题。即，有由于电磁噪声而连接节点14的电位VM变动，而随着该变动误判定为连接节点14的电位VM达到参照电位Vth，或者相反误判定为该电位VM未达到参照电位Vth的可能。
对于这一点，在上述构成中，在连接节点14与比较器32之间设置有滤波电路40以及取样保持电路50。如上述那样，在第二开关SW2被控制为接通的情况下，可能在连接节点14的电位VM包含有来自第二电容器12侧的电磁噪声。滤波电路40对与该电磁噪声对应的频率的电位的变动进行滤波，能够遮断电磁噪声的至少一部分。而且，取样保持电路50输出到比较器32的保持电位VMH是该滤波后的电位。因此，在比较器32输入抑制了起因于电磁噪声的变动后的电位。
另外，可能在连接节点14的电位VM包含有来自第一电源V1侧的电磁噪声。在第二开关SW2被控制为断开的情况下，取样保持电路50持续保持第二开关被控制为断开时的滤波后电位VMF。若像这样持续保持一定的电位，则取样保持电路50输出到比较器32的保持电位VMH不会反映电磁噪声的影响。换句话说，在比较器32输入不包含起因于电磁噪声的变动的电位。
根据本实施方式，能够得到以下的效果。
(1)通过滤波电路40以及取样保持电路50，能够从控制电路31检测第二电容器12的静电电容的变化时使用的连接节点14的电位VM除去电磁噪声的影响。其结果，第二电容器12的静电电容的变化的检测精度提高。
(2)可能由于第二开关SW2的开关噪声等，而在第二开关SW2被控制为断开之后到连接节点14的电位VM完全稳定为止产生一点时滞。对于这一点，在上述构成中，在取样保持电路50保持从第二开关SW2被控制为断开的时刻延迟规定时间后的延迟时刻的滤波后电位VMF。因此，能够抑制将不稳定的状态的连接节点14的电位VM所对应的滤波后电位VMF作为保持电位VMH输出到比较器32。而且，能够抑制比较器32对不稳定的状态的保持电位VMH与参照电位Vth进行比较。其结果，能够期待比较器32的比较结果的可靠性的提高。
(3)在输入到比较器32的电位刚刚变化之后，在比较器32的内部电路反映输入电位需要时间，或者电位变得不稳定。因此，在输入到比较器32的电位刚刚变化之后，比较器32的比较结果的输出的可靠性较差。在上述构成中，基于第二开关SW2被控制为断开的期间的后半侧这样的认为比较结果的可靠性较高的期间的比较器32的输出信号Vout检测第二电容器12的静电电容的变化。因此，在基于比较器32的比较结果检测第二电容器12的静电电容的变化时，能够期待其检测精度的提高。
此外，也能够如以下那样变更实施上述实施方式。
■控制电路31也可以在第二开关SW2被控制为断开的期间中与中央的时刻相比前半侧的时刻，从比较器32获取输出信号Vout。在上述前半侧的时刻，考虑在从断开第二开关SW2的时刻延迟了某种程度后的时刻，输入到比较器32的电位比较稳定。因此，若为这样的时刻，则比较器32的比较结果的输出变差的可能性较低。此外，根据比较器32的性能、功能等，即使输入到比较器32的电位变化在其后电位也立即稳定那样的情况下，也可以不管第二开关SW2的接通断开而由控制电路31获取任意的期间的输出信号Vout。
■也可以废除比较器32，而将取样保持电路50输出的保持电位VMH直接输入到控制电路31。而且，也可以使参照电位Vth预先存储到控制电路31，并由控制电路31对保持电位VMH和参照电位Vth进行比较。
■也可以将在第二开关SW2被控制为断开的期间使取样保持电路50保持的电位作为第二开关SW2被控制为断开的时刻(设置延迟时刻之前的时刻)的滤波后电位VMF。例如在第二开关SW2被控制为断开之后连接节点14的电位VM变得不稳定的程度非常小的情况下，即使在取样保持电路50保持第二开关SW2被控制为断开的时刻的滤波后电位VMF，比较器32的比较结果的可靠性也不容易变差。
■也可以将滤波电路40连接在第二电容器12中的第一电容器11侧的端子与第二开关SW2之间，或者，连接在第二开关SW2与连接节点14之间。该情况下，取样保持电路50需要连接在连接节点14与比较器32之间。
·滤波电路40也可以不是低通滤波器。例如，也可以滤波电路40是不使某个特定的范围的频率的电位透过的带通滤波器。但是，滤波电路40需要使包含第二开关SW2以及第三开关SW3的开关频率的频率的电位透过。
■第二电容器12的静电电容的变化的检测方法只要是基于接节点14的电位VM的方法即可。例如，也可以在上述实施方式中，将从开始第二电容器12的静电电容的变化的检测，到获取高电平的输出信号Vout为止作为一个周期，并反复该周期。然后，生成在每个周期计算出的第二开关SW2的接通断开控制的反复次数的时间序列。在该时间序列的时间变动超过检测误差的允许范围的情况下，检测出第二电容器12的静电电容变化。
■也可以将第二电源V2接地。
■静电电容检测装置的设置位置并不限定于车辆的车门把手。静电电容检测装置例如也可以设置在车辆的车门或者车辆的车标内。静电电容检测装置也可以设置在车辆以外。
Claims (3)
1.一种静电电容检测装置，具备：
第一电容器以及第二电容器，它们串联连接在电源与检测电极之间；
第一开关，其连接在上述第一电容器的两端子之间；
第二开关，其连接在上述第一电容器与上述第二电容器之间；
第三开关，其连接在上述第二电容器的两端子之间；以及
控制电路，其对上述第一开关、上述第二开关、以及上述第三开关进行接通断开控制，并且连接在上述第一电容器与上述第二开关之间的连接节点来基于该连接节点的电位检测上述第二电容器的静电电容的变化，
上述静电电容检测装置，还具备：
滤波电路，其连接在上述第二电容器的上述第二开关侧的端子与上述控制电路之间，使包含上述第二开关以及上述第三开关的开关频率的频率的电位透过且不使其它的特定的频率的电位透过；以及
取样保持电路，其连接在上述滤波电路与上述控制电路之间，并且连接在上述连接节点与上述控制电路之间，
上述取样保持电路在上述第二开关被控制为接通的情况下，输出与上述滤波电路的输出对应的电位，在上述第二开关被控制为断开的情况下，保持与上述第二开关被控制为断开时的上述滤波电路的输出对应的电位并输出上述对应的电位，直至接下来上述第二开关被控制为接通为止。
2.根据权利要求1所述的静电电容检测装置，其中，
上述取样保持电路在上述第二开关被控制为断开的情况下，保持与从上述第二开关被控制为断开的时刻延迟了规定时间后的延迟时刻的上述滤波电路的输出对应的电位并输出上述对应的电位作为上述第二开关被控制为断开时的电位。
3.根据权利要求1或者2所述的静电电容检测装置，其中，
在上述取样保持电路与上述控制电路之间设有对上述取样保持电路输出的电位和预先决定的参照电位进行比较，并将基于其比较结果的输出信号输出给上述控制电路的比较器，
上述控制电路在上述第二开关被控制为断开的期间中的与该期间的中央的时刻相比后半侧的时刻，基于上述比较器的输出信号检测上述第二电容器的静电电容的变化。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017-228082 | 2017-11-28 | ||
| JP2017228082A JP7006189B2 (ja) | 2017-11-28 | 2017-11-28 | 静電容量検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN109900968A CN109900968A (zh) | 2019-06-18 |
| CN109900968B true CN109900968B (zh) | 2022-08-30 |
Family
ID=64556789
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201811405758.8A Active CN109900968B (zh) | 2017-11-28 | 2018-11-23 | 静电电容检测装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US10775526B2 (zh) |
| EP (1) | EP3490148B1 (zh) |
| JP (1) | JP7006189B2 (zh) |
| CN (1) | CN109900968B (zh) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110275047B (zh) * | 2018-03-14 | 2021-01-22 | 京东方科技集团股份有限公司 | 加速度传感器、电容检测电路、加速度处理电路及方法 |
Family Cites Families (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6047678B2 (ja) * | 1980-12-08 | 1985-10-23 | 沖電気工業株式会社 | サンプルホ−ルド回路 |
| JPS60171700A (ja) * | 1984-02-15 | 1985-09-05 | Toshiba Corp | サンプルホ−ルド回路 |
| JP2972552B2 (ja) * | 1995-05-26 | 1999-11-08 | 日本電気株式会社 | 容量型センサ用検出回路および検出方法 |
| JP3262013B2 (ja) * | 1997-02-24 | 2002-03-04 | 三菱電機株式会社 | 容量型センサインターフェース回路 |
| JP3264884B2 (ja) * | 1998-05-11 | 2002-03-11 | 三菱電機株式会社 | 容量検出回路 |
| US6466036B1 (en) | 1998-11-25 | 2002-10-15 | Harald Philipp | Charge transfer capacitance measurement circuit |
| CN100538486C (zh) * | 2002-12-25 | 2009-09-09 | 株式会社半导体能源研究所 | 液晶显示装置 |
| JP4303545B2 (ja) * | 2003-09-09 | 2009-07-29 | 富士通株式会社 | 可動エレメント装置 |
| JP4356003B2 (ja) * | 2003-09-30 | 2009-11-04 | アイシン精機株式会社 | 静電容量検出装置 |
| DE102007047887A1 (de) * | 2006-11-29 | 2008-06-19 | Aisin Seiki Kabushiki Kaisha, Kariya | Kapazitätserfassungsvorrichtung |
| CN101123122A (zh) * | 2007-09-14 | 2008-02-13 | 苏州市华芯微电子有限公司 | 一种数据采样/保持方法及其电路 |
| US8054090B2 (en) * | 2008-10-22 | 2011-11-08 | Atmel Corporation | Noise handling in capacitive touch sensors |
| JP4888743B2 (ja) * | 2009-07-09 | 2012-02-29 | アイシン精機株式会社 | 静電容量検出装置 |
| JP2011194641A (ja) | 2010-03-18 | 2011-10-06 | Seiko Epson Corp | 容量性負荷の駆動回路 |
| JP5429207B2 (ja) * | 2010-09-08 | 2014-02-26 | 株式会社デンソー | 容量式物理量検出装置 |
| WO2014023994A1 (en) * | 2012-08-08 | 2014-02-13 | Freescale Semiconductor, Inc. | Sample-and-hold circuit, capacitive sensing device, and method of operating a sample-and-hold circuit |
| WO2015131209A2 (en) * | 2014-02-28 | 2015-09-03 | Azoteq (Pty) Ltd | Charge transfer measurement techniques |
| JP6938854B2 (ja) * | 2016-05-10 | 2021-09-22 | 富士電機株式会社 | スイッチング電源装置 |
-
2017
- 2017-11-28 JP JP2017228082A patent/JP7006189B2/ja active Active
-
2018
- 2018-11-23 CN CN201811405758.8A patent/CN109900968B/zh active Active
- 2018-11-28 US US16/202,603 patent/US10775526B2/en active Active
- 2018-11-28 EP EP18208922.7A patent/EP3490148B1/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP3490148A3 (en) | 2019-07-24 |
| JP7006189B2 (ja) | 2022-01-24 |
| US10775526B2 (en) | 2020-09-15 |
| EP3490148B1 (en) | 2022-11-09 |
| JP2019100711A (ja) | 2019-06-24 |
| US20190162869A1 (en) | 2019-05-30 |
| CN109900968A (zh) | 2019-06-18 |
| EP3490148A2 (en) | 2019-05-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US9524056B2 (en) | Capacitive voltage information sensing circuit and related anti-noise touch circuit | |
| CN106598370B (zh) | 触摸检测电路及其触控装置 | |
| US20090212826A1 (en) | Hysteresis comparator | |
| KR102452620B1 (ko) | 터치 검출을 위한 장치 및 방법 | |
| US10572058B2 (en) | Integrator circuit device and operating method thereof | |
| US9461635B2 (en) | Signal processing circuit | |
| CN109900968B (zh) | 静电电容检测装置 | |
| CN112230885A (zh) | 真随机数产生器与真随机数产生方法 | |
| EP2306650A2 (en) | A/d converter and open detection method thereof | |
| US9660645B2 (en) | Door handle module for vehicle and apparatus for locking and unlocking vehicle door including the module | |
| CN111398689A (zh) | 电容检测电路、电容检测系统和电子设备 | |
| US20230058715A1 (en) | Adding circuit for multi-channel signals and implementation method of adding circuit for multi-channel signals | |
| KR101354782B1 (ko) | 자이로 센서 신호 탐지 장치 및 그 방법 | |
| KR100847148B1 (ko) | 주파수 센싱 장치 | |
| US9374101B2 (en) | Sensor device including high-resolution analog to digital converter | |
| US8461918B2 (en) | Switched capacitor circuit | |
| US11313886B2 (en) | Voltage detection circuit measurement apparatus for use in assembled battery system | |
| US10585539B2 (en) | High sensitivity readout circuit for touch panel | |
| CN111045554A (zh) | 电容感应取样电路及其感应取样方法 | |
| US8901984B1 (en) | Direct current offset correction circuit | |
| CN112881784B (zh) | 峰值检测器及凝血分析装置 | |
| US8466824B2 (en) | Current providing system, ADC with the current providing system, and current providing method | |
| TWI448872B (zh) | 電流供應系統、使用此電流供應系統的類比數位轉換器以及電流供應方法 | |
| JP6572667B2 (ja) | 電子制御装置 | |
| KR101000957B1 (ko) | 주파수 감지 장치 및 그 방법 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| CB02 | Change of applicant information | ||
| CB02 | Change of applicant information |
Address after: Aichi Prefecture, Japan Applicant after: AISIN Co.,Ltd. Address before: Aichi Prefecture, Japan Applicant before: AISIN SEIKI Kabushiki Kaisha |
|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |