CN109884498A - 一种提高测试效率的ate测试模式 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种提高测试效率的ATE测试模式，本技术方案由2部分构成：数据处理用的电脑及数据传输使用的网络路由器；将ATE测试电脑及数据处理电脑，通过网线接到数据传输路由器上，构成局域网，并将数据处理电脑的某个硬盘，通过局域网共享给ATE测试电脑使用，该硬盘为备份硬盘；本发明提供的提高测试效率的ATE测试模式，该模式是将采集数据、数据分析和处理及返回测试Bin进行分开，ATE将所需数据采集完，就可空出ATE，用于其他的集成电路测试，这样可以提高ATE的测试效益；数据采集完，存档在另一台电脑中，也可避免因大数据处理中，ATE电脑死机时，造成数据丢失。

Description

一种提高测试效率的ATE测试模式

技术领域

本发明应用于集成电路测试中，尤其涉及一种提高测试效率的ATE测试模式。

背景技术

集成电路测试ATE测试，采集、分析、处理数据及返回结果后，进行下一个测试项测试。此类型技术进行小数据量处理时，可以快速直观的观察到测试Bin，出现异常时，数据虽然丢失，但是整个测试时间很短，进行重新测试即可。但是面对大数据量处理时，数据处理占用了大量的测试时间，出现异常时，进行重新测试就会增加大量的时间成本，测试工程师进行在线算法优化，也会占用ATE，还可能会出现采集的数据丢失，测试工程师就无法进行数据分析和算法优化。

发明内容

本发明为解决上述技术问题而采用的技术方案是提供一种提高测试效率的ATE测试模式，此项技术方案是针对需要大量数据处理的集成电路测试，解决了现有技术一中测试的数据处理额外占用ATE等测试设备及因数据处理异常引起的额外时间成本，提高了该类型测试的ATE效益，也为该类型测试的数据提供了备份保护，将测试工程师对数据处理的算法优化时间，独立于ATE，其中，具体技术方案是：

本技术方案由2部分构成：数据处理用的电脑及数据传输使用的网络路由器。

数据处理用的电脑，针对不同需求，可以是普通的个人电脑，也可以是专用的高性能数据处理服务器，本技术方案，旨在说明一种ATE测试的模式，以下泛称数据处理电脑。

数据传输使用的网络路由器，同理，泛称数据传输路由器。

将ATE测试电脑及数据处理电脑，通过网线接到数据传输路由器上，构成局域网，并将数据处理电脑的某个硬盘，通过局域网共享给ATE测试电脑使用，该硬盘以下简称备份硬盘。

集成电路测试中，用ATE匹配的开发测试程序的软件，将测试抓取的数据，以一定的命名规则，通过共享，放到数据处理电脑的备份硬盘上，数据存储完成后，返回一个虚拟的测试Bin给ATE，ATE收到Bin后进行下一个测试任务，并将该测试电路，以相同的命名规则存放，依次完成该批次集成电路所有测试任务。完成测试任务后，该批次测试电路均以虚拟测试Bin存放，同时数据处理电脑上也已按对应关系(相同命名规则)存储了所有测试数据，而ATE就可以进行其他集成电路的测试安排。

对于上述的用ATE匹配的开发测试程序的软件，测试的时候，需要1 个软件来控制ATE，ATE厂商不同，控制ATE的软件也不同，这个软件是 ATE厂商开发的，用于控制他们家的ATE。比如泰瑞达的J750系列ATE，需要通过IGXL的软件，才能对ATE进行编程，才能实现控制ATE进行测试(比如电源上电)。而爱德万的V93K系列，则使用的是smarttest的软件。因为不同厂商的ATE用的软件不一样，概括为用ATE厂商自带的匹配的软件来开发测试程序，这里的测试程序就是指用ATE的软件写出来的，用于某个集成电路测试，不同电路，测试程序也是不一样的，测试程序类似于window下的.exe这样的软件，某个电路专有。

对于上述的将测试抓取的数据后以一定的命名规则以一定的命名规则，通过共享，放到数据处理电脑的备份硬盘上；在实施例中有描述命名规则举例，因为每个工程师喜好不一样，这个规则不是固定的。因为大数据，一般不是人来处理数据的，都是电脑上开个脚本，或者写个数据处理软件。这个时候，用一定的命名规则，就方便电脑处理数据。

在数据处理电脑上，将备份硬盘里的数据，复制到一个新的硬盘里，以下简称为处理硬盘，对处理硬盘中的数据进行数据处理并得到真实的 Bin，并备份于备份硬盘，通过对应关系，依次修改测试电路Bin，完成最终测试。数据处理可同步于测试任务，即ATE抓到数据后，通过数据传输路由器存储后(传输数据很快，时间相比于数据处理，可忽略)即可开始进行数据处理，也就是数据处理和ATE抓取测试数据互不干扰，并且数据处理电脑有备份硬盘来备份数据，以免数据处理中，出现数据处理异常，使得处理硬盘里的数据被修改。

本发明相对于现有技术具有如下有益效果：

测试工程师使用ATE匹配的软件，生成Test Flow。在集成电路测试中，ATE会执行数据采集、数据分析和处理及返回测试Bin，按照Test Flow 的顺序进行自动测试，排在后面的测试项，就需要等待前面测试项的测试 Bin出来后，才能开始测试。本技术发明提供了一种ATE测试的模式，该模式是将采集数据、数据分析和处理及返回测试Bin进行分开，ATE将所需数据采集完，就可空出ATE，用于其他的集成电路测试，这样可以提高 ATE的测试效益；数据采集完，存档在另一台电脑中，也可避免因大数据处理中，ATE电脑死机时，造成的数据丢失。

附图说明

图1为现有技术的ATE测试模式。

图2为本申请技术方案中涉及到的提高测试效率的ATE测试模式示意图。

具体实施方式

ATE：集成电路测试时使用的自动测试设备。

Probe：集成电路测试时用于承载待测晶圆的设备。

测试工程师：实现集成电路自动测试的主体人群。

Test Flow：集成电路测试软件定义的测试内容及测试顺序。

测试项：依据集成电路规范要求，编写的ATE测试代码。

Bin：ATE测试中，区分不同测试结果说使用的数字。

本技术方案针对需要大数据处理的ATE测试，可以提高ATE的测试效益，避免因数据处理而占用ATE的使用，同时将抓取的数据进行备份，也避免了ATE数据处理出现异常时，导致的数据丢失，便利了测试工程师的数据分析。

本技术方案采用了网络路由器的数据传输方案，成熟且传输过程快速，便于日常维护。引入的数据处理电脑，相比于ATE设备，价格实惠，也便于日常维护。数据做了备份，避免数据丢失，便于后续测试工程师查看并改进数据处理算法。

现举实施例详细说明本技术方案在集成电路测试中的应用：

实施例一：

技术方案参见图1。本实施例中，需要测试的是红外图像处理的集成电路。依据产品规范，配置集成电路，得到相应的电压电流数据，现有的技术方案，是将得到的数据，进行AD-DA转化，按照频域变化、双阈值图像增强、直方图投影等算法，对数据进行处理，不同的测试项，需要进行不同的算法处理，Tets Flow里的测试项较多，则处理的数据量就很大，ATE处理数据的时间就被拉长。

应用本技术方案，将测试项得到的电压电流数据，以批号-片号-晶圆坐标(成品测试则为电路编号)-测试项这样的命名规则，存档于数据处理电脑中的备份硬盘，并返回一个虚拟Bin：1023，ATE收到虚拟Bin之后，开始下一个坐标的晶圆测试，同时数据处理电脑开始以相应算法处理数据，处理完成后，以批号-片号-晶圆坐标-测试项-PASS/FAIL这样的命名规则存档测试结果，并将测试结果复制到备份硬盘中备份。因为ATE测试和数据处理进行了分开，所以ATE测试完成后，所需处理的数据也全部抓好，就可以安排ATE进行另一个集成电路的测试，如果Test Flow里的测试项很多，可能ATE全部完成数据抓取后，第一片晶圆的数据还未处理结束，但已不再占用ATE。等全部数据处理完后，根据备份硬盘里的测试结果，完成最终的测试Bin分类，修改对应晶圆的片号-坐标的Bin，完成了最终的测试任务。处理过程中，如果出现异常，因为备份硬盘里面有备份，不用担心数据丢失或被修改，可进行重新处理，测试工程师也可以针对异常进行算法优化，也不用将优化的过程时间叠加到ATE上，提高了ATE 的效益。

实施例二：

技术方案参见图1。本实施例中，本实施例中，需要测试的是放大器类型的集成电路。依据产品规范，得到扫频、扫功率的输出电压的数据，现有的技术方案，是将得到的数据，进行电压转换功率，描点得到相应的测试图线，并依据规范的进行判断，得到测试结果，不同的测试项，需要进行不同步进、不同维度等(一维扫描为单纯变动电压，二位扫描为变动电压及测试频率)扫描，扫描步进越小，则描点的数据量就越大，ATE处理数据和判断时间就越长。

应用本技术方案，将测试项得到的扫描数据，以批号-片号-晶圆坐标 (成品测试则为电路编号)-测试项这样的命名规则，存档于数据处理电脑中的备份硬盘，并返回一个虚拟Bin：1023，ATE收到虚拟Bin之后，开始下一个坐标的晶圆测试，ATE测试完成后，所需处理的数据也全部抓好，就可以安排ATE进行另一个集成电路的测试。在集成电路开发的前期，需要对数据进行处理和分析，如果是客户公司的委托测试，客户公司的技术人员对该集成电路更熟悉，且有些技术是保密的，不能公开，必须由客户公司技术人员来进行数据处理，则可以将数据处理电脑中的数据，传输到客户公司那边，等全部数据处理完后，拿到测试结果，完成最终的测试 Bin分类，修改对应晶圆的片号-坐标的Bin，完成了最终的测试任务。开发前期的测试Bin，并不是最重要的，最重要的是测试中抓取的数据，本技术方案，将数据分析与ATE独立开来，节省了在线分析占用ATE的时间成本。

在当下，国家会加大国内集成电路的发展，尤其是高端芯片的自研这一块，就会需求更多、更快的大数据处理，以目前的ATE测试模式，测试时间会很长，且占用ATE，增加ATE的测试时间成本。本发明描述的ATE 测试模式，将ATE测试的抓取数据与处理、分析数据进行独立，ATE抓完数据即可腾出测试另一个集成电路，提高ATE效益，分析与处理数据在数据处理电脑上进行，可允许有更多的时间进行数据分析及算法优化，尤其是开发前期的集成电路，可以节省大量在线分析占用ATE的时间成本，可以将更多的成本投入到设计及其他地方，增强芯片的自研能力。

虽然本发明已以较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的修改和完善，因此本发明的保护范围当以权利要求书所界定的为准。

Claims (2)

1.一种提高测试效率的ATE测试模式，其特征在于：

本技术方案由2部分构成：数据处理用的电脑及数据传输使用的网络路由器；

将ATE测试电脑及数据处理电脑，通过网线接到数据传输路由器上，构成局域网，并将数据处理电脑的某个硬盘，通过局域网共享给ATE测试电脑使用，该硬盘为备份硬盘；

集成电路测试中，用ATE匹配的开发测试程序的软件，将测试抓取的数据，以一定的命名规则，通过共享，放到数据处理电脑的备份硬盘上，数据存储完成后，返回一个虚拟的测试Bin给ATE，ATE收到Bin后进行下一个测试任务，并将该测试电路，以相同的命名规则存放，依次完成该批次集成电路所有测试任务；完成测试任务后，该批次测试电路均以虚拟测试Bin存放，同时数据处理电脑上也已按对应关系，即相同命名规则存储了所有测试数据，而ATE就可以进行其他集成电路的测试安排；

在数据处理电脑上，将备份硬盘里的数据，复制到一个新的硬盘里，新的硬盘为处理硬盘，对处理硬盘中的数据进行数据处理并得到真实的Bin，并备份于备份硬盘，通过对应关系，依次修改测试电路Bin，完成最终测试；

或者数据处理同步于测试任务，即ATE抓到数据后，通过数据传输路由器存储后即可开始进行数据处理，数据处理和ATE抓取测试数据互不干扰，并且数据处理电脑有备份硬盘来备份数据，以免数据处理中，出现数据处理异常，使得处理硬盘里的数据被修改。

2.如权利要求1所述的提高测试效率的ATE测试模式，其特征在于：数据处理用的电脑是个人电脑或者是专用高性能数据处理服务器。