CN110750951A - 一种集成电路布局数据的处理方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种集成电路布局数据的处理方法，具体包括以下步骤：S1、挑选与待测试芯片型号相匹配的测试机台，然后再将N个需要进行测试的集成电路芯片放置在测试机台上，通过测试机台上的测试探针对集成电路芯片进行性能测试，测试完成后，生成N个测试结果，然后将这些测试结果发送至数据库内进行存储，本发明涉及集成电路数据处理技术领域。该集成电路布局数据的处理方法，可实现对数据库内的集成电路数据进行重新排列布局，且在布局的过程中进行校验工作，保证了数据的完整性，同时也提高了布局数据的处理效率，避免集成电路布局失真的问题，节约了人力和物力，保证了后续集成电路的正常使用工作。
Description
技术领域
本发明涉及集成电路数据处理技术领域，具体为一种集成电路布局数据的处理方法。
背景技术
集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步，它在电路中用字母“IC”表示，集成电路具有体积小，重量轻，引出线和焊接点少，寿命长，可靠性高，性能好等优点，同时成本低，便于大规模生产，它不仅在工、民用电子设备如收录机、电视机、计算机等方面得到广泛的应用，同时在军事、通讯、遥控等方面也得到广泛的应用，用集成电路来装配电子设备，其装配密度比晶体管可提高几十倍至几千倍，设备的稳定工作时间也可大大提高，集成电路技术包括芯片制造技术与设计技术，主要体现在加工设备，加工工艺，封装测试，批量生产及设计创新的能力上，集成电路按其功能、结构的不同，可以分为模拟集成电路、数字集成电路和数/模混合集成电路三大类，模拟集成电路又称线性电路用来产生、放大和处理各种模拟信号(指幅度随时间变化的信号，例如半导体收音机的音频信号和的磁带信号等)，其输入信号和输出信号成比例关系，而数字集成电路用来产生、放大和处理各种数字信号(指在时间上和幅度上离散取值的信号，例如5G手机、数码相机、电脑CPU、数字电视的逻辑控制和重放的音频信号和视频信号)。
现有集成电路布局数据通常都被存储到档案文件中，而档案文件的读取需要耗费很多时间从而难以进行后续的数据处理，在读取的过程中，数据出现问题从而导致最后集成电路布局的效果失真，导致布局数据资料无法进行使用，造成人力和物力的浪费，同时也影响了布局数据的处理效率，不利于实际的使用需求。
发明内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足，本发明提供了一种集成电路布局数据的处理方法，解决了集成电路布局数据在读取的过程中，数据出现问题从而导致最后集成电路布局的效果失真，导致布局数据资料无法进行使用，造成人力和物力的浪费，同时也影响了布局数据处理效率的问题。
(二)技术方案
为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种集成电路布局数据的处理方法，具体包括以下步骤：
S1、挑选与待测试芯片型号相匹配的测试机台，然后再将N个需要进行测试的集成电路芯片放置在测试机台上，通过测试机台上的测试探针对集成电路芯片进行性能测试，测试完成后，生成N个测试结果，然后将这些测试结果发送至数据库内进行存储，在数据库内对芯片进行的测试项目、极限单位以及变化量极限值逐个进行标记，同时对每个集成电路芯片的测试结果进行标记，生成文件名；
S2、当需要对数据库内的芯片测试数据进行布局整理时，通过关键词检索对数据库内的相关测试结果进行提取，将数据提取到操作页面上，按照数据的大小、测试项目、极限单位以及变化量极限值进行重新排列组合，使得得到规整性数据；
S3、根据S2中将重新布局后的数据进行逻辑操作，得到集成布局数据，并且对该集成电路布局数据进行数据校验处理，保证数据的完整性，最后将布局完成后的集成电路数据重新发送至数据库内，并做好备注处理，用以区分未布局以及已布局的集成电路数据；
S4、根据S3对已布局后的集成电路数据进行备份处理，以防丢失，同时设置加密单元，相关工作人员输入正确的管理账号和密码方可对集成电路布局数据进行修改处理，这样就完成了整个集成电路布局数据处理的相关工作。
优选的，所述S1中的测试机台为探针机台，机台上的测试探针是电测试的接触媒介。
优选的，所述S3中的数据校验是用一种指定的算法对原始数据计算出的一个校验值，接收方用同样的算法计算一次校验值，如果两次计算得到的检验值相同，则说明数据是完整的。
优选的，所述S1中的测试项目包括DC测试和AC测试。
优选的，所述S2中的数据库是将数据以一定方式储存在一起、能与多个用户共享以及与应用程序彼此独立数据集合的一种存储电子文件的处所。
(三)有益效果
本发明提供了一种集成电路布局数据的处理方法。具备以下有益效果：该集成电路布局数据的处理方法，通过S1、挑选与待测试芯片型号相匹配的测试机台，然后再将N个需要进行测试的集成电路芯片放置在测试机台上，通过测试机台上的测试探针对集成电路芯片进行性能测试，测试完成后，生成N个测试结果，然后将这些测试结果发送至数据库内进行存储，在数据库内对芯片进行的测试项目、极限单位以及变化量极限值逐个进行标记，同时对每个集成电路芯片的测试结果进行标记，生成文件名；S2、当需要对数据库内的芯片测试数据进行布局整理时，通过关键词检索对数据库内的相关测试结果进行提取，将数据提取到操作页面上，按照数据的大小、测试项目、极限单位以及变化量极限值进行重新排列组合，使得得到规整性数据；S3、根据S2中将重新布局后的数据进行逻辑操作，得到集成布局数据，并且对该集成电路布局数据进行数据校验处理，保证数据的完整性，最后将布局完成后的集成电路数据重新发送至数据库内，并做好备注处理，用以区分未布局以及已布局的集成电路数据；S4、根据S3对已布局后的集成电路数据进行备份处理，以防丢失，同时设置加密单元，相关工作人员输入正确的管理账号和密码方可对集成电路布局数据进行修改处理，这样就完成了整个集成电路布局数据处理的相关工作，可实现对数据库内的集成电路数据进行重新排列布局，且在布局的过程中进行校验工作，保证数据的完整性，同时也提高了布局数据的处理效率，避免集成电路布局失真的问题，节约了人力和物力，保证了后续集成电路的正常使用工作。
具体实施方式
下面将对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供一种技术方案：一种集成电路布局数据的处理方法，可实现对数据库内的集成电路数据进行重新排列布局，且在布局的过程中进行校验工作，保证数据的完整性，同时也提高了布局数据的处理效率，避免集成电路布局失真的问题，节约了人力和物力，保证了后续集成电路的正常使用工作，具体包括以下步骤：
S1、挑选与待测试芯片型号相匹配的测试机台，然后再将N个需要进行测试的集成电路芯片放置在测试机台上，通过测试机台上的测试探针对集成电路芯片进行性能测试，测试完成后，生成N个测试结果，然后将这些测试结果发送至数据库内进行存储，在数据库内对芯片进行的测试项目、极限单位以及变化量极限值逐个进行标记，同时对每个集成电路芯片的测试结果进行标记，生成文件名；
S2、当需要对数据库内的芯片测试数据进行布局整理时，通过关键词检索对数据库内的相关测试结果进行提取，将数据提取到操作页面上，按照数据的大小、测试项目、极限单位以及变化量极限值进行重新排列组合，使得得到规整性数据；
S3、根据S2中将重新布局后的数据进行逻辑操作，得到集成布局数据，并且对该集成电路布局数据进行数据校验处理，保证数据的完整性，最后将布局完成后的集成电路数据重新发送至数据库内，并做好备注处理，用以区分未布局以及已布局的集成电路数据；
S4、根据S3对已布局后的集成电路数据进行备份处理，以防丢失，同时设置加密单元，相关工作人员输入正确的管理账号和密码方可对集成电路布局数据进行修改处理，这样就完成了整个集成电路布局数据处理的相关工作，备份存储媒体既可以是逻辑驱动器(如硬盘)、独立的存储设备(如可移动磁盘)，也可以是由自动转换器组织和控制的整个磁盘库或磁带库，如果硬盘上的原始数据被意外删除或覆盖，或因为硬盘故障而不能访问该数据，那么可以十分方便的从存档副本中还原该数据。
本发明中，S1中的测试机台为探针机台，机台上的测试探针是电测试的接触媒介。
本发明中，S3中的数据校验是用一种指定的算法对原始数据计算出的一个校验值，接收方用同样的算法计算一次校验值，如果两次计算得到的检验值相同，则说明数据是完整的，数据在传输的过程中，会受到各种干扰的影响，如脉冲干扰，随机噪声干扰和人为干扰等，这会使数据产生差错，为了能够控制传输过程的差错，通信系统必须采用有效措施来控制差错的产生，常用的差错控制方法让每个传输的数据单元带有足以使接收端发现差错的冗余信息，而这种数据校验方法不能纠正错误，但可以发现数据错误，这种方法容易实现，检错速度快，可以通过重传使错误纠正，所以是非常常用的检错方案。
本发明中，S1中的测试项目包括DC测试和AC测试。
本发明中，S2中的数据库是将数据以一定方式储存在一起、能与多个用户共享以及与应用程序彼此独立数据集合的一种存储电子文件的处所，数据库是存放数据的仓库，它的存储空间很大，可以存放百万条、千万条、上亿条数据，但是数据库并不是随意地将数据进行存放，是有一定的规则的，否则查询的效率会很低，当今世界是一个充满着数据的互联网世界，充斥着大量的数据，即这个互联网世界就是数据世界，数据的来源有很多，比如出行记录、消费记录、浏览的网页、发送的消息等，除了文本类型的数据，图像、音乐、声音都是数据。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (5)
1.一种集成电路布局数据的处理方法，其特征在于：具体包括以下步骤：
S1、挑选与待测试芯片型号相匹配的测试机台，然后再将N个需要进行测试的集成电路芯片放置在测试机台上，通过测试机台上的测试探针对集成电路芯片进行性能测试，测试完成后，生成N个测试结果，然后将这些测试结果发送至数据库内进行存储，在数据库内对芯片进行的测试项目、极限单位以及变化量极限值逐个进行标记，同时对每个集成电路芯片的测试结果进行标记，生成文件名；
S2、当需要对数据库内的芯片测试数据进行布局整理时，通过关键词检索对数据库内的相关测试结果进行提取，将数据提取到操作页面上，按照数据的大小、测试项目、极限单位以及变化量极限值进行重新排列组合，使得得到规整性数据；
S3、根据S2中将重新布局后的数据进行逻辑操作，得到集成布局数据，并且对该集成电路布局数据进行数据校验处理，保证数据的完整性，最后将布局完成后的集成电路数据重新发送至数据库内，并做好备注处理，用以区分未布局以及已布局的集成电路数据；
S4、根据S3对已布局后的集成电路数据进行备份处理，以防丢失，同时设置加密单元，相关工作人员输入正确的管理账号和密码方可对集成电路布局数据进行修改处理，这样就完成了整个集成电路布局数据处理的相关工作。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路布局数据的处理方法，其特征在于：所述S1中的测试机台为探针机台，机台上的测试探针是电测试的接触媒介。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路布局数据的处理方法，其特征在于：所述S3中的数据校验是用一种指定的算法对原始数据计算出的一个校验值，接收方用同样的算法计算一次校验值，如果两次计算得到的检验值相同，则说明数据是完整的。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路布局数据的处理方法，其特征在于：所述S1中的测试项目包括DC测试和AC测试。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路布局数据的处理方法，其特征在于：所述S2中的数据库是将数据以一定方式储存在一起、能与多个用户共享以及与应用程序彼此独立数据集合的一种存储电子文件的处所。
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